(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
前記増幅器が、前記入力信号を受信するように構成される第1の入力と、基準信号を受信するように構成される第2の入力と、前記増幅信号を生成するように構成される出力と、を含む、請求項1に記載の装置。
前記チャネル回路が前記増幅器の前記第1の入力と前記増幅器の前記出力との間に電気的に接続されるフィードバックコンデンサ(27)を含み、前記増幅信号が前記入力信号の積分とほぼ等しくなるように、前記増幅器が前記フィードバックコンデンサを使用して前記入力信号を積分するように構成される、請求項3に記載の装置。
前記バイアス回路が、前記バイアス電圧と前記バイアスコンデンサの第1の端部との間に電気的に接続されるバイアススイッチ(51)を含み、前記バイアス電圧を前記バイアスコンデンサ上にサンプリングするように、前記バイアススイッチが、前記1の時間インスタンス前に閉鎖状態から開放状態に移行するように構成され、前記バイアススイッチが、前記2の時間インスタンス後に前記開放状態から前記閉鎖状態に移行するように構成される、請求項1に記載の装置。
前記バイアス電流を生成するための電圧制御電流源(50)をさらに備え、前記電圧制御電流源が、前記バイアスコンデンサの両端の前記電圧に基づいて前記バイアス電流の前記大きさを制御するための制御端子を含む、請求項1に記載の装置。
前記電圧制御電流源が第1の金属酸化物半導体(MOS)バイアストランジスタ(66)であり、前記バイアススイッチが前記バイアス電圧と前記第1のMOSバイアストランジスタのゲートとの間に電気的に接続され、前記バイアス電流が前記第1のMOSバイアストランジスタのドレイン電流に基づく、請求項7に記載の装置。
前記第1のMOSバイアストランジスタの前記ドレイン電流が前記第2のMOSバイアストランジスタ(65)のチャネルを通過するように前記第1のMOSバイアストランジスタとカスコードされる第2のMOSバイアストランジスタをさらに備える、請求項8に記載の装置。
前記増幅器が、第1のMOS入力トランジスタ(43)と第2のMOS入力トランジスタ(44)とを含み、前記第1および第2のMOS入力トランジスタが、前記増幅器の差動対として動作し、前記第1のMOS入力トランジスタのゲートが、前記入力信号を受信するように構成される、請求項1に記載の装置。
基準コンデンサ(88)と基準スイッチ(83)とをさらに備え、前記基準スイッチが基準電圧に電気的に接続される第1の端部と前記第2のMOS入力トランジスタのゲートおよび前記基準コンデンサに電気的に接続される第2の端部とを含み、前記基準スイッチが前記1の時間インスタンス前に前記基準電圧を前記基準コンデンサ上にサンプリングするように構成され、前記出力信号のノイズを低減するように、前記基準スイッチが前記基準コンデンサの両端の前記電圧を前記1の時間インスタンスと前記第2の時間インスタンスとの間で実質的に一定に保持するように構成される、請求項10に記載の装置。
前記サンプリング回路が、第1のスイッチ(31)と、第2のスイッチ(32)と、第1のコンデンサ(33)と、第2のコンデンサ(34)と、減算器(35)と、を備える相関二重サンプリング(CDS)回路(24)を備え、前記第1のスイッチが前記第1の時間インスタンスに前記増幅信号を前記第1のコンデンサ上にサンプリングすることにより前記第1のサンプルを生成するように構成され、前記第2のスイッチが前記第2の時間インスタンスに前記増幅信号を前記第2のコンデンサ上にサンプリングすることにより前記第2のサンプルを生成するように構成され、前記減算器が前記第1のサンプルと前記第2のサンプルとの間の前記差に基づいて前記出力信号を生成するように構成される、請求項1に記載の装置。
前記バイアス電圧を前記バイアスコンデンサ上にサンプリングし、前記バイアスコンデンサの両端の前記電圧を実質的に一定に保持することが、前記第1の時間インスタンス前にバイアススイッチ(51)を閉鎖状態から開放状態に切り替えることと、前記第2の時間インスタンス後に前記バイアススイッチを前記開放状態から前記閉鎖状態に切り替えることとを含む、請求項13に記載の方法。
前記増幅器が、前記入力信号を受信するよう構成される第1の入力と、基準信号を受信するように構成される第2の入力と、前記増幅信号を生成するように構成される出力と、を含み、前記増幅器が前記増幅器の前記出力に電気的に接続されるチャネル回路(6)をさらに含む、請求項17に記載の装置。
前記チャネル回路が、前記増幅器の前記第1の入力と前記増幅器の前記出力との間に電気的に接続されるフィードバックコンデンサ(27)を含み、前記増幅器が、前記増幅信号が前記入力信号の積分とほぼ等しくなるように、前記フィードバックコンデンサを使用して前記入力信号を積分するように構成される、請求項18に記載の装置。
前記バイアス手段(49)が、前記バイアス電圧と前記バイアスコンデンサの第1の端部との間に電気的に接続されるバイアススイッチ(52)を含み、前記バイアススイッチが、前記バイアス電圧を前記バイアスコンデンサ上にサンプリングするために、前記第1の時間インスタンス前に閉鎖状態から開放状態に移行するように構成され、前記バイアススイッチが前記第2の時間インスタンス後に前記開放状態から前記閉鎖状態に移行するように構成される、請求項17に記載の装置。
前記バイアス電流を生成するための電圧制御電流源(50)をさらに備え、前記電圧制御電流源が、前記バイアスコンデンサの両端の前記電圧に基づいて、前記バイアス電流の前記大きさを制御するための制御端子を含む、請求項17に記載の装置。
【発明を実施するための形態】
【0014】
特定の実施形態についての下段の詳細な説明は、本発明の具体的な実施形態についての様々な説明を提示している。しかしながら、本発明は、特許請求の範囲によって定義かつ網羅される多くの異なった手法で具現化され得る。本記述では、図に参照がなされ、そこでは類似の番号は、同一または機能的に類似する要素を示している。
