(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
複数の映像信号線と、前記映像信号線に交差する複数の走査信号線と、前記走査信号線と前記映像信号線との交差部付近にそれぞれ形成された薄膜トランジスタとを有し、隣接する一対の前記走査信号線と隣接する一対の前記映像信号線とで囲まれた領域を画素の領域とする表示パネルと、
前記表示パネルと同じ基板上に形成され、前記走査信号線に対して順次選択信号を印加する走査信号線駆動回路とからなる表示装置であって、
前記走査信号線駆動回路は、第1クロック信号及び第2クロック信号に基づいて第1のスタートパルスをシフトさせた出力信号を次段の第2のスタートパルスとして出力するシフトレジスタが複数接続されてなり、
前記各シフトレジスタは、第1電位ノードと、第2電位ノードと、出力端子と、
ゲート端子が前記第1電位ノードと接続され、第1端子が前記第1クロック信号が供給される配線と接続され、第2端子が前記出力端子と接続されたトランジスタ素子(T5)と、
ゲート端子が前記第2電位ノードと接続され、第1端子が固定ロー電位が供給される配線と接続され、第2端子が前記出力端子と接続されたトランジスタ素子(T6)と、
ゲート端子が前記第1電位ノードと接続され、第1端子が前記第2電位ノードと接続され、第2端子が前記第2クロック信号が供給される配線と接続されたトランジスタ素子(T4)と、
ゲート端子が前記第2クロック信号が供給される配線と接続され、第1端子が前記第2電位ノードと接続され、第2端子が固定ハイ電位が供給される配線と接続されたトランジスタ素子(T3)と、
ゲート端子が前記第2のスタートパルスが供給される配線と接続され、第1端子が前記固定ハイ電位が供給される配線と接続され、第2端子が前記第1電位ノードと接続されたトランジスタ素子(T1)と、
ゲート端子が次段の前記シフトレジスタの前記出力端子と接続され、第1端子が前記固定ロー電位が供給される配線と接続され、第2端子が前記第1電位ノードと接続されたトランジスタ素子(T8)と、
ゲート端子が前記第2電位ノードと接続され、第1端子が前記第1電位ノードと接続され、第2端子が前記固定ロー電位が供給される配線と接続されたトランジスタ素子(T2)と、
ゲート端子が前記第1のスタートパルスが供給される配線と接続され、第1端子が前記第2電位ノードと接続され、第2端子が前記固定ハイ電位が供給される配線と接続されたトランジスタ素子(T7)と、
を有し、
前記トランジスタ素子(T4)のゲート端子の印加電圧をA、第1端子の印加電圧をB、第2端子の印加電圧をCとした場合、前記トランジスタ素子(T4)には
A>B且つA>Cの状態と、
A<B且つA<Cの状態と、
A=B且つA<Cの状態、
のいずれかの状態の電圧が印加されることを特徴とする表示装置。
複数の映像信号線と、前記映像信号線に交差する複数の走査信号線と、前記走査信号線と前記映像信号線との交差部付近にそれぞれ形成された薄膜トランジスタとを有し、隣接する一対の前記走査信号線と隣接する一対の前記映像信号線とで囲まれた領域を画素の領域とする表示パネルと、
前記表示パネルと同じ基板上に形成され、前記走査信号線に対して順次選択信号を印加する走査信号線駆動回路とからなる表示装置であって、
前記走査信号線駆動回路は、第1クロック信号及び第2クロック信号に基づいて第1のスタートパルスをシフトさせた出力信号を次段の第2のスタートパルスとして出力するシフトレジスタが複数接続されてなり、
前記各シフトレジスタは、第1電位ノードと、第2電位ノードと、出力端子と、
ゲート端子が前記第1電位ノードと接続され、第1端子が前記第1クロック信号が供給される配線と接続され、第2端子が前記出力端子と接続されたトランジスタ素子(T5)と、
ゲート端子が前記第2電位ノードと接続され、第1端子が固定ロー電位が供給される配線と接続され、第2端子が前記出力端子と接続されたトランジスタ素子(T6)と、
ゲート端子が前記第1電位ノードと接続され、第1端子が前記第2電位ノードと接続され、第2端子が前記第2クロック信号が供給される配線と接続されたトランジスタ素子(T4)と、
ゲート端子が前記第2クロック信号が供給される配線と接続され、第1端子が前記第2電位ノードと接続され、第2端子が固定ハイ電位が供給される配線と接続されたトランジスタ素子(T3)と、
ゲート端子が前記第2のスタートパルスが供給される配線と接続され、第1端子が前記固定ハイ電位が供給される配線と接続され、第2端子が前記第1電位ノードと接続されたトランジスタ素子(T1)と、
ゲート端子が次段の前記シフトレジスタの前記出力端子と接続され、第1端子が前記固定ロー電位が供給される配線と接続され、第2端子が前記第1電位ノードと接続されたトランジスタ素子(T8)と、
ゲート端子が前記第2電位ノードと接続され、第1端子が前記第1電位ノードと接続され、第2端子が前記固定ロー電位が供給される配線と接続されたトランジスタ素子(T2)と、
ゲート端子が前記第1のスタートパルスが供給される配線と接続され、第1端子が前記第2電位ノードと接続され、第2端子が前記固定ハイ電位が供給される配線と接続されたトランジスタ素子(T7)と、
