特許 5884838 内径測定装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】5884838

(24)【登録日】2016年2月19日

(45)【発行日】2016年3月15日

(54)【発明の名称】内径測定装置

(51)【国際特許分類】

   G01B 21/14 20060101AFI20160301BHJP

   G01B 11/24 20060101ALI20160301BHJP

   G01B 11/12 20060101ALI20160301BHJP

   G01B 5/12 20060101ALI20160301BHJP

【ＦＩ】

   G01B21/14

   G01B11/24 B

   G01B11/12 H

   G01B5/12

【請求項の数】6

【全頁数】12

(21)【出願番号】特願2013-557619(P2013-557619)

(86)(22)【出願日】2013年2月7日

(86)【国際出願番号】JP2013053590

(87)【国際公開番号】WO2013118912

(87)【国際公開日】20130815

【審査請求日】2014年7月14日

(31)【優先権主張番号】特願2012-26045(P2012-26045)

(32)【優先日】2012年2月9日

(33)【優先権主張国】JP

(73)【特許権者】

【識別番号】000000099

【氏名又は名称】株式会社ＩＨＩ

(74)【代理人】

【識別番号】100083563

【弁理士】

【氏名又は名称】三好 祥二

(72)【発明者】

【氏名】馬場 道子

(72)【発明者】

【氏名】長谷川 幸三

(72)【発明者】

【氏名】多賀 宣昌

(72)【発明者】

【氏名】藤井 亨

【審査官】 神谷 健一

(56)【参考文献】

【文献】 特開平０９−３１１０３４（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平１０−１９７２１５（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開昭６３−０５５４４１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１０−１６４３３４（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許第６９３１１４９（ＵＳ，Ｂ２）

【文献】 特開２００５−３３１３３３（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００６−２３４５２５（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開昭５８−０６６８０９（ＪＰ，Ａ）

【文献】 登録実用新案第３１０５７２４（ＪＰ，Ｕ）

【文献】 特開昭５７−０２２５０１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開昭６１−１４４５５１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 実開昭６１−１０２８１１（ＪＰ，Ｕ）

【文献】 特開昭６３−１５９７０８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平８−３４０６６２（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１０−１０１６８９（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１３−１６４２７５（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｂ ２１／００−２１／３２

Ｇ０１Ｂ ５／１２

Ｇ０１Ｂ １１／１２

Ｇ０１Ｂ １１／２４

Ｇ０１Ｃ ７／０６

Ｇ０１Ｃ １５／００

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

同一軸心上に非接触測定部と接触測定部とが連結解除可能に連設され、前記非接触測定部は前記軸心上に配設された撮像部と、レーザ光線発光部と、コーンミラーを有するレーザ光線拡散部とを具備し、前記レーザ光線発光部から前記コーンミラーに射出されたレーザ光線が前記コーンミラーで全周に反射され、反射されたレーザ光線が中空部内面に照射されて形成された光リングを前記撮像部が撮像し、撮像された画像に基づき内径、内面の形状の少なくとも一方を測定し、前記接触測定部は、接触測定ヘッドと、該接触測定ヘッドを前記軸心を中心に旋回させる旋回ユニットとを具備し、前記接触測定ヘッドは、先端に接触子を有し、該接触子の変位を検知する接触測定器と、該接触測定器を半径方向に進退させる進退ユニットと、前記接触測定器の進退距離を測定するスケールユニットとを有し、前記非接触測定部は棒状の支持部材に連結され、前記非接触測定部及び前記接触測定部は前記支持部材に支持されて中空の被測定物に非接触で挿入され、前記軸心方向に移動されることを特徴とする内径測定装置。

【請求項2】

前記非接触測定部及び前記接触測定部は、同一円筒面内に包含される様構成された請求項１の内径測定装置。

【請求項3】

前記同一軸心上に配設された芯合せ部を更に具備し、前記レーザ光線発光部は、前記芯合せ部を介して前記レーザ光線拡散部に取付けられ、前記芯合せ部は前記レーザ光線を軸心に対して直交する２方向に位置調整可能であると共に前記レーザ光線発光部の光軸の傾きを調整可能である請求項１の内径測定装置。