低ノイズ信号チャネルを含む電子システムの概要
【0015】
出力信号を生成するために入力信号を処理するための信号チャネルを含む電子システムが提供される。特定の実装例においては、信号チャネルは、出力信号を生成するために、増幅器および増幅器の出力を二重サンプリングするように構成される相関二重サンプリング(CDS)回路を含む。例えば、CDS回路は第1の時間インスタンスおよび第2の時間インスタンスに増幅器の出力をサンプリングするために使用され得、そしてサンプル間の差は出力信号を生成するために使用され得る。増幅器の出力をサンプリングするためにCDS回路を使用することによって、信号チャネルの出力ノイズは、両サンプルに共通する誤差成分を除去することによって低減され得る。特定の実施形態において、バイアス回路は、バイアスコンデンサの両端の電圧に基づいて増幅器のバイアス電流を生成する。バイアス回路は、バイアス信号をバイアスコンデンサ上にサンプリングし、バイアスコンデンサの両端の電圧を第1の時間インスタンスと第2の時間インスタンスとの間で実質的に一定に保持する。この手法で増幅器のバイアス電流を生成することにより、CDS回路が増幅器の出力を二重サンプリングするとき、バイアス信号のノイズが増幅器のバイアス電流を変更するのを防止することによって、信号チャネル出力ノイズは低減され得る。
【0016】
図1は、電子システム10の一事例の模式的なブロック図である。電子システム10は第1の信号チャネル2aと、第2の信号チャネル2bと、第3の信号チャネル2cとを含む。第1の信号チャネル2aは、CDS回路4と、増幅器5と、チャネル回路6とを含む。明瞭性のために
図1には例示されていないが、第2および第3の信号チャネル2b、2cは第1の信号チャネル2aと実質的に同じ回路を含むように構成され得る。
【0017】
第1の信号チャネル2aは第1の入力信号IN1を受信し得、そして第1の出力信号OUT1を生成するために第1の入力信号IN1を処理し得る。また、第2の信号チャネル2bは第2の入力信号IN2を受信し得、そして第2の出力信号OUT2を生成するために第2の入力信号IN2を処理し得る。さらに、第3の信号チャネル2cは第3の入力信号IN3を受信し得、そして第3の出力信号OUT3を生成するために第3の入力信号IN3を処理し得る。電子システム10は3つの信号チャネル2a〜2cを含むように例示されているが、電子システム10は、所望の数の電気信号を処理するために、より多くのまたはより少ない数の信号チャネルを含むように適合され得る。例えば、電子システム10は1つの信号チャネル、2つの信号チャネル、3つの信号チャネル、また4つ以上の信号チャネルを含み得る。電子システム10は、例えば、画像システムを含む、任意の適合した電子システムになり得る。
【0018】
例示されている構成において、増幅器5は第1の入力信号IN1を受信するように構成される第1の入力と、基準電圧V
REFを受信するように構成される第2の入力と、チャネル回路6の第1の端部に電気的に接続される出力とを含む。チャネル回路6はCDS回路4の入力に電気的に接続される第2の端部をさらに含む。CDS回路4は第1の出力信号OUT1を生成するように構成される出力をさらに含む。特定の実装例において、チャネル回路6は、増幅器5の出力から増幅器5の第1の入力および/または第2の入力までの間に、1つ以上のフィードバック経路を含み得る。例えば、フィードバック経路7は、チャネル回路6の全部および一部を介して、増幅器5の出力と増幅器5の第1の入力との間に提供され得る。明瞭性のために
図1には例示されていないが、第2および第3の信号チャネル2b、2cそれぞれは、同様の構成で電気的に接続される増幅器、CDS回路、およびチャネル回路を含み得る。
【0019】
図1に例示されているとおり、第1の信号チャネル〜第3の信号チャネル2a〜2cはシングルエンドチャネルになり得、これらが出力ノイズに関連する可能性がある。例えば、第1の信号チャネル2aは集積回路上に配置され得、そして電力供給ノイズ、基準供給ノイズ、および/またはバイアスノイズが第1の信号チャネル2aに導入され得、そして時間経過とともに第1の出力信号OUT1の変動の原因となり得る。出力ノイズは、電子システム10を使用して生成される信号の品質を低下し得る。例えば、画像システムにおいては、出力ノイズは、最終的な画像に乱れを生成する可能性のあるパターン誤差の原因となり得る。
【0020】
第1の入力信号〜第3の入力信号IN1〜IN3および第1の出力信号〜第3の出力信号OUT1〜OUT3は、例えば、電圧信号および/または電流信号を含む、任意の適切な電気信号となり得る。特定の実装例において、第1の入力信号〜第3の入力信号IN1〜IN3は、第1の出力信号〜第3の出力信号OUT1〜OUT3とは異なった型式の電気信号となり得る。例えば、第1の入力信号〜第3の入力信号IN1〜IN3は電流信号となり得、そして第1の出力信号〜第3の出力信号OUT1〜OUT3は電圧信号となり得、またその逆の場合もあり得る。
【0021】
第1の信号チャネル〜第3の信号チャネル2a〜2cは、第1の入力信号〜第3の入力信号IN1〜IN3をそれぞれ増幅するための増幅器を含み得る。例えば、第1の信号チャネル2aは、チャネル回路6を使用して処理するために第1の入力信号IN1を適切な水準まで増幅するために使用され得る増幅器5を含み得る。チャネル回路6はまた、第1の入力信号IN1を処理するために増幅器5と併せて使用され得るフィードバック回路を含み得る。例えば、チャネル回路6は、積分器として動作するように増幅器5を構成するために、フィードバック回路を含み得る。したがって、特定の実装例において、増幅器5およびチャネル回路6は第1の入力信号IN1を積分および/または別の方法で処理するために使用され得る。
