特許 5855961 画像処理装置及び画像処理方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】5855961

(24)【登録日】2015年12月18日

(45)【発行日】2016年2月9日

(54)【発明の名称】画像処理装置及び画像処理方法

(51)【国際特許分類】

   G06T 1/00 20060101AFI20160120BHJP

   G06F 3/0482 20130101ALI20160120BHJP

【ＦＩ】

   G06T1/00 300

   G06F3/048 654B

【請求項の数】8

【全頁数】32

(21)【出願番号】特願2012-21021(P2012-21021)

(22)【出願日】2012年2月2日

(65)【公開番号】特開2013-161174(P2013-161174A)

(43)【公開日】2013年8月19日

【審査請求日】2014年9月1日

(73)【特許権者】

【識別番号】000129253

【氏名又は名称】株式会社キーエンス

(74)【代理人】

【識別番号】100117260

【弁理士】

【氏名又は名称】福永 正也

(72)【発明者】

【氏名】瀬里 彰信

【審査官】 岡本 俊威

(56)【参考文献】

【文献】 特開２００２−１３３３９２（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００６−０２４０６８（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０６Ｔ １／００

Ｇ０６Ｆ ３／０４８−３／０４８９

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

検査対象物を撮像する撮像部と接続され、
該撮像部で撮像した画像データに対して画像処理を実行し、画像処理の結果に基づいて検査対象物の良否を判定する画像処理装置において、
各種の画像処理を実行する複数のツールを備えており、
ツールの選択とともに、該ツールに対する設定項目の選択を受け付けるツール選択受付手段と、
検査対象物の画像を表示する画像表示領域と、選択を受け付けたツールに対する設定項目を表示する設定項目表示領域とを含む選択画面において、選択を受け付けたツールごとに設定可能な項目の選択を受け付ける項目選択受付手段と、
選択を受け付けたツール及び該ツールごとに選択を受け付けた設定可能な項目のみを表示するとともに、選択を受け付けたツールに対する設定項目を表示するか否かの選択を受け付けるメニュー表示手段と
を備え、
前記項目選択受付手段は、選択を受け付けたツールに対応する画像処理に関する項目、選択を受け付けたツールの検出条件に関する項目及び選択を受け付けたツールの判定条件に関する項目の選択を受け付けるとともに、前記設定項目表示領域では、前記検出条件に関する項目及び前記判定条件に関する項目が表示され、
前記メニュー表示手段では、選択を受け付けたツールに対するそれぞれの前記検出条件に関する項目及び前記判定条件に関する項目について選択を受け付け、選択を受け付けた検出条件に関する項目及び判定条件に関する項目のみが表示されることを特徴とする画像処理装置。

【請求項2】

前記画像処理に関する項目は、前記ツール選択受付手段においていずれのツールの選択を受け付けた場合であっても、少なくとも前記画像データに対して計測対象領域を特定する計測領域設定機能に対応する項目と、前記画像データに対して画像処理を実行する前に補正処理を加える前処理機能に対応する項目とを含むことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。

【請求項3】

前記メニュー表示手段は、選択を受け付けた設定可能な項目を表示する画面と、該項目に対して操作する画面とを切り替えて表示することを特徴とする請求項１又は２に記載の画像処理装置。

【請求項4】

使用者を識別する識別情報と設定可能な項目とを対応付けて記憶しておき、
前記識別情報を取得する識別情報取得手段を備え、
取得した識別情報に基づいて、設定可能な項目以外の項目を操作することができないように設定することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の画像処理装置。

【請求項5】

検査対象物を撮像する撮像部と接続され、
該撮像部で撮像した画像データに対して画像処理を実行し、画像処理の結果に基づいて検査対象物の良否を判定する画像処理装置で実行することが可能な画像処理方法において、
前記画像処理装置は、
各種の画像処理を実行する複数のツールを備えており、
ツールの選択とともに、該ツールに対する設定項目の選択を受け付けるステップと、
検査対象物の画像を表示する画像表示領域と、選択を受け付けたツールに対する設定項目を表示する設定項目表示領域とを含む選択画面において、選択を受け付けたツールごとに設定可能な項目の選択を受け付けるステップと、
選択を受け付けたツール及び該ツールごとに選択を受け付けた設定可能な項目のみを表示するとともに、選択を受け付けたツールに対する設定項目を表示するか否かの選択を受け付けるステップと
を含み、
選択を受け付けたツールに対応する画像処理に関する項目、選択を受け付けたツールの検出条件に関する項目及び選択を受け付けたツールの判定条件に関する項目の選択を受け付けるとともに、前記設定項目表示領域では、前記検出条件に関する項目及び前記判定条件に関する項目が表示され、
選択を受け付けたツールに対するそれぞれの前記検出条件に関する項目及び前記判定条件に関する項目について選択を受け付け、選択を受け付けた検出条件に関する項目及び判定条件に関する項目のみが表示されることを特徴とする画像処理方法。

【請求項6】

前記画像処理に関する項目は、いずれのツールの選択を受け付けた場合であっても、少なくとも前記画像データに対して計測対象領域を特定する計測領域設定機能に対応する項目と、前記画像データに対して画像処理を実行する前に補正処理を加える前処理機能に対応する項目とを含むことを特徴とする請求項５に記載の画像処理方法。

【請求項7】

選択を受け付けた設定可能な項目を表示する画面と、該項目に対して操作する画面とを切り替えて表示することを特徴とする請求項５又は６に記載の画像処理方法。

【請求項8】

使用者を識別する識別情報と設定可能な項目とを対応付けて記憶するステップと、
前記識別情報を取得するステップと、
取得した識別情報に基づいて、設定可能な項目以外の項目を操作することができないように設定するステップと
を含むことを特徴とする請求項５乃至７のいずれか一項に記載の画像処理方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、撮像した画像に基づいて製品の良否判定を実行するための画像処理ツールの設定情報を調整するメニューをカスタマイズすることができる画像処理装置及び画像処理方法に関する。

【背景技術】

【0002】

検査対象物の画像を撮像して製品の良否判定を実行する場合、製品の良否判定に用いる設定情報を設定する必要がある。設定情報として設定するべき項目は多岐にわたっているので、効率良く設定することができる使用者インタフェースの提供が望まれている。

【0003】

製品の良否判定では、通常管理者が様々な設定情報を設定しておき、実際に良否判定を実行するオペレータが状況に応じてパラメータの設定、変更等を行う。しかし、オペレータが画像処理装置のパラメータの設定に熟練していない場合が多く、管理者が設定したパラメータをむやみに変更したために、管理者が意図した精度で良否判定を実行することができないおそれがあるという問題があった。

【0004】

そこで、例えば特許文献１では、オペレータがパラメータを変更することができないよう、設定項目ごとにロックすることができる画像処理装置の設定方法が開示されている。これにより、管理者が意図した精度で製品の良否判定を実行することができる。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【特許文献1】特開２００６−０２４０６８号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

しかし、特許文献１に開示してある設定方法では、管理者はすべての設定項目についてオペレータによる変更を許諾するか否かを設定する必要があり、膨大な設定項目を有する画像処理装置では、適切な設定を行うことは実際には困難であるという問題点があった。また、斯かる問題点を解消するべく、設定項目の種類ごとにオペレータによる変更を許諾するようにしているが、この場合には、管理者がオペレータに変更してほしくない設定項目がロックされずに残存し、変更することが可能な状態となるおそれが残されている。

【0007】

本発明は、斯かる事情に鑑みてなされたものであり、管理者が許諾していない設定項目を変更されることがないようカスタマイズされたオペレータ用のメニューを、管理者が容易に作成することができる画像処理装置及び画像処理方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0008】

