(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
前記天板には、平面視で前記プレート端子と重なる領域外の領域において厚さ方向に貫通する貫通孔が形成されている、請求項1〜6のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュール。
前記天板の前記プレート端子と対向する領域には、平面視で3つの前記開口が三角形状に配列されており、前記SiC半導体パワーデバイスは、各前記開口に1対1で対応するように配置されている、請求項1〜8のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュール。
デバイス領域を有するベース部と、当該ベース部に固定され、前記デバイス領域を包囲する枠部とを有するケースの前記ベース部に表面および裏面を有するSiC半導体パワーデバイスの当該裏面を接合する工程と、
前記ベース部と前記SiC半導体パワーデバイスの接合後、表面および裏面を有し、前記SiC半導体パワーデバイス用の配線部材として用いられるCuMo合金またはCuW合金からなる金属ブロックの当該裏面を、前記SiC半導体パワーデバイスの前記表面に接合する工程と、
前記SiC半導体パワーデバイスに電力を供給するための平板状のプレート端子に対して、予備はんだ付けを施す工程と、
前記プレート端子の平面面積よりも小さい開口を有する天板を用意し、前記金属ブロックに対して前記天板の前記開口が一致するように前記天板の位置決めをし、前記枠部に対して前記天板を固定する工程と、
前記プレート端子における前記予備はんだが施された箇所に前記天板に沿って当該天板の周縁部よりも内側の領域のみに前記プレート端子が設けられるように前記金属ブロックを当接させ、前記プレート端子を加熱することによって前記プレート端子と前記金属ブロックとを接合する工程とを含む、半導体パワーモジュールの製造方法。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
半導体パワーデバイスに接続されるAlワイヤは、半導体パワーデバイスが扱う大電流を流す必要があるので、通常、デバイス1チップに対して複数本ボンディングされる。
しかしながら、たとえ複数本のAlワイヤを接合しても、個々のAlワイヤと半導体パワーデバイスとの接合面積が小さいため、Alワイヤとデバイスとの接合部に電流が集中してしまう。この電流集中により、電流波形が乱れ、さらにはデバイスが局所的に発熱するという不具合がある。デバイスで発生した熱の一部は、Alワイヤを伝わって放散されるが、細いワイヤでは、その放熱効果は十分ではない。
【0006】
デバイス1チップ当たりに接続するAlワイヤの本数を増やし、それにより大きな接合面積を確保すれば、十分な放熱効果を得ることができるかもしれない。しかし、デバイスに接続されるAlワイヤのピッチに制限があるため、別の手法による放熱効果の向上が望まれる。
そこで、本発明の主たる目的は、半導体パワーデバイスから流れる電流を平準化することができ、さらに、半導体パワーデバイスで発生する熱を効率よく放散させることができる半導体パワーモジュールおよびその製造方法を提供することである。
【0007】
また、本発明の他の目的は、半導体パワーデバイスから流れる電流を平準化することができ、さらに、半導体パワーデバイスで発生する熱を効率よく放散させることができる半導体パワーモジュールを、簡単かつ品質よく製造することができる半導体パワーモジュールの製造方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0008】
上記目的を達成するための請求項1記載の発明は、デバイス領域を有するベース部と、当該ベース部に固定され、前記デバイス領域を包囲する枠部とを有するケースと、表面および裏面を有し、当該裏面が前記デバイス領域に接合されたSiC半導体パワーデバイスと、前記ケースの前記枠部に固定され、前記デバイス領域に対向する樹脂製の天板と、
前記天板に沿って当該天板の周縁部よりも内側の領域のみに設けられたプレート端子と、表面および裏面を有し、当該裏面が前記SiC半導体パワーデバイスの前記表面に接合され、前記SiC半導体パワーデバイスの前記表面から前記ベース部から離れる方向に立ち上がり、前記SiC半導体パワーデバイス用の配線部材として用いられるCuMo合金またはCuW合
金からなる金属ブロックとを含み、前記天板は、前記プレート端子と対向する領域に形成された、前記プレート端子の平面面積よりも小さい開口と、平面視で前記プレート端子に重なり合い、前記プレート端子をその裏面側から支持する支持部とを有し、前記金属ブロックは、当該開口を介して前記プレート端子に接合されており、前記天板の前記支持部は、前記天板において前記金属ブロックを取り囲む当該開口の周縁部を含む、半導体パワーモジュールである。
【0009】
この構成によれば、
SiC半導体パワーデバイスとモジュールの
プレート端子とを接続する配線部材として、ワイヤよりも径の大きい金属ブロックが用いられる。これにより、
SiC半導体パワーデバイスに対して、配線を大きな面積で接合させることができる。そのため、配線(金属ブロック)と
SiC半導体パワーデバイスとの間の接合部における電流集中の発生を抑制することができる。その結果、電流を平準化することができる。さらに、
SiC半導体パワーデバイスで発生する熱を効率よく放散させることができるので、放熱効果を向上させることもできる。
【0011】
外部端子がケースを閉塞する天板に沿って設けられたプレート端子である場合、当該プレート端子が外部から衝撃等を受けると、その衝撃は、金属ブロックを介してSiC半導体パワーデバイスに伝わり、結果、デバイスが破壊するおそれがある。
そこで、請求項1記載の発明では、天板が、プレート端子を裏面側から支持する支持部を有している。
そして、このプレート端子は、天板に沿って当該天板の周縁部よりも内側の領域のみに設けられている。これにより、プレート端子が衝撃等を受けても、その衝撃を支持部で緩和することができる。その結果、衝撃をSiC半導体パワーデバイスに全く伝えないようにできるか、または、SiC半導体パワーデバイスに伝わる衝撃を低減することができる。よって、衝撃によるSiC半導体パワーデバイスの破壊を防止することができる。
【0012】
また
、この構成によれば、金属ブロックを取り囲む開口の周縁部で構成された支持部により、プレート端子から金属ブロックに伝わる衝撃を効果的に緩和することができる。
