特許第5773950号(P5773950)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

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特許5773950液位測定装置およびそのVCOキャリブレイション方法
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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】5773950
(24)【登録日】2015年7月10日
(45)【発行日】2015年9月2日
(54)【発明の名称】液位測定装置およびそのVCOキャリブレイション方法
(51)【国際特許分類】
   G01F 23/284 20060101AFI20150813BHJP
【FI】
   G01F23/284
【請求項の数】6
【全頁数】12
(21)【出願番号】特願2012-131114(P2012-131114)
(22)【出願日】2012年6月8日
(65)【公開番号】特開2013-253936(P2013-253936A)
(43)【公開日】2013年12月19日
【審査請求日】2014年1月23日
(73)【特許権者】
【識別番号】391014631
【氏名又は名称】ムサシノ機器株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100088856
【弁理士】
【氏名又は名称】石橋 佳之夫
(72)【発明者】
【氏名】大浦 秀人
(72)【発明者】
【氏名】杉山 直樹
【審査官】 濱本 禎広
(56)【参考文献】
【文献】 特開平09−119977(JP,A)
【文献】 特開平11−271428(JP,A)
【文献】 特開平10−115677(JP,A)
【文献】 特開2002−090447(JP,A)
【文献】 実開昭53−006669(JP,U)
【文献】 特開昭63−096583(JP,A)
【文献】 特開2011−247598(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
G01F 23/00,23/14−23/296
G01S 7/00− 7/42
G01S 13/00−13/95
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
掃引時間において予め決められた周波数を掃引しながら液面に向かって電波を送信し、液面で反射される上記電波を受信した瞬間の送信周波数と反射波の受信周波数の差であるビート周波数によって液面までの距離を測定するFMCWレーダー方式の液位測定装置であって、
掃引周波数信号を生成するVCOと、
上記VCOで生成する信号の周波数を周波数−時間特性(以下「F−T特性」という)に従い掃引するための印加電圧を決定する、電圧―時間テーブル(以下「V−Tテーブル」という)と、
上記VCOのF−T特性を補正するために既知の距離位置に配置されている反射部材と、
直線性が保たれているF−T特性により上記VCOで生成する周波数掃引信号を上記反射部材に向かって送信し、この送信信号と上記反射部材からの反射信号とのビート波形から固定正弦波信号を得る固定正弦波信号生成部と、
液面への送信周波数と受信周波数のビート波形信号の上記固定正弦波信号に対する誤差を解析して生成される補正電圧−時間カーブテーブル(以下「補正V−Tカーブテーブル」という)と、
上記補正V−Tカーブテーブルで上記V−Tテーブルを補正することにより得られる補正後V−Tテーブルと、を備え、
上記補正後V−Tテーブルに基づき上記VCOを動作させることにより直線性を持ったF−T特性を得る液位測定装置。
【請求項2】
上記補正V−Tカーブテーブルは、上記ビート波形信号と上記固定正弦波信号とを時間軸上で対比しながら、上記固定正弦波信号に対する上記ビート波形信号のずれを解析し、その結果より生成される波形誤差関数にしたがって得られる請求項1記載の液位測定装置。
【請求項3】
上記VCOで生成される掃引周波数信号を液面に向かって導くアンテナまたは変換装置を備えている請求項1または2記載の液位測定装置。