上記目的を達成するために第１発明に係る画像処理装置は、検査対象物を撮像する撮像部と接続され、該撮像部で撮像した画像データに対して画像処理を実行し、画像処理の結果に基づいて検査対象物の良否を判定する画像処理装置において、各種の画像処理を実行する複数のツールを備えており、ツールの選択とともに、該ツールに対する設定項目の選択を受け付けるツール選択受付手段と、検査対象物の画像を表示する画像表示領域と、選択を受け付けたツールに対する設定項目を表示する設定項目表示領域とを含む選択画面において、選択を受け付けたツールごとに設定可能な項目の選択を受け付ける項目選択受付手段と、選択を受け付けたツール及び該ツールごとに選択を受け付けた設定可能な項目のみを表示するとともに、選択を受け付けたツールに対する設定項目を表示するか否かの選択を受け付けるメニュー表示手段とを備え、前記項目選択受付手段は、選択を受け付けたツールに対応する画像処理に関する項目、選択を受け付けたツールの検出条件に関する項目及び選択を受け付けたツールの判定条件に関する項目の選択を受け付けるとともに、前記設定項目表示領域では、前記検出条件に関する項目及び前記判定条件に関する項目が表示され、前記メニュー表示手段では、選択を受け付けたツールに対するそれぞれの前記検出条件に関する項目及び前記判定条件に関する項目について選択を受け付け、選択を受け付けた検出条件に関する項目及び判定条件に関する項目のみが表示されることを特徴とする。

【0010】

また、第２発明に係る画像処理装置は、第１発明において、前記画像処理に関する項目は、前記ツール選択受付手段においていずれのツールの選択を受け付けた場合であっても、少なくとも前記画像データに対して計測対象領域を特定する計測領域設定機能に対応する項目と、前記画像データに対して画像処理を実行する前に補正処理を加える前処理機能に対応する項目とを含むことを特徴とする。

【0011】

また、第３発明に係る画像処理装置は、第１又は第２発明において、前記メニュー表示手段は、選択を受け付けた設定可能な項目を表示する画面と、該項目に対して操作する画面とを切り替えて表示することを特徴とする。

【0012】

また、第４発明に係る画像処理装置は、第１乃至第３発明のいずれか１つにおいて、使用者を識別する識別情報と設定可能な項目とを対応付けて記憶しておき、前記識別情報を取得する識別情報取得手段を備え、取得した識別情報に基づいて、設定可能な項目以外の項目を操作することができないように設定することを特徴とする。

【0013】

次に、上記目的を達成するために第５発明に係る画像処理方法は、検査対象物を撮像する撮像部と接続され、該撮像部で撮像した画像データに対して画像処理を実行し、画像処理の結果に基づいて検査対象物の良否を判定する画像処理装置で実行することが可能な画像処理方法において、前記画像処理装置は、各種の画像処理を実行する複数のツールを備えており、ツールの選択とともに、該ツールに対する設定項目の選択を受け付けるステップと、検査対象物の画像を表示する画像表示領域と、選択を受け付けたツールに対する設定項目を表示する設定項目表示領域とを含む選択画面において、選択を受け付けたツールごとに設定可能な項目の選択を受け付けるステップと、選択を受け付けたツール及び該ツールごとに選択を受け付けた設定可能な項目のみを表示するとともに、選択を受け付けたツールに対する設定項目を表示するか否かの選択を受け付けるステップとを含み、前記設定項目表示領域では、前記ツールに対する検出条件に関する項目及び判定条件に関する項目が表示され、選択を受け付けたツールに対するそれぞれの検出条件に関する項目及び判定条件に関する項目について選択を受け付け、選択を受け付けた検出条件に関する項目及び判定条件に関する項目のみが表示されることを特徴とする。

【0015】

また、第６発明に係る画像処理方法は、第５発明において、前記画像処理に関する項目は、いずれのツールの選択を受け付けた場合であっても、少なくとも前記画像データに対して計測対象領域を特定する計測領域設定機能に対応する項目と、前記画像データに対して画像処理を実行する前に補正処理を加える前処理機能に対応する項目とを含むことを特徴とする。

【0016】

また、第７発明に係る画像処理方法は、第５又は第６発明において、選択を受け付けた設定可能な項目を表示する画面と、該項目に対して操作する画面とを切り替えて表示することを特徴とする。

【0017】

また、第８発明に係る画像処理方法は、第５乃至第７発明のいずれか１つにおいて、使用者を識別する識別情報と設定可能な項目とを対応付けて記憶するステップと、前記識別情報を取得するステップと、取得した識別情報に基づいて、設定可能な項目以外の項目を操作することができないように設定するステップとを含むことを特徴とする。

【0018】

第１発明及び第５発明では、各種の画像処理を実行する複数のツールを備えており、ツールの選択とともに、ツールに対する設定項目の選択を受け付け、検査対象物の画像を表示する画像表示領域と、選択を受け付けたツールに対する設定項目を表示する設定項目表示領域とを含む選択画面において、選択を受け付けたツールごとに設定可能な項目の選択を受け付ける。選択を受け付けたツール及び該ツールごとに選択を受け付けた設定可能な項目のみが表示されるので、オペレータは、管理者により許諾された項目しか設定を変更することができない。したがって、オペレータに設定を変更させても良い項目のみを選択しておくことにより、管理者が許諾しない項目の設定をオペレータがむやみに変更するおそれがなく、管理者の意図通りに安定して動作することができる画像処理装置を提供することが可能となる。また、選択を受け付けたツールに対する設定項目を表示するか否かの選択を受け付け、設定項目表示領域では、ツールに対する検出条件に関する項目及び判定条件に関する項目が表示され、選択を受け付けたツールに対するそれぞれの検出条件に関する項目及び判定条件に関する項目について選択を受け付け、選択を受け付けた検出条件に関する項目及び判定条件に関する項目のみが表示されるので、管理者は、オペレータが閲覧することができ、しかも設定することが可能な項目を詳細に選択することができ、選択した項目のみで構成された表示画面を生成することが可能となる。

【0020】

第２発明及び第６発明では、画像処理に関する項目は、いずれのツールの選択を受け付けた場合であっても、少なくとも前記画像データに対して計測対象領域を特定する計測領域設定機能に対応する項目と、画像データに対して画像処理を実行する前に補正処理を加える前処理機能に対応する項目とを含むので、計測領域に関する項目及び前処理に関する項目については確実にオペレータの設定を受け付けることができ、ツールが機能しない事態が発生することを未然に回避することが可能となる。

【0021】

第３発明及び第７発明では、選択を受け付けた設定可能な項目を表示する画面と、該項目に対して操作する画面とを切り替えて表示することにより、選択を受け付けた項目が何であり、どういう順序で配置されているのかを確認することが可能となる。

【0022】

第４発明及び第８発明では、使用者を識別する識別情報と設定可能な項目とを対応付けて記憶しておき、識別情報を取得し、取得した識別情報に基づいて、設定可能な項目以外の項目を操作することができないように設定する。これにより、管理者が許諾しない項目の設定をオペレータが誤って変更することを回避することができる。

【発明の効果】

【0023】

本発明では、選択を受け付けたツール及び該ツールごとに選択を受け付けた設定可能な項目のみが表示されるので、オペレータは、管理者により許諾された項目しか設定を変更することができない。したがって、オペレータに設定を変更させても良い項目のみを選択しておくことにより、管理者が許諾しない項目の設定をオペレータがむやみに変更するおそれがなく、管理者の意図通りに安定して動作することができる画像処理装置を提供することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【0024】