【請求項4】

前記接触測定ヘッドは、該接触測定ヘッドの重心が前記軸心を中心として所定の範囲に収る様に構成された請求項１の内径測定装置。

【請求項5】

前記接触測定器は、進退ガイドレールに沿って半径方向に移動可能な測定器ホルダに設けられ、前記進退ガイドレールと平行にリニアスケールが設けられ、前記測定器ホルダにスケールセンサが設けられ、該スケールセンサにより前記接触測定器の進退距離が測定される請求項１の内径測定装置。

【請求項6】

前記接触測定ヘッドは、前記旋回ユニットによって旋回される測定器支持基板を有し、前記進退ユニットは２組のリニアガイドを介して前記測定器支持基板に設けられ、各リニアガイドは一対の進退ガイドレールと、該進退ガイドレールにそれぞれ摺動自在に嵌合する一対のブロックとから構成され、一方のリニアガイドは前記進退ガイドレールが前記測定器支持基板に設けられ、前記ブロックが前記進退ユニットに設けられ、他方のリニアガイドは前記進退ガイドレールが前記進退ユニットに設けられ、前記ブロックが前記測定器支持基板に設けられた請求項１又は請求項４の内径測定装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は中空部材の内径を測定する内径測定装置に関するものである。

【背景技術】

【0002】

中空部材の内径を測定するものとしては、レーザ光線を全周に照射し、内面に光リングを形成し、形成された光リングを撮像し、画像上から中空部材の内径、形状、プロファイルを計測する非接触式の内径測定装置があり、又中空部材の内面に接触子を接触させて内径を測定する内径測定装置がある。
尚、非接触式の内径測定装置として、特許文献１、特許文献２に示されるものがあり、特許文献１、特許文献２には、レーザ光線を全周方向に照射し、筒体の内面に形成される光リングを撮像し、画像上から光リングの形状、径を測定する非接触の内径測定装置が示されている。
又、接触式の内径測定装置として、特許文献３に示されるものがあり、特許文献３には、検査対象管を管回転支持装置によって回転可能に支持し、上下一対の内径測定センサが近接離反可能に設けられた走行台車装置を具備し、該走行台車装置の走行で前記内径測定センサを検査対象管の内部に挿入し、前記内径測定センサを上下に離反させて検査対象管の内面に接触させ、更に管回転支持装置によって検査対象管を回転させ、該検査対象管の内径を測定している。
前者の非接触式の内径測定装置では、内面の形状、状態が迅速に把握でき、又計測時間が早い、段差、テーパ等内面の状態が一度に、又、全体の形状が把握できるという利点がある一方、高精度の測定ができないという問題がある。
後者の接触式の内径測定装置では、高精度の測定結果が得られるが、一点一点の測定であるので時間が掛り、更に内面の形状を測定するには多点の測定が必要となり、測定が長時間となる。又、段差、テーパ等内面の状態を把握することが難しいという問題がある。
本発明は斯かる実情に鑑み、内面の状態、全体の形状が迅速に把握でき、而も、高精度の測定結果が得られる内径測定装置を提供するものである。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開平１０−１９７２１５号公報

【特許文献2】特開２０１０−１６４３３４号公報

【特許文献3】特開２０００−１３６９２３号公報

【発明の開示】

【0004】

本発明は、同一軸心上に非接触測定部と接触測定部とが連設され、前記非接触測定部は前記軸心上に配設された撮像部と、レーザ光線発光部と、コーンミラーを有するレーザ光線拡散部とを具備し、前記レーザ光線発光部から前記コーンミラーに射出されたレーザ光線が前記コーンミラーで全周に反射され、反射されたレーザ光線が中空部内面に照射されて形成された光リングを前記撮像部が撮像し、撮像された画像に基づき内径、内面の形状の少なくとも一方を測定し、前記接触測定部は、接触測定ヘッドと、該接触測定ヘッドを前記軸心を中心に旋回させる旋回ユニットとを具備し、前記接触測定ヘッドは、先端に接触子を有し、該接触子の変位を検知する接触測定器と、該接触測定器を半径方向に進退させる進退ユニットと、前記接触測定器の進退距離を測定するスケールユニットとを有する内径測定装置に係るものである。
又本発明は、前記非接触測定部及び前記接触測定部は、同一円筒面内に包含される様構成された内径測定装置に係るものである。
又本発明は、前記同一軸心上に配設された芯合せ部を更に具備し、前記レーザ光線発光部は、前記芯合せ部を介して前記芯合せ部に取付けられ、該芯合せ部は前記レーザ光線を軸心に対して直交する２方向に位置調整可能であると共に前記レーザ光線発光部の光軸の傾きを調整可能である内径測定装置に係るものである。
又本発明は、前記接触測定ヘッドは、該接触測定ヘッドの重心が前記軸心を中心として所定の範囲に収る様に構成された内径測定装置に係るものである。
又本発明は、前記接触測定器は、進退ガイドレールに沿って半径方向に移動可能な測定器ホルダに設けられ、前記進退ガイドレールと平行にリニアスケールが設けられ、前記測定器ホルダにスケールセンサが設けられ、該スケールセンサにより前記接触測定器の進退距離が測定される内径測定装置に係るものである。
又本発明は、前記接触測定ヘッドは、前記旋回ユニットによって旋回される測定機支持基板を有し、前記進退ユニットは２組のリニアガイドを介して前記測定器支持基板に設けられ、各リニアガイドは一対の進退ガイドレールと、該進退ガイドレールにそれぞれ摺動自在に嵌合する一対のブロックとから構成され、一方のリニアガイドは前記進退ガイドレールが前記測定器支持基板に設けられ、前記ブロックが前記進退ユニットに設けられ、他方のリニアガイドは前記進退ガイドレールが前記進退ユニットに設けられ、前記ブロックが前記測定器支持基板に設けられた内径測定装置に係るものである。

