特許 5766468 眼科装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】5766468

(24)【登録日】2015年6月26日

(45)【発行日】2015年8月19日

(54)【発明の名称】眼科装置

(51)【国際特許分類】

   A61B 3/10 20060101AFI20150730BHJP

   A61B 3/15 20060101ALI20150730BHJP

【ＦＩ】

   A61B3/10 W

   A61B3/14 F

【請求項の数】2

【全頁数】12

(21)【出願番号】特願2011-47033(P2011-47033)

(22)【出願日】2011年3月4日

(65)【公開番号】特開2012-183126(P2012-183126A)

(43)【公開日】2012年9月27日

【審査請求日】2014年1月23日

(73)【特許権者】

【識別番号】501299406

【氏名又は名称】株式会社トーメーコーポレーション

(72)【発明者】

【氏名】岡本 圭一郎

【審査官】 九鬼 一慶

(56)【参考文献】

【文献】 特開平１１−０１９０３７（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ａ６１Ｂ ３／００−３／１８

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

装置本体と、被検眼に向けてＺアライメント用の指標光を照射するＺアライメント指標光源と、該Ｚアライメント指標光源による該指標光の該被検眼による反射光を２次元受光素子により撮像するＺアライメント検出手段と、該Ｚアライメント検出手段からの検出結果に基づいて該装置本体をＺ方向に移動させて、位置合わせするＺ方向駆動手段とを備えた眼科装置において、
該被検眼による該反射光の光束径が前記２次元受光素子の受光面におさまるように構成し、該２次元受光素子により受光された前記受光面上の垂直又は水平方向のライン上の画素の輝度を積算することを全ラインに対して行なうことで該受光面全体の輝度分布情報を取得する輝度分布情報取得手段と、該輝度分布情報取得手段により取得された該輝度分布情報から該反射光が鏡面反射か乱反射かを判別する判別手段と、該判別手段により乱反射と判別したときは、該被検眼と該装置本体との距離を特定し、該装置本体のＺ方向の位置の制御を行なうＺ方向位置制御手段とを設けたことを特徴とする眼科装置。

【請求項2】

前記判別手段は、前記輝度分布情報取得手段により得られた前記輝度分布情報における予め設定された輝度の閾値よりも輝度が高い画素の数及び／又は半値幅の大きさに基づいて該反射光が鏡面反射か乱反射かを判別することを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

この発明は、被検眼に対して装置本体を所定の位置にアライメントして検査を行なう眼科装置に関するものである。

【背景技術】

【0002】

眼の検査のために利用される眼科装置では、被検眼に対して装置本体を所定の位置関係にアライメントすることが必要である。アライメントは、被検眼の角膜に対してアライメント光束を投影して、その角膜反射像（虚像）の位置を受光素子により検出し、その検出情報に基づいてジョイスティック等の操作手段を操作して装置本体を移動させ、装置本体と被検眼の位置合わせを行なっている。近年では、自動でアライメント調整する装置が主流となっている。

【0003】

ジョイスティック等の操作手段によって装置本体と被検眼との位置合わせを行なう場合、被検眼に装置本体が接触しないように慎重に操作する必要があり、その作業には微妙な調整が必要とされるため、熟練を要する。

【0004】

そこで、被検眼への装置本体の接触を回避するために、特許文献１（特開２００１−２７５９７３号公報）においては、角膜の反射光を検出し、Ｚ方向のずれ情報を得て、被検眼に対して測定部が所定の接近距離以上に近づいたことを検出した場合には、測定部を後方へ移動させる眼科装置が提案されている。

【0005】

しかしながら、かかる特許文献１に記載の従来構造においては、角膜反射を検出することができない位置（例えば、まぶたや頬等）に装置本体がある場合、装置本体と被検眼との距離を特定することができないため、装置本体が被検眼に接触する恐れがある。