【図1】本発明の実施の形態に係る画像処理装置を含む製品検査システムの構成を示す模式図である。

【図2】本発明の実施の形態に係る画像処理装置の構成を示すブロック図である。

【図3】本発明の実施の形態に係る画像処理装置を含む製品検査システムの、撮像環境を設定するパラメータを示す模式図である。

【図4】本発明の実施の形態に係る画像処理装置のエッジ位置計測ツールの例示図である。

【図5】本発明の実施の形態に係る画像処理装置のエッジ角度計測ツールの例示図である。

【図6】本発明の実施の形態に係る画像処理装置のエッジ幅計測ツールの例示図である。

【図7】本発明の実施の形態に係る画像処理装置のエッジピッチ計測ツールの例示図である。

【図8】本発明の実施の形態に係る画像処理装置のペアエッジ計測ツールの例示図である。

【図9】本発明の実施の形態に係る画像処理装置の二値化画像を表示した画面の例示図である。

【図10】本発明の実施の形態に係る画像処理装置のパターンサーチ計測ツールの例示図である。

【図11】本発明の実施の形態に係る画像処理装置の傷計測ツールで傷の存在を判定するためのセグメントの移動状態を示す模式図である。

【図12】本発明の実施の形態に係る画像処理装置を含む製品検査システムの一構成例を示す機能ブロック図である。

【図13】本発明の実施の形態に係る画像処理装置のツール選択画面の例示図である。

【図14】本発明の実施の形態に係る画像処理装置のエリア計測ツールの設定項目を選択する画面の例示図である。

【図15】本発明の実施の形態に係る画像処理装置のパターンサーチ計測ツールの設定項目を選択する画面の例示図である。

【図16】本発明の実施の形態に係る画像処理装置のブロブ計測ツールの設定項目を選択する画面の例示図である。

【図17】本発明の実施の形態に係る画像処理装置の設定項目の表示画面の例示図である。

【図18】本発明の実施の形態に係る画像処理装置のエリア計測ツールの設定項目の表示画面の例示図である。

【図19】本発明の実施の形態に係る画像処理装置のエリア計測ツールの他の設定項目の表示画面の例示図である。

【図20】本発明の実施の形態に係る画像処理装置のパターンサーチ計測ツールの設定項目の表示画面の例示図である。

【発明を実施するための形態】

【0025】

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。なお、本実施の形態の説明で参照する図面を通じて、同一又は同様の構成又は機能を有する要素については、同一又は同様の符号を付して、詳細な説明を省略する。

【0026】

図１は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置を含む製品検査システムの構成を示す模式図である。図１に示すように、本実施の形態に係る画像処理装置を含む製品検査システムは、撮像装置（撮像部）１と、撮像装置１とデータ通信することが可能に接続ケーブル３で接続され、画像処理を実行するＦＰＧＡ、ＤＳＰ等を備えている画像処理装置２とで構成されている。画像処理装置２は表示装置（図示せず）と接続されており、画像処理制御部２０１と照明制御部２０２とを内蔵している。

【0027】

また、照明制御部２０２は、照明装置４とデータ通信することが可能に接続ケーブル３で接続されている。コンベア５上を移動してくる検査対象物６は、照明装置４に光を照射され、撮像装置１で撮像される。画像処理装置２は、撮像された検査対象物６の画像に基づいて、検査対象物６が良品であるか不良品であるかを判定する。

【0028】

撮像装置１は、検査対象物６を撮像する撮像素子を有するカメラモジュールを備えている。撮像素子としてはＣＭＯＳ基板を有しており、例えば撮像したカラー画像は、ＣＭＯＳ基板にてダイナミックレンジを広げる変換特性に基づいてＨＤＲ画像へ変換される。なお、ＣＣＤ等の別のタイプの撮像素子を用いても良い。

【0029】

図２は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２の構成を示すブロック図である。本発明の実施の形態に係る画像処理装置２は、少なくともＣＰＵ（中央演算装置）２１、メモリ２２、記憶装置２３、Ｉ／Ｏインタフェース２４、ビデオインタフェース２５、可搬型ディスクドライブ２６、通信インタフェース２７及び上述したハードウェアを接続する内部バス２８で構成されている。

【0030】

ＣＰＵ２１は、内部バス２８を介して画像処理装置２の上述したようなハードウェア各部と接続されており、上述したハードウェア各部の動作を制御するとともに、記憶装置２３に記憶されたコンピュータプログラム１００に従って、種々のソフトウェア的機能を実行する。メモリ２２は、ＳＲＡＭ、ＳＤＲＡＭ等の揮発性メモリで構成され、コンピュータプログラム１００の実行時にロードモジュールが展開され、コンピュータプログラム１００の実行時に発生する一時的なデータ等を記憶する。

【0031】

記憶装置２３は、内蔵される固定型記憶装置（ハードディスク）、ＲＯＭ等で構成されている。記憶装置２３に記憶されたコンピュータプログラム１００は、プログラム及びデータ等の情報を記録したＤＶＤ、ＣＤ−ＲＯＭ等の可搬型記録媒体９０から、可搬型ディスクドライブ２６によりダウンロードされ、実行時には記憶装置２３からメモリ２２へ展開して実行される。もちろん、通信インタフェース２７を介して接続されている外部コンピュータからダウンロードされたコンピュータプログラムであっても良い。

【0032】

通信インタフェース２７は内部バス２８に接続されており、インターネット、ＬＡＮ、ＷＡＮ等の外部のネットワークに接続されることにより、撮像装置１、照明装置４、外部コンピュータ等とデータ送受信を行うことが可能となっている。

【0033】

Ｉ／Ｏインタフェース２４は、キーボード５０１、マウス５０２等の入力装置と接続され、データの入力を受け付ける。ビデオインタフェース２５は、ＣＲＴディスプレイ、液晶ディスプレイ等の表示装置５０３と接続され、所定の画像を表示する。

【0034】

図３は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２を含む製品検査システムの、撮像環境を設定するパラメータを示す模式図である。図３に示すように、本実施の形態に係る製品検査システムは、撮像装置１の位置座標（Ｘ、Ｙ、Ｚ）と、ＸＹ平面上での首振り傾斜角度θとを、調整対象のパラメータとして調整することができる。また撮像装置１はピント及び明るさを調整することができる。具体的にはフォーカスリングによりピントを調整し、絞りリングにより明るさを調整する。

【0035】

同様に、製品検査システムは、検査対象物６の位置座標（Ｘ、Ｙ）と、ＸＹ平面上での首振り傾斜角度θとを、調整対象のパラメータとして調整することができる。なお、検査対象物６は台座上に載置されているので、Ｚ軸方向への移動機構はない。

【0036】

また、照明装置４は、照明装置４の位置座標（Ｘ、Ｙ、Ｚ）及び照射角度αを調整することができ、照明コントローラ４１を介して照度を調整することもできる。これらを調整することにより、記憶装置２３に記憶されている基準画像と同様の画像を撮像装置１で撮像することができる。

【0037】

上述した構成の画像処理装置２は、撮像装置１で撮像して取得した検査対象物６の画像データに対する各種の画像処理を実行する複数の画像処理ツールを備えている。使用者は、所望の検査内容に基づいて、検査対象物６に対して一又は複数の画像処理ツールを事前に選択する。選択された一又は複数の画像処理ツールを用いて、良否判定を実行する。

【0038】

まず、画像処理装置２が備えている複数の画像処理ツールのうち、代表的な画像処理ツールについて説明する。使用者は、複数の画像処理ツールから検査に使用する一又は複数の画像処理ツールを選択しておき、選択された画像処理ツールごとに設定されたパラメータを調整する。なお、以下では、画像処理ツールの機能及びその使用方法の代表例を示すものに過ぎず、あらゆる画像処理に対応する画像処理ツールが本発明の対象となることは言うまでもない。