また、この構成によれば、SiC半導体パワーデバイスの配線部材としてAlワイヤを使用する場合に比べて、SiCと配線部材との線膨張係数差を小さくすることができる。そのため、SiC半導体パワーデバイスと配線部材との間に生じる熱応力の発生を低減することができる。その結果、デバイスの熱疲労を低減できるので、高寿命かつ信頼性の高い半導体パワーモジュールを達成することができる。
また、たとえば、SiCの線膨張係数は約4.5ppm/Kであり、CuMo合金の線膨張係数は約9.0ppm/K(SiCの約2倍)である。一方、Alの線膨張係数は約23ppm/K(SiCの約5倍)である。
【0013】
また、請求項
2記載の発明は、前記天板が、前記枠部に対して分離可能に設けられた部材である、請求項
1に記載の半導体パワーモジュールである。
この構成によれば、天板が枠部に対して分離可能であるため、半導体パワーモジュールの製造に際して、枠部と天板とを分離した状態で、まずデバイス領域に
SiC半導体パワーデバイスを配置し、当該
SiC半導体パワーデバイスに金属ブロックを接合させることができる。そのため、作業性がよい。
【0019】
また、請求項
3記載の発明は、前記ベース部および前記枠部がいずれも金属製であり
、前記枠部が、前記ベース部を介して前記
SiC半導体パワーデバイスに電力を供給するため
の外部端子を兼ねている、請求項
1または2に記載の半導体パワーモジュールである。
【0020】
この構成によれば、ベース部から立ち上がる枠部
が外部端子を兼ねているので、
SiC半導体パワーデバイスの裏面に対する電気的なコンタクトを、半導体パワーモジュールの表面側からとることができる
。
【0022】
また、前記金属ブロックは、請求項
4記載の発明のように、直方体形状を有していてもよいし、請求項
5記載の発明のように、その裏面から表面へ向かって断面積が広がるテーパー形状を有していてもよい。
【0023】
金属ブロックがテーパー形状の場合、その裏面の面積を
SiC半導体パワーデバイスの表面面積に合わせて設計し、その表面の面積を
プレート端子の大きさに合わせて設計すれば、デバイスで発生する熱を、最適な放熱効率で放散することができる。
また、請求項
6記載の発明のように、前記半導体パワーモジュールには、前記
SiC半導体パワーデバイスが複数設けられており、前記
プレート端子は、各前記
SiC半導体パワーデバイスに接合された金属ブロックに一括して接合されていてもよい。
【0024】
また、請求項
7記載の発明は、前記天板には、平面視で前記プレート端子と重なる領域外の領域において厚さ方向に貫通する貫通孔が形成されている、請求項1〜
6のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュールである。
この構成によれば、天板に形成された貫通孔からケース内へ樹脂を流し込むことにより、ケース内の絶縁状態を簡単に維持することができる。
請求項8記載の発明は、前記プレート端子は、前記天板の上面から上方に向けて突出している、請求項1〜7のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュールである。
請求項9記載の発明は、前記天板の前記プレート端子と対向する領域には、平面視で3つの前記開口が三角形状に配列されており、前記SiC半導体パワーデバイスは、各前記開口に1対1で対応するように配置されている、請求項1〜8のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュールである。
請求項10記載の発明は、前記デバイス領域には、平面視で矩形状に形成された絶縁基板が配置されており、前記絶縁基板上には、前記SiC半導体パワーデバイスと接続されるプレート状の配線が形成されている、請求項1〜9のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュールである。
請求項11記載の発明は、前記金属ブロックは、CuMo合金またはCuW合金からなる、請求項1〜10のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュールである。
【0025】
また、請求項
11記載の発明は、デバイス領域を有するベース部と、当該ベース部に固定され、前記デバイス領域を包囲する枠部とを有するケースの前記ベース部に表面および裏面を有するSiC半導体パワーデバイスの当該裏面を接合する工程と、前記ベース部と前記SiC半導体パワーデバイスの接合後、表面および裏面を有し、前記SiC半導体パワーデバイス用の配線部材として用いられるCuMo合金またはCuW合
金からなる金属ブロックの当該裏面を、前記SiC半導体パワーデバイスの前記表面に接合する工程と、前記SiC半導体パワーデバイスに電力を供給するための平板状のプレート端子に対して、予備はんだ付けを施す工程と、前記プレート端子の平面面積よりも小さい開口を有する天板を用意し、前記金属ブロックに対して前記天板の前記開口が一致するように前記天板の位置決めをし、前記枠部に対して前記天板を固定する工程と、前記プレート端子における前記予備はんだが施された箇所に前記天板に沿って当該天板の周縁部よりも内側の領域のみに前記プレート端子が設けられるように前記金属ブロックを当接させ、前記プレート端子を加熱することによって前記プレート端子と前記金属ブロックとを接合する工程とを含む、半導体パワーモジュールの製造方法である。
【0026】
本発明のように、放熱効果の高い金属ブロックを
SiC半導体パワーデバイスの配線材料として利用する場合、金属ブロックと
プレート端子との間にはんだ材料を挟んで、
プレート端子側を単に加熱するだけでは、その熱が放熱効果の高い金属ブロックを伝わって放散される場合がある。その結果、予め挟まれたはんだ材料が良好に溶けず、金属ブロックと
プレート端子との接合不良を生じるおそれがある。
【0027】
そこで、請求項
11記載の発明では、プレート端子に対して、予め予備はんだ付けを施し、その予備はんだが施された箇所に前記金属ブロックを当接して接合する。これにより、金属ブロックとプレート端子とを良好に接合することができる。すなわち、本発明のようなSiC半導体パワーデバイスを、簡単かつ品質よく製造することができる。
また、請求項
12記載の発明は、前記予備はんだ付けを施す工程は、当該プレート端子に所定量以上のはんだを盛る工程を含む、請求項
11に記載の半導体パワーモジュールの製造方法である。
【0028】
この構成によれば、複数の金属ブロック間に高低差が生じている場合でも、所定量以上のはんだにより、その高低差を補うことができる。
【発明を実施するための形態】
【0030】
以下では、本発明の実施の形態を、添付図面を参照して詳細に説明する。