【0022】
第1の出力信号〜第3の出力信号OUT1〜OUT3それぞれは、1つの信号要素および1つの誤差要素を含み得る。例えば、第1の信号チャネル2aのノイズ源および/または体系的なオフセットは第1の出力信号OUT1に誤差をもたらし得る。CDS回路4は、第1の信号チャネル2aの出力ノイズを低減するために使用され得る。例えば、CDS回路4は第1の時間インスタンスt
1および第2の時間インスタンスt
2で増幅器5により生成される増幅信号をサンプリングし、第1の出力信号OUT1を生成するためにサンプル間の差を得るように構成される。CDS回路4は、コモンモード誤差の原因を除去することによって電子システム10のコモンモード誤差を低減し得る。例えば、第1のサンプルおよび第2のサンプルの両方に存在するコモンモード誤差の原因は、CDS回路4が第1のサンプルと第2のサンプルとの間の差を計算するときに、除去され得る。当業者が理解することとして、CDS回路4は、直接的にまたはチャネル回路6の1つ以上の構成要素を介して、増幅器により生成される増幅信号をサンプリングするために使用され得る。
【0023】
図2は電子システム20の別の事例の模式的なブロック図である。電子システム20は光ダイオードセンサ21および信号チャネル22を含む。信号チャネル22はCDS回路24、増幅器25、およびチャネル回路26を含む。CDS回路24は第1のサンプリングスイッチ31、第2のサンプリングスイッチ32、第1のサンプリングコンデンサ33、第2のサンプリングコンデンサ34、および減算器35を含む。チャネル回路26はフィードバックコンデンサ27およびフィードバックスイッチ28を含む。
【0024】
増幅器25は、電圧基準部V
REFに電気的に接続される非反転入力と、光ダイオードセンサ21、フィードバックコンデンサ27の第1の端部、およびフィードバックスイッチ28の第1の端部に電気的に接続される反転入力と、を含む。増幅器25は、積分電圧V
INTを生成するように構成されるノードで、フィードバックコンデンサ27の第2の端部、フィードバックスイッチ28の第2の端部、第1のサンプリングスイッチ31の第1の端部、および第2のサンプリングスイッチ32の第1の端部に電気的に接続される出力をさらに含む。第1のサンプリングスイッチ31は、第1のサンプリングコンデンサ33の第1の端部および減算器35の第1の入力に電気的に接続される第2の端部をさらに含み、第2のサンプリングスイッチ32は、第2のサンプリングコンデンサ34の第1の端部および減算器35の第2の入力に電気的に接続される第2の端部をさらに含む。第1および第2のサンプリングコンデンサ33、34それぞれは、例えば、グランド供給またはグランドノードとなり得る第1の電圧供給V
1に電気的に接続される第2の端部をさらに含む。減算器35は、出力電圧V
OUTを生成するよう構成される出力をさらに含む。
【0025】
電子システム20は光ダイオードセンサ21からの光電流I
INを積分するために使用され得る。例えば、フィードバックスイッチ28が開放されている状態または高インピーダンス状態のときに、光電流I
INはフィードバックコンデンサ27に流入あるいは流出し得、そして積分電圧V
INTは光電流I
INの時間的積分値とフィードバックコンデンサ27のキャパシタンスの逆数の積にほぼ等しくなり得る。フィードバックスイッチ28は積分器をリセットするために、閉鎖または低インピーダンス状態に移行され得る。
【0026】
フィードバックコンデンサ27は、約0.1pF〜約10pFの範囲で選択されるキャパシタンスのような任意の適切なキャパシタンスを有し得る。しかしながら、当業者がその他の適用可能なキャパシタンス値を容易に判断する。
【0027】
CDS回路4は増幅器25の出力により生成される積分電圧V
INTをサンプリングするために使用され得る。例えば、第1のサンプリングスイッチ31は、第1のサンプリングコンデンサ33の両端の積分電圧V
INTをサンプリングするために第1の時間インスタンスt
1で閉鎖され得、そして第2のサンプリングスイッチ32は、第2のサンプリングコンデンサ34の両端の積分電圧V
INTをサンプリングするために第2の時間インスタンスt
2で閉鎖され得る。減算器35は、出力電圧V
OUTを生成するために、第1のサンプリングコンデンサ33の両端の電圧と第2のサンプリングコンデンサ34の両端の電圧との間の差を得るために使用され得る。一実施形態において、CDS回路4は、約1μs〜約100μsの範囲のサンプリング窓上で積分電圧V
INTを二重サンプリングするように構成される。しかしながら、当業者が、その他の持続時間のサンプリング窓が使用され得ることを容易に理解する。ここで使用されるときには、CDS回路4のサンプリング窓は、第2の時間インスタンスt
2と第1の時間インスタンスt
1との差、またはt
2−t
1を示し得る。
【0028】
積分電圧V
INTを二重サンプリングすることで、第1のサンプリングコンデンサ33の両端の電圧および第2のサンプリングコンデンサ34の両端の電圧に共通の誤差成分を取り去るまたは除去することにより、電子システム20のコモンモード誤差を低減し得る。CDS回路4はここで説明される信号チャネルに使用され得るサンプリング回路の一例を例示しているが、サンプリング回路のその他の構成が使用され得る。
【0029】
増幅器25は、電子システム20に対する誤差に寄与し得る。例えば、増幅器25のバイアス電流に関連するノイズは信号チャネル22の出力ノイズに寄与し得る。CDS回路24の相関二重サンプリング動作は第1のサンプリングコンデンサ33を使用して得られるサンプルおよび第2のサンプリングコンデンサ34を使用して得られるサンプルの両方に存在する誤差を低減または除去し得るが、サンプル間の増幅器のバイアス電流の差が、サンプルごとに異なった誤差成分を有する結果となり得、これについては後段でさらに詳細に説明される。したがって、CDS回路24の相関二重サンプリング動作は、増幅器25のバイアス電流ノイズに関連する出力ノイズを除去するには十分ではない可能性がある。
