【図1】実施例１〜４に係る蛍光体のＸ線回折パターンの測定結果を示す。

【図2】比較例１に係る蛍光体のＸ線回折パターンの測定結果を示す。

【図3】実施例４及び比較例１に係る蛍光体の励起スペクトルを示す。

【図4】実施例４及び比較例１に係る蛍光体の反射スペクトルを示す。

【図5】実施例４及び比較例１に係る蛍光体を４６０ｎｍで励起した際の発光スペクトルを示す。

【図6】実施例４及び比較例１に係る蛍光体の温度特性を示す。

【図7】実施例５〜１１に係る蛍光体のＸ線回折パターンの測定結果を示す。

【図8】本実施の形態に係る発光装置の斜視図を示す。

【図9】図８のＶＩＢ−ＶＩＢ’線における断面図を示す。

【図10】実施例１８に係る発光装置の発光スペクトルを示す。

【図11】実施例１９に係る発光装置の発光スペクトルを示す。

【図12】実施例２０に係る発光装置の発光スペクトルを示す。

【図13】実施例２３に係る発光装置の発光スペクトルを示す。

【図14】実施例２４に係る発光装置の発光スペクトルを示す。

【図15】実施例２５に係る蛍光体を撮影したＳＥＭ写真である。

【図16】実施例２５に係る蛍光体の発光スペクトルを示す。

【図17】実施例２５に係る蛍光体の励起スペクトルを示す。

【図18】実施例２５に係る蛍光体の反射スペクトルを示す。

【図19】比較例の蛍光体の発光スペクトルを示す。

【図20】比較例の蛍光体の発光スペクトルを示す。

【図21】比較例の蛍光体の発光スペクトルを示す。