発明の名称 浮遊粒子状物質測定装置およびこれを用いた浮遊粒子状物質測定方法
出願人 紀本電子工業株式会社 (識別番号 591081321)
特許公開件数ランキング 14682 位(0件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 12559 位(0件)(共同出願を含む)
公報番号 特許-5759579
公報発行日 2015年8月5
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-B9-5759579
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