【0006】

また、特許文献２（特開平１１−１９０３７号公報）においては、角膜頂点、まぶた等の反射位置によって反射光の光量が異なる点に着目して、アライメント検出手段により検出された光量を相対的に比較し、角膜反射が検出されない場合には、自動アライメント調整を中止する眼科装置が提案されている。

【0007】

しかしながら、かかる特許文献２に記載の従来構造においては、どの測定部位の反射光なのか判別可能となるため、角膜反射が検出されない場合には、装置のアライメントを中止させることができ、被検眼への装置本体の接触を回避することができるが、装置本体と被検眼との距離を特定することはできないため、アライメントの再度やり直しが必要となり、検者及び被検者に負担がかかるという問題がある。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0008】

【特許文献1】特開２００１−２７５９７３号公報

【特許文献2】特開平１１−１９０３７号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0009】

ここにおいて、本発明は上述の如き事情を背景として為されたものであって、その解決課題とするところは、角膜反射を検出することができない場合においても、装置本体と被検眼との距離を特定し装置本体の位置の制御を行なうことから、装置本体が被検眼に接触することなくスムーズにアライメントすることができる眼科装置を提供することにある。

【課題を解決するための手段】

【0010】

本発明の第一の態様は、装置本体と、被検眼に向けてＺアライメント用の指標光を照射するＺアライメント指標光源と、該Ｚアライメント指標光源による該指標光の該被検眼による反射光を２次元受光素子により撮像するＺアライメント検出手段と、該Ｚアライメント検出手段からの検出結果に基づいて該装置本体をＺ方向に移動させて、位置合わせするＺ方向駆動手段とを備えた眼科装置において、該被検眼による該反射光の光束径が前記２次元受光素子の受光面におさまるように構成し、該２次元受光素子により受光された前記受光面上の垂直又は水平方向のライン上の画素の輝度を積算することを全ラインに対して行なうことで該受光面全体の輝度分布情報を取得する輝度分布情報取得手段と、該輝度分布情報取得手段により取得された該輝度分布情報から該反射光が鏡面反射か乱反射かを判別する判別手段と、該判別手段により乱反射と判別したときは、該被検眼と該装置本体との距離を特定し、該装置本体のＺ方向の位置の制御を行なうＺ方向位置制御手段とを設けたことを、特徴とする。

【0011】

本態様に従う構造とされた眼科装置においては、被検眼による反射光の光束径が受光素子の受光面におさまるように構成することから、角膜の鏡面反射だけでなくまぶたや頬等の乱反射の場合においても受光素子による検出が可能となり、装置本体と被検眼との距離を特定することができる。

【0012】

そして、本態様においては、受光素子により撮像された撮影画像における輝度分布情報を取得し、反射光が乱反射と判別したときは、被検眼と装置本体との距離を特定し装置本体のＺ方向の位置の制御を行なうことから、装置本体が被検眼に接触することなくスムーズにアライメントすることができる。

【0014】

さらに、本態様に従う構造とされた眼科装置においては、受光素子を２次元受光素子とし、受光面上の垂直又は水平方向のライン上の画素の輝度を積算することを全ラインに対して行なうことから、受光面全体の輝度分布情報を取得するための処理時間をより有効に抑えることができ、処理の高速化を図ることができる。すなわち、２次元位置検出素子の仕様によってはライン数が数百本になるため、それぞれの直線における輝度分布を評価していき、受光面全体の輝度分布を取得することは、非常に処理時間を要する。本態様においては、受光面上の垂直又は水平方向のライン上の画素の輝度を積算することを全ラインに対して行なった後に、受光面全体の輝度分布を評価するため、処理時間をより有効に抑えることができ、処理の高速化を図ることが可能となる。さらに、２次元受光素子を用いて受光面上の画素の輝度を積算することにより、被検眼による反射光の一部が受光面から外れていても、より精度の高い輝度分布情報を取得することができる。すなわち、１次元受光素子の場合、反射光の一部が受光面から外れると、輝度分布情報におけるピーク（中心位置）を算出することが困難になる。本態様においては、反射光の一部が受光面から外れていても、２次元受光素子を用いて受光面上の画素の輝度を積算するため輝度分布情報におけるピークを特定することが可能となるため、より精度の高い輝度分布情報となる。

