【文献】
Panasonic,Discussion on remaining issues in relay,R1-110775,フランス,3GPP,2011年 2月25日,paragraph 2
【文献】
CATT,Remaining Issue on Aperiodic CSI Reporting,R1-110717,フランス,3GPP,2011年 2月25日,paragraph 2
【文献】
Huawei, HiSilicon,Measurement Definitions for Resource-Restricted Measurements,R1-110020,フランス,3GPP,2011年 1月21日,paragraph 1
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
前記ダウンリンクサブフレーム構成情報は、バックホールサブフレーム構成に関する情報と、ABS(Almost Blank Subframe)構成に関する情報とを備えることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載のダウンリンクチャネル測定指示方法。
【発明を実施するための形態】
【0027】
以下では、本発明で提供されるダウンリンクチャネル測定指示方法および装置とダウンリンクチャネル測定実行方法および装置について、添付図面を参照し、実施例を用いて詳細に説明する。なお、これらの実施例は、当業者による本発明の理解と実装を助けることのみを目的とし、本発明の範囲を限定することを意図するものではないことを理解されたい。
【0028】
本発明においては、方法のステップを実行するための具体的な順序が示されているが、これらの方法は図示する順序を厳密に守って実行する必要はなく、方法のステップの性質によっては逆の順序で実行したり同時に実行したりすることができることに留意されたい。本明細書において、ステップ、手段、装置、物体等に使用される不定冠詞「a/an」は、これらの複数を除外するものではない。
【0029】
さらに、本明細書において使用される「組み合わせ」という用語は、数学的概念の「組み合わせ」であり、n個の異なる要素からm個(m≦n)の要素を選択して形成される群とみなすことができることに留意されたい。従って、「可能な組み合わせ」は、n個の異なる要素からm個(ここで、m=1,…,およびn)の要素を選択して形成される群とみなすことができ、「可能な干渉源の組み合わせ」とは、n個の干渉源からm個(ここで、m=1,…,n)の干渉源を選択して形成される群を意味する。但し、干渉源の特性を鑑みて実際の用途において存在し得ない不可能な群は、形成された群から除外することができる。
【0030】
次に、
図3を参照して、本発明の一実施例によるダウンリンク測定指示方法について説明する。
【0031】
図3に示すように、まずステップS301において、ユーザ機器から送信されてきた干渉源情報が受信される。
【0032】
前述したように、各UEは、情報を受信する際には常に、eNB、RN等の干渉源の影響を受ける。UEは、受信した干渉情報に基づいて、干渉情報のソース、すなわち各干渉源を特定することができる。この演算は、事前決定された時期に定期的に実行してもよい。
【0033】
干渉源情報は、任意の適切なメッセージを使用して、UEのサービングノード(すなわち、eNBまたはRN)に報告することができる。UEは、全ての干渉源(すなわち、UEへの干渉レベルが比較的高い数個の干渉源)のうち支配的な干渉源である支配的干渉源のみを報告するのが望ましい。支配的干渉源数は自由に選択できるが、この数は2個であるのが望ましい。その理由は、2個という数は、UEの干渉状態を十分に反映でき、かつ以降の演算における資源消費量を少なく抑えられる数であるからである。
【0034】
次に、ステップS302において、ダウンリンクサブフレーム構成情報に基づいて、UEの測定対象とすべきサブフレーム群を示すように適応された、可能な干渉源の組み合わせの各々に関するチャネル測定指示が生成される。
【0035】
前述したように、UEは隣接セルからの干渉を受けるが、ダウンリンクサブフレーム構成はセル毎に異なる可能性がある。そのため、チャネル測定が全てのダウンリンクサブフレームに対して同時に実行される場合には、実際の干渉状態との不一致が生じることになる。
【0036】
このことから、本発明の発明者は、異なるレベルの干渉の各々に関して、ユーザ機器の測定対象とすべきサブフレーム群を特定する方法を考察した。干渉源によって干渉レベルが異なるため、異なる干渉源組み合わせは異なる干渉レベルに対応することは、理解されるであろう。本発明の実施例においては、異なるレベルの干渉を受ける個々のサブフレーム群は、ダウンリンクサブフレーム構成情報によって特定される。
【0037】
本発明の1つの実施例によれば、ダウンリンクサブフレーム構成情報は、バックホールサブフレーム構成情報と、ABS構成情報とから成る。具体的には、この情報は、UEが属するセルか隣接セル(またはその両方)のバックホールサブフレーム構成情報とABS構成情報とから成る。
【0038】