【請求項4】
掃引時間において予め決められた周波数を掃引しながら液面に向かって電波を送信し、液面で反射された上記電波を受信した瞬間の送信周波数と反射波の受信周波数の差であるビート周波数によって液面までの距離を測定するFMCWレーダー方式の液位測定装置のVCOキャリブレイション方法であって、
VCOで掃引周波数信号を生成する工程と、
上記VCOでV−Tテーブルに基づき周波数掃引信号をする生成する工程と、
直線性が保たれているF−T特性により上記VCOで生成する周波数掃引信号を既知の距離位置に配置されている反射部材に向かって送信し、この送信信号と上記反射部材からの反射信号とのビート波形から固定正弦波信号を得る工程と、
液面への送信周波数と受信周波数のビート波形信号の上記固定正弦波信号に対する誤差を解析して補正V−Tカーブテーブルを生成する工程と、
上記補正V−Tカーブテーブルで上記V−Tテーブルを補正することにより補正後V−Tテーブルを得る工程と、を備え、
上記補正後V−Tテーブルに基づき上記VCOを動作させることにより直線性を持ったF−T特性を得る液位測定装置のVCOキャリブレイション方法。
【請求項5】
上記補正V−Tカーブテーブルは、上記ビート波形信号と上記固定正弦波信号とを時間軸上で対比しながら、上記固定正弦波信号に対する上記ビート波形信号のずれを解析し、その結果により生成される波形誤差関数にしたがって生成する請求項4記載の液位測定装置のVCOキャリブレイション方法。
【請求項6】
上記VCOで生成される掃引周波数信号を、アンテナまたは変換装置によって液面に導く請求項4または5記載の液位測定装置のVCOキャリブレイション方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、例えば液化ガスなどの液体を保管するタンクなどにおける液体の液面レベルを測定するレーダー方式による液位測定装置およびそのVCOキャリブレイション方法に関するもので、特に、測定精度を高めるための構成を備えていることを特徴とするものである。
【背景技術】
【0002】
液位測定装置に用いられるレーダー方式の一つとしてFMCW(Frequency Modulated Continuous Wave)レーダー方式がある。このFMCWレーダー方式は、図8に示すように、予め決められた固定時間(この時間を、掃引時間(T)という)において、予め決められた周波数(F)を掃引しながら測定地点に向かって電波を送信するものである。図9に示すように、送信地点で送信された電波が、測定地点(送信地点からの距離をLとする)で反射されて送信地点に戻るまでの往復時間tの間に、送信周波数がF・t/T(Hz)だけ掃引される。この掃引された周波数は、反射波(受信周波数F)を受信した瞬間の送信周波数Fと受信周波数Fの差(以下「ビート周波数F」という)になる。
【0003】
上記往復時間tは
t=(T/F)×F
であるから、上記ビート周波数Fを計測することができれば、送信地点から測定地点まで電波が往復するのに要した時間tを計測することができる。自由空間における電波の伝搬速度は光速Cと同じであるから、送信地点から測定地点までの距離Lは、
L=C×t/2=C×T×F/2F (1)
で表すことができる。
【0004】
以上、FMCWレーダー方式による距離測定原理を概略的に説明した。図7は、FMCWレーダー方式距離測定装置の従来例を示す。図7において、FMCWレーダー方式距離測定装置は、DSP(デジタル信号処理装置:Digital Signal Prosessor)101、デジタル・アナログ変換器103、VCO(電圧制御発振器)104、結合回路105、混合器110、AGC(自動利得制御回路)111、アナログ・デジタル変換器112を有してなる。デジタル・アナログ変換器103とVCO104を含む構成部分は送信系を構成し、混合器110からアナログ・デジタル変換器112に至る構成部分は受信系を構成している。DSP101はメモリ102を内蔵し、メモリ102には、掃引時間Tに対するVCO104の発振周波数を決定するVCO104への印加電圧の関係すなわち電圧−時間カーブ(以下「V−Tカーブ」という)が電圧−時間テーブル(以下「V−Tテーブル」という)として記憶されている。
