特許5744861フラットパネルＸ線イメージャ内のフォトダイオード及び他のセンサ構造、並びに薄膜電子工学を利用したフラットパネルＸ線イメージャ内のフォトダイオード及び他のセンサ構造のトポロジー均一性の改善方法

発明の名称　フラットパネルＸ線イメージャ内のフォトダイオード及び他のセンサ構造、並びに薄膜電子工学を利用したフラットパネルＸ線イメージャ内のフォトダイオード及び他のセンサ構造のトポロジー均一性の改善方法

出願人　ザ、リージェンツ、オブ、ザ、ユニバーシティー、オブ、ミシガン　（識別番号 504293492）

　　　　特許公開件数ランキング 14468 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 12296 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-5744861

公報発行日　2015年7月8

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-5744861

知財ポータルサイト IP Force にログインすれば、特許-5744861「フラットパネルＸ線イメージャ内のフォトダイオード及び他のセンサ構造、並びに薄膜電子工学を利用したフラットパネルＸ線イメージャ内のフォトダイオード及び他のセンサ構造のトポロジー均一性の改善方法」の公報全文を閲覧することができます。

ログインはこちら　ログイン・ユーザー登録