【0039】

まず、エッジ位置計測ツールは、例えば、使用者が、検査対象物６の画像が表示される画面において、ウインドウを設定することによりエッジを検出したい検査領域を設定し、設定された検査領域内で、任意の方向にスキャンして複数のエッジを検出する。検出した複数のエッジから、一のエッジの指定を受け付け、指定を受け付けたエッジの位置を計測する。

【0040】

例えば検査領域の形状に応じてラベル分けをする。具体的には検査領域が矩形領域である場合にはラベル‘１’、円弧領域である場合にはラベル‘０’というように、形状に応じてラベル分けをする。この場合、ラベルごとに設定するべき設定情報が相違する。検査領域のラベル、つまりラベル‘１’（矩形領域）やラベル‘２’（円弧領域）は、エッジ位置計測ツールにおけるパラメータの一つである。

【0041】

図４は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２のエッジ位置計測ツールの例示図である。図４（ａ）は、検査領域が矩形領域である場合を、図４（ｂ）は、検査領域が円弧領域である場合を、それぞれ示している。

【0042】

図４（ａ）に示すように、検査領域５０が矩形領域である場合、エッジの検出方向をＸ軸の正方向（矢印５１の方向）に、エッジの検出位置を明から暗に切り換わる位置に、それぞれ指定することにより、図４（ａ）では３つのエッジ５２を検出することができる。そして、検出したエッジ５２の中点の座標をエッジ５２の位置として計測する。例えば真ん中のエッジ５２の中点５３の座標（Ｘ、Ｙ）＝（５６０、４６０）を真ん中のエッジ５２の位置とすることができる。

【0043】

また、図４（ｂ）に示すように、検査領域５４が円弧領域である場合、エッジの検出方向を時計回り（矢印５５の回転方向）に、エッジの検出位置を明から暗に切り換わる位置に、それぞれ指定することにより、図４（ｂ）では１つのエッジ５６を検出することができる。そして、原点を通る所定の位置からの回転角度５７を検出したエッジ５６の位置として計測する。例えばエッジ５６については、原点を通る所定の位置からの回転角度５７が２４０度であり、２４０度をエッジ５６の位置とすることができる。なお、明から暗に切り換わる位置と指定したエッジの検出位置もエッジ位置計測ツールにおけるパラメータの一つであり、逆に暗から明に切り換わる位置をパラメータとして指定しても良い。また、必要に応じて、エッジの検出位置が暗から明に切り換わる位置及び明から暗に切り換わる位置の両方をパラメータとして指定しても良い。

【0044】

なお、エッジは、画素値の絶対値ではなく差分に基づいて検出する。そして、パラメータの一つであるエッジ感度Ｎを調整することで、検出されたエッジの最大強度のＮ％以下はノイズとして検出しないよう、すなわちエッジとして検出するか否かを調整することができる。以下、エッジを検出する他の画像処理ツールについても同様である。

【0045】

次に、エッジ角度計測ツールは、設定を受け付けた検査領域内に２つのセグメントを設定し、それぞれのセグメントで検出したエッジからの検査対象物６の傾斜角度を計測する。本実施の形態では、傾斜角度は便宜上、時計回りを正とする。

【0046】

図５は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２のエッジ角度計測ツールの例示図である。図５に示すように、傾斜した状態で撮像された検査対象物６の画像に対して、矩形領域である検査領域６０を設定する。検査領域６０内で２つの異なるセグメント６１、６２を設定して、それぞれのセグメント６１、６２においてエッジ６３、６４を検出する。

【0047】

エッジの検出方向をＸ軸の正方向に、エッジの検出位置を明から暗に切り換わる位置に、それぞれ指定することにより、セグメント６１、６２ごとにエッジ６３、６４を検出することができる。そして、検査領域６０の中心を通る所定の位置から、検出した２つのエッジ６３の代表点とエッジ６４の代表点（図５ではセグメント６１、６２の上辺での切片）とを結ぶ線分の傾斜角度６５をエッジ角度として計測する。例えば図５では、傾斜角度の起点をＸ軸方向として、傾斜角度６５が７５度であり、エッジ角度は７５度であると計測することができる。

【0048】

次に、エッジ幅計測ツールは、設定を受け付けた検査領域内で、任意の方向にスキャンして複数のエッジを検出し、検出した複数のエッジ間の距離を計測する。

【0049】

図６は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２のエッジ幅計測ツールの例示図である。図６（ａ）は、検査領域が矩形領域である場合を、図６（ｂ）は、検査領域が円弧領域である場合を、それぞれ示している。

【0050】

図６（ａ）に示すように、検査領域７０が矩形領域である場合、パラメータとしてエッジの検出方向をＸ軸の正方向（矢印７１の方向）に、エッジの検出位置を明から暗に切り換わる位置及び暗から明に切り換わる位置に、それぞれ指定することにより、複数のエッジを検出することができる。そして、検出した複数のエッジから距離を計測する２つのエッジ７２、７３の指定を受け付けることで、指定を受け付けた２つエッジ７２、７３間の距離をエッジ幅７４として計測する。例えばエッジ幅７４が‘１００’であると計測することができる。

【0051】

また、図６（ｂ）に示すように、検査領域７５が円弧領域である場合、エッジの検出方向を時計回り（矢印７６の回転方向）に、エッジの検出位置を明から暗に切り換わる位置及び暗から明に切り換わる位置に、それぞれ指定することにより、複数のエッジを検出することができる。そして、検出した複数のエッジから距離を計測する２つのエッジ７７、７８の指定を受け付けることで、指定を受け付けた２つエッジ７７、７８間の角度をエッジ幅７９として計測する。例えばエッジ幅７９が６９度であると計測することができる。

【0052】

次に、エッジピッチ計測ツールは、設定を受け付けた検査領域内で、任意の方向にスキャンして複数対のエッジを検出する。検出した複数対のエッジ間の距離の最大値／最小値や平均値を求める。

【0053】

図７は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２のエッジピッチ計測ツールの例示図である。図７（ａ）は、検査領域が矩形領域である場合を、図７（ｂ）は、検査領域が円弧領域である場合を、それぞれ示している。

【0054】

図７（ａ）に示すように、検査領域８０が矩形領域である場合、エッジの検出方向をＸ軸の正方向（矢印８１の方向）に、エッジの検出位置を明から暗に切り換わる位置及び暗から明に切り換わる位置に、検出した複数対のエッジ間の距離をそれぞれ計測する旨をそれぞれ指定することにより、複数対のエッジを検出することができる。そして、検出した複数対のエッジ間の距離をそれぞれ計測する。すなわち、複数対のすべてについて隣接するエッジ８２、８３間の距離をエッジ幅８４として計測する。例えばエッジ幅８４がそれぞれ‘２００’、‘１８０’、‘１９０’である場合、最大値が‘２００’、最小値が‘１８０’、平均値が‘１９０’とすることができる。

【0055】

また、図７（ｂ）に示すように、検査領域８５が円弧領域である場合、エッジの検出方向を反時計回り（矢印８６の回転方向）に、エッジの検出位置を明から暗に切り換わる位置及び暗から明に切り換わる位置に、検出した複数対のエッジの中点間の距離をそれぞれ計測する旨をそれぞれ指定することにより、検査領域８５内において複数対のエッジを検出することができる。そして、検出した複数対のエッジの中点間の距離をそれぞれ計測する。すなわち、複数対のすべてについて隣接するエッジ８７、８８間の中点を求め、隣接する中点間の角度をエッジ幅８９として計測する。例えばエッジ幅８９がそれぞれ‘４６度’、‘４５度’、‘４７度’、‘４６度’である場合、最大値が‘４７度’、最小値が‘４５度’、平均値が‘４６度’とすることができる。

【0056】

次に、ペアエッジ計測ツールは、設定を受け付けた検査領域内で、任意の方向に２回スキャンして複数対のエッジを検出する。検出した複数対のエッジ間の距離の最大値／最小値や平均値を求める。