【0005】
DSP101は、メモリ102からV−Tテーブルを読み出し、時間の経過に伴って連続的に変化する電圧値をデジタル・アナログ変換器103でアナログ信号に変換してVCO104の制御電圧とする。VCO104の発振周波数は制御電圧に応じて連続的に変化する。この発振信号が結合回路105を経て適宜のアンテナから測定地点(例えば、液体の液面)に向けて送信される。上記アンテナから測定地点までの間に被測定系120が介在している。測定地点で反射された電波は被測定系120を戻り上記アンテナでとらえられ、結合回路105を経て受信系に導かれる。受信系では、混合器110で受信信号と受信時の発振信号が混合され、受信周波数とその瞬間の発振周波数との差、すなわち前記ビート周波数Fが取り出される。
【0006】
ビート周波数F信号は、AGC111で適宜の振幅値に制御されたのち、アナログ・デジタル変換器112でデジタル信号に変換され、DSP101に入力される。DSP101では、前記(1)式を適用して演算処理することによって測定地点までの距離Lを求める。
【0007】
以上説明したFMCWレーダー方式距離測定原理によって精度よく距離を測定するには、上記ビート周波数Fを精度よく測定することであり、そのためには、掃引時間Tとそれに伴う掃引周波数Fの関係が常に一定に保たれていることが求められる。換言すれば、単位掃引時間ΔTにおける掃引周波数の変化ΔFが常に一定であること、すなわち横軸の掃引時間に対して掃引周波数が直線性を持っていることが必要である。
【0008】
図7に示す例のように、FMCWレーダーの送信機は一般的にVCO104を使用している。VCO104は、制御電圧を印加することによって発振し、かつ、掃引時間Tにおいて、掃引周波数に対応する制御電圧を連続的に変化させることにより発振周波数を連続的に変化することができる。図8では、掃引開始から掃引停止までの時間をTで表し、掃引開始から掃引停止までの発振周波数の変化幅をFで表している。以下、掃引時間TにおけるVCO104の発振周波数の変化を表すグラフを周波数−時間特性という。以下、周波数−時間特性を「F−T特性」という。
【0009】
VCOは、一般的には周波数の安定した信号を発振することができるPLL(フェイズ・ロックド・ループ)回路に用いられており、上記VCO104のように周波数を掃引する用途は特殊な用途といえる。VCO104から出力される周波数−電圧特性(F−V特性)の直線性は、FMCWレーダーで要求される計測精度を得るには不十分である。そのため、FMCWレーダーでは、VCO104から出力されるF−T特性の直線性を保証するために、電圧―時間テーブル(以下、これを「V−Tテーブル」という)を生成し、このテーブルを用いてVCO104の発振電圧を制御している。
【0010】
さらに、VCO104のF−Vカーブは周囲温度の変化によって微妙に変化するため、一つの固定したV−Tテーブルのみでは、FMCWレーダー方式距離測定装置で要求される温度範囲で要求精度を満たす計測を行うことはできない。そこで、従来は、温度が異なる複数のV−Tをテーブルとしてメモリに記憶させておき、計測時の周囲温度に対応したV−Tテーブルを選択してF−T特性を補正している。
【0011】
しかしながら、より高精度の計測精度が求められる距離測定装置では、温度が異なる複数のV−Tテーブルの中から選択して使用することにより補完する上記の仕組みでは、要求精度を担保することができない。また、VCO自体の特性が経年変化して各温度におけるF−Vカーブが変化するため、定期的にVCOの特性を計測して、V−Tテーブルを修正ないしは更新する必要があり、面倒である。
【0012】
本発明に関連のある技術を開示するものとして特許文献1がある。特許文献1には、FMCWレーダーに適用可能な、通常の動作モードとキャリブレイション(校正)モードの二つのモードを持ったVCOを備えた周波数キャリブレイション構造が記載されている。しかし、上記VCOは、キャリブレイションモードにおいてそれ自身がPLL回路に組み込まれてキャリブレイションVCOの代わりをするというもので、以下に述べる本願発明とは技術思想を異にするものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0013】