eNBは、動作中に、X2インタフェースを介して接続先セルのサブフレーム構成情報を隣接eNBと交換する。ドナーeNBは、RRCシグナリングまたはeNBブロードキャストによって、隣接セルのダウンリンクサブフレーム構成情報をRNへ通知する。そのため、この場合には、当該方法はダウンリンクサブフレーム構成情報を受信するステップをさらに備える。
【0039】
前述したように、干渉源はUEに干渉を引き起こすノードまたは機器である。UEでは、異なるサブフレーム中に異なる干渉源による干渉が同時に発生することもある。異なる可能な干渉源の組み合わせは実際には異なるレベルの干渉に対応することは、理解されるであろう。そのため、可能な干渉源の組み合わせの各々について、これらの干渉源によってUEが干渉されたサブフレーム群を特定し、そのサブフレーム群を示すためのダウンリンクチャネル測定指示によって、当該サブフレーム群をUEに送信することができる。
【0040】
このチャネル測定指示は、ダウンリンクサブフレーム構成情報に基づいて決定できる。本発明の1つの実施例によれば、ダウンリンクサブフレーム構成はビットマップで表され、チャネル測定指示は、ユーザ機器のタイプと干渉源の特性とに基づいて、対応するダウンリンクサブフレーム構成情報を表すビットマップに対して論理演算を実行することによって生成される。チャネル測定指示の生成に関する当業者の完全な理解を助けるため、いくつかの具体的な例示的シナリオについてさらに説明する。
【0041】
これから説明するシナリオでの想定事項は、以下のとおりである。すなわち、8msのバックホールサブフレーム構成期間を有するFDDのケースであり、RNで演算が実行される場合にはRNは隣接セルのダウンリンクバックホールサブフレーム構成情報を取得済みであり、UEは2個の支配的干渉源を有する。但し、これらの想定事項は各シナリオの説明を唯一の目的とし、本発明を限定するものとみなしてはならないことに留意されたい。
【0042】
まず、
図4Aを参照する。このシナリオでは、ユーザ機器は、中継ノードRN
00を接続先とするRUEであり、2個の支配的干渉源はeNB
0(RUEの接続先中継ノードのドナーeNB)と、RUEと同じドナーセルに属する他の中継ノードRN
01(すなわち、RUEの接続先中継ノード以外のRN)である。
図4Aにおいては、8msの周期性を有するダウンリンクサブフレーム構成図がeNB
0の側に示されており、1ブロックは1ミリ秒を表す。この構成図においては、「B」はダウンリンクバックホールサブフレームの位置を概略的に示し、「A」はダウンリンクABSサブフレームの位置を概略的に示している。ここで、「バックホールサブフレーム」とはeNBがダウンリンク上で情報をRNへ送信するために使用可能なサブフレームであり、「ABSサブフレーム」とはeNB
0から他の機器への干渉を減少させるために必要な制御情報のみを格納するABSである。eNB
0のバックホールサブフレーム構成情報はビットマップ「BM
0B」で表され、図示する例においてこれは「00100001」(ここで、「1」はバックホールサブフレームの位置を示す)である。同様に、eNB
0のABSサブフレーム構成情報はもう1つのビットマップ「BM
0A」で表され、図示する例においてこれは「00010000」(ここで、「1」はABSサブフレームの位置を示す)である。これらの構成は例示的に示すに過ぎないことに留意されたい。これらの構成は用途によって異なるものとなることは、当業者によって理解されるであろう。
【0043】
RUEはデータの受信中にのみ干渉を受けるので、被干渉サブフレームはダウンリンクアクセスサブフレームのはずであり、具体的には、バックホールサブフレーム構成BM
0Bに対してビット単位のNOT演算を実行することにより取得されたビットマップ、すなわち
【数1】
(ここで、「1」はアクセスサブフレームの位置を示す)によって示されるサブフレームであることは、理解されるであろう。
【0044】
同じセル内のバックホールサブフレーム構成は同一なので、RN
00がRUEへ情報を送信する際には、RN
01も同時に情報を送信する。そのため、図示したシナリオにおいては、RUEはRN
01からの干渉を受けることとなり、RUEがeNB
0からの干渉のみを受ける状況はあり得ないのである。さらに、eNB
0が「ABSサブフレームを送信する(RUEに干渉しない)」および「非ABSサブフレームを送信する(RUEに干渉する)」という2つの可能性があるため、UEがRN
01からの干渉のみを受ける(eNB
0がABSサブフレームを送信する)場合と、UEがeNB
0とRN
01からの干渉を同時に受ける(eNB
0が非ABSサブフレームを送信する)場合の、2つのケースが生じ得る。換言すれば、「C01:RN
01のみ」と「C02:RN
01およびeNB
0の両方」という、2つの可能な干渉源の組み合わせが存在する。
【0045】
可能な干渉源の組み合わせC01の場合、その干渉を受けるサブフレーム群は、以下に示すダウンリンクサブフレーム構成BM
0BおよびBM
0Aに基づいて特定することができる。
【数2】
、すなわち、サブフレーム3のみである。
【0046】