<第1実施形態>
図1は、本発明の第1実施形態に係るパワーモジュールの全体図である。
パワーモジュール1は、開放面を有するケース2と、当該ケースの開放面を閉塞する天板3と、外部端子としてのソース端子4と、ソースセンス端子5と、ゲート端子6とを備えている。
【0031】
説明の便宜上、以下では、
図1に示したX方向、Y方向およびZ方向を用いることがある。X方向は、平面視矩形のケース2の長辺に沿う方向である。Y方向は、平面視矩形のケース2の短辺に沿う方向である。Z方向は、ケース2の高さ方向に沿う方向である。ケース2を水平面に置いたとき、X方向およびY方向は互いに直交する2つの水平な直線(X軸およびY軸)に沿う2つの水平方向(第1水平方向および第2水平方向)となり、Z方向は鉛直な直線(Z軸)に沿う鉛直方向(高さ方向)となる。
【0032】
ケース2は、平面視矩形の一様厚さのベース部8と、このベース部8の周縁部から立設された平面視矩形の枠部9とを一体的に有している。パワーモジュール1では、ベース部8における枠部9で包囲される領域(後述するデバイス領域16)に、後述するパワーデバイス18が配置される。
ベース部8および枠部9は、この実施形態では、金属材料で構成されている。とくに、アルミニウム、銅等の放熱性の高い金属で構成されていることが好ましい。
【0033】
枠部9には、樹脂材料で構成された台座12が取り付けられている。この台座12を貫通して、細い円柱状のソースセンス端子5およびゲート端子6がケース2の内外に跨って設けられている。樹脂製の台座12を介してソースセンス端子5およびゲート端子6を設けることにより、ソースセンス端子5およびゲート端子6を互いに、かつ、金属製の枠部9に対して絶縁することができる。
【0034】
天板3は、ケース2に対して分離可能な平面視矩形の一様な厚さの板状体である。天板3は、この実施形態では、樹脂材料で構成されている。とくに、PPS(ポリフェニレンサルファイド)等の耐熱性樹脂を用いることが好ましいが、液晶ポリマー、セラミック材などを用いてもよい。天板3は、たとえば、接着剤などを利用して枠部9に固定されている。
【0035】
ソース端子4は、Y方向沿って長い平面視矩形の一様な厚さの板状体(プレート端子)であり、天板3の上面に載置されている。
図1に示すように、ソース端子4は、天板3に沿って当該天板3の周縁部よりも内側の領域のみに設けられている。
また、天板3において、ソース端子4と対向する領域には、ソース端子4の平面面積よりも小さい開口14(
図1の二点鎖線)が複数形成されている。複数の開口14は、後述するパワーデバイス18の数と同数形成されている。この実施形態では、3つの開口14が、平面視で三角形状に配列されている。
【0036】
また、天板3において、ソース端子4と台座12との間の位置には、天板3を厚さ方向に貫通する貫通孔15が形成されている。貫通孔15は、この実施形態では、Y方向に沿って長い平面視楕円状に形成されている。
図2は、
図1に示す半導体パワーモジュールの内部構成図である。
図3は、
図1に示す半導体パワーモジュールの断面図であって、
図1のA−A切断面における断面を表している。
【0037】
ケース2内において、枠部9に包囲されるデバイス領域16には、絶縁基板17および複数のパワーデバイス18が、Y方向に沿って台座12の側からこの順に配置されている。
絶縁基板17は、たとえば、セラミック基板で構成されている。この絶縁基板17は、Y方向沿って長い平面視矩形の一様な厚さの板状体であり、その上には、プレート状のソースセンス配線19およびゲート配線20が、互いに間隔を空けて形成されている。ソースセンス配線19には、ソースセンス端子5の一端が接続されている。また、ゲート配線20には、ゲート端子6の一端が接続されている。
【0038】
複数のパワーデバイス18は、複数のスイッチング素子Trおよび複数のダイオード素子Diを含んでいる。この実施形態では、2つのスイッチング素子Trおよび1つのダイオード素子Diを含んでいる。パワーデバイス18は、この実施形態では、SiC半導体を用いたデバイスである。これら複数のパワーデバイス18は、それぞれ天板3の開口14に1対1で対応するように配置されている。具体的には、1つのダイオード素子Diと、2つのスイッチング素子Trとは、平面視で三角形状に配列されている。そして、複数のパワーデバイス18は、その裏面182がケース2のベース部8に対して接合されることにより、ケース2に対して電気的に接続されている。
【0039】
パワーデバイス18のうち、スイッチング素子Trは、それぞれゲート配線20およびソースセンス配線19に対して、別々のAlワイヤ22,23を用いて、電気的に接続されている。
各パワーデバイス18の表面181(ベース部8に接合された面の反対側の面)には、パワーデバイス18に電力を供給する配線材料として用いられる金属ブロック24の裏面242が1つずつ接合されている。金属ブロック24は、この実施形態では、パワーデバイス18の表面181からベース部8から離れる方向(ソース端子4に近づく方向)に立ち上がる直方体形状を有している。
【0040】
金属ブロック24は、CuまたはCuを含む合金材料(合金材料としては、たとえば、CuMo合金、CuW合金などが挙げられる。)からなることが好ましい。これにより、SiCパワーデバイス18の配線部材としてAlワイヤを使用する場合に比べて、SiCと金属ブロック24との線膨張係数差を小さくすることができる。そのため、パワーデバイス18と金属ブロック24との間に生じる熱応力の発生を低減することができる。その結果、デバイスの熱疲労を低減できるので、高寿命かつ信頼性の高いパワーモジュール1を達成することができる。たとえば、SiCの線膨張係数は約4.5ppm/Kであり、CuMo合金の線膨張係数は約9.0ppm/K(SiCの約2倍)である。一方、Alの線膨張係数は約23ppm/K(SiCの約5倍)である。そして、複数の金属ブロック24は、天板3の開口14を介してその表面241がソース端子4に接合されている。
【0041】
また、天板3において、ソース端子4と対向する領域には、平面視でソース端子4の形状に沿った輪郭を有する(平面視でソース端子4に重なる)凹部25が形成されており、この凹部25内にソース端子4が嵌め込まれている。金属ブロック24とソース端子4との接続のための開口14は、この凹部25の底壁26を貫通するように形成されている。支持部としての凹部25の底壁26における当該開口14を取り囲む部分は、ソース端子4に裏面側から当接している。これにより、ソース端子4は、その一部が接合により金属ブロック24によって支持されており、残りの大部分がその裏面側に入り込む天板3(凹部25の底壁26)によって支持されている。