【図面の簡単な説明】

【0005】

図１は本発明の実施例に係る内径測定装置の全体側面図である。
図２は該内径測定装置の非接触測定部の断面図である。
図３は該内径測定装置の接触測定部の断面図である。
図４は該接触測定部の旋回ユニットカバー及び計測ヘッドカバーを取外した状態の斜視図である。
図５は本発明の他の例に係る接触測定ヘッドの断面図である。
図６（Ａ）、図６（Ｂ）は第２の実施例中のリニアスケールの説明図である。
図７（Ａ）は接触測定ヘッドの平面図、図７（Ｂ）は接触測定器が突出した状態の正面図である。

【発明を実施するための最良の形態】

【0006】

以下、図面を参照しつつ本発明の実施例を説明する。
図１は本発明に係る実施例を示しており、図１中、１は内径測定装置、２は該内径測定装置１を支持する棒状の支持部材を示している。
前記内径測定装置１は円筒面内に包含される形状となっており、該円筒面は前記支持部材２も包含し、円筒面は被測定物の中空部の内径より小さく設定されている。
前記内径測定装置１は、非接触測定部３及び接触測定部４から構成され、前記非接触測定部３、前記接触測定部４は前記支持部材２の軸心延長上に連設されている。又、前記非接触測定部３と前記接触測定部４とは、連結解除可能となっている。
先ず、前記非接触測定部３を図２を参照して説明する。
前記非接触測定部３は主に、撮像部６、レーザ光線発光部７、芯合せ部８、レーザ光線拡散部９、フレーム部１１等から構成される。又、前記撮像部６の光軸、前記レーザ光線発光部７の光軸、前記芯合せ部８の軸心、前記レーザ光線拡散部９の軸心、前記フレーム部１１の軸心は、前記支持部材２の軸心と合致する様になっている。
該フレーム部１１は、基端リング１２と先端リング１３とを複数の支柱１４により連結した構成であり、該支柱１４は同一円周上に所定の間隔、例えば３等分の位置に配置され、前記フレーム部１１の中心部には基端から先端に貫通する空間が形成される。
前記基端リング１２に前記撮像部６が取付けられる。該撮像部６は、前記基端リング１２に取付けられるカメラホルダ１５、該カメラホルダ１５に収納されるカメラ１６とを有し、前記カメラホルダ１５は前記支持部材２に連結される。前記カメラ１６の光軸は、前記支持部材２の軸心及び前記フレーム部１１の軸心と合致する。
前記カメラ１６は、撮像素子として、画素の集合体であるＣＣＤ或はＣＭＯＳセンサ等を具備し、撮像素子は各画素からの信号の集合であるデジタル画像信号を出力すると共に各画素からの信号はそれぞれ撮像素子内での位置が特定できる様になっている。
前記芯合せ部８は前記先端リング１３に固着され、前記芯合せ部８の先端に前記レーザ光線拡散部９が固着される。前記芯合せ部８は内部に軸心調整機構１８が収納されており、該軸心調整機構１８の基端側に前記レーザ光線発光部７が取付けられる。
該レーザ光線発光部７は、前記軸心調整機構１８に固着されるパイプ状の発光器ホルダ１９、該発光器ホルダ１９の基端部に嵌合され、取付けられたレーザ発光器２０を具備し、該レーザ発光器２０から発せられるレーザ光線２１の光軸は、前記カメラ１６の光軸及び前記フレーム部１１の軸心と合致する。
前記軸心調整機構１８の中心部には、前記レーザ光線２１が通過する光路孔２３が形成されている。前記軸心調整機構１８は、前記レーザ光線２１に直交し、紙面に対して垂直な方向にスライドするＸ軸スライダ２５と、該Ｘ軸スライダ２５に取付けられ、紙面に対して平行な方向にスライドするＹ軸スライダ２６とを有し、前記Ｘ軸スライダ２５、前記Ｙ軸スライダ２６はそれぞれ調整螺子（図示せず）によって位置を調整できる様に構成されている。
前記発光器ホルダ１９は前記Ｙ軸スライダ２６に取付けられている。又、前記発光器ホルダ１９は押し螺子、引き螺子が対となった固定手段２７により円周３等分の位置で前記Ｙ軸スライダ２６に固着されている。前記固定手段２７の調整で、前記発光器ホルダ１９の軸心の傾き、即ち前記レーザ光線２１の光軸の傾きを調整可能となっている。
而して、前記軸心調整機構１８により前記レーザ光線２１の光軸の位置は、Ｘ軸方向、Ｙ軸方向の直交する２方向に位置が調整され、前記固定手段２７により前記光軸の傾斜を調整することができ、前記レーザ光線２１の光軸を前記撮像部６の軸心及び後述するコーンミラー２９の軸心に合致させることができる様になっている。