【特許文献1】米国特許第7,804,369号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0014】
本発明は、リアルタイムに最適なF−T特性を取得することを可能にすることによって、より高い精度で計測を行うことができる液位測定装置およびそのVCOキャリブレイション方法を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0015】
本発明に係る液位測定装置は、
掃引時間において予め決められた周波数を掃引しながら液面に向かって電波を送信し、液面で反射される上記電波を受信した瞬間の送信周波数と反射波の受信周波数の差であるビート周波数によって液面までの距離を測定するFMCWレーダー方式の液位測定装置であって、
掃引周波数信号を生成するVCOと、
上記VCOで生成する信号の周波数を周波数−時間特性(以下「F−T特性」という)に従い掃引するための印加電圧を決定する、電圧―時間テーブル(以下「V−Tテーブル」という)と、
上記VCOのF−T特性を補正するために既知の距離位置に配置されている反射部材と、
直線性が保たれているF−T特性により上記VCOで生成する周波数掃引信号を上記反射部材に向かって送信し、この送信信号と上記反射部材からの反射信号とのビート波形から固定正弦波信号を得る固定正弦波信号生成部と、
液面への送信周波数と受信周波数のビート波形信号の上記固定正弦波信号に対する誤差を解析して生成される補正電圧−時間カーブテーブル(以下「補正V−Tカーブテーブル」という)と、
上記補正V−Tカーブテーブルで上記V−Tテーブルを補正することにより得られる補正後V−Tテーブルと、を備え、
上記補正後V−Tテーブルに基づき上記VCOを動作させることにより直線性を持ったF−T特性を得る
ことを最も主要な特徴とする。
【発明の効果】
【0016】
VCOに適用するV−Tカーブが直線性を持っていたとしても、VCOの特性上そのF−T特性が非直線であれば、ビート信号の周波数に誤差を生じ、高い精度の液位測定はできない。その点、上記本発明に係る液位測定装置によれば、VCOの特性に応じてそのVCOに適用するV−Tテーブルを補正し、直線性を持ったF−T特性を得ことができるため、ビート信号の周波数に誤差を生じることがなく、高い精度の液位測定が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【0017】
図1】本発明に係る液位測定装置の実施例を示すブロック図である。
図2】上記実施例における補正前F−T特性を得るプロセスを示すグラフである。
図3】上記実施例における補正後F−T特性を得るプロセスを示すグラフである。
図4】(a)はF−T特性の直線性が保たれている場合の周波数掃引の様子を、(b)はF−T特性の直線性が保たれていない場合の周波数掃引の様子を、(c)はF−T特性の直線性の有無によるビート波形の違いを示すグラフである。
図5】上記実施例におけるキャリブレイション処理を順に示すフローチャートである。
図6】本発明に係る液位測定装置による測定の様子を概念的に示す模式図である。
図7】従来の液位測定装置の例を示すブロック図である。
図8】FMCWレーダーによる周波数掃引の例を示すグラフである。
図9】FMCWレーダーの周波数掃引による距離計測原理を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【0018】
以下、本発明に係る液位測定装置およびそのVCOキャリブレイション方法の実施例について図面を参照しながら説明する。
【実施例】
【0019】
図1は、本発明によるFMCWレーダー方式による液位測定装置の実施例を示す。図1において、液位測定装置は、DSP11、デジタル・アナログ変換器13、VCO14、結合回路15、スイッチ16、混合器20、AGC21、アナログ・デジタル変換器22を有してなる。デジタル・アナログ変換器13とVCO14を含む構成部分は送信系を構成し、混合器20からアナログ・デジタル変換器22に至る構成部分は受信系を構成している。DSP11はメモリ12を内蔵し、メモリ12には、掃引時間Tに対するVCO14の発振周波数を決定するVCO14への印加電圧の関係すなわちV−TカーブがV−Tテーブルとして記憶されている。