【0042】
図4A〜
図4Eは、
図1に示すパワーモジュールの製造工程を工程順に説明する図である。
まず、
図4Aに示すように、ケース2内のデバイス領域16に、プレート状の配線が形成された絶縁基板17が取り付けられる。次いで、ソースセンス端子5およびゲート端子6が挿入された台座12がケース2の枠部9に取り付けられる。続いて、ソースセンス端子5およびゲート端子6それぞれと、プレート状配線19〜20との接合が行われる。次いで、たとえば、板はんだ27を介して、ベース部8の上に各パワーデバイス18がセットされる。そして、ケース2をヒータ28上に搬入し、たとえば、250〜400℃で加熱する。この加熱により、金属製のケース2に伝わった熱が板はんだ27に伝わって板はんだ27が溶融する。これにより、パワーデバイス18がケース2のベース部8に接合される。なお、
図4B以下では、接合に使用された板はんだ27を省略している。
【0043】
次いで、ケース2をヒータ28に置いたまま、
図4Bに示すように、たとえば、板はんだ29を介して、各パワーデバイス18の表面181に金属ブロック24がセットされる。そして、たとえば、250〜400℃でケース2を加熱する。この加熱により、金属製のケース2に伝わった熱が、パワーデバイス18を介して板はんだ29に伝わって、板はんだ29が溶融する。これにより、金属ブロック24がパワーデバイス18に接合される。なお、
図4C以下では、接合に使用された板はんだ29を省略している。
【0044】
次いで、
図4Cに示すように、各金属ブロック24に対して天板3の開口14が一致するように天板3の位置決めをし、枠部9に対して天板3を固定する。
次いで、
図4Dに示すように、ソース端子4が単独でヒータ28の上に置かれ、当該ソース端子4の上に予備はんだ30が施される。次いで、ケース2を逆さまにした状態(天板3が下側になった状態)で予備はんだ30に対して金属ブロック24の位置決めをし、金属ブロック24と予備はんだ30とを接触させる。
【0045】
そして、ヒータ28の加熱により、
図4Eに示すように、金属ブロック24とソース端子4とが接合される。
このとき、ソース端子4は、天板3に沿って当該天板3の周縁部よりも内側の領域のみに設けられるように、金属ブロック24と接合される。
以上のように、パワーモジュール1によれば、パワーデバイス18とソース端子4とを接続する配線部材として、ワイヤよりも径の大きい金属ブロック24が用いられる。これにより、パワーデバイス18に対して、配線(金属ブロック24)を大きな面積で接合させることができる。そのため、配線(金属ブロック24)とパワーデバイス18との間の接合部における電流集中の発生を抑制することができる。その結果、電流を平準化することができる。さらに、パワーデバイス18で発生する熱を、金属ブロック24およびプレート状ソース端子4により効率よく放散させることができるので、放熱効果を向上させることもできる。
【0046】
また、この実施形態のように、外部端子が天板3の上面に沿って設けられたプレート端子である場合、当該ソース端子4が外部から衝撃等を受けると、その衝撃は、金属ブロック24を介してパワーデバイス18に伝わり、結果、デバイス18が破壊するおそれがある。
そこで、この実施形態では、天板3の凹部25の底壁26が、ソース端子4を裏面側から支持している。
そして、このソース端子4は、天板3に沿って当該天板3の周縁部よりも内側の領域のみに設けられている。これにより、ソース端子4が衝撃等を受けても、その衝撃を凹部25の底壁26で緩和することができる。その結果、衝撃をパワーデバイス18に全く伝えないようにできるか、または、パワーデバイス18に伝わる衝撃を低減することができる。よって、衝撃によるパワーデバイス18の破壊を防止することができる。しかも、この実施形態では、ソース端子4を支持する支持部が、各金属ブロック24を1対1で各金属ブロックの平面輪郭に沿って取り囲む開口14の周縁部(凹部25の底壁26)で構成されているため、ソース端子4から金属ブロック24に伝わる衝撃を効果的に緩和することができる。
【0047】
また、天板3が枠部9に対して分離可能であるため、パワーモジュール1の製造に際して、枠部9と天板3とを分離した状態で、まずデバイス領域16にパワーデバイス18を配置し、当該パワーデバイス18に金属ブロック24を接合させることができる。そのため、作業性がよい。
また、金属製のベース部8にパワーデバイス18の裏面182が直接接合されているため、パワーデバイス18の裏面182(ドレイン側)に対する電気的なコンタクトを、パワーモジュール1のケース2を利用してとることができる。
【0048】
また、天板3に貫通孔15が形成されているため、当該貫通孔15からケース2内へ樹脂を流し込むことにより、ケース2内の絶縁状態を簡単に維持することができる。
また、この実施形態のように、放熱効果の高い金属ブロック24をパワーデバイス18の配線材料として利用する場合、たとえば、
図4Aや
図4Bの工程のように、金属ブロック24とソース端子4との間に板はんだを挟んだ状態で、ソース端子4をヒータ28で加熱するやり方では、その熱が放熱効果の高い金属ブロック24を伝わって放散される場合がある。その結果、予め挟まれた板はんだが良好に溶けず、金属ブロック24とソース端子4との接合不良を生じるおそれがある。
【0049】
そこで、この実施形態では、
図4Dに示すように、ソース端子4に対して、予め予備はんだ30を施し、その予備はんだ30が施された箇所に金属ブロック24を当接して接合する。これにより、金属ブロック24と外部端子とを良好に接合することができる。すなわち、パワーモジュール1を、簡単かつ品質よく製造することができる。
そして、このような方法によれば、たとえば、複数の金属ブロック24間に、
図5に示すような高低差hが生じていても、所定量の予備はんだ30を施すことにより、その高低差hを予備はんだ30で補うことができる。その結果、複数の金属ブロック24に対して、プレート状のソース端子4を一括して確実に接合することができる。
図6は、
パワーモジュールの一実施形態に係
る全体図である。
図7は、
図6に示すパワーモジュールの内部構成図である。
図8は、
図6に示すパワーモジュールの断面図であって、
図6のB−B切断面における断面を表している。
図9は、
図6に示すパワーモジュールの断面図であって、
図6のC−C切断面における断面を表している。
【0050】
パワーモジュール51は、開放面を有するケース52と、当該ケース52の開放面を閉塞する天板53と、外部端子としてのソース端子54と、ソースセンス端子55と、ゲート端子56とを備えている。