前記芯合せ部８の先端にはレーザ光線拡散部９が設けられており、該レーザ光線拡散部９は軸心上にコーンミラー２９及び該コーンミラー２９と同心に全周透光窓３０を有する。前記コーンミラー２９は前記レーザ発光器２０に向って尖端となった円錐曲面で構成され、該曲面の頂角は例えば９０°となっている。尚、前記コーンミラー２９は、測定状況に応じて頂角の異なるもの、例えば１２０°或は６０°のものに適宜交換可能となっている。
該コーンミラー２９の軸心、前記レーザ光線２１の光軸、前記カメラ１６の光軸が合致した状態で、前記レーザ発光器２０より前記レーザ光線２１を射出すると、該レーザ光線２１は前記コーンミラー２９の頂点に入射し、円錐曲面で全周方向に反射される。前記全周透光窓３０を透過した反射レーザ光線２１′が中空部の内面を照射すると、光リングが形成される。該光リングを前記カメラ１６により撮像する。
尚、前記支柱１４は、２本であっても或は４本であってもよく、前記撮像部６、前記芯合せ部８、前記レーザ光線拡散部９を支持し得、又前記撮像部６の撮像に支障なければよい。
ここで、図２に示される様に、前記カメラ１６の画角をθとし、前記レーザ発光器２０、前記芯合せ部８等で遮られ、死角となる画角をθ１とすると、（θ１〜θ）の範囲で、中空部の内径を測定できる。又、前記カメラ１６と前記コーンミラー２９頂点迄の距離をＬとすると、測定できる内径の範囲は、（２Ｌｔａｎθ１／２〜２Ｌｔａｎθ／２）となる。
図示しない測定部本体は画像処理部を有し、該画像処理部は前記カメラ１６が撮像した画像を処理して、内径及び形状（真円、楕円等）又は内径、形状の少なくとも一方を測定する。更に、前記反射レーザ光線２１′を照射した状態で前記内径測定装置１を軸心方向に移動させ、画像を取得することで内面の状態、例えばテーパ、段差等の情報が得られる。
図３、図４により、前記接触測定部４について説明する。
図３、図４中、４１は旋回ユニットを示し、４２は接触測定ヘッド、４３は前記接触測定部４の軸心を示している。
先ず、前記旋回ユニット４１について説明する。
該旋回ユニット４１の軸心は前記支持部材２及び前記非接触測定部３の軸心と合致している。又、基端部に連結アダプタ４４を有し、該連結アダプタ４４を介して前記非接触測定部３に連結され、或は前記支持部材２に連結される。
前記連結アダプタ４４に中空のシャフトホルダ４５が取付けられる。該シャフトホルダ４５の軸心は前記軸心４３と合致しており、前記シャフトホルダ４５には、軸受４６，４７を介して旋回軸４８が前記軸心４３を中心に回転自在に支持される。前記旋回軸４８は、重量軽減の為、中空とするのが好ましい。
前記旋回軸４８の先端（図３に於いて左側）に旋回フランジ４９が形成され、更に該旋回フランジ４９の基側には旋回ギア５１が前記旋回軸４８に嵌着されている。
前記シャフトホルダ４５の外面の所要位置に旋回モータ５２が設けられ、該旋回モータ５２の出力軸には旋回駆動ギア５３が嵌着され、該旋回駆動ギア５３は前記旋回ギア５１と噛合される。又、前記旋回モータ５２は、エンコーダ（図示せず）を具備し、前記旋回駆動ギア５３即ち前記旋回ギア５１の回転量を検出可能となっている。
前記シャフトホルダ４５の所要位置、前記旋回モータ５２と干渉しない位置に、前記旋回フランジ４９の旋回制限手段５４が設けられる。該旋回制限手段５４の一例としては、前記シャフトホルダ４５にリミットスイッチ５５が設けられ、前記旋回フランジ４９には前記リミットスイッチ５５を作動させるスイッチ作動片５６が取付けられる。本実施例では、リミットスイッチ５５としては近接スイッチが用いられ、前記スイッチ作動片５６としては前記リミットスイッチ５５に対して所要の間隔で対峙する様に設定された金属片が用いられる。
前記連結アダプタ４４、前記シャフトホルダ４５、前記旋回フランジ４９、前記旋回モータ５２、前記旋回制限手段５４を覆う、円筒状の旋回ユニットカバー５８が前記連結アダプタ４４の基端から前記旋回フランジ４９に掛渡って設けられている。尚、前記旋回ユニットカバー５８は前記旋回フランジ４９とは非接触である。
