特許5695193イオン又は後にイオン化される中性粒子を試料から検出する方法、質量分析計、及びその使用

発明の名称　イオン又は後にイオン化される中性粒子を試料から検出する方法、質量分析計、及びその使用

出願人　イオン−トフ　テクノロジーズ　ゲーエムベーハー　（識別番号 509021649）

　　　　特許公開件数ランキング 13870 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 11686 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-5695193

公報発行日　2015年4月1

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-5695193

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