説明の便宜上、以下では、
図1に示したX方向、Y方向およびZ方向を用いることがある。X方向は、平面視矩形のケース52の長辺に沿う方向である。Y方向は、平面視矩形のケース52の短辺に沿う方向である。Z方向は、ケース52の高さ方向に沿う方向である。ケース52を水平面に置いたとき、X方向およびY方向は互いに直交する2つの水平な直線(X軸およびY軸)に沿う2つの水平方向(第1水平方向および第2水平方向)となり、Z方向は鉛直な直線(Z軸)に沿う鉛直方向(高さ方向)となる。
【0051】
ケース52は、平面視矩形の一様厚さのベース部58と、このベース部58の周縁部から立設された平面視矩形の枠部59とを有している。パワーモジュール51では、ベース部58における枠部59で包囲される領域(デバイス領域61)に、後述するパワーデバイス74が配置される。
ベース部58は、この実施形態では、金属材料で構成されている。とくに、アルミニウム、銅等の放熱性の高い金属で構成されていることが好ましい。
【0052】
一方、枠部59は、この実施形態では、樹脂材料で構成されている。とくに、PPS(ポリフェニレンサルファイド)等の耐熱性樹脂を用いることが好ましいが、液晶ポリマー、セラミック材などを用いてもよい。
枠部59には、その頂部よりも一段低い一定深さの低段部63が形成されている。この低段部63は、平面視U字状に形成され、同じく平面視U字状の天板53をスライドさせるための部分である。低段部63の深さは、たとえば、天板53の厚さとほぼ同じ大きさであることが好ましい。これにより、天板53を固定したときに、枠部59および天板53により平坦面を有する直方体を形成することができる。
【0053】
枠部59には、樹脂材料で構成された台座64が取り付けられている。この台座64を貫通して、細い棒状のソースセンス端子55およびゲート端子56がケース52の内外に跨って設けられている。樹脂製の台座64を介してソースセンス端子55およびゲート端子56を設けることにより、ソースセンス端子55およびゲート端子56を互いに、かつ、金属製の枠部59に対して絶縁することができる。
【0054】
天板53は、ケース52に対して分離可能な平面視矩形の一様な厚さの板状体である。天板53は、この実施形態では、樹脂材料で構成されている。とくに、PPS(ポリフェニレンサルファイド)等の耐熱性樹脂を用いることが好ましいが、液晶ポリマー、セラミック材などを用いてもよい。
ソース端子54は、Y方向沿って長い平面視矩形の一様な厚さの板状体(プレート端子)であり、ベース部58のデバイス領域61に対向するように設けられている。
【0055】
天板53は、ソース端子54の第1対辺としての長辺に沿う一対のアーム部65と、当該一対のアーム部65におけるソース端子54に対してソースセンス端子55側同士を連結する連結部66とを有し、これらアーム部65および連結部66によってプレート端子の周囲の三方を取り囲むように設けられており、X方向ソースセンス端子55側が連結部66によって閉塞された閉塞端とされ、その反対側が開放端とされている。これにより、天板53は、枠部59によって、連結端がソース端子54から離れる方向に沿うスライド方向(X方向)にスライド可能に支持されている。
【0056】
そして、
図9に示すように、一対のアーム部65は、それぞれソース端子54の周縁部に対して、スライド方向に直交する横方向(Y方向)外側から当接する第1部分67と、当該第1部分67の下端からソース端子54の裏面に沿って張り出す第2部分68と有している。これにより、ソース端子54の長辺に沿う周縁部は、アーム部65の第1部分67とアーム部65の第2部分68とで区画された凹部69に嵌合している。
【0057】
また、
図8に示すように、連結部66は、ソース端子54の周縁部に対して、スライド方向(X方向)外側から当接する第1部分70と、当該第1部分70の下端からソース端子54の裏面に沿って張り出す第2部分71と有している。これにより、ソース端子54の第2対辺としての短辺に沿う周縁部は、連結部66の第1部分70と連結部66の第2部分71とで区画された凹部72に嵌合している。
【0058】
つまり、ソース端子54は、アーム部65および連結部66により、平面視U字状の位置で支持されている。
ケース52内において、枠部59に包囲されるデバイス領域61には、絶縁基板73および複数のパワーデバイス74が、Y方向に沿って台座64の側からこの順に配置されている。
【0059】
絶縁基板73は、たとえば、セラミック基板で構成されている。この絶縁基板73は、Y方向沿って長い平面視矩形の一様な厚さの板状体であり、その上には、プレート状のソースセンス配線75およびゲート配線76が、互いに間隔を空けて形成されている。ソースセンス配線75には、ソースセンス端子55の一端が接続されている。また、ゲート配線76には、ゲート端子56の一端が接続されている。
【0060】
複数のパワーデバイス74は、複数のスイッチング素子Trおよび複数のダイオード素子Diを含んでいる。この実施形態では、2つのスイッチング素子Trおよび1つのダイオード素子Diを含んでいる。パワーデバイス74は、この実施形態では、SiC半導体を用いたデバイスである。これら複数のパワーデバイス74は、2つのスイッチング素子TrがY方向に沿って間隔を空けて配置され、これらのスイッチ素子Trに対してX方向絶縁基板73の反対側に、1つのダイオード素子Diが配置されている。具体的には、1つのダイオード素子Diと、2つのスイッチング素子Trとは、平面視で三角形状に配列されている。そして、複数のパワーデバイス74は、その裏面742がケース52のベース部58に対して接合されることにより、ケース52に対して電気的に接続されている。
【0061】
パワーデバイス74のうち、スイッチング素子Trは、それぞれゲート配線76およびソースセンス配線75に対して、別々のAlワイヤ81,82を用いて、電気的に接続されている。
各パワーデバイス74の表面741(ベース部58に接合された面の反対側の面)には、パワーデバイス74に電力を供給する配線材料として用いられる金属ブロック83の裏面832が1つずつ接合されている。金属ブロック83は、この実施形態では、パワーデバイス74の表面741からベース部58から離れる方向(ソース端子54に近づく方向)に立ち上がる直方体形状を有している。
【0062】
