特許 5958987 情報処理装置、故障診断制御装置、故障判定方法、故障判定プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】5958987

(24)【登録日】2016年7月1日

(45)【発行日】2016年8月2日

(54)【発明の名称】情報処理装置、故障診断制御装置、故障判定方法、故障判定プログラム

(51)【国際特許分類】

   G06F 11/22 20060101AFI20160719BHJP

   G06F 11/00 20060101ALI20160719BHJP

【ＦＩ】

   G06F11/22 675C

   G06F11/00 608

【請求項の数】8

【全頁数】18

(21)【出願番号】特願2012-21935(P2012-21935)

(22)【出願日】2012年2月3日

(65)【公開番号】特開2013-161211(P2013-161211A)

(43)【公開日】2013年8月19日

【審査請求日】2015年1月8日

(73)【特許権者】

【識別番号】000227205

【氏名又は名称】ＮＥＣプラットフォームズ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100106909

【弁理士】

【氏名又は名称】棚井 澄雄

(74)【代理人】

【識別番号】100134544

【弁理士】

【氏名又は名称】森 隆一郎

(74)【代理人】

【識別番号】100150197

【弁理士】

【氏名又は名称】松尾 直樹

(72)【発明者】

【氏名】有井 宏之

【審査官】 三坂 敏夫

(56)【参考文献】

【文献】 特開２００８−１１７１４５（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００４−２４６４６８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平１０−３２０２４１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平０９−３０７６３５（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１１−０１３９５３（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平１０−０３４１２２（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１１−１５４５２６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００７−１９９８４４（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００７−０８６９０８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００４−２０６１６６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００３−５０６１８（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０６Ｆ １１／２２

Ｇ０６Ｆ １１／００

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

交換可能な複数のハードウェアユニットと、前記ハードウェアユニットを診断するための故障診断制御部とを具備した情報処理装置であって、
前記各ハードウェアユニットは、当該ハードウェアユニットの通電時間の累積をカウントして保持する通電時間カウント部を有し、
前記故障診断制御部は、
前記ハードウェアユニットからの障害情報を検出すると、前記ハードウェアユニットからの障害情報から故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニットに跨るか否かに基づいて障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できるか否かを判定し、前記障害の部位が複数のハードウェアユニットに跨る場合には障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できないと判定して、前記故障原因の可能性のある部位それぞれについての故障率に基づいて、障害の被疑となるハードウェアユニットを決定する故障解析部と、
前記通電時間カウント部に保持されている通電時間の累積と、前記ハードウェアユニットの部位毎の前記通電時間に対する故障率曲線に関する情報とに基づいて、前記ハードウェアユニットに含まれる部位のうち前記故障原因の可能性のある部位の前記故障率を算出する故障率算出部と、を有する
ことを特徴とする情報処理装置。

【請求項2】

更に、前記ハードウェアユニットの部位毎に通電時間に対する故障率曲線に関する情報を保持する故障率特性保持部を有する
ことを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置。

【請求項3】

前記故障率特性保持部は、前記各ハードウェアユニットの部位毎に通電時間に対する故障率曲線をデータとして保持する
ことを特徴とする請求項２に記載の情報処理装置。

【請求項4】

前記故障率特性保持部は、前記各ハードウェアユニットの部位毎に通電時間に対する故障率曲線を数式で求めるためのパラメータを保持する
ことを特徴とする請求項２に記載の情報処理装置。

【請求項5】

前記故障率特性保持部は、前記故障診断制御部に設けられ、前記ハードウェアユニットの部位毎に通電時間に対する故障率曲線に関する情報を一括して保持することを特徴とする請求項２乃至４の何れかに記載の情報処理装置。

【請求項6】

通電時間の累積をカウントして保持する通電時間カウント部を備えた複数のハードウェアユニットを交換可能に実装した情報処理装置の診断を行う故障診断制御装置であって、
前記ハードウェアユニットからの障害情報を検出すると、前記ハードウェアユニットからの障害情報から故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニットに跨るか否かに基づいて障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できるか否かを判定し、前記障害の部位が複数のハードウェアユニットに跨る場合には障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できないと判定して、前記故障原因の可能性のある部位それぞれについての故障率に基づいて、障害の被疑となるハードウェアユニットを決定する故障解析部と、
前記通電時間カウント部に保持されている通電時間の累積と、前記ハードウェアユニットの部位毎の前記通電時間に対する故障率曲線に関する情報とに基づいて、前記ハードウェアユニットに含まれる部位のうち前記故障原因の可能性のある部位の前記故障率を算出する故障率算出部と、を有する
ことを特徴とする故障診断制御装置。