次に、前記接触測定ヘッド４２について説明する。
該接触測定ヘッド４２は基端に旋回基盤６１を有し、該旋回基盤６１が前記旋回フランジ４９に固着されることで前記旋回ユニット４１と前記接触測定ヘッド４２とが連結され、又一体となる様に構成されている。又、前記接触測定ヘッド４２は、前記旋回ユニット４１と同心であり、即ち前記レーザ光線発光部７と同心となっている。即ち、前記旋回ユニット４１、前記接触測定ヘッド４２、前記レーザ光線発光部７はそれぞれの軸心及び光軸が前記軸心４３と合致する様に設けられている。
前記旋回基盤６１に測定器支持基板６２が垂直に設けられ、該測定器支持基板６２に進退ユニット６３及びスケールユニット６４が設けられている。
先ず、前記進退ユニット６３について説明する。
前記測定器支持基板６２に前記軸心４３と直交する方向に延出する進退ガイドレール６５が設けられ、該進退ガイドレール６５に摺動自在に測定器ホルダ６６が設けられ、該測定器ホルダ６６に接触測定器６７が設けられる。該接触測定器６７の測定方向は、前記測定器ホルダ６６の進退方向と平行であり、即ち、前記接触測定器６７は半径方向に移動し、半径方向の変位を測定する様に設定されている。尚、前記接触測定器６７としては、例えば電気マイクロメータが用いられる。
前記測定器ホルダ６６には進退モータ６８が一体に設けられ、該進退モータ６８は前記軸心４３と平行に延出する出力軸６９を有し、該出力軸６９にはピニオンギア７１が嵌着されている。前記測定器支持基板６２にはラック７２が前記軸心４３と直交する方向で固着され、前記ラック７２に前記ピニオンギア７１が噛合する。
尚、図中、７３は前記出力軸６９との干渉を避ける為の逃げ穴である。前記進退モータ６８が駆動されることで、前記ピニオンギア７１が回転し、前記進退モータ６８と前記進退ユニット６３とが一体に、半径方向（図示では上下方向）に進退する様に構成されている。
尚、図中、７５は接触子であり、該接触子７５が測定点に接触し、該接触子７５の変位を前記接触測定器６７が検出する。
前記スケールユニット６４は、前記進退ガイドレール６５と平行に設けられたリニアスケール７６と前記測定器ホルダ６６と一体に設けられたスケールセンサ７７を有し、前記測定器ホルダ６６の変位と一体に前記スケールセンサ７７が変位する。該スケールセンサ７７は変位量を前記リニアスケール７６から読取る様になっており、前記スケールセンサ７７は前記測定器ホルダ６６の半径方向の変位を検出する様になっている。
又、該スケールセンサ７７が読取る測定値と、前記接触子７５の位置は既知Ａとなっており、例えば前記スケールセンサ７７の測定値に既知Ａを加えると前記軸心４３から前記接触子７５迄の距離が求められる様になっている。
前記測定器ホルダ６６の進退量、即ち前記接触測定器６７のストロークは、前記接触測定部４で測定できる内径の測定範囲に関係する。従って、前記接触測定器６７のストロークは、前記非接触測定部３の測定範囲（２Ｌｔａｎθ１／２〜２Ｌｔａｎθ／２）をカバーできるストロークに設定する。
尚、図中、７８はケーブル類（図示せず）を固定する為のケーブルホルダを示している。
前記測定器支持基板６２、前記進退ユニット６３、前記スケールユニット６４、前記ケーブルホルダ７８等は、円筒形状の計測ヘッドカバー７９によって覆われ、該計測ヘッドカバー７９には前記接触測定器６７が突出できる様、測定窓８１が穿設されている。又、前記計測ヘッドカバー７９の外径は、前記旋回ユニットカバー５８と同径であり、又被測定物の内径よりも小さくなっている。
更に、前記接触測定ヘッド４２の重心が、前記軸心４３上、或は略前記軸心４３上となる様に、或は前記測定器ホルダ６６が移動した場合、前記接触測定ヘッド４２の重心が前記軸心４３を中心に所定の範囲に収る様に、該接触測定ヘッド４２の構成物（測定器ホルダ６６、進退モータ６８、スケールセンサ７７等）の配置、重量を設定する。更に、構成物の配置だけでは、重心の位置が前記軸心４３上とならない場合は、適宜バランス錘を設けて、前記接触測定ヘッド４２の重心の位置を調整する。ここで、前記所定の範囲とは、前記接触測定ヘッド４２を旋回させた場合に重心からの偏心により測定値に変動を生じない範囲とする。
