特許5791045IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

気体中に浮遊する微粒子を検出する検査装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明では、従来における前記諸問題を解決し、以下の目的を達成することを課題とする。即ち、本発明は、気体中に存在する微粒子を迅速に検出でき、また、その微粒子の粒径を数十nm程度までの幅広いレンジで正確に測定できる装置を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

課題を解決するために、本発明の気体中微粒子検出手段は、検査対象となる気体中に含まれる微粒子を捕捉するディスクと、前記ディスクを回転させる回転手段と、前記ディスクに光を照射する光照射手段と、前記ディスクから反射された光を検出する検出手段とを有し、捕捉した微粒子が存在している部分からの光の反射率が変化することを利用し、前記検出手段で検出される信号により反射率の変化が観測された時間的長さとディ・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
本発明によれば、従来技術における前記諸問題を解決することができ、ディスク表面で微粒子を捕捉し、瞬時にその捕捉粒子の粒径を正確に測定することができ、なお且つその測定検出感度は、数十nm程度の微粒子まで検出可能である気体中微粒子検出装置を提供することができる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

知財ポータルサイト IP Force にログインして確認する (無料)

この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】本発明の一気体中微粒子検出装置を示す説明図である。

【図2】本発明の一気体中微粒子検出装置の検出原理を示す説明図である。

【図3】本発明の一微粒子検出用ディスクの断面図である。

【図4】本発明の更に他の微粒子検出用ディスクの断面図である。

【図5】本発明の更に他の微粒子検出用ディスクの断面図である。

【図6】本発明の一気体中微粒子検出装置の微粒子の大きさを測定する原理を示す説明図である。

【図7】本発明の実施例に用いた円盤状部材の斜視図である。

【図8】本発明の実施例におけるポリスチレンビーズが吸着した微粒子検出用ディスク表面の電子顕顕微鏡写真である。

【図9】本発明の実施例に係る気体中微粒子検出装置を用いて観測した反射光強度を示す図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

全ての図面はログインすると無料で閲覧できます。ログイン・ユーザー登録

[広告欄]

ログインすれば広告は減ります

ログインすれば広告は減ります