【請求項7】

通電時間の累積をカウントして保持する通電時間カウント部を備えた複数のハードウェアユニットを交換可能に実装した情報処理装置の故障判定方法であって、
前記各ハードウェアユニットは、当該ハードウェアユニットの通電時間の累積をカウントして保持しており、
前記ハードウェアユニットからの障害情報を検出すると、前記ハードウェアユニットからの障害情報から故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニットに跨るか否かに基づいて障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できるか否かを判定し、前記障害の部位が複数のハードウェアユニットに跨る場合には障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できないと判定し、
前記通電時間カウント部に保持されている通電時間の累積と、前記ハードウェアユニットの部位毎の前記通電時間に対する故障率曲線に関する情報とに基づいて、前記ハードウェアユニットに含まれる部位のうち前記故障原因の可能性のある部位の故障率を算出し、
前記故障原因の可能性のある部位それぞれについての前記故障率に基づいて、障害の被疑となるハードウェアユニットを決定する
ことを特徴とする情報処理装置の故障判定方法。

【請求項8】

通電時間の累積をカウントして保持する通電時間カウント部を備えた複数のハードウェアユニットを交換可能に実装した情報処理装置に実行させる故障判定プログラムであって、
前記情報処理装置に、
前記ハードウェアユニットからの障害情報を検出すると、前記ハードウェアユニットからの障害情報から故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニットに跨るか否かに基づいて障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できるか否かを判定し、前記障害の部位が複数のハードウェアユニットに跨る場合には障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できないと判定して、前記故障原因の可能性のある部位それぞれについての故障率に基づいて、障害の被疑となるハードウェアユニットを決定する処理と、
前記通電時間カウント部に保持されている通電時間の累積と、前記ハードウェアユニットの部位毎の前記通電時間に対する故障率曲線に関する情報とに基づいて、前記ハードウェアユニットに含まれる部位のうち前記故障原因の可能性のある部位の前記故障率を算出する処理と、
を実行させる故障判定プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、故障診断機能を有する情報処理装置、故障診断制御装置、故障判定方法、故障判定プログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

故障診断機能を有するサーバ等の情報処理装置には、ハードウェアユニットが交換可能に実装されると共に、各ハードウェアユニットを診断する故障診断制御部が備えられる。このような交換可能なハードウェアユニットは、保守交換単位（ＦＲＵ：Field Replaceable Unit）と呼ばれている。また、各ＦＲＵとなるハードウェアユニットからは、障害が発生すると、障害が発生した部位に応じた障害情報が出力される。故障診断制御部は、この障害情報に基づいて、障害の発生している部位を特定し、その部位が含まれるハードウェアユニットを障害の被疑のハードウェアユニットとして判定する。保守作業員は、故障診断制御部により被疑のハードウェアユニットとして判定されたハードウェアユニットの交換を行うことで、障害に対処できる（例えば特許文献１）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２００３−１７７９３９号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

上述のように、関連技術における故障診断機能を有する情報処理装置では、故障診断制御部が、ハードウェアユニットからの障害情報に基づいて、故障原因の可能性のある部位を特定し、故障の被疑となるハードウェアユニットの絞り込みを行っている。ところが、故障の被疑となるハードウェアユニットは、常に１つに絞り込めるとは限らない。故障原因の可能性がある部位が複数のハードウェアユニットに跨がり、インターフェースエラーとなり、故障の被疑となるハードウェアユニットが１つに絞り込めない場合もある。

【0005】

故障の被疑となるハードウェアユニットが１つに絞り込めない場合、故障原因の可能性のある部位が含まれるハードウェアユニットを全て交換することが考えられる。ところが、故障原因の可能性のある部位が含まれるハードウェアユニットを全て交換すると、障害とは無関係なハードウェアユニットも交換することになり、保守費用の増大や保守交換時間の拡大につながる。