【0030】
増幅器25の誤差に対する寄与は、増幅器が非対称構成で電気的に接続される実装例において悪化し得る。例えば、
図2に示されているように、チャネル回路26は増幅器25の入力と出力との間にフィードバック経路を含み、フィードバック経路は積分電圧V
INTに結合するノイズを許し得る。フィードバック経路が入力のうちの1つのみと出力との間に存在する可能性があることから、増幅器25が差動的に動作する場合でも、積分電圧V
INTは増幅器のバイアス電流ノイズに関連する誤差成分を有し得る。
【0031】
信号チャネル22の一例が
図2に例示されているが、ここで説明されているノイズ低減方式は、例えば、チャネル回路および/またはサンプリング回路の異なった構成を含む信号チャネルを含む、または増幅器25が他の手法で接続される構成で、異なった型式の信号チャネルと組み合わせ得る。
【0032】
図3は信号チャネル40の一実施形態の模式的なブロック図である。信号チャネル40はCDS回路4、チャネル回路26、および増幅器41を含む。
【0033】
増幅器41は、入力信号INを受信するように構成される第1の入力、基準電圧V
REFを受信するように構成される第2の入力、ならびにCDS回路4およびチャネル回路26に電気的に接続される出力を含む。増幅器41の出力は積分電圧V
INTを生成するように構成される。チャネル回路26は、増幅器41の第1の入力および増幅器41の出力との間で電気的に並列に接続されるフィードバックコンデンサ27およびフィードバックスイッチ28を含む。CDS回路4およびチャネル回路26の追加的な記述については上述される。
【0034】
増幅器41は、第1のp型金属酸化膜半導体(PMOS)入力トランジスタ43、第2のPMOS入力トランジスタ44、バッファステージ45、負荷ブロック46、およびバイアス回路49を含む。バイアス回路49は、電圧制御電流源50、バイアススイッチ51、およびバイアスコンデンサ52を含む。ここで用いられ、当業者が理解することとして、MOSトランジスタは、ポリシリコンなどの金属以外の材料で製造されるゲートを有し得、そしてシリコン酸化物のみならず、高k誘導体などのその他の誘導体で実装される誘電体領域を有し得る。
【0035】
第1のPMOS入力トランジスタ43は入力信号INに電気的に接続されるゲートならびにバッファステージ45の非反転入力および負荷ブロック46の第1の端子に電気的に接続されるドレインを含む。第2のPMOS入力トランジスタ44は基準電圧V
REFに電気的に接続されるゲートならびにバッファステージ45の反転入力および負荷ブロック46の第2の端子に電気的に接続されるドレインを含む。第1のPMOS入力トランジスタ43は、第2のPMOS入力トランジスタ44の電源および電圧制御電流源50の出力端子に電気的に接続される電源をさらに含む。
【0036】
電圧制御電流源50は、例えば、正電源となり得る第2の電圧供給V
2に電気的に接続される入力端子をさらに含む。電圧制御電流源50は、バイアススイッチ51の第1の端部およびバイアスコンデンサ52の第1の端部に電気的に接続される制御端子をさらに含む。バイアススイッチ51は、第1のバイアス電圧V
BIAS1に電気的に接続される第2の端部をさらに含む。バイアスコンデンサ52は、低ノイズ電源またはグランド供給のような任意の適切な電圧となり得る第3の電圧供給V
3に電気的に接続される第2の端部をさらに含む。
図3はバイアスコンデンサ52の可能な一構成を例示しているが、バイアスコンデンサ52はその他の方法で接続され得る。例えば、特定の実装例では、バイアスコンデンサ52の第2の端部は、第1の電圧供給V
1または第2の電圧供給V
2に電気的に接続される。
【0037】
バッファステージ45は増幅器41に含まれ得、そして増幅器41の動作を改善するために使用され得る。例えば、バッファステージ45は、増幅器41の全体のゲインを増大するため、差動入力信号を併用してシングルエンド出力信号を生成するために、および/または増幅器41の出力インピーダンスを高めるために使用され得る。
図3はバッファステージ45を含む構成を例示しているが、特定の実装例においては、バッファステージ45が割愛され得る。
【0038】
負荷ブロック46は、例えば、能動負荷および/または受動負荷を含む、任意の適切な負荷となり得る。特定の実装例において、負荷ブロック46は、第1のPMOS入力トランジスタおよび第2のPMOS入力トランジスタ43、44のドレイン電流の差を、バッファステージ45の入力を駆動するために適切な差動電圧に変換するように構成される1つ以上の抵抗体を含む。
【0039】
図3に示されているとおり、電圧制御電流源50は、第1のPMOS入力トランジスタおよび第2のPMOS入力トランジスタ43、44をバイアスするためのバイアス電流I
BIASを生成するように構成される。例えば、電圧制御電流源50の出力端子は、制御端子の電圧水準に基づいた大きさを有するバイアス電流I
BIASを生成し得る。電圧制御電流源50の制御端子がバイアスコンデンサ52に電気的に連結されていることから、バイアスコンデンサ52の両端の電圧はバイアス電流I
BIASの大きさを制御するために使用され得る。
【0040】
増幅器41のバイアス電流I
BIASに関連するノイズは信号チャネル40の出力ノイズに寄与し得る。例えば、バイアス電流I