可能な干渉源の組み合わせC02の場合、その干渉を受けるサブフレーム群は、以下に示すダウンリンクサブフレーム構成BM
0BおよびBM
0Aに基づいて特定することができる。
【数3】
、すなわち、サブフレーム0、1、4、5、および6である。
【0047】
図4Bは、RUEの支配的干渉源がeNB
0(RN
00のドナーeNB)と隣接セルのeNB1との2つである、もう1つのシナリオを示す。
図4Bでは、RUEの支配的干渉源の1つが隣接セル内のeNB
1である点が
図4Aに示すシナリオとは異なる。eNB
1の側に隣接セルのダウンリンクサブフレーム構成が示されている。
図4Bに示すように、ダウンリンクバックホールサブフレーム構成はビットマップ「BM
1B」で表され、ABSサブフレーム構成はもう1つのビットマップ「BM
1A」で表されている。
【0048】
eNB
0とeNB
1は、それぞれ、「ABSサブフレームを送信する」および「非ABSサブフレームを送信する」という2つの可能性があるので、「C11:eNB
0」、「C12:eNB
1」、「C13:eNB
0とeNB
1の両方」という3つの可能な干渉源の組み合わせが存在する。
【0049】
図4Aのシナリオにおいて被干渉サブフレーム群を特定した場合と同様に、C11、C12、C13のそれぞれについて、以下に示すように、ダウンリンクサブフレーム構成BM
0B、BM
0A、およびBM
1Aに基づいて、干渉を受けるサブフレーム群を特定することができる。
C11:
【数4】
、すなわち、サブフレーム4である。
C12:
【数5】
、すなわちナルである。
C13:
【数6】
、すなわち、サブフレーム0、1、5、および6である。
【0050】
図4Cは、2つの支配的干渉源が基地局eNB
0と隣接セル内のRN
11であるさらに他のシナリオを示す。eNB
0は「ABSサブフレームを送信する」および「非ABSサブフレームを送信する」という2つの可能性を有し、RN11は「アクセスサブフレームを送信する」および「バックホールサブフレームを受信する」という2つの可能性を有するため、「C21:eNB
0」、「C22:RN
11」、および「C23:eNB
0とRN
11の両方」という3つの可能な干渉源の組み合わせが存在する。
【0051】
図4Aおよび
図4Bのシナリオにおいて被干渉サブフレーム群を特定した場合と同様に、C21、C22、C23のそれぞれについて、以下に示すように、ダウンリンクサブフレーム構成BM
0B、BM
0A、BM
1B、およびBM
1Aに基づいて、個々のサブフレーム群を特定することができる。
C21:
【数7】
、すなわち、サブフレーム1および5である。
C22:
【数8】
、すなわち、サブフレーム3のみである。
C23:
【数9】
、すなわち、サブフレーム0、4、および6である。
【0052】
図4Dは、ユーザ機器がMUEであるさらに他の例示的シナリオを示す。この例においては、MUEの2つの支配的干渉源は、2つの隣接セルにそれぞれ属するeNB
1とeNB
2である。ここで、eNB
1とeNB
2の側に、2つの隣接セルのダウンリンクサブフレーム構成が示されている。
図4A〜
図4Cに示すシナリオとは異なり、MUEはeNBからデータを受信する時に干渉を受けるので、被干渉サブフレームは、BM
0Aに対してビット単位のNOT演算を実行することで得られるビットマップ(すなわち、
【数10】
)によって指示されるサブフレームである。
【0053】
さらに、eNB
1とeNB
2は、それぞれ、「ABSサブフレームを送信する」および「非ABSサブフレームを送信する」という2つの可能性があるので、このシナリオでは「C31:eNB1」、「C32:eNB2」、および「C33:eNB1とeNB2の両方」という3つの可能な干渉源の組み合わせが存在する。
【0054】
C31、C32、C33の場合、個々のサブフレーム群は、以下のように、ダウンリンクサブフレーム構成BM
0A、BM
1A、BM
2Aに基づいて特定することができる。
C31:
【数11】
、すなわちナルである。
C32:
【数12】
、すなわちナルである。
C33:
【数13】
、すなわち、サブフレーム0、1、2、5、6、および7である。
【0055】
上記のサブフレーム群の特定方法から、サブフレーム群の特定は、ユーザ機器のタイプと干渉源の特性情報とに基づいて実行できることが分かる。この特性情報とは、干渉源のタイプと干渉源の帰属情報(すなわち、帰属先セル)である。
【0056】
当業者は、他のシナリオにおいても、ここに示す教示に基づいて様々なレベルの干渉を受けるRUEおよびMUEのサブフレーム群を特定できるということは確かである。そのため、ここでは簡潔さを優先して詳述を避ける。
【0057】
上記の方法で特定された個々のサブフレーム群は、ダウンリンクチャネル測定指示としてUEへ送信される。ナルのサブフレーム群の送信は省略できる。このチャネル測定指示は、ビットマップ形式であるのが望ましい。但し、本発明はこの形式に限定されず、個々のサブフレーム群を指示するために他の任意の形式のチャネル測定指示を採用できることは当業者には理解されるであろう。
【0058】