【0006】

また、特許文献１には、インターフェースエラーに対処するために、エラーチェッカーのパターンを解析すると共に、部品の故障率を解析して、被疑部品を判定することが記載されている。しかしながら、特許文献１に示されているものでは、それぞれの部位に対応する故障率を固定に設定している。これに対して、電気部品や機械部品の信頼度は、時間と共に変化する。このため、各ハードウェアユニットの部位に対して固定の故障率を設定してしまうと、故障の被疑となるハードウェアユニットの判定を誤るおそれがある。

【0007】

また、各ハードウェアユニットの部位の故障率を、過去の障害情報に基づいて更新していくことで、故障率の信頼性を高めていくことが考えられる。しかしながら、各部位の故障率を過去の障害情報に基づいて更新していくためには、プログラム変更等が必要になる。

【0008】

本発明は、上述の課題を解決することのできる情報処理装置、故障診断制御装置、故障判定方法、故障判定プログラムを提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0009】

上述の課題を解決するために、本発明に係る情報処理装置は、交換可能な複数のハードウェアユニットと、前記ハードウェアユニットを診断するための故障診断制御部とを具備した情報処理装置であって、前記各ハードウェアユニットは、当該ハードウェアユニットの通電時間の累積をカウントして保持する通電時間カウント部を有し、前記故障診断制御部は、前記ハードウェアユニットからの障害情報を検出すると、前記ハードウェアユニットからの障害情報から故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニットに跨るか否かに基づいて障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できるか否かを判定し、前記障害の部位が複数のハードウェアユニットに跨る場合には障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できないと判定して、前記故障原因の可能性のある部位それぞれについての故障率に基づいて、障害の被疑となるハードウェアユニットを決定する故障解析部と、前記通電時間カウント部に保持されている通電時間の累積と、前記ハードウェアユニットの部位毎の前記通電時間に対する故障率曲線に関する情報とに基づいて、前記ハードウェアユニットに含まれる部位のうち前記故障原因の可能性のある部位の前記故障率を算出する故障率算出部と、を有することを特徴とする。

【0010】

本発明に係る故障診断制御装置は、通電時間の累積をカウントして保持する通電時間カウント部を備えた複数のハードウェアユニットを交換可能に実装した情報処理装置の診断を行う故障診断制御装置であって、前記ハードウェアユニットからの障害情報を検出すると、前記ハードウェアユニットからの障害情報から故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニットに跨るか否かに基づいて障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できるか否かを判定し、前記障害の部位が複数のハードウェアユニットに跨る場合には障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できないと判定して、前記故障原因の可能性のある部位それぞれについての故障率に基づいて、障害の被疑となるハードウェアユニットを決定する故障解析部と、前記通電時間カウント部に保持されている通電時間の累積と、前記ハードウェアユニットの部位毎の前記通電時間に対する故障率曲線に関する情報とに基づいて、前記ハードウェアユニットに含まれる部位のうち前記故障原因の可能性のある部位の前記故障率を算出する故障率算出部と、を有することを特徴とする。

【0011】

本発明に係る故障判定方法は、通電時間の累積をカウントして保持する通電時間カウント部を備えた複数のハードウェアユニットを交換可能に実装した情報処理装置の故障判定方法であって、前記各ハードウェアユニットは、当該ハードウェアユニットの通電時間の累積をカウントして保持しており、前記ハードウェアユニットからの障害情報を検出すると、前記ハードウェアユニットからの障害情報から故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニットに跨るか否かに基づいて障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できるか否かを判定し、前記障害の部位が複数のハードウェアユニットに跨る場合には障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できないと判定し、前記通電時間カウント部に保持されている通電時間の累積と、前記ハードウェアユニットの部位毎の前記通電時間に対する故障率曲線に関する情報とに基づいて、前記ハードウェアユニットに含まれる部位のうち前記故障原因の可能性のある部位の故障率を算出し、前記故障原因の可能性のある部位それぞれについての前記故障率に基づいて、障害の被疑となるハードウェアユニットを決定することを特徴とする。