【0057】

図８は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２のペアエッジ計測ツールの例示図である。図８（ａ）は、検出した複数対のエッジ間の距離を計測する場合を、図８（ｂ）は、検出した複数対のエッジの中点間の距離を計測する場合を、それぞれ示している。

【0058】

図８（ａ）に示すように、検出した複数対のエッジ間の距離を計測する場合、エッジの検出方向をＸ軸の正方向（矢印９１の方向）に、エッジの検出位置を明から暗に切り換わる位置及び暗から明に切り換わる位置に、検出した複数対のエッジ間の距離を計測する旨をそれぞれ指定することにより、検査領域９５内において複数対のエッジを検出することができる。そして、検出した複数対のエッジ間の距離をそれぞれ計測する。すなわち、複数対のすべてについて隣接するエッジ９７、９８間の距離をエッジ幅９４として計測する。例えばエッジ幅９４がそれぞれ‘２００’、‘１８０’、‘１９０’である場合、最大値が‘２００’、最小値が‘１８０’、平均値が‘１９０’とすることができる。

【0059】

また、図８（ｂ）に示すように、検出した複数対のエッジの中点間の距離を計測する場合、エッジの検出方向をＸ軸の正方向（矢印９６の方向）に、エッジの検出位置を明から暗に切り換わる位置及び暗から明に切り換わる位置に、検出した複数対のエッジの中点間の距離を計測する旨をそれぞれ指定することにより、検査領域９５内において複数対のエッジを検出することができる。そして、検出した複数対のエッジの中点間の距離をそれぞれ計測する。すなわち、複数対のすべてについて隣接するエッジ９７、９８間の中点を求め、隣接する中点間の距離をエッジ幅９９として計測する。例えばエッジ幅９９がそれぞれ‘１００’、‘１１０’、‘１２０’である場合、最大値が‘１２０’、最小値が‘１００’、平均値が‘１１０’とすることができる。

【0060】

次に、エリア計測ツールは、撮像装置１で撮像した検査対象物６の画像を二値化処理して、白色領域又は黒色領域の面積を計測する。例えば、パラメータの一つとして白色領域又は黒色領域の指定を受け付けることにより、白色領域又は黒色領域の面積を計測する。

【0061】

また、ブロブ計測ツールは、撮像装置１で撮像した検査対象物６の画像を二値化処理して、同一の輝度値（２５５又は０）の画素の集合（ブロブ）に対してパラメータとして数、面積、重心位置等を計測する。図９は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２の二値化画像を表示した画面の例示図である。

【0062】

図９に示すように、画像表示領域１０１には、撮像した検査対象物６の画像を二値化処理した二値化画像を表示する。そして、二値化処理に用いる閾値をパラメータとして閾値調整領域１０２に入力することで調整する。もちろん、ヒストグラム１０３を用いて調整しても良い。

【0063】

ヒストグラム１０３には、二値化画像の画素値分布が示されており、通常は、画素値が‘２５５’に近い部分がフィルタリングされないよう、面積フィルタの下限値を、マウス５０２等でドラッグ操作する等により調整する。図９の例では、パラメータの一つである面積フィルタの下限値が‘１２８’であり、これより低い画素値を有する画素はノイズであるとして無視される。ヒストグラム１０３上で調整された閾値は、閾値調整領域１０２と連動しており、下限値が変動することは言うまでもない。

【0064】

なお、エリア計測ツール及びブロブ計測ツールでは、パラメータの一つとして二値化処理の閾値を調整することにより、検出したい特徴部分のみを検出することができる。また、面積フィルタの下限値を調整することにより、一定の面積以下の集まりをブロブとして検出することがないよう調整することもできる。

【0065】

次に、パターンサーチ計測ツールは、比較対象とする画像パターンを事前に記憶装置２３に記憶しておき、画像パターンの位置、傾斜角度、相関値を計測することで、撮像した検査対象物６の画像の中から記憶してある画像パターンに類似している画像パターンを検出する。図１０は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２のパターンサーチ計測ツールの例示図である。図１０（ａ）は、画像パターンを記憶する場合の画面の例示図を、図１０（ｂ）は、記憶してある画像パターンに類似している画像パターンを検出する場合の画面の例示図を、それぞれ示している。

【0066】

図１０（ａ）に示すように、撮像装置１で撮像した検査対象物６の画像を画面中央に表示した状態で、ウインドウを画面上に設定することにより、サーチ領域１１１の設定を受け付ける。サーチ領域１１１内に存在する画像パターンを検出し、記憶する画像パターンを囲む領域としてパターン領域１１２の設定を受け付ける。もちろん、パターン領域１１２内に、画像パターンの代表点１１３の設定を受け付けても良い。パターン領域１１２内の画像パターン１１４を記憶装置２３へ記憶する。

【0067】

パターンサーチ計測ツールによるパターンサーチ時には、図１０（ｂ）に示すように、記憶してある画像パターン１１４に類似している画像パターンをサーチ領域１１５内でサーチする。図１０の例では、画像パターンの代表点１１８の位置座標と傾斜角度１１７とでパターン領域１１９を特定して、パターン領域１１９内の画像パターンと記憶してある画像パターン１１４との相関値がパラメータの一つである所定の閾値より大きい場合に類似していると判断している。

【0068】

もちろん、パターンサーチの方法はこれに限定されるものではなく、例えば記憶してある画像パターン及び撮像装置１で撮像した検査対象物６の画像それぞれについてエッジを検出し、エッジ強度が類似している位置の近傍において画像パターンの位置、傾斜角度、相関値を計測しても良い。

【0069】

なお、パターンサーチ計測ツールでは、閾値として設定してある相関値の下限値を上げることにより、より類似度の高い画像パターンのみを検出するよう調整することができる。また、パラメータであるサーチ感度、サーチ精度等を調整することもできる。

【0070】

次に、傷計測ツールは、設定を受け付けた検査領域内で、小領域（セグメント）を移動させて画素値の平均濃度値を算出し、閾値以上の濃度差となった位置に傷が存在すると判定する。図１１は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２の傷計測ツールで傷の存在を判定するためのセグメントの移動状態を示す模式図である。以下、図１１（ａ）〜（ｄ）まで、ハッチング部分がセグメントを示している。

【0071】

まず図１１（ａ）に示すように、セグメント１２１が検査領域１２０の左端に位置する場合（以下、「現在のセグメント」とする）、セグメント１２１内の平均濃度値を‘９５’とする。そして、順次矢印１２２の方向に所定の間隔でセグメント１２１が移動する。

【0072】

図１１（ｂ）は、現在のセグメントから‘１’移動した場合（「現在のセグメント＋１」とする）を示しており、この場合のセグメント１２１内の平均濃度値を‘８０’とする。以下、図１１（ｃ）は、現在のセグメントから‘２’移動した場合（「現在のセグメント＋２」とする）を示しており、この場合のセグメント１２１内の平均濃度値を‘１００’とし、図１１（ｄ）は、現在のセグメントから‘３’移動した場合（「現在のセグメント＋３」とする）を示しており、この場合のセグメント１２１内の平均濃度値を‘１２０’とする。

【0073】

図１１の例では、４つのセグメント１２１内における平均濃度値を計測している。そして、最大濃度値と最小濃度値との差を「傷レベル」として計測する。図１１の例では、「傷レベル」は、最大濃度値１２０（現在のセグメント＋３）−最小濃度値８０（現在のセグメント＋１）＝４０となる。

【0074】

「傷レベル」がパラメータの一つである所定の閾値を超えた場合、「現在のセグメント」に傷が存在すると判定される。「傷量」は、傷が存在すると判定されたセグメントの数として計測される。