次に、再び
図3を参照すると、ステップS303において、ユーザ機器に対応するダウンリンクチャネル測定を実行するよう指示するために、チャネル測定指示がユーザ機器へ送信される。
【0059】
ここで特定されるサブフレーム群は、UEに対し、1つのチャネル測定指示として送信しても、あるいは複数のチャネル測定指示として送信してもよい。このようにして、UEはチャネル測定指示に基づき、個々のサブフレーム群に関して対応するダウンリンクチャネル測定を実行して、測定された各サブフレーム群のチャネル品質をそのサービングノードeNBまたはRNへ報告することができる。UEの動作に関して詳細な説明を以下に行う。よって、本発明の1つの実施例によれば、当該方法はさらに、ユーザ機器によって報告されたサブフレーム群のチャネル品質に基づいて、各サブフレームのスケジューリングを実行するステップを備える。
【0060】
上記の説明から、可能な干渉源の組み合わせは実際には異なるレベルの干渉に対応すること、当該組み合わせに関して特定された個々のサブフレーム群は実際には異なるレベルの干渉を受ける個々のサブフレーム群であること、および同じサブフレーム群に属する全てのサブフレームは同じレベルの干渉を受けることが分かる。従って、ユーザ機器は、個々のサブフレーム群を指示するためのダウンリンクチャネル測定指示に基づいて、個々のサブフレーム群のチャネル測定を個別に実行することができる。この理由から、上記のように判定されるチャネル品質は精度と信頼性が高く、従って実際のチャネル状態に一致する可能性が高い。さらに、サービングノードは、こうして判定されたチャネル品質に基づいて、スケジューリングをより高精度で効果的に実行することが可能になる。
【0061】
上記では、複数の具体的なシナリオを対象に、UEへのダウンリンクチャネル測定指示を生成する方法について説明した。しかし、本発明はこれに限定されず、様々な異なるシナリオにも適用できる。以下では、さらに他の実施例を参照して、より包括的な解決法について説明する。
【0062】
この説明における想定事項は、上記と同様に以下のとおりである。すなわち、8msのバックホールサブフレーム構成期間を有するFDDのケースであり、RNで演算が実行される場合にはRNは隣接セルのダウンリンクバックホールサブフレーム構成情報を取得済みであり、UEは2個の支配的干渉源を有する。
【0063】
対象となるUEのタイプに基づけば、UEはRUE(すなわち、中継ノードをサービングノードとするUE)およびMUE(すなわち、基地局eNBを直接サービングノードとするUE)のいずれかであり得る。説明の煩雑化を避けるため、RUEについては、そのサービング中継ノードをRN
00とし、中継ノードRN
00のDeNBをeNB
0とする。そして、MUEについては、そのサービング基地局を同じくeNB
0とする。従って、支配的干渉ノード(すなわち、干渉源)はeNB
iかまたはRN
ijである。ここで、iは基地局eNBのインデックスを表し、jはeNB
iをサービングノードとするj番目のRNを表す。また、iおよびjは、例えばi=0,1,2とj=1,2である。eNB
iダウンリンクバックホールサブフレーム構成のビットマップはBM
iB(ここで、「1」はバックホールサブフレームの位置を表す)によって表され、eNB
iのABSサブフレーム構成はBM
iA(ここで、「1」はABSサブフレームの位置を表す)で表わされる。ここで説明のため、UEに関する干渉基地局(eNB)のセットと干渉中継ノード(RN)のセットを、それぞれΩ
bおよびΩ
rを使用して表す。Ω
bはシナリオによって異なり、例えば、{}、{eNB
0}、{eNB
1}、{eNB
0、eNB
1}、{eNB
1、eNB
2}、以下同様であり得るし、Ω
rもまたシナリオによって異なり、例えば、{}、{RN
01}、{RN
01、RN
02}、{RN
11}、{RN
01、RN
11}、{RN
11、RN
12}、{RN
11、RN
21}、以下同様であり得ることは理解されるであろう。
【0064】
UEが例えばI
1およびI
2で表される2つの支配的干渉源を有する場合には、可能な干渉源の組み合わせは、例えば前述した数学的概念の「組み合わせ」に基づいて「C1:I
1」、「C2:I
2」、および「C3:I
1およびI
2の両方」として特定できる。
【0065】
前述したように、対象のサブフレームは、UEへの送信用のサブフレーム、すなわち
【数14】
である。ここで、xはユーザ機器のタイプに応じて決まり、具体的には、対象のUEがRUEの場合はx=A、対象のUEがMUEの場合はx=Bである。さらに、I
1の干渉を受けているということは、I
1がこのサブフレーム(すなわち、
【数15】
に対応するサブフレーム)でデータを送信していることを意味することは理解されるであろう。ここで、kは干渉源がRNの場合には干渉源のDeNBのインデックスであり、干渉源が基地局の場合には基地局のインデックスである。また、干渉源が基地局の場合にはy=A、干渉源がRNの場合にはy=Bである。一方、BM
kyはUEが干渉I
1を受けない状況を示すこともまた理解されるであろう。同様に、I
