【0005】
図1は、ウェーハコンテナの斜視分解図であり、複数のウェーハが2つのウェーハコンテナクラムシェル間に配置されている。複数の半導体ウェーハ20、21および22が、上部ハウジング50と下部ハウジング100との間に図示されている。ウェーハセパレータ25も図示されている。上部ハウジング50は、平面状上面105を有する。内部ベース表面102は、ベース表面103の外部へと延びる。この外部において、前記下部ハウジングは、リブ付きパターン101を有する。リブ付きパターン101は、ほとんどの下部半導体ウェーハ20の下部を支持し、ほぼ平面状のベース表面102および103の構造強度を増加させる。上部ハウジング50および下部ハウジング100はどちらとも、本質的に平面状の矩形または四角形のベースを有する。下部ハウジング100の複数の内側リブ壁部110および111は、移動する側部損傷から前記半導体ウェーハを保護する。これらの壁部は可撓性であり、これにより、側部衝撃を軽減する。これらの壁部は、下部ハウジング内においてセグメント化されたパターン様態で形成される。前記セグメント化されたリブについて、より詳細に
図2と共に図示および記載する。第2の1組のセグメント化された外側リブ112および113は、内側リブ壁部110および111の外部に存在する。これらのリブ壁部は重複パターン120および121として存在し、これにより、残骸が前記セグメント化されたリブを直接通過することを回避する。
図2は、重複したリブ壁部パターンを用いた下部ハウジングの上面図である。本明細書中に記載の重複したリブフィーチャをより明確に示すために、いくつかのフィーチャ(例えば、下部リブ)は下部表面102および103から削除しており、重複したリブを若干移動させている点に留意されたい。
図3は、重複した内側リブ壁部の詳細な斜視図である。
図2および
図3において、重複したリブのうち一部のみを示しているが、この重複状態は、下部ハウジング100内の8箇所に存在する。好適な実施形態において4つの内側リブ壁部110〜113と、4つの外側リブ壁部114〜117とを図示しているが、より多数またはより少数の重複も可能であることが企図される。
図2および
図3において、重複120を示しており、好適な実施形態において、重複角度は5〜15度である。しかし、プロトタイプ作製の際には、重複角度120を7.5度とした。前記リブ110〜117は弧状セグメントであり、本質的に平面状のベース102および103から垂直方向に延びる。これらの角度は、リブ高さ、材料、リブ厚さ、所望のクッション、および内側リブおよび外側リブ間の距離に基づいて変更可能である。一般的には、内側リブと外側リブとの間の距離は、上部クラムシェルハウジング内の環状リブに基づいて制御される。
前記重複した二重壁部により、格納デバイスの外部に対する衝突および衝撃からの最大保護が得られる。この最大保護は、前記内壁および外壁をオフセットし、かつ、重複した構成内に配置して、前記外壁によって可能となる屈曲動き量を増加させることにより直接伝達力からの半導体ウェーハの保護を増加させることにより、得られる。前記外壁の屈曲公差を増加させると、前記格納デバイスの全体的衝撃吸収能力も増加する。また、この設計を用いれば、半導体ウェーハをより高いパーセンテージで「包囲」することができるため、内壁セグメント間の空間内への横方向移動を最小化することができる。内壁をセグメント化することにより、コンテナの落下または衝撃発生時における前記内壁の可撓性を高めることができ、その結果、前記ウェーハへの衝撃を吸収および軽減することが可能になる。
図1および
図3に示すように、外側リブ壁部114〜117は、内側リブ壁部110〜113と同じ高さでなくてよい。いくつかの場合において、外部壁部の高さを低くすることで、衝撃時における上部カバーの撓みを大きくすることが可能になり、その後前記カバーは前記内壁に接触する。図中、
図1に示すような内側リブ壁部110〜113の高さのおよそ2/3の高さの外部リブ壁部114〜117を示す。
図4は、下部ハウジング100内の双方向ロッキングフィーチャの上面図である。
図5は、下部ハウジング100上の双方向ロッキングフィーチャの斜視図である。
図6は、上部ハウジング50上の双方向ロッキングフィーチャの斜視図である。先ず