を有することを特徴とする表示装置。
複数の映像信号線と、前記映像信号線に交差する複数の走査信号線と、前記走査信号線と前記映像信号線との交差部付近にそれぞれ形成された薄膜トランジスタとを有し、隣接する一対の前記走査信号線と隣接する一対の前記映像信号線とで囲まれた領域を画素の領域とする表示パネルと、
前記表示パネルと同じ基板上に形成され、前記走査信号線に対して順次選択信号を印加する走査信号線駆動回路とからなる表示装置であって、
前記走査信号線駆動回路は、第1クロック信号及び第2クロック信号に基づいて第1のスタートパルスをシフトさせた出力信号を次段の第2のスタートパルスとして出力するシフトレジスタが複数接続されてなり、
前記各シフトレジスタは、第1電位ノードと、第2電位ノードと、出力端子と、
ゲート端子が前記第1電位ノードと接続され、第1端子が前記第1クロック信号が供給される配線と接続され、第2端子が前記出力端子と接続されたトランジスタ素子(T5)と、
ゲート端子が前記第2電位ノードと接続され、第1端子が固定ロー電位が供給される配線と接続され、第2端子が前記出力端子と接続されたトランジスタ素子(T6)と、
ゲート端子が前記第1電位ノードと接続され、第1端子が前記第2電位ノードと接続され、第2端子が前記第2クロック信号が供給される配線と接続されたトランジスタ素子(T4)と、
ゲート端子が前記第2クロック信号が供給される配線と接続され、第1端子が前記第2電位ノードと接続され、第2端子が固定ハイ電位が供給される配線と接続されたトランジスタ素子(T3)と、
ゲート端子が前記第2のスタートパルスが供給される配線と接続され、第1端子が前記固定ハイ電位が供給される配線と接続され、第2端子が前記第1電位ノードと接続されたトランジスタ素子(T1)と、
ゲート端子が次段の前記シフトレジスタの前記出力端子と接続され、第1端子が前記固定ロー電位が供給される配線と接続され、第2端子が前記第1電位ノードと接続されたトランジスタ素子(T8)と、
ゲート端子が前記第2電位ノードと接続され、第1端子が前記第1電位ノードと接続され、第2端子が前記固定ロー電位が供給される配線と接続されたトランジスタ素子(T2)と、
ゲート端子が前記第1のスタートパルスが供給される配線と接続され、第1端子が前記第2電位ノードと接続され、第2端子が前記固定ハイ電位が供給される配線と接続されたトランジスタ素子(T7)と、
前記第2電位ノードの電位を保持する保持容量と、
を有することを特徴とする表示装置。
前記選択信号の出力期間は、M(ただし、Mは自然数)ライン期間であり、前段の選択信号のハイ電圧に対して、現段の選択信号のハイ電圧がオーバーラップまたはノンオーバーラップすることを特徴とする請求項3に記載の表示装置。
【発明を実施するための形態】
【0018】
以下、本発明が適用された実施形態について、図面を用いて説明する。ただし、以下の説明において、同一構成要素には同一符号を付し繰り返しの説明は省略する。
【0019】
〈実施形態1〉
〈全体構成〉
図11は本発明の実施形態1の表示装置の内部構成を示す図であり、700は表示領域、701、702はゲート回路制御信号生成ブロック、703、704は各ライン線に対応したシフトレジスタ回路を有するゲート回路(走査信号線駆動回路)、705はドレイン信号とソース信号、コモン信号を各画素に送るデータドライバ(映像信号線駆動回路)、706はデータドライバ705から出されたドレイン、ソース、及びコモンに関する全てのデータ配線を示す。図中の各矢印はゲート出力信号(走査信号)を示す。なお、以下の説明では、表示装置として、液晶表示装置を用いた場合について説明するが、これに限定されることはなく、例えば、周知の有機EL等を表示素子に用いた表示装置等にも適用可能である。また、以下の説明では、トランジスタ素子としてa−SiTFT(アモルファスシリコンTFT)を用いた場合について説明するが、他のTFTに関しても同様の課題を抱えるものについては、本発明は同様に適用可能である。
【0020】
図11から明らかなように、実施形態1の表示装置における液晶表示パネルでは、ゲート回路703、704が液晶表示パネルの両側に設置される構成である。ゲート回路703は奇数段のゲート出力信号を出力するシフトレジスタ回路(詳細は後述する)を有し、ゲート回路704は偶数段のゲート出力信号を出力するシフトレジスタ回路を有する構成となっている。また、各ゲート回路703、704にゲート制御信号を出力するゲート回路制御信号生成ブロックに関しては、ゲート回路703への出力に対応したゲート回路制御信号生成ブロック701と、ゲート回路704への出力に対応したゲート回路制御信号生成ブロック702とを備える構成となっている。
【0021】
ゲート回路制御信号生成ブロック701からの出力は、配線708を介してゲート回路703に入力される。同様にして、ゲート回路制御信号生成ブロック702からの出力は、配線707を介してゲート回路704に入力される。なお、配線707、708はゲート回路制御信号生成ブロックを701、702からゲート回路703、704に出されるゲート制御配線すべてを示す。