【0012】

本発明に係る故障判定プログラムは、通電時間の累積をカウントして保持する通電時間カウント部を備えた複数のハードウェアユニットを交換可能に実装した情報処理装置に実行させる故障判定プログラムであって、前記情報処理装置に、前記ハードウェアユニットからの障害情報を検出すると、前記ハードウェアユニットからの障害情報から故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニットに跨るか否かに基づいて障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できるか否かを判定し、前記障害の部位が複数のハードウェアユニットに跨る場合には障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できないと判定して、前記故障原因の可能性のある部位それぞれについての故障率に基づいて、障害の被疑となるハードウェアユニットを決定する処理と、前記通電時間カウント部に保持されている通電時間の累積と、前記ハードウェアユニットの部位毎の前記通電時間に対する故障率曲線に関する情報とに基づいて、前記ハードウェアユニットに含まれる部位のうち前記故障原因の可能性のある部位の前記故障率を算出する処理と、を実行させる。

【発明の効果】

【0013】

本発明によれば、故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニットに跨がっている場合でも、故障の被疑となるハードウェアユニットをより適切に決定できる。

【図面の簡単な説明】

【0014】

【図1】本発明の第１の実施形態に係る情報処理装置の概略構成の説明図である。

【図2】本発明の第１の実施形態に係る情報処理装置の概略構成のブロック図である。

【図3】故障率曲線の一例を示すグラフである。

【図4】故障診断部の処理を示すフローチャートである。

【図5】故障の被疑となるハードウェアユニットの判定処理の説明図である。

【図6】ハードウェアユニットに搭載される部品の故障率曲線の一例を示すグラフである。

【図7】通電時間カウント部の一例を示すブロック図である。

【図8】通電時間カウント制御部の処理を示すフローチャートである。

【図9】本発明の第２の実施形態の概略構成を示すブロック図である。

【図10】本発明の第２の実施形態の概略構成を示すブロック図である。

【図11】本発明の基本構成を示すブロック図である。

【発明を実施するための形態】

【0015】

以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
＜第１の実施形態＞
図１は、本発明の第１の実施形態に係る故障診断機能を有する情報処理装置の概略構成の説明図であり、図２はその概略ブロック図である。図１に示すように、本発明の第１の実施形態に係る情報処理装置１は、複数のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…と、故障診断制御部１２とから構成されている。

【0016】

各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…は、保守交換単位となるハードウェアユニット（ＦＲＵ：Field Replaceable Unit）である。例えば、情報処理装置１がブレードサーバシステムである場合、ＦＲＵとなる各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…は、各ブレードサーバとなる。なお、これに限らず、ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…は、交換可能な各種のボードやモジュールを含むことができる。

【0017】

なお、ここでは、説明の便宜上、３つのハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃについてのみ説明するが、ハードウェアユニットの数は任意である。また、図１では、複数のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…と、故障診断制御部１２とを同一の筐体内に配設して示しているが、故障診断制御部１２は、複数のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…とは別体の故障診断装置に備わる構成しても良い。すなわち、例えば、情報処理装置１がブレードサーバシステムである場合、故障診断制御部１２がブレードサーバシステムにネットワークを介して接続された外部の処理装置内に備わるようにしても良い。

【0018】

各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…には、それぞれ、図２に示すように、多数の部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…と、故障検出部３１ａ、３１ｂ、３１ｃ、…と、通電時間カウント部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、…と、入出力部３３ａ、３３ｂ、３３ｃ、…とが設けられている。

【0019】

部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…は、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…において障害検出できる部位の単位（故障指摘対象部位）を示している。例えば、情報処理装置１がブレードサーバシステムである場合、部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…は、ＣＰＵ(Central Processing Unit)、メモリ、電源、ファン等である。

【0020】

なお、ここでは、説明の便宜上、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃについて、３つの部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…のみ図示されている。しかしながら、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ…に配置される部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…の数、配置、配線等は、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…毎に様々であってよい。また、部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…に対する信号の入出力は、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…内で完結するものと、他のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…に跨がるものがあってよい。

【0021】

故障検出部３１ａ、３１ｂ、３１ｃ、…は、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…内の部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…に生じた障害を検出し、その部位や障害の種類に対応した障害情報を出力する。例えば、情報処理装置１がブレードサーバの場合、故障検出部３１ａ、３１ｂ、３１ｃ、…は、ブート時に起動されるＰＯＳＴ（Power On Self Test）処理の故障診断機能により実現できる。

