ホーム > 特許ランキング > アーベーベー・リサーチ・リミテッド > 特許5675855
特許 5675855出願番号 特願 2013-3541
ＩＧＢＴデバイスの動作状態を実時間で監視するシステムと方法
出願人 アーベーベー・リサーチ・リミテッド（識別番号 594075499）
2026年 特許公開件数ランキング 25705位 0件（※）
2026年 特許取得件数ランキング 21207位 0件（※）
公報発行日 2015年2月25
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-B9-5675855 ログイン済みの方はこのURLへ
［この特許公報を共有したい場合］あなたがログインしてこの特許公報を表示すれば、他の人はログインしなくてもこのURLで見ることができるようになります。
※ 共同出願を含む
知財ポータルサイト IP Force にログインすれば、この公報の全文を閲覧できます。 ログインはこちら ログイン・ユーザー登録
技術分野
ＩＧＢＴデバイスの分野、特に、ＩＧＢＴデバイスの接合部温度（junction temperature）を測定又は推定する方法
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]
知財ポータルサイト IP Force にログインして確認する (無料)
この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】制御ユニットによって制御されるＩＧＢＴドライバモジュールの模式図を示している。
【図2】スイッチオフ段階中の時間に対するＩＧＢＴデバイスのゲート−エミッタ電圧の図を示している。
【図3】ＩＧＢＴデバイスの接合部温度に対するミラープラトーの時間遅延の図を示している。
【図4】ミラープラトーの時間遅延を決定する機能ブロック図を示している。
【図5】温度決定ユニットの例の模式図を示している。
【図6】比較器ユニットの出力として生成されたパルスに対する、測定されたＩＧＢＴデバイスのゲート−エミッタ電圧の特性を示している。
選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図
１ ＩＧＢＴドライバモジュール
２ 制御ユニット
１１ ハーフブリッジ
１２ 第１のＩＧＢＴデバイス
１３ 第２のＩＧＢＴデバイス
１４ フリーホイールダイオード
２１ 差動ユニット
２２ 比較器ユニット
２３ タイマユニット
２４ 信号振幅検出器ユニット
２５ 接合部温度計算ユニット
Ｕ、Ｖ、Ｗ 出力相
Ｃ コレクタ端子
Ｇ ゲート端子
Ｅ エミッタ端子
Ｔｊ 接合部温度
ＶＨ、ＶＬ 高、低供給電位
ＶＧＥ ゲート−エミッタ電圧
ｔｄｅｌａｙ 時間遅延
Ｕｒｅｆ 基準スイッチ電圧
全ての図面はログインすると無料で閲覧できます。ログイン・ユーザー登録
［広告欄］
ログインすれば広告は減ります
ログインすれば広告は減ります