【0022】
また、実施形態1の液晶表示パネルでは、
図11中の横方向に延在し縦方向に並設されるゲート線(走査信号線)709と、縦方向に延在し横方向に並設されるドレイン線(映像信号線)710とが表示領域700内に形成される構成となっている。さらには、隣接するゲート線709とドレイン線710とに囲まれる矩形状の領域は画素が形成される領域を構成しており、これにより、各画素は表示領域においてマトリックス状に配置される構成となっている。また、この画素の領域には赤色(R)、緑色(G)、青色(B)のいずれかの図示しないカラーフィルタが形成される構成となっている。特に、実施形態1の表示装置においては、例えば、ゲート線709の延在方向に隣接配置されるRGBの各画素でカラー表示用の単位画素を形成する構成となっている。ただし、カラー表示用の単位画素の構成はこれに限定されるものではない。
【0023】
また、各画素は、ゲート線709からの走査信号によってオンされる図示しない薄膜トランジスタ(本願発明では、a−SiTFT)と、このオンされた薄膜トランジスタを介してドレイン線710からの映像信号が供給される図示しない画素電極と、図示しないコモン線に接続され、映像信号の電位に対して基準となる電位を有する基準信号が供給される共通電極とを備えている。
【0024】
また、図示しない外部機器からの表示信号はFPCを介して、ゲート回路制御信号生成ブロック701、702及びデータドライバ705に入力される構成となっている。なお、実施形態1では、半導体チップからなる半導体装置でデータドライバ705を形成し、液晶表示パネル上に搭載する構成としたが、例えば、フレキシブルプリント基板FPCに搭載する構成であってもよい。
【0025】
なお、実施形態1の液晶表示パネルにおけるゲート出力信号の駆動方法としては、各ラインにおけるゲート出力信号に対して、2ライン期間連続して出力するオーバーラップスキャン駆動である。ただし、ゲート出力信号の駆動方法はオーバーラップスキャン駆動に限定されることはなく、例えば、nライン期間(n:3以上の整数)連続したオーバーラップスキャン駆動方法、及びオーバーラップスキャンをせずに1ライン期間のみで出力する駆動方法等であってもよい。また、実施形態1の液晶表示パネルでは、ゲート出力信号のスキャン方向はFPC(フレキシブルプリント基板)と反対側すなわちFPCから遠い側(
図11中の上側)から順次開始する構成である。
【0026】
〈ゲート回路構成〉
図12は本発明の実施形態1の表示装置におけるゲート回路の概略構成を説明するための図であり、以下、
図12に基づいて、実施形態1のシフトレジスタ回路を用いて形成されるゲート回路の制御方法を説明する。ただし、
図12は
図11に示すゲート回路703、704の内部を示したものであり、第1段目から第10段目のシフトレジスタ回路を示すものである。また、nライン目に対応したシフトレジスタ回路をG(n)で表記するものとし、例えば、第1段目のシフトレジスタ回路はG(1)、第3段目のシフトレジスタ回路はG(3)と表記する。
【0027】
ゲート回路703、704を構成する各シフトレジスタ回路G(n)には、配線800又は配線801を介して固定ハイ電圧VGHが入力されると共に、配線801又は配線808を介して固定ロー電圧VGLが入力される構成となっている。
【0028】
また、各シフトレジスタ回路G(n)には、配線802〜806及び配線809〜813を介して、時間軸に対して周期的変化をするクロック電位信号が入力される構成となっている。なお、各クロック電位信号のタイミングや電位の大きさに関しては、後に詳述する。
【0029】
図12から明らかなように、各シフトレジスタ回路G(n)には、クロック電位信号を入力する配線がそれぞれ5本ずつ接続される構成となっており、そのうちの4本に当たる配線802〜805及び配線809〜812については、本数を変更することが可能である。本実施形態では、これらクロック電位信号(ゲートクロック)が入力される配線を計8本で制御する、ゲートクロック8相化の場合について説明するが、額縁サイズの大きさが許容される限り、16相化、32相化…として、クロック電位信号が入力される配線の本数に増加してもよい。纏めると、nを自然数として、n相化で制御することが可能であるとする。
【0030】
次に、3ライン目のゲート線を駆動するシフトレジスタ回路G(3)を例として、実施形態1のシフトレジスタ回路内の端子に入力及び出力する信号について説明する。まず、シフトレジスタ回路G(3)の入力端子である端子GB(3)には、前段のシフトレジスタ回路G(1)からのゲート出力信号(ゲート信号)が入力される構成となっている。出力端子である端子GOUT(3)からは3ライン目のゲート出力信号が出力され、入力端子である端子GA(3)には、次段のシフトレジスタ回路G(5)からのゲート出力信号が入力される構成となっている。入力端子である端子VGH(3)及び端子VGL(3)はそれぞれ配線800、801に接続され、時間軸に対して予め設定された電圧である固定ハイ電圧VGH電位及び固定ロー電圧VGL電位が常に入力される構成となっている。入力端子である端子VA(3)及び端子VB(3)は、それぞれ配線803及び配線804に接続され、位相の異なるクロック電位信号が入力される。入力端子である端子VST(3)に関しては、配線806に接続されているため、後に