【0022】

通電時間カウント部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、…は、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の通電時間の累積をカウントして、保持する。すなわち、通電時間カウント部３２ａは、ハードウェアユニット１１ａが情報処理装置１に装着されてから現在に至るまでの通電時間の累計をカウントして保持する。また通電時間カウント部３２ｂは、ハードウェアユニット１１ｂが情報処理装置１に装着されてから現在に至るまでの通電時間の累計をカウントして保持する。また通電時間カウント部３２ｃは、ハードウェアユニット１１ｃが情報処理装置１に装着されてから現在に至るまでの通電時間の累計をカウントして保持している。

【0023】

入出力部３３ａ、３３ｂ、３３ｃはそれぞれ、ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…と、故障診断制御部１２との間の信号の入出力を行う。

【0024】

故障診断制御部１２は、ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…を診断するためのユニットである。故障診断制御部１２は、図２に示すように、故障解析部５１と、故障率算出部５２と、故障率特性保持部５３と、入出力部５４とを備えている。

【0025】

故障解析部５１は、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…からの障害情報を受信すると、この障害情報を解析して、故障原因の可能性がある部位を特定し、故障の被疑となるハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…を判定する。故障の被疑となるハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の判定方法については、後に説明する。

【0026】

故障率特性保持部５３は、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…毎に、通電時間に対する故障率曲線を保持している。

【0027】

すなわち、機械部品や電気部品の故障率は、時間とともに、ある一定の傾向をもって変化する。このような時間に対する故障率の変化の曲線は、故障率曲線と称される。図３は、故障率曲線の一例を示すグラフである。図３において、横軸は時間を示し、縦軸は故障率を示している。

【0028】

図３に示すように、故障発生期は、初期故障期と、偶発故障期と、摩耗故障期とに分けられる。初期故障期は、設備上の欠陥や製造工程上の誤り等により、使用開始後の比較的早期に生ずる故障の期間である。初期故障期では、使用開始後の比較的早期に故障が多く生じ、低規格製品の淘汰により、時間とともに故障率は急速に低下する。偶発故障期は、初期故障期の経過後に、偶発的に故障が発生する期間である。偶発故障期では、故障率がきわめて低く、故障の発生に時間依存性はない。摩耗故障期は、老朽化に伴い、故障が発生する期間である。摩耗故障期では、機械的な摩耗、化学的変化等の累積によって、時間とともに、故障率が加速度的に増大する。図３に示すような時間に対する故障率の変化の曲線は、バスタブに似た形状となる。このことから、このような故障率曲線は、「バスタブ曲線」とも呼ばれている。

【0029】

故障率特性保持部５３はメモリからなり、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…毎に、このようなバスタブ曲線で示される通電時間に対する故障率曲線のデータを保持している。

【0030】

故障率算出部５２は、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の通電時時間で、故障率特性保持部５３に保持されている故障率の変化情報を索引することで、故障原因の可能性がある部位の故障率を算出する。

【0031】

入出力部５４は、故障診断制御部１２と、ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…との間の信号の入出力を行う。

【0032】

次に、本発明の第１の実施形態における故障診断制御部１２での処理について、図４のフローチャートを参照しながら説明する。

【0033】

前述したように、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の故障検出部３１ａ、３１ｂ、３１ｃ、…は、障害を検出すると、その部位に対応した障害情報を出力する。図４において、故障解析部５１は、ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の故障検出部３１ａ、３１ｂ、３１ｃ、…からの障害情報を受信すると（ステップＳ１０１）、受信した障害情報を解析し、故障原因の可能性のある部位を特定する（ステップＳ１０２）。そして、故障解析部５１は、故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…に跨がっているか否かを判定する（ステップＳ１０３）。

【0034】

故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…に跨がっていなければ、故障の被疑となるハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…は１つに絞り込むことができる。したがって、ステップＳ１０３で、故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…に跨がっていなければ（ステップＳ１０３ Ｎｏ）、故障解析部５１は、故障原因の可能性のある部位に基づいて、故障の被疑となるハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…を決定する（ステップＳ１０４）。

【0035】

ステップＳ１０３で、故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…に跨がっている場合には（ステップＳ１０３ Ｙｅｓ）、故障解析部５１は、故障原因の可能性のある部位を含むハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…に対して、通電時間のリクエストを送信する（ステップＳ１０５）。