BIASの変動は、第1のPMOS入力トランジスタおよび 第2のPMOS入力トランジスタ43、44の電源における電圧を変化させ得る。第1のPMOS入力トランジスタおよび第2のPMOS入力トランジスタ43、44は、特定のコモンモードノイズ源が増幅器41の出力に到達するのを低減または排除し得る差動構成において電気的に接続される。しかしながら、増幅器41が信号チャネル40内で非対称的に接続されるとき、すなわち、増幅器41の入力の1つがフィードバック経路を介して増幅器41の出力に接続されるときなど、バイアス電流I
BIASのノイズが信号チャネル40の出力ノイズに強い影響を与え得る。例えば、第1のPMOS入力トランジスタ43は寄生ゲートソースキャパシタンス48を有し得、そしてバイアス電流I
BIASに関連するノイズは寄生ゲートソースキャパシタンス48およびフィードバックコンデンサ27を介して連結し得、そしてCDS回路4の入力に到達し得る。CDS回路4は、第1の時間インスタンスt
1および第2の時間インスタンスt
2で積分電圧V
INTをサンプリングし、それによって両方のサンプルに存在する誤差を除去し得るが、ノイズが原因となり、バイアス電流I
BIASが、第1の時間インスタンスおよび第2の時間インスタンスt
1、t
2との間で変化する可能性がある。
【0041】
バイアス回路49は増幅器41のバイアス電流I
BIASに関連するノイズを低減するために使用され得る。例えば、CDS回路4が増幅器41の出力を二重サンプリングする第1の時間インスタンスt
1および第2の時間インスタンスt
2との間で、電圧制御電流源50の制御端子の電圧が実質的に一定に保持されるように、バイアススイッチ51はバイアスコンデンサ52上に第1のバイアス電圧V
BIAS1をサンプリングするよう構成され得る。
【0042】
バイアスコンデンサ52はバイアスコンデンサ52上に第1のバイアス電圧V
BIAS1をサンプリングすることに関連するサンプリング誤差を有し得るが、サンプリング誤差は、CDS回路4のサンプリング窓(t
2−t
1)上で一定になり得る。CDS回路4が第1のサンプルおよび第2のサンプルに共通する誤差を除去するための第1のサンプルおよび第2のサンプルとの間の差を得ることができることから、CDS回路4は、バイアスコンデンサ52上に第1のバイアス電圧V
BIAS1をサンプリングすることに関連するサンプリング誤差を除去するために使用され得る。したがって、バイアス電流I
BIASの生成に関連する信号チャネル40の出力ノイズの一部が低減または排除され得る。
【0043】
特定の実装例において、バイアススイッチ51は、バイアスコンデンサ52上に第1のバイアス電圧V
BIAS1をサンプリングするために、第1のサンプリング時間インスタンスt
1の前の時間インスタンスt
0で閉鎖状態から開放状態に移行するよう構成され得る。バイアススイッチ51は、CDS回路4のサンプリング窓(t
2−t
1)全体を通じて開放状態を維持し得、それによってCDS回路4の二重サンプリング動作中に第1のバイアス電流I
BIASを実質的に一定に保持する。バイアススイッチ51は、第2のサンプリング時間インスタンスt
2の後の時間インスタンスt
3で閉鎖状態に戻る処理をするよう構成され得る。
【0044】
一実施形態において、バイアススイッチ51は、フィードバックスイッチ28を制御するために使用されるタイミング信号を使用して制御される。したがって、フィードバックスイッチ28が積分をリセットするために閉鎖されるときに、バイアススイッチ51は閉鎖され得、そしてフィードバックスイッチ28が積分を開始するために開放されるときに、バイアススイッチ51は開放され得る。しかしながら、その他のタイミング構成が使用され得る。
【0045】
バイアススイッチ51は、例えば、1つ以上のトランジスタ素子を使用することを含み、様々な手法で実装され得る。例えば、特定の実装例において、バイアススイッチ51は電界効果トランジスタ(FET)を使用して実装される。しかしながら、その他の実装が可能となる。
【0046】
バイアスコンデンサ52は、約1pF〜約10pFの範囲で選択されるキャパシタンスのような任意の適切なキャパシタンスを有し得る。しかしながら、当業者は、バイアスコンデンサ52のキャパシタンスは、電圧制御電流源50の実装例および/または信号チャネル40の型式のような、様々の要因に依存し得ることを理解する。
【0047】
電圧制御電流源50は任意の適切な電流源を使用して実装され得る。例えば、電圧制御電流源50は、FETのゲート電圧がFETのドレイン電流を制御するために使用されるMOSトランジスタおよび/または接合電界効果トランジスタ(JFET)のようなFETを使用して、実装され得る。しかしながら、例えば、バイポーラトランジスタ構成を含むその他の構成が可能である。例えば、バイポーラトランジスタのベースエミッタ間電圧がトランジスタのエミッタ電流を制御するために使用され得る。電圧制御電流源50のバイポーラトランジスタ実装例において、バイポーラトランジスタのベース電流が、CDS回路4のサンプリング窓(t
2−t
1)中に、バイアスコンデンサ52の両端の電圧を実質的に変化させないように、バイアスコンデンサ52は、相対的に大量のキャパシタンスを有するように構成され得る。
【0048】
図3は、出力信号を生成するための入力信号を積分するように構成される信号チャネルの上でのノイズ低減方式を例示しているが、ここでの教示は、入力信号をその他の方法で処理する信号チャネルに適用可能である。例えば、ここでの教示は、例えば、1つ以上の入力信号の逆算、減算、乗算、微分、および/または積分のような数学的演算を実行するように構成される増幅器を含む、入力信号を処理するための増幅器を含む多様な信号チャネルに適用可能となる。
【0049】
図4は信号チャネル60の別の実施形態の模式的なブロック図である。信号チャネル60はCDS回路4、チャネル回路26、および増幅器61を含む。
【0050】