図13で示すクロック電位信号が入力される。
【0031】
次に、
図13に本発明の実施形態1の表示装置におけるゲート回路に入力されるゲートクロックを説明するための図を示し、以下、
図12及び
図13に基づいて、実施形態1のシフトレジスタ回路を用いて形成されるゲート回路の動作を説明する。ただし、
図13はゲート回路703中の配線800から806にかかる電圧を時間軸方向に示したものである。
【0032】
配線800、801には、時間軸に対して常に一定のVGH電位、VGL電位がかかる。配線802から配線805には、8H期間のうち、2H期間でVGH電位、残りの6H期間でVGL電位がかかる動作を1周期として、時間軸に対して周期的に同じ動作が起こる。
【0033】
また、配線802に対して配線803の方が2H期間遅れてVGH電位がかかり、同様に、配線803に対して配線804の方が2H期間遅れ、配線804に対して配線805が2H期間遅れてVGH電位がかかる。ただし、これはゲートクロック8相化の場合に関するタイミングであり、n相化の場合は、配線802から配線805に関して、nH期間のうち、2H期間でVGH電位、残りの(n−2)H期間でVGL電位がかかる動作を1周期として、時間軸に対して周期的に同じ動作が起こるものとする。
【0034】
最後に、配線806、813に関して説明する。配線806、813には帰線期間の間に、L(>0)期間、VGH電位がかかり、残りの期間では、VGL電位がかかるものとする。本実施形態及び以下の実施形態では、L=4として説明する。
【0035】
すなわち、実施形態1のシフトレジスタを用いたゲート回路703、704には、それぞれ4相のゲートクロックが入力される構成となっている。例えば、ゲート回路703には、配線802から期間t1〜t2の2H期間で出力がVGH電位となり、期間t2〜t5の6H期間で出力がVGL電位となる周期8Hのゲートクロックが入力されている。配線803から期間t1〜t2の2H期間は出力がVGL電位となり、期間t2〜t3の2H期間で出力がVGH電位となり、期間t3〜t5の4H期間は出力がVGL電位となる周期8Hのゲートクロックが入力されている。配線804から期間t1〜t3の4H期間は出力がVGL電位となり、期間t3〜t4の2H期間で出力がVGH電位となり、期間4〜t5の2H期間は出力がVGL電位となる周期8Hのゲートクロックが入力されている。また、配線805から期間t1〜t4の6H期間は出力がVGL電位となり、期間t4〜t5の2H期間で出力がVGH電位となる周期8Hのゲートクロックが入力されている。
【0036】
また、期間t1〜t7まではローレベルであり、期間t7〜t8まではハイレベルとなり、期間t8以降はローレベルとなる、すなわち帰線期間内の所定時間のみハイレベルとなる信号が配線806から入力される構成となっている。
【0037】
図14は本発明の実施形態1の表示装置における2つのゲート回路にそれぞれ入力されるゲートクロックを説明するための図であり、
図12中の右側に配置されるゲート回路703と左側に配置されるゲート回路704とに入力されるゲートクロックを示すものである。
【0038】
図14に示すように、配線809は配線802に対して1H期間遅れたタイミングで同じ動作を行う。よって、配線809は配線802に対して1H期間遅れてVGL電位からVGH電位に立ち上がる。同様に、配線810は配線803に対して1H期間遅れたタイミングで配線803と同じ動作を行い、配線811は配線804に対して1H期間遅れたタイミングで配線804と同じ動作を、配線812は配線805に対して1H期間遅れたタイミングで配線804と同じ動作を行う。このように、実施形態1のゲート回路703、704には、それぞれ周期が8Hとなるゲートクロックが1H期間ずれたタイミングで入力される構成となっている。
【0039】
次に、
図15及び
図16に本発明の実施形態1の表示装置におけるシフトレジスタ回路の詳細を説明するための図を示し、以下、
図15及び
図16に基づいて、実施形態1のシフトレジスタ回路における補正動作を説明する。ただし、
図15は実施形態1のシフトレジスタ回路の詳細構成を説明するための図であり、
図16は実施形態1のシフトレジスタ回路の詳細動作を説明するための図である。また、
図15に示すシフトレジスタ回路は、第n段目のシフトレジスタ回路:G(n)であり、
図16は、
図15で示す回路内の主要の動作タイミングを示す図である。また、各シフトレジスタ回路の構成は入力信号の接続が異なるのみで、基本的な構成は同じ構成である。さらには、
図15中に示す1100から1102は電位信号を表し、T1からT8はトランジスタを、N1、N2は電位ノードを表す。