以下、作用について説明する。
前記支持部材２に支持された前記内径測定装置１を中空の被測定物（例えば、被測定管）に非接触で挿入する。尚、挿入する際には前記接触子７５を前記計測ヘッドカバー７９の外面より完全に後退させた状態とする。
被測定管に、前記内径測定装置１を挿入しつつ測定するが、該内径測定装置１を固定して前記被測定管を移動させても、或は被測定管を固定し前記内径測定装置１を移動させてもよい。尚、前記内径測定装置１を固定して前記被測定管を移動させると、移動時による振動が前記内径測定装置１に作用しないので、測定状態が安定する。
前記レーザ発光器２０よりレーザ光線２１が射出されると、該レーザ光線２１は前記コーンミラー２９で全周に反射され、反射レーザ光線２１′が前記全周透光窓３０を透過して中空部内面に照射され、光リングが形成される。この光リングが前記カメラ１６で撮像され、画像データが測定部本体に送信され、該測定部本体で画像処理により、直径、更にプロファイルが測定される。測定結果は、測定部本体の記憶装置に格納される。
又、並行して前記接触測定部４により内径が測定される。
前記進退ユニット６３により前記測定器ホルダ６６を、前記接触子７５が内面に接触する直前迄移動させる。その後、徐々に移動させ、前記接触子７５を被測定物の内面に接触させる。その時の、前記接触測定器６７の検出値と前記スケールセンサ７７が検出する前記測定器ホルダ６６の移動量から、前記被測定物の内径が測定できる。
更に、前記旋回モータ５２を駆動し、前記旋回駆動ギア５３、前記旋回ギア５１を介して前記旋回軸４８を回転させ、更に前記旋回フランジ４９を介して前記接触測定ヘッド４２を回転させる。該接触測定ヘッド４２を所定角度ピッチで回転させることで、前記被測定物の全内周について内径の測定を行うことができる。
この時、前記接触測定ヘッド４２の重心位置を、前記軸心４３上としているので、前記接触測定ヘッド４２の回転による測定点のずれ、測定結果の変動を防止できる。更に、中空部のプロファイルは前記非接触測定部３の測定で分るので、前記接触測定部４で測定する点は、少なくて済み、測定時間を短縮できる。前記接触測定部４による測定結果も、測定部本体の記憶装置に格納される。
前記接触測定部４による全内周の測定が完了すると、前記内径測定装置１を軸心方向に所定距離移動させ、前記非接触測定部３、前記接触測定部４による測定を繰返し行う。尚、前記接触測定部４で測定した個所を、前記非接触測定部３で測定する様に、移動距離、移動ピッチを設定すると、前記非接触測定部３で測定した結果を前記接触測定部４で補正することができ、前記非接触測定部３の測定精度を向上させることができる。
而して、本実施例で内径を測定することで、前記接触測定部４で内径の高精度の測定が行えると同時に、前記非接触測定部３での内面のプロファイリングが同時に行え、更に、前記接触測定部４での接触式での測定と前記非接触測定部３での非接触式での測定を組合わせることで測定時間の短縮を図ることができる。
又、前記非接触測定部３、前記接触測定部４は同一円筒面内に包含される形状となっており、更に前記支持部材２の外径も前記円筒面より小さくなっているので、前記支持部材２を被測定管の長さに対応させたものとすることで、被測定管が長尺物であった場合も、全長に亘って内径の測定、プロファイルの測定等を実施することができる。
又、前記非接触測定部３、前記接触測定部４による測定は、上記した様に並行して実施してもよく、或はいずれか一方で測定してもよい。
次に、図５〜図７を参照して前記接触測定ヘッド４２の他の例を説明する。
該接触測定ヘッド４２は、測定器支持基板９１と、第１リニアガイド９２（９２ａ，９２ｂ）及び第２リニアガイド９３（９３ａ，９３ｂ）と、前記リニアガイド９２，９３を介して前記測定器支持基板９１に移動可能に支持されるテーブル９４と、該テーブル９４の正面に設置される接触測定器９５と、前記テーブル９４の背面に設置されるスケール９６ａと該スケール９６ａと対向して前記測定器支持基板９１上に設置される検出手段９６ｂとからなるリニアスケール９６とを備えている。