【0075】

なお、傷の存在を判定する所定の閾値、傷の想定サイズに合わせるべきセグメントの大きさ等を調整することにより、傷が存在するか否かの判定結果を変更することができる。

【0076】

上述した各種の画像処理ツールの他、検査領域内の文字情報を切り出して辞書データ等と照合することで文字列を認識するＯＣＲ認識ツール、ならびに画像上に設定したウインドウ(領域)をシフトさせながら、各ウインドウの位置においてエッジの検出を繰り返す機能を有するトレンドエッジツール、設定したウインドウ内の濃淡の平均、偏差等を計測する機能を有する濃淡ツール、設定したウインドウ内の濃度の平均、偏差等を計測する機能を有する濃度ツール等も備えており、必要に応じて選択を受け付ける。各画像処理ツールで処理された判定結果、すなわち良品／不良品の判定結果は、検査対象物６を識別する情報、画像処理ツールを識別する情報に対応付けて、画像処理装置２の記憶装置２３に記憶される。また、上述した複数の画像処理ツールは、使用者の所望する画像処理フローに基づいて、使用者の所望の画像処理順に設定され、順次画像処理を実行することが可能となっている。

【0077】

図１２は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２を含む製品検査システムの一構成例を示す機能ブロック図である。図１２において、画像処理部７は、ツール選択受付部７１１と、項目選択受付部７１２と、設定項目表示部（メニュー表示手段）７１３と、識別情報取得部７１４とを含む。また、画像処理部７は、主制御部２１、メモリ２２、外部Ｉ／Ｆ等を含んで構成され、ツール選択受付部７１１、項目選択受付部７１２、設定項目表示部（メニュー表示手段）７１３、及び識別情報取得部７１４の処理動作を制御する。

【0078】

記憶装置２３は、画像メモリとして機能し、撮像装置１により撮像された画像の画像データ、及び画像処理部７において位置合わせ、平均値算出等の各種処理を行った後の画像データを随時記憶する。画像データとしてではなく、画素ごとの輝度値データとして記憶しても良い。

【0079】

画像表示部８は、コンピュータ用のモニタ等の表示装置５０３で構成される。画像表示部８の画像表示手段８１１は、カスタマイズされたオペレータ用のメニューを表示装置５０３に表示させるとともに、管理者によるメニュー設定画面も表示させる。識別情報入力受付部８１２は、使用者を識別する識別情報の入力を受け付ける。識別情報により、使用者が管理者であるのか、オペレータであるのかを識別することができるので、オペレータに対しては、管理者が許諾していない設定項目を操作できないように設定することもできる。

【0080】

次に、画像処理部７の各構成について説明する。

【0081】

ツール選択受付部７１１は、撮像装置１で撮像した画像に対する画像処理を実行する複数のツール（画像処理ツール）のうち、使用する画像処理ツールの選択を受け付ける。

【0082】

図１３は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２のツール選択画面の例示図である。図１３の例では、撮像装置１ごとに使用する画像処理ツールの選択を受け付ける。撮像装置選択／表示領域７０１には、選択を受け付けた撮像装置１が表示されている。図１３では、撮像装置１として「カメラ１」のみが接続された状態で、「カメラ１」の選択を受け付けた画面となっている。しかし、画像処理装置２は複数の撮像装置１を接続することが可能であり、各撮像装置１に対して、各々使用者が所望する画像処理ツールを用いた画像処理フローを設定することができる。したがって、複数の撮像装置１が接続されている場合は、撮像装置選択／表示領域７０１には、複数の撮像装置１の番号を示すタブが表示されており、いずれかのタブを使用者が選択することにより、選択を受け付けた撮像装置１に対応する画像処理フローが撮像装置選択／表示領域７０１の下方に表示される。図１３の例では、一つの撮像装置１が接続されている状態であるので、撮像装置選択／表示領域７０１には、「カメラ１」のみが表示されている。

【0083】

ツール選択／表示領域７０２には、撮像装置選択／表示領域７０１で選択を受け付けた撮像装置１に対して選択された画像処理ツールのアイコンが表示される。具体的には、ツール選択／表示領域７０２は、画像処理ツール表示部として機能し、選択を受け付けた「カメラ１」に対して選択された画像処理ツールが全て表示されている。図１３の例では、エリア計測ツールとしての「エリア」、パターンサーチ計測ツールとしての「パターンサーチ」及びブロブ計測ツールとしての「ブロブ」の三つの画像処理ツールが表示されている。もちろん、ツール選択／表示領域７０２は、画像処理ツール表示部として、選択を受け付けた撮像装置１に対して選択されている全ての画像処理ツールを表示できれば表示形式は問わない。したがって、選択された全ての画像処理ツールを一度に表示する形式であっても良いし、表示を切り替えることにより選択された全ての画像処理ツールを表示する形式であっても良い。

【0084】

使用者によりいずれかの画像処理ツール、例えばエリア計測ツールが選択された場合、画像表示領域７００に検査対象物６の画像が検査領域と共に表示される。検査領域が設定された時点でエリア計測ツールにより面積が計算され、結果表示領域７０３に表示される。

【0085】

本実施の形態では、結果表示領域７０３の右下に配置してある「編集」ボタン７０４の選択を受け付けた場合、エリア計測ツールにおける設定項目が表示される。

【0086】

図１２に戻って、項目選択受付部７１２は、選択を受け付けた画像処理ツールごとに設定可能な項目の選択を受け付ける。図１４は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２のエリア計測ツールの設定項目を選択する画面の例示図である。

【0087】

図１４において、ツール表示領域８０１には、選択を受け付けた画像処理ツールを表示する。図１４では、「エリア」計測ツールが選択を受け付けて表示されている。図１４の例では、使用者の所望する画像処理ツールを用いた画像処理フローが設定されている状態、つまり図１３に示す画面で、画像処理ツール表示部として機能するツール選択／表示領域７０２に表示されている３つの画像処理ツール「エリア」、「パターンサーチ」及び「ブロブ」の中から、「エリア」を画面上にてクリックする、あるいは図示しない、用いられている画像処理ツールを表示する項目を選択してクリックすることにより、図１４に示す画面に遷移する。

【0088】

設定項目表示領域８０２は、第一階層領域８０３と第二階層領域８０４とで構成される。具体的には、設定項目表示領域８０２の第一階層領域８０３には、選択を受け付けた画像処理ツール、図１４では「エリア」に対して設定することが可能な「計測領域」設定機能、「色抽出」設定機能、及び「前処理」機能の各項目が表示されており、各々の画像処理機能に対して、「☆」印(星印)が付与されている。つまり、エリア計測ツールは、撮像した画像に対して、後述する「検出条件」としての白色領域又は黒色領域の面積を計測する機能である。撮像された画像の中の計測対象領域を特定する機能が、「計測領域」設定機能であり、「色抽出」機能は、撮像された画像の中から特定の色の部分を抽出したい場合、その色を特定する機能であり、「前処理」機能は、撮像された画像に対して、選択を受け付けた画像処理ツールを用いて画像処理を実行するのに先立ち、撮像された画像に対して、二値化処理、膨張処理、収縮処理等の補正処理を加える機能である。

【0089】

第一階層領域８０３には、少なくとも各画像処理ツールに対する共通の画像処理機能が表示される。図１４では「計測領域」設定機能、すなわち撮像された画像の中の計測対象領域を特定する機能と、「色抽出」機能、すなわち撮像された画像の中から特定の色の部分を抽出したい場合、その色を特定する機能と、「前処理」機能、すなわち撮像された画像に対して、選択を受け付けた画像処理ツールを用いて画像処理を実行するのに先立ち、撮像された画像に対して、二値化処理、膨張処理、収縮処理等の補正処理を加える機能とが基本的な画像処理機能として表示される。また、選択を受け付けた各画像処理ツールに応じて、各画像処理ツールに特有の画像処理機能が追加される仕様となっている。