増幅器61は、入力信号INを受信するように構成される第1の入力、基準電圧V
REFを受信するように構成される第2の入力、ならびにCDS回路4およびチャネル回路26に電気的に接続される出力を含む。増幅器61の出力は積分電圧V
INTを生成するように構成される。チャネル回路26は、増幅器61の第1の入力と増幅器61の出力との間に電気的に並列に接続されるフィードバックコンデンサ27およびフィードバックスイッチ28を含む。CDS回路4およびチャネル回路26の追加的な記述については上述される。
【0051】
増幅器61は、第1のPMOS入力トランジスタ43、第2のPMOS入力トランジスタ44、バッファステージ45、第1の負荷抵抗器63、第2の負荷抵抗器64、およびバイアス回路69を含む。バイアス回路69は、第1のPMOSバイアストランジスタ〜第4のPMOSバイアストランジスタ65〜68、電流源70、バイアススイッチ71、およびバイアスコンデンサ72を含む。
【0052】
第1の負荷抵抗器63はバッファステージ45の非反転入力および第1のPMOS入力トランジスタ43のドレインに電気的に接続される第1の端部を含む。第2の負荷抵抗器64は、バッファステージ45の反転入力および第2のPMOS入力トランジスタ44のドレインに電気的に接続される第1の端部を含む。第1の負荷抵抗器および第2の負荷抵抗器63、64それぞれは、第1の電圧供給V
1に電気的に接続される第2の端部をさらに含む。
【0053】
第1の負荷抵抗器および第2の負荷抵抗器63、64は、第1のPMOS入力トランジスタおよび第2のPMOS入力トランジスタ43、44のドレイン電流の差を、バッファステージ45の非反転入力および反転入力を駆動するのに適切な作動電圧に変換することを補助し得る。一実施形態において、第1の負荷抵抗器および第2の負荷抵抗器63、64それぞれは、約1kΩ〜約100kΩまでの範囲で選択される抵抗を有する。しかしながら、第1の負荷抵抗器および第2の負荷抵抗器63、64の抵抗は様々な要因に依存し得、そしてその他の抵抗値が当業者によって容易に決定される。例えば、一実施形態において、ゲートから第1のPMOS入力トランジスタおよび第2のPMOS入力トランジスタ43、44のドレインまでの電圧のゲインが約5〜約50の範囲にあるようにするために、第1の負荷抵抗器および第2の負荷抵抗器63、64の抵抗が選択される。
【0054】
第1のPMOS入力トランジスタ43は、入力信号INに電気的に接続されるゲートをさらに含む。第2のPMOS入力トランジスタ44は、基準電圧V
REFに電気的に接続されるゲートをさらに含む。第2のPMOS入力トランジスタ44は、第1のPMOS入力トランジスタ43の電源および第1のPMOSバイアストランジスタ65のドレインに電気的に接続される電源をさらに含む。
【0055】
第1のPMOSバイアストランジスタ65は、第2のPMOSバイアストランジスタ66のドレインに電気的に接続される電源および第3のPMOSバイアストランジスタ67のゲートに電気的に接続されるゲートをさらに含む。第2のPMOSバイアストランジスタ66は、第2の電圧供給V
2に電気的に接続される電源ならびにバイアススイッチ71の第1の端部およびバイアスコンデンサ72の第1の端部に電気的に接続されるゲートをさらに含む。バイアスコンデンサ72は第2の電圧供給V
2に電気的に接続される第2の端部をさらに含む。第3のPMOSバイアストランジスタ67は、第1のバイアス電圧V
BIAS1を生成するように構成されるノードで、第4のPMOSバイアストランジスタ68のドレインに電気的に接続される電源と、電流源70の第1の端子、第4のPMOSバイアストランジスタ68のゲートおよびバイアススイッチ71の第2の端部に電気的に接続されるドレインと、をさらに含む。第4のPMOSバイアストランジスタ68は第2の電圧供給V
2に電気的に接続される電源をさらに含み、電流源70は第1の電圧供給V
1に電気的に接続される第2の端子をさらに含む。
【0056】
バイアス回路69は、第1のPMOS入力トランジスタおよび第2のPMOS入力トランジスタ43、44をバイアスするためのバイアス電流I
BIASを生成するように構成される。バイアス電流I
BIASの大きさはバイアスコンデンサ72の両端の電圧に基づいて制御され得る。例えば、第2のPMOSバイアストランジスタ66のゲート電圧は、バイアスコンデンサ72の両端の電圧に基づいて制御され得る。バイアススイッチ71はバイアスコンデンサ72上に第1のバイアス電圧V
BIAS1をサンプリングするために使用され得、それによってバイアス電流I
BIASの大きさを制御する。バイアス電流I
BIASに関連するノイズが信号チャネル60の出力に到達するのを低減するために、バイアススイッチ71はバイアスコンデンサ72上に第1のバイアス電圧V
BIAS1をサンプリングし、そしてCDS回路4が増幅器61の出力を二重サンプリングする第1の時間インスタンスt
1および第2の時間インスタンスt
2との間でバイアス電流I
BIASを実質的に一定に保持するように構成され得る。
【0057】
例示されるバイアス回路69はカスコード構成で実装され、そこで第1のPMOSバイアストランジスタ65のチャネルは、第2のPMOSバイアストランジスタ66のチャネルと第1のPMOS入力トランジスタおよび第2のPMOS入力トランジスタ43、44の電源との間の信号経路に配置される。カスコード構成のバイアス回路69を実装することで、バイアス回路69の出力インピーダンスを高め、第2の供給電圧V
2のノイズがCDS回路4の入力に到達するのを防止するのを補助する。
【0058】
第1のPMOSバイアストランジスタ〜第4のPMOSバイアストランジスタ65〜69および電流源70は、電流源70の電流I
REFをミラーリングするための電流ミラーとして動作し、バイアス電流I