2からの干渉を受けている状況は
【数16】
に対応し、I
2からの干渉を受けていない状況はBM
mzに対応する。ここで、zおよびmの値の特定方法はyおよびkと同様であるので、ここでは詳述しない。
【0066】
従って、上記の3つの可能な干渉源の組み合わせC1、C2、およびC3に関しては、3つの被干渉サブフレーム群は以下のように特定することができる。
I
1の干渉のみを受けるサブフレーム群:
【数17】
I
2の干渉のみを受けるサブフレーム群:
【数18】
I
1およびI
2の干渉を受けるサブフレーム群:
【数19】
ここで、前述したように、
【数20】
は・のビット単位のNOTを表し、
&はビット単位のANDを表し、
kは、I
1∈ Ω
b(すなわち、I
1はeNB)の場合はI
1のインデックス、I
1∈ Ω
r(すなわち、I
1はRN)の場合はI
1のDeNBのインデックスであり、
mは、I
2∈ Ω
bの場合はI
2のインデックス、I
2∈ Ω
rの場合はI
2のDeNBのインデックスであり、
【数21】
である。
【0067】
このように、可能な干渉源の組み合わせ(すなわち、異なるレベルの干渉)に関するサブフレーム群は、どんなシナリオであっても上記の式に基づいて特定することができる。次に、対応するダウンリンクチャネル測定を実行するようUEに指示するために、これらの特定されたサブフレーム群はダウンリンクチャネル測定指示としてユーザ機器UEへ送信される。フィードバックのオーバーヘッドが懸念される場合には、チャネル測定指示を生成する時に2つ以上のサブフレーム群を結合してCSIフィードバック群の数を削減することができる。
【0068】
上記の包括的な実施例では、Ω
bとΩ
rのセットが定義されたが、本発明はこれに限定されないことに留意されたい。事実、k、m、x、y、およびzの値を特定する際には、これらがΩ
bとΩ
rのセットのどちらに属するかを特定せず、I
1またはI
2が基地局かあるいは中継ノードかに基づいて直接特定することができる。
【0069】
なお、可能な干渉源の組み合わせを特定する際には、特定のシナリオでは存在し得ない不可能な組み合わせは考慮されない。それは、それ以降の計算では存在し得ない組み合わせの計算結果はナルのサブフレーム群になるからである。
図4A〜4Dで説明した各シナリオにおいて説明したように、各シナリオについて、特定の用途に関する可能な干渉源の組み合わせを事前に決定することができる。但し可能な干渉源の組み合わせは、演算時に、例えば数学的概念の「組み合わせ」に基づいて自動的に形成することが可能である。
【0070】
さらに、上記の説明は2つの支配的干渉源の実施例を参照して行ったが、本発明はこれに限定されないことに留意されたい。事実、UEによって報告される干渉源は支配的干渉源に限定されず、UEに影響する全ての干渉源とすることも、あるいは他の方法で選択された干渉源の一部分とすることもできる。また、実用用途の観点に立てば2つの支配的干渉源で十分であるが、支配的干渉源数もまた2つに限定されず、他の任意の適切な数であってもよい。但し、干渉源数が2つを超える場合には、それに伴って論理演算に内包される項目が増加することは、当業者によって理解されるであろう。しかし、本明細書に示す教示に基づけば、当業者は他の干渉源数であっても容易にこの技術的解決法を実装することができる。そのため、ここでは簡潔さを優先して詳述を避ける。
【0071】
次に、
図5を参照して、UEにおけるチャネル測定実行方法のフローチャートについて説明する。
【0072】
図5に示すように、ステップS501において、UEはそのサービングノード(eNBまたはRN)へUEの干渉源に関する情報を報告する。干渉源に関する情報とは、一定の事前に決定された期間内にUEによって特定された干渉源(特に支配的干渉源)である。この事前に決定された期間は、実際の用途の必要に応じて決定することができる。
【0073】
次に、ステップS502において、UEがそのサービングノードから、UEの測定対象とすべき各サブフレーム群を示すように構成されたダウンリンクチャネル測定指示を受信する。このチャネル測定指示は、
図3〜4を参照して説明したように、サービングノードが、UEによって報告された可能な干渉源の組み合わせに対するサブフレーム群を特定することによって生成される。
【0074】
その後ステップS503において、UEがチャネル測定指示で指示されたサブフレーム群の各々についてチャネル測定を実行する。
【0075】
ダウンリンクチャネル測定指示を受信した後、UEは指示を構文解析して、そこから各サブフレーム群を取得する。UEは各サブフレーム群のチャネル測定を実行するが、これはUEが異なるレベルの干渉について対応する測定を実行することを意味し、これにより、より高精度な測定結果が得られる。チャネル測定を実行するための詳細な動作はLTE標準に準拠しているため、ここでは詳述しない。
【0076】