前記測定器支持基板９１は、図５に示す様に、前記旋回ユニット４１に垂直に固着され、該旋回ユニット４１の回転と共に回転する。又、前記測定器支持基板９１は、前記リニアガイド９２，９３を介して前記接触測定器９５を保持する前記テーブル９４を支持している。
前記第１リニアガイド９２は２組の進退ガイドレール９２ａとブロック９２ｂを有し、前記第２リニアガイド９３は２組の進退ガイドレール９３ａとブロック９３ｂを有している。各リニアガイド９２，９３は、それぞれ前記進退ガイドレール９２ａ，９３ａと前記ブロック９２ｂ，９３ｂとが嵌合し、前記進退ガイドレール９２ａ，９３ａに沿って前記ブロック９２ｂ，９３ｂが摺動可能に構成されている。
図６（Ａ）は、前記測定器支持基板９１の正面図であって、図６（Ｂ）は、前記テーブル９４の背面図である。前記測定器支持基板９１には、図５及び図６（Ａ）に示す様に、前記旋回ユニット４１の回転の前記軸心４３と直交して前記第１リニアガイド９２の２本の進退ガイドレール９２ａが設置されている。又、図５及び図６（Ｂ）に示す様に、前記テーブル９４の背面には、各前記進退ガイドレール９２ａと対向する位置に、前記第１リニアガイド９２の前記ブロック９２ｂがそれぞれ設置されている。
更に、前記テーブル９４の背面には、図５及び図６（Ｂ）に示す様に、前記軸心４３と直交して前記第２リニアガイド９３の２本の前記進退ガイドレール９３ａが設置されている。又、図５及び図６（Ａ）に示す様に、前記測定器支持基板９１には、各前記進退ガイドレール９３ａと対向する位置に、前記第２リニアガイド９３の前記ブロック９３ｂがそれぞれ設置されている。
前記テーブル９４は、前記リニアガイド９２，９３に案内されて前記測定器支持基板９１上を前記軸心４３と直交する方向に摺動する。又、前記テーブル９４の正面で保持される前記接触測定器９５も前記テーブル９４と一体に移動する。該テーブル９４は前記進退モータ６８によりスライド移動されるが、進退移動機構については前述した前記接触式測定ヘッド４２と同様であるので説明を省略する。
前記接触測定器９５は、接触子９５ａを有し、該接触子９５ａが被測定物１００の内壁と接触し、前記接触子９５ａの変位を測定する。上述した様に、前記接触測定器９５の測定方向は、前記テーブル９４の進退方向と平行である。即ち、前記接触測定器９５は前記被測定物１００の空間の半径方向に移動し、半径方向の変位を測定する。前記接触測定器９５で測定された値は、ケーブル９５ｂを介して演算手段（図示せず）に出力される。前記測定器支持基板９１は、前記接触測定器９５の測定方向の軸心９７が前記旋回ユニット４１の回転軸と直交する様に該旋回ユニット４１に固着されている。
前記テーブル９４の背面には、図６（Ｂ）に示す様に、前記進退ガイドレール９３ａと並行して２本の該進退ガイドレール９３ａの間に前記リニアスケール９６の前記スケール９６ａが設けられている。又、前記測定器支持基板９１の前記スケール９６ａと対向する位置には、前記リニアスケール９６の前記検出手段９６ｂが設けられている。前記リニアスケール９６は長さを検出する手段であり、前記スケール９６ａの目盛を前記検出手段９６ｂで検出して長さを測定する。
前記演算手段は、前記接触測定器９５から入力された値と、前記リニアスケール９６から入力された値とに基づき、前記被測定物１００の内径を求める。
上述した様に、前記第１リニアガイド９２の各前記進退ガイドレール９２ａは、前記接触測定器９５の前記軸心９７を基準として左右対称な位置に設置されている。又、前記第２リニアガイド９３の各前記進退ガイドレール９３ａは、前記接触測定器９５の前記軸心９７を基準として左右対称な位置に設置されている。更に、前記進退ガイドレール９２ａは前記測定器支持基板９１に設置されているのに対し、前記進退ガイドレール９３ａは前記測定器支持基板９１と対向する前記テーブル９４に設置されている。従って、前記接触測定ヘッド４２では、前記テーブル９４を三次元方向で安定して支持することができる。前記接触測定器９５と前記リニアスケール９６とで値を正確に測定し、高精度な計測結果を得ることができる。又、該リニアスケール９６は、前記リニアガイド９２，９３の間に設置されていることからも、安定した値を得ることができる。
上述した様に、本実施例によれば、正確な内径を高精度に測定することができる。