【0040】
図15から明らかなように、実施形態1のシフトレジスタ回路は、8個のトランジスタT1〜T8と、2個の容量素子C1、C2とから形成されている。トランジスタT1は、ゲート端子が前段のゲート出力信号が印加される配線1100と接続され、ソース端子が固定されたハイ電圧VGHが印加される配線801と接続され、ドレイン端子が第1電位ノードN1に接続される構成となっている。トランジスタT2は、ゲート端子が第2電位ノードN2に接続され、ドレイン端子が固定されたロー電圧VGLの印加される配線800と接続され、ソース端子が第1電位ノードN1と接続される構成となっている。トランジスタT3は、ゲート端子が第2クロック信号の印加される配線803と接続され、ソース端子が第2電位ノードN2と接続され、ドレイン端子が固定されたハイ電圧VGHの印加された配線801と接続される構成となっている。トランジスタT4は、ゲート端子が第1電位ノードN1に接続され、ソース端子が固定されたロー電圧VGLの印加される配線800と接続され、ドレイン端子が第2クロック信号の印加される配線803と接続される構成となっている。トランジスタT5は、ゲート端子が第1電位ノードN1に接続され、ドレイン端子が現段のゲート出力信号の出力端子1101に接続され、ソース端子が第1クロック信号の印加された配線802と接続される構成となっている。トランジスタT6は、ゲート端子が第2電位ノードN2に接続され、ソース端子が固定されたロー電圧VGLの印加された配線800と接続され、ドレイン端子が現段のゲート出力信号の出力端子1101に接続される構成となっている。トランジスタT7は、ゲート端子がスタートパルス信号の印加される配線806と接続され、ソース端子が第2電位ノードN2と接続され、ドレイン端子が固定されたハイ電圧VGHの印加された配線801と接続される構成となっている。トランジスタT8は、ゲート端子が次段のゲート出力信号の印加される配線1102と接続され、ソース端子が固定されたロー電圧VGLの印加される配線800と接続され、ドレイン端子が第1電位ノードN1と接続される構成となっている。
【0041】
また、容量素子C1は、第1電位ノードN1と現段におけるゲート出力信号の出力端子1101の間に接続され、充電容量として機能する構成となっている。容量素子C2は、第2電位ノードN2と固定ロー電位VGLの間に接続され、保持容量として機能する構成となっている。
【0042】
次に、
図16に基づいて、ゲート出力信号を出力するタイミングにおけるシフトレジスタ回路内の動作に関して、説明する。まず、前々段に相当する第(n−2)段目から出力されたゲート出力信号:G(n−2)(
図15及び
図16中の1100に相当)がトランジスタT1のゲート端子に入力され、当該トランジスタT1のドレイン端子に接続されている配線801からVGH電圧が入力される(期間t1〜t2)。このトランジスタT1のドレイン端子からのVGH電圧の供給により、期間t1〜t2において第1電位ノードN1の電位がVGL電位からVGH電位に上昇すると共に、トランジスタT5のゲート端子にVGH電圧がかかる(印加される)。第1電位ノードN1がVGH電位に上昇すると、トランジスタT4のゲート端子にVGH電圧がかかり、トランジスタT4のドレイン端子に接続されている配線803からVGL電圧がかかり、時刻t1において第2電位ノードN2の電位は、VGL電位になる。
【0043】
2H後の時刻t2において、ゲートクロックが入力される配線802の電位はVGL電位からVGH電位に立ち上がり、トランジスタT5のドレイン端子にVGH電圧がかかる。同時に、トランジスタT5のソース端子に接続されている容量C1によって、第1電位ノードN1の電位がVGH電位からさらに高電位のVGH’電位に上昇する。このVGH’の値は30V以上の電位を理想とするが、少なくともVGHの値よりも高ければ適用可能である。この動作によって、ゲート出力信号1101が期間t2〜t3の2H期間、出力される。
【0044】
その後の時刻t3には、ゲートクロックの供給により、配線803の電位はVGL電位からVGH電位に立ち上がる。その結果、時刻t3にトランジスタT3のゲート端子にVGH電圧がかかり、当該トランジスタT3のドレイン端子に接続されている配線801からVGH電圧がかかるため、トランジスタT3のソース端子に接続されている第2電位ノードN2の電位がVGL電位からVGH電位に立ち上がる。ここで、容量C2に電荷が充電され、第2電位ノードN2の電位はVGHに保持される。
【0045】
さらに、配線803の電位がVGL電位からVGH電位に立ち上がるタイミング(時刻t3)で、トランジスタT8のゲート端子に、G(n+2)(