さらに、ステップS504において、各サブフレーム群に関して実行されたチャネル測定から、各サブフレーム群のチャネル品質が計算されるのが望ましい。ここで、チャネル品質は、例えば、事前に決定された期間内に特定のサブフレーム群について測定された全ての測定結果の平均値であっても、この期間中の標本値であっても、あるいは当該サブフレーム群のチャネル品質を表すのに適した他の任意の値であってもよい。次に、ステップS505において、各サブフレーム群のチャネル品質値がUEのサービングノード(eNBまたはRN)へ送信される。
【0077】
このように、サービングノードはCQIフィードバック(すなわち、各サブフレーム群のチャネル品質)に基づいて各サブフレームをスケジューリングするので、スケジューリングはより高精度で高効率なものとなる。
【0078】
さらに、当業者による本発明全体のさらなる理解を助けるため、
図6を参照して、本発明による通信システムの動作のフローチャートについて簡単に説明する。
【0079】
図6に示すように、まずステップS601において、UEはそのサービングノードeNBまたはRNへUEの干渉源に関する情報を報告する。次に、ステップS602において、サービングノードeNBまたはRNが干渉源に関する情報を受信し、UEの測定対象とすべきサブフレーム群を指示するために、様々な可能な干渉源の組み合わせに関するダウンリンクチャネル測定指示を生成する。続いてステップS603において、サービングノードeNBまたはRNはそのチャネル測定指示をUEへ送信する。ステップS604において、UEはそのチャネル測定指示に基づいて各サブフレーム群のチャネル測定を実行する。ステップS605において、UEは測定で得られた各サブフレーム群のチャネル品質をサービングノードeNBまたはRNへ送信する。ステップS606において、サービングノードeNBまたはRNは、UEから報告されたチャネル品質に基づいて、各サブフレームのスケジューリングを実行する。
【0080】
上記では、本発明の例をFDDに関連して説明したが、本発明はこれに限定されないことに留意されたい。TDDシステムの場合、バックホールリンクサブフレーム構成の周期性は、8msではなく10msである。この場合は、ビットマップの長さを適宜変更するだけでよい。具体的には、ビットマップの長さを8から、バックホールサブフレーム構成の周期性(10ms)に含まれるダウンリンクサブフレーム数(この数は種々のTDD UL−DL構成によって異なる)に修正する。
【0081】
さらに、ダウンリンクABS構成の周期性(例:40ms)がダウンリンクバックホールサブフレーム構成の周期性(10ms)と異なる場合には、ABS期間の周期性を基準として使用することができる。すなわち、バックホールサブフレーム構成を数回反復することによりABSサブフレームの周期性と一致させ、ABS構成の周期性と同じ時間的長さを有するバックホールサブフレーム構成を形成してもよい。
【0082】
さらに、本発明はCRS(共通基準信号)とCSI−RS(チャネル状態情報−基準信号)のいずれの干渉推定にも適用できることに留意されたい。但し、CSI−RSはスパースデューティサイクル(sparse
duty cycle)を有するので、CRSの方が望ましい。
【0083】
次に、
図7を参照して、本発明によって提供されるダウンリンクチャネル測定指示装置について説明する。
図7は、本発明の一実施例によるダウンリンクチャネル測定指示装置700を示す。
【0084】
図7に示すように、装置700は、干渉源情報受信手段701と測定指示生成手段702と測定指示送信手段703とを備える。干渉源情報受信手段701は、ユーザ機器の干渉源に関する情報を受信するように構成され、測定指示生成手段702は、ダウンリンクサブフレーム構成情報に基づいて、ユーザ機器の測定対象とすべきサブフレーム群を指示するように適応された、可能な干渉源の組み合わせの各々に関するチャネル測定指示を生成するように構成され、測定指示送信手段703は、対応するダウンリンクチャネル測定を実行するようユーザ機器に指示するために、ユーザ機器へダウンリンクチャネル測定指示を送信するように構成される。
【0085】
本発明の1つの実施例においては、装置700はさらに、隣接セルのダウンリンクサブフレームの構成情報を受信するための構成情報受信手段704を備える。
【0086】
本発明の他の実施例においては、装置700はさらに、可能な干渉源の組み合わせを形成するための干渉源組み合わせ形成手段705を備える。
【0087】
本発明のさらに他の実施例においては、ダウンリンクサブフレーム構成情報はビットマップで表され、測定指示生成手段702は、ユーザ機器のタイプと干渉源の特性とに基づいて、対応するダウンリンクサブフレーム構成情報を表すビットマップに対して論理演算を実行することによりチャネル測定指示を生成するように構成される。
【0088】
本発明のさらに他の実施例においては、チャネル測定指示はビットマップによって表される。
【0089】
本発明のさらに他の実施例においては、ダウンリンクサブフレーム構成情報は、バックホールリンクサブフレーム構成情報と、ABS構成情報とから成る。
【0090】
本発明のさらに他の実施例においては、干渉源の特性は、各干渉源のタイプと、各干渉源の帰属情報とから成る。
【0091】
本発明のさらに他の実施例においては、干渉源はユーザ機器の支配的干渉源である。