金属ブロック83は、CuまたはCuを含む合金材料(合金材料としては、たとえば、CuMo合金、CuW合金などが挙げられる。)からなることが好ましい。これにより、SiCパワーデバイス74の配線部材としてAlワイヤを使用する場合に比べて、SiCと金属ブロック83との線膨張係数差を小さくすることができる。そのため、パワーデバイス74と金属ブロック83との間に生じる熱応力の発生を低減することができる。その結果、デバイスの熱疲労を低減できるので、高寿命かつ信頼性の高いパワーモジュール51を達成することができる。たとえば、SiCの線膨張係数は約4.5ppm/Kであり、CuMo合金の線膨張係数は約9.0ppm/K(SiCの約2倍)である。一方、Alの線膨張係数は約23ppm/K(SiCの約5倍)である。そして、複数の金属ブロック83は、天板53におけるアーム部65および連結部66により取り囲まれる領域で、その表面831がソース端子54に接合されている。
【0063】
図10A〜
図10Eは、
図6に示すパワーモジュールの製造工程を工程順に説明する図である。
まず、
図10Aに示すように、ケース52内のデバイス領域61に、プレート状の配線が形成された絶縁基板73が取り付けられる。次いで、ソースセンス端子55およびゲート端子56が挿入された台座64がケース52の枠部59に取り付けられる。続いて、ソースセンス端子55およびゲート端子56それぞれと、プレート状配線との接合が行われる。次いで、たとえば、板はんだ84を介して、ベース部58の上に各パワーデバイス74がセットされる。そして、ケース52をヒータ85上に搬入し、たとえば、250〜400℃で加熱する。この加熱により、金属製のベース部58に伝わった熱が板はんだ84に伝わって板はんだ84が溶融する。これにより、パワーデバイス74がケース52のベース部58に接合される。なお、
図10B以下では、接合に使用された板はんだ84を省略している。
【0064】
次いで、ケース52をヒータ85に置いたまま、
図10Bに示すように、たとえば、板はんだ86を介して、各パワーデバイス74の表面741に金属ブロック83がセットされる。そいて、たとえば、250〜400℃でケース52を加熱する。この加熱により、金属製のベース部58に伝わった熱が、パワーデバイス74を介して板はんだ86に伝わって、板はんだ86が溶融する。これにより、金属ブロック83がパワーデバイス74に接合される。なお、
図10C以下では、接合に使用された板はんだ86を省略している。
【0065】
次いで、
図10Cに示すように、ソース端子54が単独でヒータ85の上に置かれ、当該ソース端子54の上に予備はんだ87が施される。次いで、ケース52を逆さまにした状態で予備はんだ87に対して金属ブロック83の位置決めをし、金属ブロック83と予備はんだとを接触させる。
そして、ヒータ85の加熱により、
図10Dに示すように、金属ブロック83とソース端子54とが接合される。
【0066】
次いで、
図10Eに示すように、ソース端子54の周縁部に対して天板53の凹部が一致するように天板53の位置決めをし、枠部59に対して、天板53の連結部66がソース端子54に接触するまで天板53をスライドさせる。これにより、デバイス領域61が閉塞される。
以上のように、パワーモジュール51によれば、パワーデバイス74とソース端子54とを接続する配線部材として、ワイヤよりも径の大きい金属ブロック83が用いられる。これにより、パワーデバイス74に対して、配線(金属ブロック83)を大きな面積で接合させることができる。そのため、配線(金属ブロック83)とパワーデバイス74との間の接合部における電流集中の発生を抑制することができる。その結果、電流を平準化することができる。さらに、パワーデバイス74で発生する熱を、金属ブロック83およびプレート状ソース端子54により効率よく放散させることができるので、放熱効果を向上させることもできる。
【0067】
また、この実施形態のように、外部端子が天板53の上面に沿って設けられたプレート端子である場合、当該ソース端子54が外部から衝撃等を受けると、その衝撃は、金属ブロック83を介してパワーデバイス74に伝わり、結果、デバイスが破壊するおそれがある。
そこで、この実施形態では、天板53のアーム部65および連結部66のそれぞれ第2部分68,71が、ソース端子54を裏面側から支持している。これにより、ソース端子54が衝撃等を受けても、その衝撃をアーム部65および連結部66で緩和することができる。その結果、衝撃をパワーデバイス74に全く伝えないようにできるか、または、パワーデバイス74に伝わる衝撃を低減することができる。よって、衝撃によるパワーデバイス74の破壊を防止することができる。
【0068】
また、天板53が枠部59に対してスライド可能に支持されていて、枠部59から分離可能である。そのため、パワーモジュール51の製造に際して、枠部59と天板53とを分離した状態で、まずデバイス領域61にパワーデバイス74を配置し、当該パワーデバイス74に金属ブロック83を接合させることができる。そのため、作業性がよい。その上、天板53において、スライドにより引き抜かれる方向とは反対側の端部が開放端となっている。そのため、天板53を枠部59に対して固定した後でも、金属ブロック83とソース端子54との接合を外さずに、天板53を引き抜いてデバイス領域61を露出させることができる。その結果、ケース52内のメンテナンスを容易に行うことができる。
【0069】
また、ソース端子54の長辺に沿う周縁部が、アーム部65の第1部分67とアーム部65の第2部分68とで区画された凹部69に嵌合している。そのため、天板53を枠部59に沿ってスライドさせるときに、ソース端子54を、天板53をガイドするためのガイド部材として利用することができる。よって、天板53の位置決めを容易に行うことができる。
【0070】
また、ソース端子54の短辺(スライド方向に直交する対辺)に沿う周縁部が、連結部66の第1部分70と連結部66の第2部分71とで区画された凹部72に嵌合している。そのため、天板53を枠部59に沿ってスライドさせるときに、ソース端子54の当該周縁部を、天板53の連結部66の第1部分70に当接させることにより、天板53のスライドを止めることができる。つまり、プレート端子を、天板53のスライドを止めるためのストッパ部材としても利用することができる。よって、天板53の位置決めを一層容易に行うことができる。
【0071】
また、金属製のベース部58にパワーデバイス74の裏面742が直接接合されているため、パワーデバイス74の裏面742(ドレイン側)に対する電気的なコンタクトを、パワーモジュール51のケース52を利用してとることができる。
また、この実施形態のように、放熱効果の高い金属ブロック83をパワーデバイス74の配線材料として利用する場合、たとえば、
図10Aや