図15中、1102に相当)からの出力信号が入力される。ただし、トランジスタT8のゲート端子には、G(n+m)(m:3以上の整数)からの出力信号が入力されてもよいものとする。これに伴い、第1電位ノードN1はVGH’電位からVGL電位に立ち下がる。また、第2電位ノードN2の電位がVGH電位になったことで、トランジスタT2及びトランジスタT6のゲート端子がそれぞれVGL電位からVGH電位に立ち上がる。このとき、トランジスタT2は第1電位ノードN1の電位をVGHからVGLに立ち下げる方向に働き、トランジスタT6はゲート出力信号1101をVGH電位から立ち下げる方向に働く。従って、第1電位ノードN1がVGLに立ち下がることもあり、ゲート出力信号1101はVGL電位を保持する。
【0046】
配線806には、帰線期間のうち、4H期間、VGH電位に立ち上がることで、トランジスタT7を介して、第2電位ノードN2の電位をVGHに立ち上げることで、第2電位ノードN2の電位を安定化させる。実施形態1のゲート回路を構成する各シフトレジスタ回路において、1フレーム期間に、以上の動作が連続して行われることによって、安定したゲート出力信号の出力が可能となる。
【0047】
すなわち、実施形態1のシフトレジスタでは、トランジスタT4のドレイン端子を配線803に接続する構成としている。この構成により、トランジスタT4のソース端子の電位がVGH電位以上となる期間(期間t1〜t3を除く期間)において、トランジスタT4のドレイン端子には8H期間のうち2Hの割合となる期間t3〜t4でVGH電位にすることができる。その結果、トランジスタT4のドレイン端子VGL電位を時間軸に対して、一定に出力する配線800に接続している場合に比較して、トランジスタT4のしきい値電圧を逆方向、すなわち低い方へのシフトを加速することが可能となり、トランジスタT4のしきい値電圧が高い方にシフトすることを緩和することができるので、第2電位ノードN2の電位を安定化させ、各段のシフトレジスタ回路においてゲート出力信号の安定した正常な出力が可能となる。すなわち、ゲート回路を構成するトランジスタのしきい値電圧のシフト量を緩和させることができるので、正常な走査信号を得ることが可能となり、表示品質の高い表示装置を実現できる。
【0048】
〈しきい値シフトの説明〉
図3及び
図4はトランジスタ素子におけるしきい値電圧が高い側にシフトする場合の原理を説明するための図であり、
図5及び
図6は
図3及び
図4に示す場合におけるTFT特性に与える影響を説明するための図である。特に、
図3はドレイン端子及びソース端子に印加される電圧よりもゲート端子に印可される電圧が高い場合を示し、
図4はソース端子に印加される電圧よりもゲート端子及びドレイン端子に印可される電圧が高い場合を示す(ただし、ゲート電位=ドレイン電位の関係を満たす)。また、
図5は常温時におけるしきい値シフトがTFT特性に与える影響を説明するための図であり、
図6は
図5の特性を示すトランジスタ素子を低温環境に移動させた場合におけるTFT特性を説明するための図である。なお、
図4に関しては、ドレインとソースの電位を入れ替えても差し支えない。また、
図3〜
図6中において、Vgdはゲート、ドレイン間にかかる電圧、Vgsはゲート、ソース間に示す電圧、Vgはゲートに印加した電圧の値、Idはそのゲートに印加した電圧の値によってドレイン−ソース間に流れる電流を示す。
【0049】
図3に示すように、トランジスタ素子であるa−Si TFTにおいては、ゲート端子に、ドレイン端子及びソースの端子よりも高い電圧を印加し続けた場合(この状態をDCストレスという。)、TFTのしきい値電圧が高い方へシフトしていく。これは、a−Si TFTのみならず、有機TFT等においても同様の問題があることがわかっている。なお、
図3及び
図4中に示すVGHは10V以上の範囲内を理想とする電位(電圧)であり、一方、VGLは−20Vから0Vの範囲内の電位(電圧)であることが理想であるが、VGH電位を下回る範囲の電位であれば、どの値に設定してもよい。同様に、VGHに関してもVGLを上回る電位であればどの値に設定しても問題ない。また、前述する実施形態1のシフトレジスタ回路におけるVGH、VGLに関しても、同じ条件とする。
【0050】
図3に示すように、ゲート端子の電位がドレイン端子及びソース端子の電位よりも高い場合、すなわちVgd>0及びVgs>0の場合、TFTのしきい値電圧は高い方にシフトする。このとき、
図4に示すように、ゲート端子及びドレイン端子の電位がソース端子の電位よりも高い場合、すなわちVgs>0の場合もTFTのしきい値電圧は高い方にシフトする。このとき、
図4に示すように、ゲート端子及びドレイン端子の電位がソース端子の電位よりも高い場合は、Vgd=0である分、しきい値シフトの加速率が緩和されるので、
図3に示すVgd>0及びVgs>0の場合よりもTFTのしきい値電圧のシフト量は小さくなる。
【0051】
TFTのしきい値電圧が高い方にシフトした場合のTFTの駆動能力に関しては、
図5の横軸にVg、縦軸にIdを取った、a−Si TFTにおけるVg−Id曲線に示すように、Vg−Id曲線300が矢印で示す横軸Vg方向に移動し、Vg−Id曲線301に示す駆動能力となる。その結果、ゲート端子に同じ電圧(例えば、ゲート端子に印加電圧V1、Vg=V1の場合)を印可した場合であっても、