【0090】

「計測領域」の選択を受け付けた場合、次の階層の設定項目が第二階層領域８０４に表示される。第二階層領域８０４には、選択された画像処理ツールに対する検出条件及び判定条件にかかる項目が表示されており、図１４の例では、検出条件として「検知色」が選択され、カスタムメニュー項目として「☆」印が付与されている。管理者はオペレータに操作させても良い設定項目に「☆」印を付与する操作を行い、「☆」印の付与を終了した時点で「ＯＫ」ボタン８０５を選択する。「☆」印が付与された設定項目がオペレータの設定可能な項目として設定される。また、同様に、エリア計測ツールの場合には、判定条件としてのパラメータである「面積」の上限値と下限値とが設定可能となっており、加えて実際の画像に対する計測値である「計測値」が表示されている。さらに、判定条件である「面積」についても、カスタムメニュー項目として「☆」印が付与されている。

【0091】

図示していないが、本実施の形態に係る画像処理装置２では、管理者が、図１４に示す画面において、第一階層表示領域８０３に表示されている画像処理機能、第二階層領域８０４に表示されている検出条件及び判定条件に、カスタムメニュー項目として付与された「☆」印（星印）をクリックした場合、別のカスタムメニュー編集画面が図１４に示す画面に重ね合わせて表示される。管理者は、表示されたカスタムメニュー編集画面で、「カスタムメニューとして登録する」、すなわちオペレータに対して表示する項目とするか、又は「カスタムメニューとしての登録を削除する」、すなわちオペレータに対して表示しない項目とするかを選択できる。すなわち、個々のカスタムメニュー対象項目について、オペレータに対する表示／非表示を選択できるようになっている。

【0092】

また、個々のカスタムメニュー対象項目について、図１４に示す画面のまま何も操作せずに画面を切り替えた場合、図１４に示すカスタムメニュー対象項目は、初期設定として、オペレータに対して表示しない項目として設定される。ただし、初期設定として、何も操作せずに画面を切り替えた場合、オペレータに対して表示する項目として設定されるようにしても良い。

【0093】

図１５は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２のパターンサーチ計測ツールの設定項目を選択する画面の例示図である。図１５は、上述した図１３に示す画面で、パターンサーチ計測ツールとしての「パターンサーチ」の選択を受け付けた場合の画面を示している。

【0094】

ツール表示領域８０１には、選択を受け付けた「パターンサーチ」が表示されている。図１５の例では、パターンサーチ計測ツールの選択を受け付けた場合を示しており、第一階層領域８０３には、選択を受け付けたパターンサーチ計測ツールに対して設定することが可能な画像処理機能「サーチ領域」、「パターン領域」、「色抽出」及び「前処理」が表示されている。少なくとも、「パターン領域」（サーチツールのため、表現を変えているが、上述したエリア計測ツールの「計測領域」と同義語である。）及び「前処理」は、各画像処理ツールに対する共通の画像処理機能であり、撮像装置１がカラー画像を撮像する場合には「色処理」機能も各画像処理ツールに対する共通の画像処理機能となる。また、パターンサーチ計測ツールの場合は、比較対象とする画像パターン、すなわちパターンとなる登録画像（モデル）を事前に記憶しておくが必要があるため、本画像処理ツールに特有の「パターン領域」設定機能が設けられている。これは、パターンとして、撮像装置１で撮像した画像群の中から登録画像（モデル）を設定する場合、撮像した画像群の中から登録画像を特定するときに用いる領域特定機能である。

【0095】

また、第二階層領域８０４は、選択された画像処理ツールに対する検出条件として、「角度範囲」、「サーチ感度」、「サーチ精度」及び「相関値下限」が表示されるとともに、選択された画像処理ツールに対する判定条件が表示されている。

【0096】

なお、図示されていないが、判定条件としては、設定項目表示領域８０２の右側に位置しているスクロールバーを下方に移動することにより、「ラベル数」、「面積」、「相関値」等が表示される。もちろん、管理者向けの画面には、パターンサーチ計測ツールのカスタムメニュー対象項目として全ての画像処理機能、全ての検出条件及び全ての判定条件が表示され、各項目に「☆」印が付与されていることは言うまでもない。

【0097】

同様に、図１６は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２のブロブ計測ツールの設定項目を選択する画面の例示図である。図１６では、上述した図１３に示す画面で、ブロブ計測ツールとしての「ブロブ」の選択を受け付けた場合の画面を示している。ツール表示領域８０１には、選択を受け付けた「ブロブ」が表示されている。図１６の例では、ブロブ計測ツールの選択を受け付けた場合を示しており、第一階層領域８０３には、ブロブ計測ツールに対して設定することが可能な画像処理機能である「２値化」が表示されている。図１６では、設定項目表示領域８０２の右側に位置しているスクロールバーが最上端から若干下方に移動した画面となっている。したがって、図示されていないが、第一階層領域８０３には、図１４に示す画面と同様に、「計測領域」設定機能、「色抽出」設定機能及び「前処理」機能の各項目が画像処理機能として表示される。また、ブロブ計測ツールとしては、「前処理」機能の一つである「２値化」の設定が必須となっていることから、本実施の形態では、使用者が必ず設定することができるよう、あえて「前処理」機能と同じ階層の項目として、第一階層領域８０３に「２値化」を表示している。

【0098】

このため、第一階層領域８０３におけるカスタムメニュー対象項目としては、「計測領域」、「色抽出」、「前処理」及び「２値化」が表示されており、各々にカスタムメニュー項目として「☆」印が付与されている。

【0099】

また、第二階層領域８０４には、ブロブ計測ツールに対する検出条件として、「検知色」、「検出個数」、「面積フィルタ(下限値)」、「穴埋め」、「領域除外」が表示され、各々にカスタムメニュー項目として「☆」印が付与されている。また、判定条件としては、ラベル数、面積が表示され、各々にカスタムメニュー項目として「☆」印が付与されている。詳細は省略するが、オペレータに対して表示をするか否かは、個々のカスタムメニュー対象項目をクリックし、別のカスタムメニュー編集画面で選択することができる。

【0100】

なお、上記実施の形態では、選択を受け付けた各画像処理ツールのカスタムメニュー対象項目をオペレータに対して表示するか否かは、個々のカスタムメニュー対象項目をクリックして、別のカスタムメニュー編集画面を開くことによって選択している。しかし、別のカスタムメニュー編集画面を開くことなく、同じ画面において、各カスタムメニュー対象項目に、オペレータに対して表示するか否かを選択するチェックボックスを設定して対応することも可能である。

【0101】

図１２に戻って、設定項目表示部（メニュー表示手段）７１３は、選択を受け付けた画像処理ツール及び該画像処理ツールごとに選択を受け付けた項目のみを表示する。図１７は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２の設定項目の表示画面の例示図である。より具体的には、図１４から図１６に基づいて、選択を受け付けた各画像処理ツールに対して、どのカスタムメニュー対象項目をオペレータに対して表示するかを選択した後のオペレータが閲覧できる画面の例示図である。

【0102】

図１７において、ツール選択／表示領域７０２には、選択を受け付けた画像処理ツールのアイコンが表示される。図１７の例では、図１４から図１６に基づいて、各画像処理ツールに対するカスタムメニューの設定が完了した後のオペレータが閲覧することができる画面であり、図１３と同様にエリア計測ツール、パターンサーチ計測ツール、ブロブ計測ツールが選択可能な画像処理ツールとして表示されている。そして、エリア計測ツールが選択された場合、画像表示領域７００に検査対象物６の画像が検査領域と共に表示される。