図10Bの工程のように、金属ブロック83とソース端子54との間に板はんだを挟んだ状態で、ソース端子54をヒータ85で加熱するやり方では、その熱が放熱効果の高い金属ブロック83を伝わって放散される場合がある。その結果、予め挟まれた板はんだが良好に溶けず、金属ブロック83とソース端子54との接合不良を生じるおそれがある。
【0072】
そこで、この実施形態では、
図10Cに示すように、ソース端子54に対して、予め予備はんだ87を施し、その予備はんだ87が施された箇所に金属ブロック83を当接して接合する。これにより、金属ブロック83とソース端子54とを良好に接合することができる。すなわち、パワーモジュール51を、簡単かつ品質よく製造することができる。
そして、このような方法によれば、たとえば、前述の実施形態で説明したように、複数の金属ブロック83間に、
図5に示すような高低差hが生じていても、所定量の予備はんだ87を施すことにより、その高低差hを予備はんだ87で補うことができる。その結果、複数の金属ブロック83に対して、プレート状のソース端子54を一括して確実に接合することができる。
【0073】
以上、本発明
およびパワーモジュールの実施形態を説明したが、本発明
およびパワーモジュールは、他の形態で実施することもできる。
たとえば、金属ブロック24は、
図11および
図12に示すパワーモジュール101のように、その裏面242から表面241へ向かって断面積が広がるテーパー形状を有していてもよい。
また、金属ブロック24,83の材料は、Cu、Al、Feなどの金属材料であってもよい。
【0074】
その他、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能である。
この明細書および図面の記載から、特許請求の範囲に記載した発明以外にも、以下のような特徴が抽出され得る。
1.ベース部材と、表面および裏面を有し、当該裏面が前記ベース部材に接合された半導体パワーデバイスと、表面および裏面を有し、当該裏面が前記半導体パワーデバイスの前記表面に接合され、前記半導体パワーデバイスの前記表面から前記ベース部材から離れる方向に立ち上がり、前記半導体パワーデバイス用の配線部材として用いられる金属ブロックと、前記金属ブロックの前記表面に接合され、前記金属ブロックを介して前記半導体パワーデバイスに電力を供給するための外部端子とを含む、半導体パワーモジュール。
この構成によれば、半導体パワーデバイスとモジュールの外部端子とを接続する配線部材として、ワイヤよりも径の大きい金属ブロックが用いられる。これにより、半導体パワーデバイスに対して、配線を大きな面積で接合させることができる。そのため、配線(金属ブロック)と半導体パワーデバイスとの間の接合部における電流集中の発生を抑制することができる。その結果、電流を平準化することができる。さらに、半導体パワーデバイスで発生する熱を効率よく放散させることができるので、放熱効果を向上させることもできる。
2.前記半導体パワーデバイスが配置されるデバイス領域を有するベース部と、当該ベース部に固定され、前記デバイス領域を包囲する枠部とを有するケースと、当該ケースの前記枠部に固定され、前記デバイス領域に対向する樹脂製の天板とをさらに含み、前記外部端子が、前記天板に沿って設けられたプレート端子を含み、前記天板は、平面視で前記プレート端子に重なり合い、前記プレート端子をその裏面側から支持する支持部を有している、項1に記載の半導体パワーモジュール。
外部端子がケースを閉塞する天板に沿って設けられたプレート端子である場合、当該プレート端子が外部から衝撃等を受けると、その衝撃は、金属ブロックを介して半導体パワーデバイスに伝わり、結果、デバイスが破壊するおそれがある。
そこで、項2記載の発明では、天板が、プレート端子を裏面側から支持する支持部を有している。これにより、プレート端子が衝撃等を受けても、その衝撃を支持部で緩和することができる。その結果、衝撃を半導体パワーデバイスに全く伝えないようにできるか、または、半導体デバイスに伝わる衝撃を低減することができる。よって、衝撃による半導体パワーデバイスの破壊を防止することができる。
3.前記天板には、前記プレート端子と対向する領域に、前記プレート端子の平面面積よりも小さい開口が形成されており、前記金属ブロックは、当該開口を介して前記プレート端子に接合されており、前記天板の前記支持部は、前記天板において前記金属ブロックを取り囲む当該開口の周縁部を含む、項2に記載の半導体パワーモジュール。
この構成によれば、金属ブロックを取り囲む開口の周縁部で構成された支持部により、プレート端子から金属ブロックに伝わる衝撃を効果的に緩和することができる。
4.前記天板が、前記枠部に対して分離可能に設けられた部材である、項2または3に記載の半導体パワーモジュール。
この構成によれば、天板が枠部に対して分離可能であるため、半導体パワーモジュールの製造に際して、枠部と天板とを分離した状態で、まずデバイス領域に半導体パワーデバイスを配置し、当該半導体パワーデバイスに金属ブロックを接合させることができる。そのため、作業性がよい。
5.前記天板は、前記プレート端子に対する一方側の位置に開放端を有し、当該プレート端子に対して当該開放端の反対側の位置に閉塞端を有する平面視U字状に形成されており前記枠部によって、前記閉塞端が前記プレート端子から離れる方向に沿うスライド方向にスライド可能に支持されており、前記金属ブロックは、前記開放端と前記閉塞端との間において前記天板に取り囲まれる領域で前記プレート端子に接合されており、前記天板の前記支持部は、前記天板における前記領域の縁部を含む、項2に記載の半導体パワーモジュール。
この構成によれば、天板が枠部に対してスライド可能に支持されていて、枠部から分離可能である。そのため、半導体パワーモジュールの製造に際して、枠部と天板とを分離した状態で、まずデバイス領域に半導体パワーデバイスを配置し、当該半導体パワーデバイスに金属ブロックを接合させることができる。そのため、作業性がよい。その上、天板において、スライドにより引き抜かれる方向とは反対側の端部が開放端となっている。そのため、天板を枠部に対して固定した後でも、金属ブロックとプレート端子との接合を外さずに、天板を引き抜いてデバイス領域を露出させることができる。その結果、ケース内のメンテナンスを容易に行うことができる。
また、金属ブロックが配置された領域を取り囲む縁部で構成された支持部により、プレート端子から金属ブロックに伝わる衝撃を効果的に緩和することができる。