【0015】

また、本発明の第二の態様は、前記第一の態様に係る眼科装置において、前記判別手段は、前記輝度分布情報取得手段により得られた前記輝度分布情報における予め設定された輝度の閾値よりも輝度が高い画素の数及び／又は半値幅の大きさに基づいて該反射光が鏡面反射か乱反射かを判別することを、特徴とする。

【0016】

本態様に従う構造とされた眼科装置においては、輝度分布情報における予め設定された輝度の閾値よりも輝度が高い画素の数及び／又は半値幅の大きさに基づき反射光が鏡面反射か乱反射かを判別することから、簡単な処理で判別することができる。

【図面の簡単な説明】

【0017】

【図1】眼屈折力測定装置の装置光学系を示す図である。

【図2】従来技術の角膜がまぶたに覆われたときのＺアライメント２次元検出センサに入射する光束の状態を示す図である。

【図3】眼屈折力測定装置の外観図である。

【図4】眼屈折力測定装置の概略ブロック構成回路図である。

【図5】眼屈折力測定装置の測定手順を示すフローチャートである。

【図6】表示画面に表示される前眼部の図である。

【図7】２次元検出センサの構成概略図である。

【図8】受光面全体のＸＹ輝度分布情報を取得する方法を説明するための説明図である。

【図9】Ｚアライメントの方法を説明するための説明図である。

【図10】Ｚアライメント２次元検出センサで検出される受光面での反射像を説明するための説明図である。

【図11】受光面全体のＺ輝度分布情報を取得する方法を説明するための説明図である。

【図12】（ａ）角膜の鏡面反射を検出したとき、（ｂ）まぶたや頬等の乱反射を検出したときのＺ輝度分布を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0018】

以下、本実施形態について図面に基づいて説明する。なお、本実施形態では、眼屈折力を測定する装置を例として説明する。

【0019】

先ず、図１に、本発明における眼屈折力測定装置の装置光学系１０を示す。装置光学系１０は、被検眼Ｅの前眼部を観察する観察光学系（２０，２２，２４，２６，２８，３０，３２）、被検眼Ｅを注視させる視標を提示する視標光学系（３４，３６，３８，４０，２２）、装置光学系１０を被検眼Ｅに対して上下左右方向（Ｘ・Ｙ方向）で位置決めするためのＸＹ方向位置検出手段としてのＸＹアライメント検出光学系（４２，４４，４６，４８，３８，４０，２２，２４，２６，２８，５０，５２，５４）、装置光学系１０を被検眼Ｅに対して前後方向（Ｚ方向）で位置決めするためのＺ方向位置検出手段としてのＺアライメント検出光学系（４２，４４，４６，４８，３８，４０，２２，５６，５８，６０）、眼の屈折力を測定するための眼屈折力測定光学系（４２，４４，４６，４８，３８，４０，２２，５６，５８，６０）を備えている。

【0020】

観察光学系は、赤外光を照射する照明光源２０，２０、波長選択ミラー２２、レンズ２４、波長選択ミラー２６、ハーフミラー２８、レンズ３０、ＣＣＤ３２が設けられて構成されている。ここで、波長選択ミラー２２は照明光源２０，２０及び後述するアライメント光源４２及び測定光源６２から照射される赤外光がハーフミラーで、後述する視標光源３２の可視光を反射する特性となっている。また、波長選択ミラー２６は照明光源２０，２０及び後述するアライメント光源４２から照射される赤外光を透過し、後述する測定光源５４から照射される赤外光を反射する特性となっている。照明光源２０，２０から発せられて被検眼Ｅの前眼部で反射された光束が、波長選択ミラー２２を透過し、レンズ２４を介して波長選択ミラー２６を透過した後、レンズ２８を介してＣＣＤ３０上に導かれる。