【0020】
ここまで説明した部分は、スイッチ16が追加されていることを除けば図7に示す従来のレーダー方式による距離測定装置の構成と同じである。したがって、測定時の動作も上記従来例と同じである。すなわち、DSP11は、メモリ12に記憶されているV−Tテーブルから、掃引時間とサンプリングポイント数により決定されるクロック周波数に同期してVCO14の動作を制御する電圧を読み出す。読み出された制御電圧値はデジタル・アナログ変換器13でアナログ信号に変換され、VCO14に制御電圧として印加される。VCO14は制御電圧に対応した周波数の信号、すなわち時間の経過とともに周波数が連続的に変化する高周波信号を出力する。この高周波信号が結合回路15、スイッチ16を経て適宜のアンテナから被測定系25に向けて送信される。
【0021】
被測定系25には測定地点である前記液体41の液面があり、液面で上記高周波信号が反射される。反射された高周波信号は被測定系25を戻り上記アンテナでとらえられ、スイッチ16、結合回路15を経て受信系に導かれる。受信系の混合器20では、受信信号と受信時の発振信号が混合され、受信周波数とその瞬間の発振周波数との差信号、すなわちビート波形信号が取り出される。ビート波形信号は、AGC21で適正振幅に調整されたのち、アナログ・デジタル変換器22でデジタル信号に変換され、DSP11に入力される。
【0022】
DSP11では、掃引時間Tの間、V−Tテーブルの読み出し、ビート波形信号の取り込みを実行し、取り込んだ時間軸上のビート波形信号データ群にフィルタリング処理を施して不要なノイズを除去する。さらに、DSP11で上記ビート波形信号データ群をFFT(Fast Fourier Transform)処理して周波数軸のデータに変換し、その結果からビート周波数Fを抽出する。このビート周波数Fを前記(1)式に入力して演算処理することによって測定地点までの距離Lを求める。したがって、DSP11は、上記ノイズ除去用のフィルタ、ビート周波数Fの抽出部としてのFFT処理部を備えている。
【0023】
以上説明した液位測定装置の設置例を図6に模式的に示す。図6において符号10はレーダーユニットを、符号40は液位測定装置10を設置したタンクを示している。タンク10は液体41を収納するもので、レーダーユニット10は、図1に示す各ブロックで構成されたFMCWレーダー方式による液位測定装置で、変換器32は、上記ユニット10から出力される信号を電波に変換して上記液面に向かい電波を放射するアンテナである。
【0024】
はレーダーユニット10から液面に向かって導波管30内に放射される電波の周波数を、Fは上記電波が液面で反射され導波管30内をレーダーユニット10に向かって戻る電波の周波数を示している。
【0025】
図1に示す本発明に係る液位測定装置の実施例が前記従来のレーダー方式による距離測定装置の例と異なる点は、近端反射部材26を備えている点である。近端反射部材26は、液位測定装置すなわちレーダーユニット10から放射される電波を反射することができる部材からなり、基準面位置から既知の長さ位置に設置されている。近端反射部材26は、本発明の特徴であるVCOキャリブレイションを行うのに必要な部材である。そこで次に、VCOキャリブレイションの必要性とVCOキャリブレイションそのものについて説明する。
【0026】
VCOにおける制御電圧に対する発振周波数の関係は必ずしも直線性を備えているとは限らない。また、温度変化により、あるいは経年変化により特性が変化するのが一般的である。図2(a)は、VCOの一般的なF−V特性の例を示すもので、直線性が崩れている。図2(b)はメモリ12に記憶されている補正前のV−Tテーブルを示しており、時間軸に対して制御電圧が直線的に変化している。DSP11でメモリ12から上記V−Tテーブルを読み出し、時間の経過とともに変化する制御電圧値をデジタル・アナログ変換器13でアナログ信号に変換してVCO14に印加したとする。V−Tカーブは直線であっても、VCO14のF−V特性の直線性が上記のように崩れていると、VCO14から出力される時間軸に対する発振周波数の関係を表すF−T特性は、図2(c)に示すように非直線となる。したがって、このF−T特性を用いて液位の測定を行っても、精度の良好な測定を行うことはできない。