図6を参照して、円形リブ51が上部ハウジング50の平面ベースから延びている様子が図示されている。「U」字型リブが円形リブ51から上部ハウジング50の外側縁部55へと延び、再び円形リブ51へと戻る。この「U」字型リブは、多様な形状にすることができ、下部ハウジング100との可能な4つの方向のうちの1つにおいて確実にロックするための鍵を提供することができる。外側縁部55へと延びるこの「U」字型リブは、内面53および外面52を有する。「U」字型リブが外側縁部55と接続する箇所において、外部保護およびサポートリブ54が得られる。
外側ロッキングリブ131および内側ロッキングリブ132からなる一対の固定用リブが下部ハウジング100上に設けられる。これらの固定用リブは、前記「U」字型リブがロッキング空洞130内に係合した際、前記「U」字型リブの内面53および外面52の反対側の側部と係合するように構成される。円形ロックリブ133は、内側ロックリブ132と共に上部ハウジング50の空洞56内に嵌まるように構成される。アイテム52/53によって規定されたリブがロッキング空洞130内に係合した場合、これらのフィーチャは配向を向上させ、下部ハウジング100上の上部ハウジング50は、上部カバー50の下部部材100に対する回転および運動の量を低減させる。このフィーチャにより得られる二重ロッキング位置により、上部カバー50が上部カバー組み立て時において所定位置において確実に配置およびロックされる。このような双方向回転ロッキングにより、部材組み立て時における格納デバイスの剛性がさらに高まる。前記「U」字型部は、下部ハウジング100の3つの側部に対してほぼ直角に図示されている。前記双方向ロックを1つの位置のみにおいて詳細に図示および記載しているが、前記フィーチャは、前記上部ハウジングおよび下部ハウジングの4つの側部全てにおいて存在する。
図7は、上部ハウジングの内部平面図であり、配向フィーチャを示す。
図8は、下部ハウジングの内部平面図であり、配向フィーチャを示す。
図9は、上部ハウジング内の配向鍵の詳細斜視図である。
図10は、上部ハウジング内に配向鍵が無い場合の詳細斜視図である。
図11は、下部ハウジング内のの配向鍵のためのクリアランスの詳細斜視図である。
図12は、下部ハウジング内の配向鍵の干渉の詳細斜視図である。斜視図において、領域90、91、92および93は拡大して図示されており、
図9、
図10、
図11および
図12中の斜視図は、配向タブ60と、上部ハウジング50および下部ハウジング100の配置を可能化または遮断する方法とを示す。
図9において、配向リブ60が「U」字型リブ54および57の角部から特定の距離62を以て円形リブ51から本質的に垂直方向に延びる様子が図示されている。
図10において、前記配向リブは、「U」字型リブ54および58の角部内の領域61内に存在しない。ここで
図11および
図12を参照して、配向リブ60を遮断またはバイパスさせる箇所が詳細に示されている。
図11において、曲線状ロックリブ133の角部半径と内側ロックリブ132との間の寸法106は、
図12中の曲線状ロックリブ134と内側ロックリブ132との間の距離107よりも短い。前記上部ハウジングが適切な配向からはみ出た状態で下部上に配置されると、より長い円形遮断リブ134が配向リブ60と干渉する。正確な配向の場合、より短い円形ロックリブ133が配向タブ60を通過させる。
図7中、合計4つの配向タブが図示されており、これらのタブにより、前記ハウジング間のアライメントが不適切である場合、前記ハウジングが前記配向タブ上に平坦に配置される。配向タブ60により、前記上部ハウジングおよび前記下部ハウジング部材がアライメントから外れて90度で不適切に組み立てられる事態が回避される。
図13は、下部ハウジングの上部斜視図である。
図14は、ホールドダウンラッチの詳細な斜視図である。
図15は、ホールドダウンラッチの斜視断面図である。
図13および
図15において、円形リブ110、111、114および115のうちいくつかが視認可能であり、これにより、ポケット80およびラッチフィーチャの配向の視認を支援する。下部ハウジング100は、ラッチ表面タブ81を備えたアンダーカットホールドダウン凹型ポケット80を有する。このラッチ表面タブ81は、自動アセンブリ内のハウジングを保持する保持機構のためのものである。下部ハウジング100の成形のための成形プロセスにおいて、ラッチ表面が形成される。ラッチ表面81は、下部ハウジング100の平面状下部表面103の高さ以下の高さにおいて配置される。ラッチ表面81は、角度付きまたは曲線状の入口表面82をさらに有する。前記ポケットは、少なくとも2つの本質的に垂直な側壁83をさらに有する。これらの側壁83により、下部ハウジングが保持機構上にセルフセンタリングされる。