【0021】

視標光学系は、可視光を照射する視標光源３４、光軸方向に移動可能な視標３６、波長選択ミラー３８、レンズ４０、波長選択ミラー２２が設けられて構成されている。ここで、波長選択ミラー３８は可視光を透過し、後述するアライメント光源４２の赤外光を反射する特性となっている。視標光源３４から発せられた光束は、視標３６を介して、波長選択ミラー３８を透過した後、レンズ４０を介して波長選択ミラー２２で反射されて被検眼Ｅに照射される。

【0022】

ＸＹアライメント検出光学系は、赤外光を照射するアライメント光源４２、レンズ４４、絞り４６、レンズ４８、波長選択ミラー３８、レンズ４０、波長選択ミラー２２、レンズ２４、波長選択ミラー２６、ハーフミラー２８、フィルター５０、レンズ５２、ＸＹアライメント２次元検出センサ５４が設けられて構成されている。ここで、ハーフミラー２８は、照明光源２０，２０及びアライメント光源４２からの光の一部を透過すると共に残りを反射する。また、フィルター５０は、アライメント光源４２からの光を透過する一方で、照明光源２０からの光を遮断する。このため、照明光源２０，２０からの光がＸＹアライメント２次元検出センサ５４で検出されることはない。また、絞り４６は、被検眼Ｅの角膜Ｃと共役な位置に配設されており、絞り４６によりアライメント光源４２による被検眼Ｅの位置での光束の像の直径を調節している。アライメント光源４２から発せられた光束は、レンズ４４、絞り４６、レンズ４８を介して波長選択ミラー３８で反射され、レンズ３８を介して波長選択ミラー２２で反射されて被検眼Ｅに照射される。被検眼Ｅの角膜Ｃで鏡面反射された光束が、波長選択ミラー２２を透過し、レンズ２４を介して波長選択ミラー２６を透過した後、ハーフミラー２８で光束の一部が反射され、フィルター５０、レンズ５２を介してＸＹアライメント２次元検出センサ５４に導かれるようになっている。

【0023】

Ｚアライメント検出光学系は、赤外光を照射するアライメント光源４２、レンズ４４、絞り４６、レンズ４８、波長選択ミラー３８、レンズ４０、波長選択ミラー２２、フィルター５６、レンズ５８、Ｚアライメント２次元検出センサ６０が設けられて構成されている。ここで、フィルター５６は、アライメント光源４２からの光を透過する一方で、照明光源２０からの光を遮断する。このため、照明光源２０，２０からの光がＺアライメント２次元検出センサ６０で検出されることはない。アライメント光源４２から発せられた光束は、レンズ４４、絞り４６、レンズ４８を介して波長選択ミラー３８で反射され、レンズ３８を介して波長選択ミラー２２で反射されて被検眼Ｅに照射される。被検眼Ｅの角膜Ｃで鏡面反射された光束が、フィルター５６、レンズ５８を介してＺアライメント２次元検出センサ６０に導かれるようになっている。

【0024】

特に本実施形態においては、まぶたや頬等で乱反射された光束も、Ｚアライメント２次元検出センサ６０の受光面におさまるように、絞り４６にて調節されている。従来技術では、まぶたや頬等で乱反射された光束は、大きく広がってＺアライメント２次元検出センサ６０に入射するため（図２参照）、Ｚアライメント２次元検出センサ６０により乱反射を特定することは困難であった。しかしながら、本実施形態において、より具体的には、例えば、被検眼Ｅで乱反射された光束の直径が、Ｚアライメント２次元検出センサ６０の受光面の横寸法に対して８０％になるように絞り４６の径や倍率が設計され、Ｚアライメント２次元検出センサ６０の受光面におさまるように構成されている。これにより、角膜の鏡面反射だけでなくまぶたや頬等の乱反射の場合においてもＺアライメント２次元検出センサ６０による検出が可能とされている。