図5に示すように、ドレイン−ソース間に流れる電流IdがΔI1分減少することとなり、ΔI1分駆動能力が低下する。すなわち、しきい値電圧が高い方へシフトをしたVg−Id曲線301ではVg−Id曲線300に対して、TFTの駆動能力が低下してしまう。
【0052】
さらには、
図6において、TFTの特性上、低温環境下では、点線で示すVg−Id曲線301は縦軸に対して図中に示す矢印である負の方向にシフトすることが知られているため、Vg−Id曲線301はVg−Id曲線302にシフトする。従って、駆動能力の低下分ΔI1は、ΔI2に増大し、さらに駆動能力は低下する。また、しきい値電圧シフトはVgs及びVgdの大きさに比例して、加速率は大きくなる。
【0053】
次に、
図7及び
図8にトランジスタ素子におけるしきい値電圧が低い側にシフトする場合の原理を説明するための図を、
図9に
図7及び
図8に示す場合におけるTFT特性に与える影響を説明するための図を示し、以下、
図7〜
図9に基づいて、トランジスタ素子のしきい値電圧が低い側にシフトする場合について説明する。特に、
図7はドレイン端子及びソース端子に印加される電圧よりもゲート端子に印可される電圧が低い場合を示し、
図8はソース端子に印加される電圧よりもゲート端子及びドレイン端子に印可される電圧が低い場合を示す(ただし、この場合もゲート電位=ドレイン電位の関係を満たす)。また、
図9は常温時におけるしきい値シフトがTFT特性に与える影響を説明するための図である。なお、
図8に関しては、ドレインとソースの電位を入れ替えても差し支えない。
【0054】
図7に示すように、a−Si TFTのゲート端子に、ドレイン端子及びソースの端子よりも低い電圧を印加し続けた場合、TFTのしきい値電圧が低い方へシフトしていく(この状態もDCストレスという)。このようにゲート端子の電位がドレイン端子及びソース端子の電位よりも低い場合、すなわちVgd<0及びVgs<0の場合、TFTのしきい値電圧は低い方にシフトする。このとき、
図8に示すように、ゲート端子及びドレイン端子の電位がソース端子の電位よりも低い場合、すなわちVgs<0の場合もTFTのしきい値電圧は低い方にシフトする。このとき、
図8に示すように、ゲート端子及びドレイン端子の電位がソース端子の電位よりも高い場合は、Vgd=0である分、しきい値シフトの加速率が緩和されるので、
図7に示すVgd<0及びVgs<0の場合よりもTFTのしきい値電圧のシフト量は小さくなる。
【0055】
次に、
図9を用いて、TFTのしきい値電圧が低い方にシフトした場合のTFTにおける駆動能力に関して説明する。
図9中の300は、上記で述べた、しきい値シフトをする前のVg−Id曲線、500はしきい値電圧が低い方へシフトした後のVg−Id曲線を示す。この際、Vg=V1において、300で得た電流Idに対して、500ではシフトしている分、ΔI3分、上昇する。したがって、しきい値シフトをした500では300に対して、TFTの駆動能力が向上すると言える。
【0056】
すなわち、TFTのしきい値電圧が低い方にシフトした場合のTFTの駆動能力に関しては、
図9の横軸にVg、縦軸にIdを取った、a−Si TFTにおけるVg−Id曲線に示すように、Vg−Id曲線300が矢印で示す横軸Vgの負の方向に移動し、Vg−Id曲線500に示す駆動能力となる。その結果、ゲート端子に同じ電圧(例えば、ゲート端子に印加電圧V1、Vg=V1の場合)を印可した場合、
図9に示すように、ドレイン−ソース間に流れる電流IdがΔI2分増加することとなり、ΔI3分駆動能力が向上する。すなわち、しきい値電圧が低い方へシフトをしたVg−Id曲線500ではVg−Id曲線300に対して、TFTの駆動能力を向上できる。
【0057】
以上のTFT特性を生かし、本発明では、TFTのしきい値電圧が高い方にシフトした場合においても、TFTのゲート端子、ドレイン端子もしくはゲート−ソース間に逆方向のバイアスをかけることで、TFTのしきい値電圧のシフト量を抑制する構成とする。すなわち、
図10に示すしきい値電圧シフト対策時の理想的なTFT特性の図に示す特性を実施形態1のシフトレジスタ回路で実現するものである。実施形態1のシフトレジスタ回路では、Vg−Id曲線301に対して、
図7もしくは
図8で示した電圧の印加方法によって、Vg−Id曲線301を横軸に対して低い方にシフトさせ、Vg−Id曲線600の位置の特性を実現する。すなわち、TFTのしきい値電圧における高い方向へのシフト量に対しては逆方向へのシフトを加速させることで、TFTの駆動能力の低下を回避する。
【0058】
次に、
図1及び
図2に本発明の実施形態1の表示装置におけるシフトレジスタ回路の要部を説明するための図を示し、以下、
図1及び
図2に基づいて、シフトレジスタ回路へのしきい値シフトの適用を説明する。ただし、
図1は実施形態1のシフトレジスタ回路の要部の概略構成を説明するための図であり、
図2は実施形態1のシフトレジスタ回路の要部の動作を説明するための図である。なお、
図1及び
図2に示すトランジスタT4、T5、及び容量素子C1、C2の構成は、前述する
