特許5946836質量分析計によって試料を迅速にスクリーニングするためシステムおよび方法

発明の名称　質量分析計によって試料を迅速にスクリーニングするためシステムおよび方法

出願人　ディーエイチ　テクノロジーズ　デベロップメント　プライベート　リミテッド　（識別番号 510075457）

　　　　特許公開件数ランキング 14438 位（1件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 1223 位（6件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-5946836

公報発行日　2016年7月6

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-5946836

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