6.前記プレート端子が、前記スライド方向に沿って延びる一対の第1対辺および当該第1対辺に直交する一対の第2対辺を有する平面視四角状に形成されており、前記天板は、前記第1対辺に沿う一対のアーム部と、当該一対のアーム部の前記スライド方向一方側同士を連結する連結部とを有し、これらアーム部および連結部によって前記プレート端子の周囲の三方を取り囲むように設けられており、一対の前記アーム部は、それぞれ前記プレート端子の周縁部に対して、前記スライド方向に直交する横方向外側から当接する第1部分と、当該第1部分の下端から前記プレート端子の前記裏面に沿って張り出す第2部分と有しており、前記プレート端子の前記第1対辺に沿う前記周縁部は、前記アーム部の前記第1部分と前記アーム部の前記第2部分とで区画された凹部に嵌合している、項5に記載の半導体パワーモジュール。
この構成によれば、プレート端子の第1対辺に沿う周縁部が、アーム部の第1部分とアーム部の第2部分とで区画された凹部に嵌合している。そのため、天板を枠部に沿ってスライドさせるときに、プレート端子を、天板をガイドするためのガイド部材として利用することができる。よって、天板の位置決めを容易に行うことができる。
7.前記連結部は、前記プレート端子の周縁部に対して、前記スライド方向外側から当接する第1部分と、当該第1部分の下端から前記プレート端子の前記裏面に沿って張り出す第2部分と有しており、前記プレート端子の前記第2対辺に沿う前記周縁部は、前記連結部の前記第1部分と前記連結部の前記第2部分とで区画された凹部に嵌合している、項6に記載の半導体パワーモジュール。
この構成によれば、プレート端子の第2対辺(スライド方向に直交する対辺)に沿う周縁部が、連結部の第1部分と連結部の第2部分とで区画された凹部に嵌合している。そのため、天板を枠部に沿ってスライドさせるときに、プレート端子の当該周縁部を、天板の連結部の第1部分に当接させることにより、天板のスライドを止めることができる。つまり、プレート端子を、天板のスライドを止めるためのストッパ部材としても利用することができる。よって、天板の位置決めを一層容易に行うことができる。
8.前記ベース部および前記枠部がいずれも金属製であり、前記ベース部が、前記半導体パワーデバイスを支持する前記ベース部材を兼ねており、前記枠部が、前記ベース部を介して前記半導体パワーデバイスに電力を供給するための第2の外部端子を兼ねている、項2〜7のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュール。
この構成によれば、ベース部から立ち上がる枠部が第2の外部端子を兼ねているので、半導体パワーデバイスの裏面に対する電気的なコンタクトを、半導体パワーモジュールの表面側からとることができる。
9.前記半導体パワーデバイスが、SiC半導体を用いたデバイスである、項1〜8のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュール。
10.前記金属ブロックが、CuまたはCuを含む合金材料からなる、項9に記載の半導体パワーモジュール。
この構成によれば、半導体パワーデバイスの配線部材としてAlワイヤを使用する場合に比べて、SiCと配線部材との線膨張係数差を小さくすることができる。そのため、半導体パワーデバイスと配線部材との間に生じる熱応力の発生を低減することができる。その結果、デバイスの熱疲労を低減できるので、高寿命かつ信頼性の高い半導体パワーモジュールを達成することができる。Cuを含む合金材料としては、たとえば、CuMo合金、CuW合金などが挙げられる。
また、たとえば、SiCの線膨張係数は約4.5ppm/Kであり、CuMo合金の線膨張係数は約9.0ppm/K(SiCの約2倍)である。一方、Alの線膨張係数は約23ppm/K(SiCの約5倍)である。
11.前記金属ブロックが、直方体形状を有している、項1〜10のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュール。
12.前記金属ブロックが、その裏面から表面へ向かって断面積が広がるテーパー形状を有している、項1〜10のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュール。
金属ブロックがテーパー形状の場合、その裏面の面積を半導体パワーデバイスの表面面積に合わせて設計し、その表面の面積を外部端子の大きさに合わせて設計すれば、デバイスで発生する熱を、最適な放熱効率で放散することができる。
13.前記半導体パワーデバイスが複数設けられており、前記外部端子は、各前記半導体パワーデバイスに接合された金属ブロックに一括して接合されている、項1〜12のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュール。
14.前記天板には、平面視で前記プレート端子と重なる領域外の領域において厚さ方向に貫通する貫通孔が形成されている、項1〜13のいずれか一項に記載の半導体パワーモジュール。
この構成によれば、天板に形成された貫通孔からケース内へ樹脂を流し込むことにより、ケース内の絶縁状態を簡単に維持することができる。
15.表面および裏面を有する半導体パワーデバイスの当該裏面をベース部材に接合する工程と、前記ベース部材と前記半導体パワーデバイスの接合後、表面および裏面を有し、前記半導体パワーデバイス用の配線部材として用いられる金属ブロックの当該裏面を、前記半導体デバイスの前記表面に接合する工程と、前記半導体パワーデバイスに電力を供給するための外部端子に対して、予備はんだ付けを施す工程と、前記外部端子における前記予備はんだが施された箇所に前記金属ブロックを当接させ、前記外部端子を加熱することによって前記外部端子と前記金属ブロックとを接合する工程とを含む、半導体パワーモジュールの製造方法。
本発明のように、放熱効果の高い金属ブロックを半導体パワーデバイスの配線材料として利用する場合、金属ブロックと外部端子との間にはんだ材料を挟んで、外部端子側を単に加熱するだけでは、その熱が放熱効果の高い金属ブロックを伝わって放散される場合がある。その結果、予め挟まれたはんだ材料が良好に溶けず、金属ブロックと外部端子との接合不良を生じるおそれがある。
そこで、項15記載の発明では、外部端子に対して、予め予備はんだ付けを施し、その予備はんだが施された箇所に前記金属ブロックを当接して接合する。これにより、金属ブロックと外部端子とを良好に接合することができる。すなわち、本発明のような半導体パワーデバイスを、簡単かつ品質よく製造することができる。
16.前記外部端子が、平板状のプレート端子であり、前記予備はんだ付けを施す工程は、当該プレート端子に所定量以上のはんだを盛る工程を含む、項15に記載の半導体パワーモジュールの製造方法。
この構成によれば、複数の金属ブロック間に高低差が生じている場合でも、所定量以上のはんだにより、その高低差を補うことができる。