BIASを生成し得る。増幅器61の電力消費の低減を補助するために、第1のPMOSバイアストランジスタおよび第2のPMOSバイアストランジスタ65、66は、第3のPMOSバイアストランジスタおよび第4のPMOSバイアストランジスタ67、68それぞれより大きなサイズを有し、それによって基準電流I
REFを増幅し得る。例えば、一実施形態において、バイアス回路69は、約8〜約40の間の範囲の係数によって基準電流I
REFを増幅し、バイアス電流I
BIASを生成し得る。しかしながら、その他の構成が可能である。
【0059】
バイアス回路69がゲインを持つミラー電流として動作するように構成することで、バイアス電流I
BIASの生成に関連する電力消費を低減し得る。しかしながら、バイアス回路69が基準電流I
REFの増幅を提供するように構成することはまた基準電流I
REFのノイズを増幅し得る。例えば、ノイズによる基準電流I
REFのΔIの変化により、nが電流ミラーのゲインである場合に、バイアス電流I
BIASはn*ΔI変化し得る。
【0060】
基準電流I
REFのノイズが信号チャネル60の出力に到達するのを低減または排除するために、バイアススイッチ71はバイアスコンデンサ72上に第1のバイアス電圧V
BIAS1をサンプリングし、バイアスコンデンサ72の両端の電圧を、CDS回路4のサンプリング窓(t
2−t
1)上で実質的に一定に保持するように構成され得る。
【0061】
バイアスコンデンサ72はバイアスコンデンサ72上に第1のバイアス電圧V
BIAS1をサンプリングすることに関連するサンプリング誤差を有し得るが、サンプリング誤差はCDS回路4のサンプリング窓(t
2−t
1)上で一定となり得る。CDS回路4は第1のサンプルおよび第2のサンプルに共通する誤差を除去するために第1のサンプルと第2のサンプルとの間の差を得ることができることから、CDS回路4は、バイアスコンデンサ72上に第1のバイアス電圧V
BIAS1をサンプリングすることに関連するサンプリング誤差を除去するために使用され得る。したがって、例え、基準電流I
REFのノイズにより第1のバイアス電圧V
BIAS1が時間と共に相対的に大きく変動する実装例であっても、信号チャネル60の出力ノイズは相対的に少量になり得る。このように、ここで説明されるバイアス方式は、信号チャネルに低出力ノイズおよび低電力消費を提供するために使用され得る。
【0062】
図5は信号チャネル80のさらに別の実施形態の模式的なブロック図である。信号チャネル80はCDS回路4、チャネル回路26、および増幅器81を含む。
【0063】
増幅器81は、入力信号INを受信するように構成される第1の入力、基準電圧V
REFを受信するように構成される第2の入力、ならびにCDS回路4およびチャネル回路26に電気的に接続される出力を含む。増幅器81の出力は積分電圧V
INTを生成するように構成される。チャネル回路26は、増幅器81の第1の入力と増幅器81の出力との間に電気的に並列に接続されるフィードバックコンデンサ27およびフィードバックスイッチ28を含む。CDS回路4およびチャネル回路26の追加的な記述については上述される。
【0064】
増幅器81は、第1のPMOS入力トランジスタ43、第2のPMOS入力トランジスタ44、バッファステージ45、バイアス回路69、第1のスイッチ82、第2のスイッチ83、第1のn型MOS負荷トランジスタ85、第2のNMOS負荷トランジスタ86、第1のコンデンサ87、および第2のコンデンサ88を含む。
【0065】
図5の増幅器81は、増幅器61の第1の負荷抵抗器および第2の負荷抵抗器63、64が第1のNMOS負荷トランジスタおよび第2のNMOS負荷トランジスタ85、86に置き換えられることと、
図5の増幅器81が第1のスイッチおよび第2のスイッチ82、83ならびに第1のコンデンサおよび第2のコンデンサ87、88をさらに含むように適合されることと、を除いて、増幅器61に類似し得る。
【0066】
第1のNMOS負荷トランジスタ85は、第1の電圧供給V
1に電気的に接続される電源ならびに第1のPMOS入力トランジスタ43のドレインおよび出力ステージ45の非反転入力に電気的に接続されるドレインを含む。第2のNMOS負荷トランジスタ86は、第1の電圧供給V
1に電気的に接続される電源、ならびに第2のPMOS入力トランジスタ44のドレインおよび出力ステージ45の反転入力に電気的に接続されるドレインを含む。第1のNMOS負荷トランジスタ85は、第2のNMOS負荷トランジスタ86のゲート、第1のコンデンサ87の第1の端部、および第1のスイッチ82の第1の端部に電気的に接続されるゲートを含む。第1のコンデンサ87は第1の電圧供給V
1に電気的に接続される第2の端部をさらに含み、第1のスイッチ82は第2のバイアス電圧V
BIAS2に電気的に接続される第2の端部をさらに含む。第2のスイッチ83は、基準電圧V
REFに電気的に接続される第1の端部ならびに第2のコンデンサ88の第1の端部および第2のPMOS入力トランジスタ44のゲートに電気的に接続される第2の端部を含む。第2のコンデンサ88は第1の電圧供給V
1に電気的に接続される第2の端部をさらに含む。
【0067】
図5に示されているとおり、複数のバイアス電圧および/または基準電圧が、信号チャネル80の出力ノイズ上の増幅器81のノイズの影響を低減するためにサンプリングされ得る。例えば、
図4に関して上述されているように、バイアス回路69にバイアススイッチ71およびバイアスコンデンサ72を含めることに加え、増幅器81は、信号チャネル80の出力ノイズを低減するのを補助し得る、第1のスイッチおよび第2のスイッチ82、83、ならびに第1のコンデンサおよび第2のコンデンサ87、88をさらに含む。例えば、第2のバイアス電圧V