【0025】

眼屈折力測定光学系は、赤外光を照射する測定光源６２、レンズ６４、絞り６６、ハーフミラー６８、レンズ７０、波長選択ミラー２６、レンズ２４、波長選択ミラー２２、絞り７２、レンズ７４、光軸方向に移動可能なＣＣＤ７６が設けられて構成されている。ここで、ハーフミラー６８は、測定光源６２からの光の一部を透過すると共に残りを反射する。測定光源６２から発せられた光束は、レンズ６４、絞り６６を介してハーフミラー６８で光束の一部が透過され、レンズ７０を介して波長選択ミラー２６で反射し、レンズ２４を介して波長選択ミラー２２を透過されて被検眼Ｅの眼底に照射される。被検Ｅの眼底で反射された光束が、波長選択ミラー２２を透過し、レンズ２４を介して波長選択ミラー２６で反射され、レンズ７０を介してハーフミラー６８で光束の一部が反射され、絞り７２、レンズ７４を介してＣＣＤ７６に導かれるようになっている。

【0026】

次に、図３に、本発明における眼屈折力測定装置の外観図を示す。装置光学系１０は、図３に示す眼屈折力測定装置１００に収容されている。眼屈折力測定装置１００は、ベース１０２の上に本体部１０４が設けられており、かかる本体部１０４の上にケース１０６が前後左右および上下動可能に設けられて構成されている。ベース１０２には、電源装置が内蔵されていると共に、操作スティック１０８が設けられており、かかる操作スティック１０８を操作してケース１０６を駆動せしめることができるようにされている。また、本体部１０４には、後述する各制御回路などが収容されていると共に、例えば液晶モニタなどからなる表示画面１１０が設けられている。

【0027】

さらに、図４に、本発明における眼屈折力測定装置の概略ブロック構成回路図を示す。眼屈折力測定装置には、装置光学系１０の駆動手段としての駆動回路１１２が設けられている。Ｘ軸駆動機構１１４、Ｙ軸駆動機構１１６、Ｚ軸駆動機構１１８は、それぞれ駆動回路１１２に接続されて、駆動回路１１２からの駆動信号に基づいて駆動せしめられるようにされている。また、ＸＹアライメント２次元検出センサ５４は、ＸＹアライメント信号処理回路１２０に接続されており、かかるＸＹアライメント信号処理回路１２０は、駆動回路１１２に接続されている。また、Ｚアライメント２次元検出センサ６０は、Ｚアライメント信号処理回路１２２に接続されており、かかるＺアライメント信号処理回路１２２は、反射光が鏡面反射か乱反射かを判別する判別手段としての反射光判別回路１２４を介して駆動回路１１２に接続されている。これにより、ＸＹアライメント２次元検出センサ５４及びＺアライメント２次元検出センサ６０の検出情報が駆動回路１１２に入力されるようになっている。そして、装置光学系１０のＺ方向の位置の制御を行なうＺ方向位置制御手段としてのＺ方向位置制御回路１２６が駆動回路１１２に接続されている。さらに、眼屈折力測定装置には、駆動回路１１２に眼屈折力を測定するための測定系１２８が接続されている。

【0028】

次に、このような構造とされた眼屈折力測定装置において、駆動回路１１２が実行する眼屈折力の測定手順の概略を図５に示し、以降、順に説明する。

【0029】

まず、Ｓ１において、被検眼Ｅに対して、手動によって装置光学系１０のＸ方向及びＹ方向の位置合わせ（ＸＹアライメント）を行なう。かかるＸＹアライメント時には、視標光源３４から照射された視標光が被検眼Ｅに導かれる。そして、被検者にかかる視標光を固視させることによって、被検眼Ｅの光軸方向を、観察光学系の光軸Ｏ_１の方向と一致させることができる。かかる状態下で、照明光源２０，２０から照射されて、被検眼Ｅの前眼部で反射された光束がＣＣＤ３２上に導かれる。これにより、図６に示すように、表示画面１１０上に、被検眼Ｅの前眼部が表示される。