【0027】
そこで、VCO14から出力される信号のF−T特性が直線になるように、メモリ12に記憶するV−TカーブをVCO14のF−V特性に対応して補正する。図3はこの補正について示すもので、図3(a)は図2(a)と同じVCO14の非直線性F−V特性を示す。図3(b)は、メモリ12に記憶されている補正後V−TテーブルによるV−Tカーブを示している。この補正後のV−Tカーブは、VCO14の非直線性F−V特性と逆特性の非直線性になっている。上記補正後のV−Tカーブテーブルを読み出し、時間の経過とともに変化する制御電圧値をデジタル・アナログ変換器13でアナログ信号に変換してVCO14に印加すると、図3(c)に示すような直線性が確保された補正後のF−T特性を得ることができる。この補正後のF−T特性を用いて液位の測定を行うと、精度の良好な測定を行うことができる。
【0028】
図3(b)に示すような、VCO14のF−V特性に対応した補正後V−Tテーブルを生成する処理を、ここではVCOキャリブレイション(校正)という。VCOキャリブレイションを行うことにより直線性を保ったF−T特性を得ることができ、高精度の液位測定を行うことができる。
【0029】
次に、VCOキャリブレイションを行うための具体的な構成およびVCOキャリブレイションの方法について説明する。VCOキャリブレイションは、図9に示すように、FMCWレーダーが、掃引時間を通じてF−T特性の直線性が確保されているとき、既知の距離からの電波の反射によって生じるビート周波数F信号が、掃引周波数帯域を通して同じ周波数になることを活用する。
【0030】
図1に示す実施例において、VCOキャリブレイションは、DSP11が制御信号線CALを通じてスイッチ16を被測定系25から近端反射部材26側に切り替えて行う。近端反射部材26は、前述のとおり、基準面位置から既知の長さ位置に設置されているため、F−T特性の直線性が確保されていれば、近端反射部材26からの反射信号を受信することによって得られる前記ビート信号波形は固定された正弦波信号になる。これに対して、図2(c)に示す補正前のF−T特性のように非直線性のカーブになる場合は、掃引時間T内でビート周波数が変動するため、ビート信号波形は正確な正弦波信号にならない。このF−T特性の直線性が保たれている場合と保たれていない場合の動作の違いを図4に示す。
【0031】
図4(a)は掃引時間T内でビート周波数Fが変動しない場合を示しており、掃引時間内における送信信号と受信信号の掃引周波数はともに直線性を保っているから、送信信号と受信信号のビート信号の周波数Fは掃引時間内のどこでも一定である。したがって、このときのビート信号の波形は図4(c)の波形Aで示すように、ビート周波数Fが一定で波形の崩れがない正確な正弦波になる。
【0032】
これに対して図4(b)は、掃引時間T内でビート周波数Fが変動し、F−T特性が非直線性になる場合を示している。このときのビート信号の波形は図4(c)の波形Bで示すように、正確な正弦波である上記波形Aから崩れた波形になり、ビート周波数Fが本来のビート周波数からずれる。したがって、このビート周波数F信号を前記式(1)に適用して測定地点までの距離Lを求めても、精度の高い距離Lを求めることはできず、測定結果に誤差を生ずる。
【0033】
図5は、図1に示す実施例において、VCO14の出力信号のF−T特性が直線になるように、V−Tテーブルを補正するVCOキャリブレイションの手順を説明している。図5の中央に縦方向に処理ステップを示す。各処理ステップには、ステップごとにS1,S2,・・・のように符号を付している。
【0034】