【0103】

設定項目表示領域１７１には、オペレータが閲覧することができ、しかも設定することが可能なカスタムメニュー項目として、各画像処理ツールの画像処理機能、検出条件及び判定条件の中から管理者によって選択された項目が全て表示されている。具体的には、本実施の形態では、図１４を用いて説明したように、画像処理装置２が備えている全ての画像処理ツールの中から、「エリア計測ツール」、「パターンサーチ計測ツール」及び「ブロブ計測ツール」を用いた、画像処理フローが設定されている。この場合、図１７の画面には、使用者により、画像処理フローに設定された全ての画像処理ツールと、全ての画像処理ツールに対して、管理者により選択された、オペレータが閲覧することができ、しかも設定することが可能なカスタムメニュー項目が全て表示される。換言すれば、使用者により、画像処理フローに設定された全ての画像処理ツールの全てのカスタムメニュー対象項目（オペレータに対して表示／非表示の選択が可能な項目）の中から、オペレータが閲覧することができ、しかも設定することが可能なカスタムメニュー項目として選択された項目のみが表示される。

【0104】

本実施の形態では、エリア計測ツールに対して、オペレータが閲覧することができ、しかも設定することが可能なカスタムメニュー項目として「計測領域」と「検出色」とが設定されている。換言すれば、図１４に基づいて説明したその他のカスタムメニュー対象項目は、管理者がオペレータに対して閲覧することができず、しかも設定することもできない項目として設定したことが理解できる。パターンサーチ計測ツールに対しては、オペレータが閲覧することができ、しかも設定することが可能なカスタムメニュー項目として「角度範囲」と「サーチ精度」とが設定されている。同様に、ブロブ計測ツールに対しては、オペレータが閲覧することができ、しかも設定することが可能なカスタムメニュー項目として「検知色」と「穴埋め」とが設定されている。ここで、オペレータが閲覧することができ、しかも設定することが可能なカスタムメニュー項目として設定されたそれぞれの項目は、オペレータにより詳細を設定することができる。

【0105】

また、図１７に表示されるオペレータが閲覧することができ、しかも設定することが可能なカスタムメニュー項目は、管理者のみが知っているパスワード等を用いることによって、管理者のみ閲覧及び設定することができる、上述した図１３から図１６の画面によって変更を加えることができることは言うまでもない。

【0106】

図１８は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２のエリア計測ツールの設定項目の表示画面の例示図である。図１７において、「Ｔ１００ エリア」の「計測領域」ボタンをオペレータがクリックした場合、図１８に示すカスタムメニュー項目として「計測領域」の設定画面が表示される。すなわち、計測領域の形状の指定を受け付ける計測領域設定領域１８１と、「マスク領域」の設定を行うマスク領域設定領域１８２とが表示される。設定が完了し、「ＯＫ」ボタン１８３の選択を受け付けた時点で図１７に示す表示画面に戻る。

【0107】

詳細には、計測領域の形状の指定を受け付ける計測領域設定領域１８１には、初期条件として「矩形」形状が表示されているが、プルダウンメニューを用いて、矩形以外に円形、楕円等の異なる計測領域の形状を選択することができるようになっている。また、マスク領域設定領域１８２は、画面上に設定した計測領域内で検出対象として不要と考える領域を検査対象から排除するためのマスク領域を設定する。これは、一つの計測領域に複数設定する場合があるため、図１８に示すように複数設定することが可能となっている。つまり、管理者が設定した、オペレータが閲覧することができ、しかも設定することが可能なカスタムメニューの各々には、各メニューに特有であり、しかもオペレータが設定することが可能な条件やパラメータが設定されている。

【0108】

同様に、図１９は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２のエリア計測ツールの他の設定項目の表示画面の例示図である。図１７において、「Ｔ１００ エリア」の「検知色」ボタンをオペレータがクリックした場合、図１９に示す「検知色」の設定画面が表示される。すなわち、カスタムメニュー項目として「検知色」の選択を受け付ける検知色選択受付領域１３１が表示される。設定が完了し、「ＯＫ」ボタン１３２の選択を受け付けた時点で図１７に示す表示画面に戻る。

【0109】

詳細には、カスタムメニュー項目として「検知色」では、「白」又は「黒」の選択を受け付けるようになっている。これは、撮像装置１が白黒画像、つまり濃淡画像を撮像する場合であり、例えばカラー画像を撮像する撮像装置１が対象である場合、多種多様な色を示すカラーバーの中からオペレータが特定の色を選択するような画面としても良い。

【0110】

また、図２０は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置２のパターンサーチ計測ツールの設定項目の表示画面の例示図である。図１７において、「Ｔ１０１ パターンサーチ」の「角度範囲」ボタンをオペレータがクリックした場合、図２０に示す「角度範囲」の設定画面が表示される。すなわち、基準パターンの回転角度の範囲の設定を受け付ける角度範囲設定領域１４１が表示される。設定が完了し、「ＯＫ」ボタン１４２の選択を受け付けた時点で図１７に示す表示画面に戻る。

【0111】

詳細には、パターンサーチ計測ツールは、パターンとなる登録画像をモデルとして登録しておき、検査領域内のＸ、Ｙ座標において、座標を特定間隔でスキップしつつ、各位置における撮像された画像と登録画像との類似度を示す相関値を求める。したがって、各座標位置において、登録画像の検査対象物６を基準として±１８０度の範囲内で、どの範囲まで回転された画像をサーチするかを「角度範囲」で設定しておく。図２０に示すように、角度範囲の右側にある入力欄に、０から１８０度の範囲内での数値を入力することによって設定が完了する。

【0112】

また、図１７に示す設定項目表示領域１７１において、管理者がカスタムメニュー項目として設定した項目ごとにオペレータからの選択を受け付けることに限定されるものではなく、画像処理ツールごとに選択を受け付けても良い。

【0113】

以上のように本実施の形態によれば、選択を受け付けた画像処理ツール及び該画像処理ツールごとに選択を受け付けた設定項目のみが表示されるので、オペレータは、管理者により許諾された設定項目しか設定を変更することができない。したがって、オペレータに設定を変更させても良い設定項目のみを選択しておくことにより、管理者が許諾しない設定項目をオペレータがむやみに変更するおそれがなく、管理者の意図通りに安定して動作することができる画像処理装置２を提供することが可能となる。

【0114】

なお、設定項目表示部（メニュー表示手段）７１３は、選択された設定項目を表示する画面、いわゆるシミュレーション画面と、選択された設定項目に対して操作する画面とを切り替えて表示しても良い。操作画面への切り替えは、操作モードとシミュレーションモードとのモード切り替えで行うことができる。

【0115】

さらに、使用者を識別する識別情報と設定可能な項目とを対応付けて記憶装置２３に記憶しておき、識別情報に応じて設定可能な項目を特定することが好ましい。識別情報入力受付部８１２により、図１２に戻って、識別情報の入力を受け付けた場合、識別情報取得部７１４は識別情報をキー情報として設定可能な項目を特定する。

【0116】

すなわち、識別情報に基づいて、使用者が管理者であると判断した場合、すべての設定項目に対して操作することができる。使用者がオペレータであると判断した場合、管理者が設定可能と設定した項目以外は操作することができない。例えば、設定可能な項目以外は表示しない、グレー表示する、非活動状態とする等、オペレータが操作することができない状態であれば、表示方法は特に限定されるものではない。

【0117】

その他、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨の範囲内であれば多種の変更、改良等が可能である。

【符号の説明】

【0118】

１ 撮像装置（撮像部）
２ 画像処理装置
４ 照明装置
６ 検査対象物
７１１ ツール選択受付部
７１２ 項目選択受付部
７１３ 設定項目表示部（メニュー表示手段）
７１４ 識別情報取得部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図10】

【図11】

【図12】

【図9】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】

【図18】

【図19】

【図20】