特許5765693分光特性測定装置

発明の名称　分光特性測定装置

出願人　国立大学法人　香川大学　（識別番号 304028346）

　　　　特許公開件数ランキング 4985 位（2件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 1797 位（5件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-5765693

公報発行日　2015年8月19

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-5765693

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