前記ラッチの高さは前記内壁構造以下であり、これにより、前記装置および凹部ポケット80およびラッチ表面81との干渉を引き起こすこと無く、前記コンテナの下部部材との界面が装置に提供される。この凹型フィーチャはまた、前記上部カバーが前記下部部材から分解される際に噛み合い表面を損傷から保護する。
図13および
図15において、ハウジングラッチ70、71および72が図示されている。これらのラッチは、前記上部ハウジングおよび下部ハウジングを共に固定する。
図13および
図15において、複数の支持リブ85が図示されている。これらのリブは、上部ハウジング上に積み重ねられた下部ハウジングからの負荷を分配するように構成される。
図18を簡単に参照すると、下部ハウジング100の環状リップ87が、上部ハウジング50の環状リップ86と異なる寸法で配置されていることが分かる。その結果、前記ハウジングが積み重ねられるか、または配置される。複数のウェーハコンテナを共に積み重ねる場合、ウェーハが充填されたコンテナの重量は有意である。いくつかのウェーハコンテナは、保護プラスチックバッグ内に封入され、積み重ね状態においては、支持表面が小さく、その結果、バッグの損傷または穿刺の原因となる高支持負荷が発生する。2.25mm
2を越える複数の支持表面85各を四分円毎に設けられた4つを越える支持リブ85と共に用いた場合、前記コンテナが損傷から適切に保護され、また、前記保護プラスチックバッグも穿刺または損傷から保護されることが計算および試験により分かった。
図16は、上部ラッチタブおよび下部ラッチタブが係合した様子の斜視図である。
図17は、下部ラッチタブの側面図である。
図18は、上部ハウジングと下部ハウジングとの間で係合したラッチの断面図である。
図19は、上部ハウジングと下部ハウジングとの間の係合の詳細な図である。下部ハウジング100は、少なくとも1つのラッチを有する。前記少なくとも1つのラッチは、上部ハウジング50上に配置された対応するノッチ75において係合する。
ラッチ70の上面74は、高さ76において配置される。高さ76は、少なくとも1つのリブ141の上面よりも低い。ラッチ70の高さ76は、内壁141構造以下である。その結果、装置およびラッチ高さとの干渉を引き起こすこと無く、コンテナの下部部材との界面を前記装置に提供することが可能になる。その結果、下部ハウジング100が表面上において引きずられた際におけるラッチ70の損傷の可能性がさらに低減する。好適な実施形態において、4つのラッチ70と、上部ハウジング50または下部100ハウジングの各角部領域内に配置された4つの対応するノッチ75とが設けられるが、1つまたは2つだけのラッチも企図され、4つ以上のラッチも企図される。
図19は、ノッチ70が曲線状入口傾斜部77および凹部78を有する様子を示す。凹部78は、入口傾斜部77の上方においてラッチ70を上昇させ、ラッチ70を凹部78内へと下降させて、ラッチ70を凹部78内において保持する。前記ラッチ(単数または複数)が固定されると、内側リブ壁部111の上部が上部ハウジング50の対応する表面84上にしっかりと係合および捕獲される。ノッチ75は、保護ラッチウェル140内に配置される。保護ラッチウェル140は、取扱および衝撃時においてラッチ70を保護する。保護ラッチウェル140は、上部ハウジング50の平面矩形表面105の下側に存在する。前記保護ラッチウェルは、前記ラッチの偶発的開口を制限するだけの十分なサイズを有し、かつ、人間の指および自動機械がハウジングを開ける際のアクセスを可能にするだけの十分なサイズを有する。側壁142保護ラッチは、側壁142とフック74/ノッチ75との間の限定されたクリアランスのみを良好に提供する。
図20は、前記上部ハウジングおよび下部ハウジングの斜視図であり、内部構成要素を示す分解図である。この図において、半導体ウェーハによって妨害されることなく、上部ハウジング50および下部ハウジング100の開口空洞内を見ることができる。
上記のように、半導体ウェーハコンテナの特定の実施形態について開示してきた。しかし、当業者にとって、本明細書中の発明コンセプトから逸脱することなく、記載したものに加えてより多くの改変可能であることが明らかである。よって、本発明の内容は、添付の特許請求の範囲の内容に限定されるべきではない。