【0092】
本発明の他の実施例においては、支配的干渉源数は2個である。
【0093】
本発明のさらに他の実施例においては、当該装置700はさらに、ユーザ機器によって報告されたサブフレーム群のチャネル品質に基づいて、各サブフレームのスケジューリングを実行するスケジューリング手段706を備える。
【0094】
上記に加えて、本発明はさらに、ダウンリンクチャネル測定実行装置を備える。以下では、当該装置について、本発明の一実施例によるダウンリンクチャネル測定実行装置800を示す
図8を参照して詳細に説明する。
【0095】
図8に示すように、装置800は、干渉源情報報告手段801と測定指示受信手段802とチャネル測定手段803とを備える。ここで、干渉源情報報告手段801は、ユーザ機器の干渉源に関する情報をそのサービングノードへ報告するように構成され、測定指示受信手段802は、ユーザ機器の測定対象とすべきサブフレーム群を指示するように適応されたチャネル測定指示をサービングノードから受信するように構成され、チャネル測定手段803は、チャネル測定指示に基づいて当該サブフレーム群のダウンリンクチャネル測定を実行するように構成される。
【0096】
本発明の1つの実施例においては、装置800はさらに、ダウンリンクチャネル測定からサブフレーム群のチャネル品質を判定するためのチャネル品質判定手段804と、サブフレーム群のチャネル品質をサービングノードへ送信するためのチャネル品質送信手段805を備える。
【0097】
なお、装置700および800を構成する個々の手段の動作は、実質的には前述した方法の各ステップに対応することに留意されたい。従って、装置700および800内の個々の手段の詳細な動作については、上記で
図3〜6を参照して行った本発明の方法の説明を参照されたい。
【0098】
これまで、添付図面を参照して本発明の特定の好ましい実施例について説明してきたが、本発明は図示および説明されたこれらの特定の実施例には限定されず、本発明の範囲の中で様々な修正が可能であることに留意されたい。
【0099】
加えて、本発明の実施例は、ソフトウェア、ハードウェア、またはソフトウェアとハードウェアの組み合わせとして実装することが可能である。ハードウェア部分は専用の論理回路を使用して実装でき、ソフトウェア部分はメモリに格納して、マイクロプロセッサや専用設計のハードウェア等の適切な命令実行システムによって実行することができる。当該技術の標準的なスキルを有する当業者には、上記の方法およびシステムは、プロセッサに含まれるコンピュータによる実行が可能な命令または制御コードを使用して実装でき、当該コードは、磁気ディスク、CD、DVD−ROM等のベアラ用媒体、または読み出し専用メモリ等のプログラマブルメモリ(ファームウェア)、または光学もしくは電子信号用ベアラ等のデータベアラに格納して提供されることが、理解されるであろう。本実施例の装置およびその構成要素は、超大規模集積回路やゲートアレイ等のハードウェア回路、論理チップやトランジスタ等の半導体、またはフィールドプログラマブルゲートアレイやプログラマブル論理デバイス等のプログラマブルハードウェアデバイスによって実装することも、各種プロセッサによって実行されるソフトウェアによって実装することも、あるいは、ハードウェア回路とソフトウェアの組み合わせ(例えば、ファームウェア)によって実装することもできる。
【0100】
上記では本発明を本書で考察した実施例を参照して説明してきたが、本発明は開示された実施例に限定されないことは理解されるであろう。本発明は、添付請求項の精神および範囲から逸脱しない様々な修正および等価構成を含むことが意図されている。付記された請求項の範囲は最も広義な説明であり、変更態様、等価な構造、および機能を全て含んでいる。
【0101】
さらに、上記実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうるが、これに限定されない。
【0102】
(付記1)
中継システムにおけるダウンリンクチャネル測定指示方法であって、
ユーザ機器の干渉源に関する情報を受信するステップと、
ダウンリンクサブフレーム構成情報に基づいて、ユーザ機器の測定対象とすべきサブフレーム群を指示するように構成された、可能な干渉源の組み合わせの各々に関するダウンリンクチャネル測定指示を生成するステップと、
対応するダウンリンクチャネル測定を実行するようユーザ機器に指示するために、ユーザ機器へダウンリンクチャネル測定指示を送信するステップと
を含むことを特徴とするダウンリンクチャネル測定指示方法。
【0103】
(付記2)
ユーザ機器の可能な干渉源の組み合わせを形成するステップをさらに含むことを特徴とする付記1に記載のダウンリンクチャネル測定指示方法。
【0104】
(付記3)
隣接セルのダウンリンクサブフレーム構成情報を受信するステップをさらに含むことを特徴とする付記1に記載のダウンリンクチャネル測定指示方法。
【0105】
(付記4)
前記ダウンリンクサブフレーム構成情報はビットマップで表され、前記ダウンリンクチャネル測定指示は、ユーザ機器のタイプと干渉源の特性とに基づいて、対応するダウンリンクサブフレーム構成情報を表すビットマップに対して論理演算を実行することによって生成されることを特徴とする付記1に記載のダウンリンクチャネル測定指示方法。
