特許5782140光干渉断層撮影によって物体の内部寸法を測定するためのシステムおよび方法

発明の名称　光干渉断層撮影によって物体の内部寸法を測定するためのシステムおよび方法

出願人　バーフェリヒト　ゲゼルシャフト　ミット　ベシュレンクテル　ハフツング　（識別番号 513146099）

　　　　特許公開件数ランキング 14682 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 12559 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-5782140

公報発行日　2015年9月24

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-5782140

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