【産業上の利用可能性】

【0007】

本発明によれば、同一軸心上に非接触測定部と接触測定部とが連設され、前記非接触測定部は前記軸心上に配設された撮像部と、レーザ光線発光部と、コーンミラーを有するレーザ光線拡散部とを具備し、前記レーザ光線発光部から前記コーンミラーに射出されたレーザ光線が前記コーンミラーで全周に反射され、反射されたレーザ光線が中空部内面に照射されて形成された光リングを前記撮像部が撮像し、撮像された画像に基づき内径、内面の形状の少なくとも一方を測定し、前記接触測定部は、接触測定ヘッドと、該接触測定ヘッドを前記軸心を中心に旋回させる旋回ユニットとを具備し、前記接触測定ヘッドは、先端に接触子を有し、該接触子の変位を検知する接触測定器と、該接触測定器を半径方向に進退させる進退ユニットと、前記接触測定器の進退距離を測定するスケールユニットとを有するので、前記接触測定部で内径の高精度の測定が行えると同時に、前記非接触測定部での非接触での内径、内面形状の測定が同時に行え、更に、前記接触測定部での接触式での測定と前記非接触測定部での非接触式での測定を組合わせることで測定時間の短縮を図ることができる。

【符号の説明】

【0008】

１ 内径測定装置
２ 支持部材
３ 非接触測定部
４ 接触測定部
６ 撮像部
７ レーザ光線発光部
８ 芯合せ部
９ レーザ光線拡散部
１６ カメラ
１８ 軸心調整機構
２０ レーザ発光器
２１ レーザ光線
２９ コーンミラー
４１ 旋回ユニット
４２ 接触測定ヘッド
４８ 旋回軸
４９ 旋回フランジ
５２ 旋回モータ
５４ 旋回制限手段
６２ 測定器支持基板
６３ 進退ユニット
６４ スケールユニット
６６ 測定器ホルダ
６７ 接触測定器
６８ 進退モータ
７２ ラック
７５ 接触子
７６ リニアスケール
７７ スケールセンサ
８１ 測定窓
９１ 測定器支持基板
９２ 第１リニアガイド
９３ 第２リニアガイド
９４ テーブル

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】