VCOキャリブレイションを行う前提として、前述のように、F−T特性の直線性が確保されている状態で、スイッチ16を近端反射部材16側に切り換え、近端反射部材26からの反射信号を受信する。近端反射部材26は、予め測定装置ユニットからの距離が正確に計測されている固定長の反射点である。近端反射部材26までの距離は予め精度よく定められているため、F−T特性の直線性が確保されていることによって、固定された正弦波信号のビート信号波形を得ることができる。上記固定された正弦波信号のビート信号波形を「固定正弦波」、この固定正弦波信号を生成する部分を「固定正弦波信号生成部」ということにする。固定正弦波信号生成部は前記DSP11内に一機能をなす部分として存在している。直線性が確保されているF−T特性は、掃引時間に対して掃引周波数が直線状に変化するように予め設定されているもので、DSP11のメモリ12にV−Tテーブルとして記憶されている。
【0035】
次に、図5のステップS1に示すように、初期V−Tテーブルすなわち補正前のV−Tテーブルで掃引を行い、放射される電波の周波数Fと上記電波が液面で反射されて戻る電波の周波数Fのビート波形を取得する(S2)。図5右上の正弦波状の波形は上記のようにして取得されるビート波形の例を示す。次に、ステップS2で取得したビート波形と上記固定正弦波とを時間軸上で対比しながら上記ビート波形の上記固定正弦波に対するずれを解析する(S3)。図5の右側第2段目の波形図は上記ビート波形解析のイメージを示しており、取得したビート波形が固定正弦波に対し時間軸上においてずれる様子がわかる。
【0036】
上記ビート波形解析ステップにおいて、固定正弦波に対する上記ビート波形の誤差を掃引時間軸上で解析した結果から波形誤差関数:e(x)を生成する(S4)。図5の右側第3段目の波形図は上記波形誤差関数:e(x)の例を示しており、時間軸上において、基準値に対し波形誤差が上から下に連続的に生じている様子がわかる。
【0037】
次に、波形誤差が生じないようにするために、波形誤差関数:e(x)に基づき、V−Tテーブルを補正する補正V−Tカーブテーブルを生成する(S5)。図5の右側最下段の波形図はV−Tカーブを補正するための補正V−Tカーブを示しており、上記波形誤差関数:e(x)の波形に対応した波形になっている。V−Tカーブを補正する補正V−Tカーブテーブルを生成する部分は、DSP11内に一機能をなす部分として存在している。
【0038】
次に、上記補正V−Tカーブテーブルを適用して補正後V−Tテーブルを生成する(S6)。図5の左下に示す二つのグラフのうち左側のグラフはV−Tカーブを示しており、カーブa1は補正前のV−Tカーブを、カーブa2は補正後のV−Tカーブを示している。上記二つのグラフのうち右側のグラフはVCO11から出力されるF−T特性を示しており、カーブb1は補正前のF−T特性を、カーブb2は補正後のF−T特性を示している。上記a2で示す補正後のV−Tカーブは、上記ステップS6で生成される補正後V−Tテーブルの例を示しており、この補正後V−TテーブルをVCO11に適用することにより、VCO11からは上記b2で示す直線性を保った補正後F−T特性を得ることができる。補正後V−Tカーブテーブルおよびこれを生成する部分は、DSP11内に一機能をなす部分として存在している。
【0039】
以上のようにしてVCO11のキャリブレイションが行われ、キャリブレイション後のVCO11からは掃引時間に対して周波数が直線的に変化するF−T特性の信号を出力することができる。この直線的に変化するF−T特性の信号を測定対象である液面に向けて放射し、液面からの反射信号を受信して得られる前記ビート信号Fは波形に歪みがなく、液面までの距離を精度よく測定することができる。
【0040】
VCO11のキャリブレイションは、固定正弦波信号に対してリアルタイムで行うことができるから、液位測定装置が設置されている環境条件の変化や、経時的なVCOの特性変化などに迅速に対応して、常に高い精度で液位の計測を行うことができる。
【産業上の利用可能性】
【0041】
本発明による測定対象は、液体であればなんでもよいが、特に高精度の液面レベルを計測するアプリケーションに適している。
【符号の説明】
【0042】
11 DSP
12 メモリ
13 デジタル・アナログ変換器
14 VCO
15 結合回路
16 スイッチ
20 混合器
21 AGC回路
25 被測定系
26 近端反射部材
図1
図2
図3
図4
図5
図7
図8
図9
図6