【0030】

さらに、表示画面１１０上には、ＸＹアライメント２次元検出センサ５４によりＸ方向の位置とＹ方向の位置を検出可能な領域を示す矩形枠形状のＸＹアライメント検出可能領域１３０が、被検眼Ｅに重ねて表示される。それと共に、アライメント光源４２から被検眼Ｅに向けて照射された光束が、被検眼Ｅの角膜Ｃで反射されてＣＣＤ３２に導かれることによって、表示画面１１０に、点状の角膜輝点Ｒ_ＸＹとして表示されるようになっている。そして、操作者は操作スティック１０８を操作することによって、装置光学系１０を駆動せしめて、角膜輝点Ｒ_ＸＹがＸＹアライメント検出可能領域１３０の枠内に入るように、装置光学系１０の位置を調節する。

【0031】

また、アライメント光源４２が照射されて、被検眼Ｅの前眼部で反射された光束の一部は、ハーフミラー２８で反射されて、ＸＹアライメント２次元検出センサ５４に導かれるようになっている。

【0032】

次に、Ｓ２において、ＸＹアライメント２次元検出センサ５４は、角膜輝点Ｒ_ＸＹがＸＹアライメント検出可能領域１３０の枠内に入り、角膜輝点Ｒ_ＸＹが検出されると、ＸＹアライメント信号処理回路１２０に入力される。ＸＹアライメント信号処理回路１２０は、ＸＹ輝度分布情報を取得する。より具体的には、図７に示すように、ＸＹアライメント２次元検出センサ５４は、水平方向にｍ列、垂直方向にｎ行の画素から構成されており、列及び行の番号は０から始まるものとする。図８に示すように、受光面上の垂直方向のラインｌ_Ｘｉ（ｉ＝０〜ｍ）、水平方向のラインｌ_Ｙｊ（ｊ＝０〜ｎ）上の画素の輝度を積算することで、受光面全体のＸＹ輝度分布情報を取得する。そして、ＸＹ輝度分布情報から得られたＸ方向及びＹ方向位置を駆動回路１１２に出力する。

【0033】

次に、Ｓ３において、駆動回路１１２は、Ｘ方向の位置情報に基づいて観察光学系の光軸Ｏ_１が被検眼Ｅの光軸に近づくようにＸ軸駆動機構１１４を駆動すると共に、Ｙ方向の位置情報に基づいて観察光学系の光軸Ｏ_１が被検眼Ｅの光軸に近づくようにＹ軸駆動機構１１６を駆動せしめる。これにより、装置光学系１０の被検眼Ｅに対するＸＹ方向の位置合わせが行われる。

【0034】

次に、Ｓ４において、被検眼Ｅに対して、手動によって装置光学系１０のＺ方向の位置合わせ（Ｚアライメント）を行なう。かかるＺアライメント時には、アライメント光源４２を発光せしめて、アライメント光源４２から照射された赤外光束を、被検眼Ｅの前眼部に対して正面から照射すると共に、前眼部から反射された光束が、Ｚアライメント２次元検出センサ６０に導かれるようになっている。

【0035】

そこにおいて、図９にモデル的に示すように、被検眼ＥがＺアライメント検出光学系に対してＺ方向で相対的に前後すると、被検眼Ｅからの反射される反射光束：Ｏ_Ｚ１，Ｏ_Ｚ２がＺアライメント２次元検出センサ６０に入射する位置は、目的とする基準位置に位置せしめられた被検眼Ｅから反射される反射光束：Ｏ_Ｚ0の入射位置から偏移する。その結果、図１０にモデル的に示すように、目的とする位置から外れた反射光束：Ｏ_Ｚ１，Ｏ_Ｚ２のＺアライメント２次元検出センサ６０によって検出される受光面での反射像:Ｒ_Ｚ１，Ｒ_Ｚ2の位置は、目的とするＺ方向位置における反射光束Ｏ_Ｚ0によって検出される反射像：Ｒ_Ｚ0の位置（基準位置。オフセット量＝０）から偏移する。これにより、Ｚアライメント２次元検出センサ６０によって検出された反射像の基準位置からのオフセット量に基づいて、装置光学系１０と被検眼Ｅとの距離を特定することが可能となる。