図15に示す実施形態1のシフトレジスタ回路の構成と同じ構成である。
【0059】
図1に示すように、実施形態1のシフトレジスタ回路では、第1電位ノードN1にゲート端子が接続され、ソース端子が第2電位ノードに接続され、ドレイン端子が配線803に接続されるトランジスタT4に対して、本願発明を適用することによって、トランジスタT4の駆動力の低下を回避する。
【0060】
しきい値電圧の高い側へのシフトに伴うトランジスタT4の駆動能力の低下に対して、実施形態1のシフトレジスタ回路では、
図2に示すように、期間t2〜t3においてトランジスタT4のドレイン端子及びソース端子の電位が、トランジスタT4のゲート端子の電位すなわち第1電位ノードN1の電位よりも低くなる構成であるが、トランジスタT4のドレイン端子を配線803に接続する構成としている。この構成により、トランジスタT4のソース端子の電位がVGH電位以上となる期間(期間t1〜t3を除く期間)において、トランジスタT4のドレイン端子には8H期間のうち2Hの割合となる期間t3〜t4でVGH電位にすることができる。その結果、トランジスタT4のドレイン端子VGL電位を時間軸に対して、一定に出力する配線800に接続している場合に比較して、トランジスタT4のしきい値電圧を逆方向、すなわち低い方へのシフトを加速することが可能となり、トランジスタT4のしきい値電圧が高い方にシフトすることを緩和することができる。
【0061】
すなわち、実施形態1のシフトレジスタでは、第1電位ノードN1により制御されるトランジスタT5を安定して制御するために、第1電位ノードN1と第2電位ノードN2との電位が互いに相反するように制御するトランジスタT4(第3素子)のゲート端子の印加電圧をA、ソース端子の印加電圧をB、ドレイン端子の印加電圧をCとした場合に、A>B且つA>Cの状態とA<B且つA<Cの状態、または、A>B且つA<Cの状態とA<B且つA>Cの状態、または、A<B且つA>Cの状態とA>B且つA<Cの状態と、が交互に切り替わる電圧が印可されるように、トランジスタT4のドレイン端子に配線803を接続し、該配線803からクロック電位信号を入力する構成としている。
【0062】
〈実施形態2〉
図17は本発明の実施形態2の表示装置におけるシフトレジスタ回路の概略構成を説明するための図であり、トランジスタT3、T7の構成を除く他の構成は実施形態1のシフトレジスタ回路と同じ構成である。従って、以下の説明では、トランジスタT3、T7の構成を詳細に説明する。
【0063】
図17から明らかなように、実施形態2のシフトレジスタ回路では、トランジスタT3は、ゲート端子とドレイン端子とが第2クロック信号の印加される配線803と接続され、ソース端子が第2電位ノードN2と接続される構成となっている。また、トランジスタT7は、ゲート端子とドレイン端子とがスタートパルス信号の印加される配線806と接続され、ソース端子が第2電位ノードN2と接続される構成となっている。
【0064】
このように実施形態2のシフトレジスタ回路では、トランジスタT3、T7に関して、ドレイン端子とゲート端子とを接続するダイオード構造とすることによって、しきい値電圧の低い方へのシフトの加速を抑制する。これは、トランジスタT3、T7のゲート端子の電位がVGL電位のとき、ドレイン端子側もVGL電位のため、しきい値電圧の低い方へのシフト量が緩和する。その結果、前述する実施形態1のシフトレジスタ回路の効果に加えて、実施形態2のシフトレジスタ回路ではトランジスタT3、T7を介して流れるリーク電流を抑制することができ、消費電力の増大を抑制することが可能となる。
【0065】
すなわち、実施形態1のシフトレジスタ回路において、トランジスタT3、T7のしきい値電圧は低い方向に大きくシフトをする。これは、トランジスタT3、T7に関しては、ドレイン端子及びソース端子の電位に対してゲート端子の電位が低い期間が長いためである。一般的に、トランジスタのしきい値が低い方にシフトした場合、Vgs=0[V]時においても、Idsが多く流れる。つまり、リーク電流が増大する。その結果、ゲート出力信号の出力タイミング時に、トランジスタT3、T7を介してリーク電流が流れ、消費電力が増大する可能性がある。さらには、N2の電位がVGH電位に立ち上がり、ゲート出力信号が消失する可能性も考えられる。
【0066】
なお、実施形態2のシフトレジスタ回路において、トランジスタT3、T7のうち、片方のみのトランジスタを前述のダイオード構造とした場合であっても、ダイオード構造としたトランジスタのリーク電流を抑えることができるので、消費電力の増大を抑制することが可能となる。
【0067】
以上より、実施形態2のシフトレジスタ回路を用いることで、消費電力の増大を抑制した上で、安定したゲート出力信号を得ることが可能となる。
【0068】
以上、本発明者によってなされた発明を、前記発明の実施形態に基づき具体的に説明したが、本発明は、前記発明の実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能である。