BIAS2のノイズが信号チャネル80の出力に到達するのを低減または排除するのを補助するために、第1のスイッチ82は、第2のバイアス電圧V
BIAS2を第1のコンデンサ87上にサンプリングし、第1のコンデンサ87の両端の電圧をCDS回路4のサンプリング窓(t
2−t
1)上で実質的に一定に保持するように構成され得る。同様に、第2のスイッチ83は、基準電圧V
REFを第2のコンデンサ88上にサンプリングし、第2のコンデンサ88の両端の電圧をCDS回路4のサンプリング窓(t
2−t
1)上で実質的に一定に保持するように構成され得る。したがって、ここで説明される特定の実装例において、信号チャネルの出力ノイズを低減するために、増幅器の1つ以上のバイアス信号および/または基準信号がサンプリングされ、CDS回路4のサンプリング窓(t
2−t
1)上で一定に保持される増幅器が提供される。
【0068】
図6は信号チャネル100のさらに別の実施形態の模式的なブロック図である。信号チャネル100はCDS回路4、チャネル回路26、および増幅器101を含む。
【0069】
増幅器101は、入力信号INを受信するように構成される第1の入力、基準電圧V
REFを受信するように構成される第2の入力、ならびにCDS回路4およびチャネル回路26に電気的に接続される出力を含む。増幅器101の出力は積分電圧V
INTを生成するように構成される。チャネル回路26は、増幅器101の第1の入力と増幅器101の出力との間に電気的に並列に接続されるフィードバックコンデンサ27およびフィードバックスイッチ28を含む。CDS回路4およびチャネル回路26の追加的な記述については上述されている。
【0070】
増幅器101はバッファステージ45、負荷ブロック46、第1のp型JFET102、第2のp型JFET103、およびバイアス回路109を含む。バイアス回路109はバイアススイッチ51、バイアスコンデンサ52、およびPNPバイポーラトランジスタ104を含む。
【0071】
図6の増幅器101は
図3の増幅器41と類似する。しかしながら、差動対として第1のPMOS入力トランジスタおよび第2のPMOS入力トランジスタ43、44を使用する
図3の増幅器41とは対照的に、
図6の増幅器101は、差動対として第1のp型JFETおよび第2のp型JFET102、103を使用する。当業者が理解することとして、ここでの教示は、FET構成およびバイポーラトランジスタ構成を含む広範囲の増幅器の構成に適用可能である。さらに、
図3〜6に示されている差動対はp型として例示されているが、ここでの教示はn型の差動対を含む増幅器に適用可能である。
【0072】
図6のバイアス回路109が、電圧制御電流源として、バイポーラトランジスタ104を使用していることで、
図6の増幅器101はまた
図3の増幅器41とは異なっている。電圧制御電流源のバイポーラトランジスタ実装例においては、バイポーラトランジスタのベース電流が、CDS回路4のサンプリング窓(t
2―t
1)中にバイアスコンデンサ52の両端の電圧を実質的に変更しないように、バイアスコンデンサ52は相対的に大きなキャパシタンスを有するように構成され得る。例えば、バイアスコンデンサ52の両端の電圧がCDS回路4のサンプリング窓(t
2―t
1)中に約10μV未満で変化するように、バイアスコンデンサ52はサイズ調整され得る。しかしながら、当業者はその他の電圧値を容易に確認する。
【0073】
上述の説明および主張は、共に「接続される」または「結合される」として構成要素または特徴を参照する場合がある。ここで使用されるときには、別段の明示的な表記がない限り、「接続される」とは、ある構成要素/特徴が直接的または間接的にその他の構成要素/特徴と、必ずしも機械的にではなく、接続されることを意味する。同様に、別段の明示的な表記がない限り、「結合される」とは、ある構成要素/特徴が直接的または間接的にその他の構成要素/特徴と、必ずしも機械的にではなく、結合されることを意味する。このことにより、図に示されている様々な方式は構成要素および構成部分について事例的な取り合わせを示しているが、追加的に介在する構成要素、装置、特徴、または構成部分が実際の実施形態に存在してもよい(示されている回路の機能性が悪影響を受けないという前提で)。
適用
【0074】
上述の方式を採用する装置は様々な電子装置に実装され得る。電子装置の事例は、家電製品に限らず、家電製品の部品、電子試験装置、医療電子製品等を含み得る。電子装置の事例はまた、メモリチップ、メモリモジュール、光学ネットワークまたはその他の通信ネットワークの回路、およびディスク駆動回路等を含み得る。家電製品は、これらに限定されないが、携帯電話、電話、テレビ、コンピュータ用モニタ、コンピュータ、携帯用コンピュータ、携帯情報端末(PDA)、電子レンジ、冷蔵庫、自動車、ステレオシステム、カセットレコーダまたはカセットプレーヤ、DVDプレーヤ、CDプレーヤ、VCRプレーヤ、MP3プレーヤ、ラジオ、カムコーダ、カメラ、デジタルカメラ、携帯用メモリチップ、洗濯機、乾燥機、洗濯/乾燥機、コピー機、ファクシミリ機、スキャナ、多機能周辺機器、腕時計、時計等を含み得る。医療電子製品は、これらに限定されないが、デジタルX線検査機、CT(コンピュータ断層撮影)スキャナ、超音波システム、MRI(核磁気共鳴画像法)システム等を含み得る。さらに、電子装置は半製品を含み得る。
【0075】
本発明を特定の実施形態について説明したが、本明細書に記載される特徴および利点のすべてを提供しない実施形態を含む、当業者にとって明白な他の実施形態もまた、本発明の範囲内にある。さらに、上述される様々な実施形態を組み合わせて、さらなる実施形態を提供することができる。加えて、一実施形態に関連して示される特定の特徴が、他の実施形態に組み込まれてもよい。したがって、本発明の範囲は付随の特許請求の範囲を参照することによってのみ定義される。