【0036】

次に、Ｓ５において、Ｚアライメント２次元検出センサ６０は、受光面にて反射像Ｒ_Ｚが検出されると、Ｚアライメント信号処理回路１２２に入力される。Ｚアライメント信号処理回路１２２は、Ｚ輝度分布情報を取得する。より具体的には、Ｚアライメント２次元検出センサ６０は、ＸＹアライメント２次元検出センサ５４と同様に、水平方向にｍ列、垂直方向にｎ行の画素から構成されており、列及び行の番号は０から始まるものとする。図１１に示すように、受光面上の垂直方向のラインｌ_Ｚｉ（ｉ＝０〜ｍ）上の画素の輝度を積算することで、受光面全体のＺ輝度分布情報を取得する。なお、図１２に、（ａ）角膜の鏡面反射を検出したとき，（ｂ）まぶたや頬等の乱反射を検出したときに取得したＺ輝度分布情報を示す。

【0037】

次に、Ｓ６において、Ｚアライメント信号処理回路１２２で取得されたＺ輝度分布情報を反射光判別回路１２４で処理して、反射光が角膜の鏡面反射かまぶたや頬等の乱反射かを判別する。反射光判別回路１２４における第一の判別として、本実施形態では、Ｚアライメント信号処理回路１２２によって取得されたＺ輝度分布情報を用いて、予め設定された輝度値の第一閾値よりも高い輝度値を有する画素が存在するか否かを判定するようになっている。なお、予め設定される輝度値の第一閾値は、より具体的には、例えば、輝度値が０〜２５５で表されている場合、輝度値１２８と設定されている。

【0038】

ここで、反射光判別回路１２４における第一の判別において、第一閾値よりも高い輝度の画素が検出されなかった場合には、反射光がまぶたや頬等の乱反射であると推測され、次にＳ７の処理が行なわれる。

【0039】

一方、反射光判別回路１２４における第一の判別において、第一閾値よりも高い輝度の画素が検出された場合には、反射光が角膜の鏡面反射であると判断される。この場合には、Ｓ９の処理が行なわれる。

【0040】

次に、Ｓ７において、反射光判別回路１２４における第二の判別として、本実施形態では、Ｚアライメント信号処理回路１２２によって取得されたＺ輝度分布情報を用いて、予め設定された第二閾値を超える半値幅の大きさか否かを判定するようになっている。なお、予め設定される第二閾値は、より具体的には、例えば、角膜輝点Ｒ_ＸＹの直径の５倍の大きさで設定されている。

【0041】

ここで、反射光判別回路１２４における第二の判別において、予め設定された第二閾値を超える半値幅の大きさであった場合には、反射光がまぶたや頬等の乱反射であると判断され、次にＳ８の処理が行なわれる。

【0042】

一方、反射光判別回路１２４における第二の判別において、予め設定された第二閾値を超える半値幅の大きさでなかった場合には、反射光が角膜の鏡面反射であると判断され、Ｓ９の処理が行なわれる。

【0043】

Ｓ８において、駆動回路１１２は、Ｚ方向の位置を制御するようＺ方向位置制御回路１２６に入力する。Ｚ方向位置制御回路１２６は、被検眼Ｅに対して装置光学系１０が予め設定された接近距離以上に近づかないようにＺ方向の位置を制御する。そして、再びＳ４の処理が行なわれる。