【0106】
(付記5)
ダウンリンクチャネル測定指示はビットマップによって表されることを特徴とする付記4に記載のダウンリンクチャネル測定指示方法。
【0107】
(付記6)
前記ダウンリンクサブフレーム構成情報は、バックホールサブフレーム構成に関する情報と、ABS(Almost Blank Subframe)構成に関する情報とを備えることを特徴とする付記1に記載のダウンリンクチャネル測定指示方法。
【0108】
(付記7)
前記干渉源は、ユーザ機器の支配的な干渉源であることを特徴とする付記1に記載のダウンリンクチャネル測定指示方法。
【0109】
(付記8)
ユーザ機器によって報告されたサブフレーム群のチャネル品質に基づいて、各サブフレームのスケジューリングを実行するステップをさらに含むことを特徴とする付記1に記載のダウンリンクチャネル測定指示方法。
【0110】
(付記9)
中継システムにおけるダウンリンクチャネル測定指示装置であって、
ユーザ機器の干渉源に関する情報を受信するための干渉源情報受信手段と、
ダウンリンクサブフレーム構成情報に基づいて、ユーザ機器の測定対象とすべきサブフレーム群を指示するように構成された、可能な干渉源の組み合わせの各々に関するダウンリンクチャネル測定指示を生成する測定指示生成手段と、
対応するダウンリンクチャネル測定を実行するようユーザ機器に指示するために、ユーザ機器へダウンリンクチャネル測定指示を送信する測定指示送信手段と
を備えることを特徴とするダウンリンクチャネル測定指示装置。
【0111】
(付記10)
ユーザ機器の可能な干渉源の組み合わせを形成する干渉源組み合わせ形成手段をさらに備えることを特徴とする付記9に記載のダウンリンクチャネル測定指示装置。
【0112】
(付記11)
隣接セルの前記ダウンリンクサブフレーム構成情報を受信する構成情報受信手段をさらに備えることを特徴とする付記9に記載のダウンリンクチャネル測定指示装置。
【0113】
(付記12)
前記ダウンリンクサブフレーム構成情報はビットマップで表され、前記測定指示生成手段は、ユーザ機器のタイプと干渉源の特性とに基づいて、対応するダウンリンクサブフレーム構成情報を表すビットマップに対して論理演算を実行することによってダウンリンクチャネル測定指示を生成するように構成されることを特徴とする付記9に記載のダウンリンクチャネル測定指示装置。
【0114】
(付記13)
前記ダウンリンクチャネル測定指示はビットマップによって表されることを特徴とする付記12に記載のダウンリンクチャネル測定指示装置。
【0115】
(付記14)
前記ダウンリンクサブフレーム構成情報は、バックホールサブフレーム構成に関する情報と、ABS(Almost Blank Subframe)構成に関する情報とを備えることを特徴とする付記9に記載のダウンリンクチャネル測定指示装置。
【0116】
(付記15)
前記干渉源は、ユーザ機器の支配的な干渉源であることを特徴とする付記9に記載のダウンリンクチャネル測定指示装置。
【0117】
(付記16)
ユーザ機器によって報告されたサブフレーム群のチャネル品質に基づいて、各サブフレームのスケジューリングを実行するスケジューリング手段をさらに備えることを特徴とする付記9に記載のダウンリンクチャネル測定指示装置。
【0118】
(付記17)
中継システムにおいてダウンリンクチャネル測定を実行するための方法であって、
ユーザ機器の干渉源に関する情報をそのサービングノードへ報告するステップと、
ユーザ機器の測定対象とすべきサブフレーム群を指示するように適応されたダウンリンクチャネル測定指示をサービングノードから受信するステップと、
前記ダウンリンクチャネル測定指示に基づいて当該サブフレーム群のダウンリンクチャネル測定を実行するステップと
を含むことを特徴とする方法。
【0119】
(付記18)
ダウンリンクチャネル測定からサブフレーム群のチャネル品質を判定するステップと、
前記サブフレーム群のチャネル品質を前記サービングノードへ送信するステップとを含むことを特徴とする付記17に記載の方法。
【0120】
(付記19)
中継システムにおけるダウンリンクチャネル測定実行装置であって、
ユーザ機器の干渉源に関する情報をそのサービングノードへ報告するための干渉源情報報告手段と、
ユーザ機器の測定対象とすべきサブフレーム群を指示するように適応されたダウンリンクチャネル測定指示を前記サービングノードから受信するための測定指示受信手段と、
前記ダウンリンクチャネル測定指示に基づいて当該サブフレーム群のダウンリンクチャネル測定を実行するためのチャネル測定手段と
を備えることを特徴とするダウンリンクチャネル測定実行装置。
【0121】
(付記20)
ダウンリンクチャネル測定からサブフレーム群のチャネル品質を判定するチャネル品質判定手段と、
前記サブフレーム群のチャネル品質を前記サービングノードへ送信するチャネル品質送信手段とを備えることを特徴とする付記19に記載のダウンリンクチャネル測定実行装置。