【0044】

Ｓ９において、反射光判別回路１２４により反射光が角膜の鏡面反射であると判断された場合には、駆動回路１１２は、Ｚアライメント信号処理回路１２２が検出したＺ方向の位置情報に基づいてＺ軸駆動機構１１８をＺ方向の前方又は後方に駆動せしめることによって、装置光学系１０の被検眼Ｅに対するＺ方向の位置合わせが行われる。

【0045】

このようにして、ＸＹ方向とＺ方向のアライメントが行なわれた後、Ｓ１０において、駆動回路１１２は、眼屈折力の測定をするよう測定系１２８に入力する。眼屈折力測定は、被検眼Ｅの眼底に測定光を投影し、被検眼Ｅの眼底からの反射光を受光し、得られた反射光の情報を用いて演算することにより被検眼Ｅの屈折力を測定するものであるが、この測定機構自体の説明は本発明とは関係が薄いので、これを省略する。測定機構の詳細については、本出願人による特開２００３−１０２６８７号を参照されたい。

【0046】

以上、本発明の一実施形態について詳述してきたが、かかる実施形態における具体的な記載によって、本発明は、何等限定されるものでなく、当業者の知識に基づいて種々なる変更、修正、改良等を加えた態様で実施可能であり、また、そのような実施態様が、本発明の趣旨を逸脱しない限り、何れも、本発明の範囲内に含まれるものであることは、言うまでもない。

【0047】

例えば、本実施形態では、被検眼ＥがＺアライメント検出光学系に対してＺ方向で相対的に前後すると、Ｚアライメント２次元検出センサ６０で検出される受光面での反射像Ｒ_Ｚが水平方向に偏移する光学配置となっているため、垂直方向のラインｌ_Ｚｉ（ｉ＝０〜ｍ）上の画素の輝度を積算する構成を開示しているが、反射像Ｒ_Ｚが垂直方向に偏移する光学配置とした場合には、水平方向のライン上の画素の輝度を積算することになる。

【0048】

また、本実施形態では、反射光判別回路１２４において、予め設定された輝度値の第一閾値よりも高い輝度値を有する画素が存在するか否かを判定する第一の判別及び予め設定された第二閾値を超える半値幅の大きさか否かを判定する第二の判別を行なっているが、これに限定されず、予め設定された輝度値の第一閾値よりも高い輝度値を有する画素が存在するか否かを判定する第一の判別のみの構成にしてもよい。なお、第一の判別及び第二の判別の両方を行なうことで、より精度よく反射光が鏡面反射か乱反射かを判別することが可能となる。

【0049】

また、本実施形態では、Ｚアライメント２次元検出センサ６０を用いて行なっているが、これに限定されず、１次元検出センサを用いる構成にしてもよい。

【0050】

また、本実施形態では、Ｚアライメント検出光学系において、アライメント光源４２からの光束を被検眼に対して正面から投影して、斜めからＺアライメント２次元検出センサ６０によって受光しているが、これに限定されず、被検眼に対して斜めから光束を投影して斜めから受光する構成や、被検眼に対して斜めから光束を投影して正面から受光する構成にしてもよい。

【0051】

また、本実施形態に示した眼屈折力測定装置における採用はあくまで例示であって、被検眼Ｅに対してＺ方向のアライメント駆動を行なう装置、例えば、眼圧計や角膜形状測定装置等において採用可能であることは言うまでもない。

【符号の説明】

【0052】

１００ 眼屈折力測定装置
１０２ ベース
１０４ 本体部
１０６ ケース
１０８ 操作スティック
１１２ 駆動回路
１１４ Ｘ軸駆動機構
１１６ Ｙ軸駆動機構
１１８ Ｚ軸駆動機構
１２０ ＸＹアライメント信号処理回路
１２２ Ｚアライメント信号処理回路
１２４ 反射光判別回路
１２６ Ｚ方向位置制御回路
１２８ 測定系

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】