【0036】

故障原因の可能性のある部位を含むハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の制御部は、通電時間のリクエストを受信すると、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の通電時間カウント部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、…から通電時間の累積のカウント値を読み出す。そして故障原因の可能性のある部位を含むハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の制御部は、この通電時間の累積のカウント値を故障診断制御部１２に送信する。故障診断制御部１２の故障解析部５１は、この通電時間の累積のカウント値を入出力部５４を介して受信する（ステップＳ１０６）。

【0037】

故障解析部５１は、故障原因の可能性のある部位を含むハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…からの通電時間の累積のカウント値を受信すると、故障率算出部５２に、故障原因の可能性のある部位の故障率の算出を行わせる。前述したように、故障率特性保持部５３には、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…毎に、通電時間に対する故障率曲線が保持されている。したがって、故障率算出部５２は、受信した故障原因の可能性のある部位を含むハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…からの通電時間の累積のカウント値に基づいて、故障率特性保持部５３に保持されている故障率曲線を読み出すことで、故障原因の可能性のある部位の故障率を算出する（ステップＳ１０７）。

【0038】

故障原因の可能性のある部位の故障率が算出されると、故障解析部５１は、故障原因の可能性のある部位の故障率に基づいて、故障の被疑となるハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…を決定する。例えば、故障解析部５１は、故障原因の可能性のある部位の故障率から、被疑確率が最大となる部位を含むハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…を故障の被疑となるハードウェアユニットして決定する（ステップＳ１０８）。

【0039】

このように、本発明の第１の実施形態では、故障の被疑となるハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…が１つに絞り込めない場合には、故障原因の可能性のある部位を含むハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…からの通電時間の累積のカウント値と、故障原因の可能性のある部位の通電時間に対する故障率曲線とから、故障原因の可能性のある部位の故障率を算出している。そして、算出された故障率に基づいて、故障の被疑となるハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…を決定している。このため、故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…に跨がっている場合でも、故障の被疑となるハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…をより適切に決定できる。このことについて、以下に説明する。

【0040】

図５は、故障の被疑となるハードウェアユニットの判定処理の説明図である。例えば、図５に示すように、ハードウェアユニット１１ａに部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…が実装され、ハードウェアユニット１１ｂに部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…が実装されていたとする。ここで、ハードウェアユニット１１ａの部品２１ａと、ハードウェアユニット１１ｂの部品２１ｂとの間では、信号の入出力が行われているとする。このような状態で、ハードウェアユニット１１ａの故障検出部３１ａから、部品２１ａを故障指摘対象とする障害情報が出力されたとする。

【0041】

ハードウェアユニット１１ａの部品２１ａを故障指摘対象とする障害情報が出力された場合、故障原因の可能性がある部位は、部品２１ａの他に、部品２１ａと信号の入出力を行っているハードウェアユニット１１ｂの部品２１ｂである。この場合、故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニット１１ａ及び１１ｂに跨がり、インターフェースエラーとなり、被疑となるハードウェアユニットが１つに絞り込めない。

【0042】

このような場合、本発明の第１の実施形態では、故障解析部５１は、故障原因の可能性のある部位を含むハードウェアユニットの通電時間の累積のカウント値で、故障率特性保持部５３に保持されている故障率曲線を索引することで、故障原因の可能性のある部位の故障率を算出し、故障率の最大となる部位を被疑として特定している。

【0043】

ここでは、故障原因の可能性のある部位は、ハードウェアユニット１１ａの部品２１ａと、ハードウェアユニット１１ｂの部品２１ｂである。故障率特性保持部５３には、ハードウェアユニット１１ａの部品２１ａの故障率曲線として、図６（Ａ）に示すような特性が蓄積され、ハードウェアユニット１１ｂの部品２１ｂの故障率曲線として、図６（Ｂ）に示すような特性が蓄積されているとする。また、故障が発生したときのハードウェアユニット１１ａの通電時間の累積はＴ１１で、ハードウェアユニット１１ａの通電時間の累積はＴ２１であるとする。

【0044】

この場合、故障解析部５１は、故障原因の可能性のある部位を含むハードウェアユニット１１ａ及び１１ｂに通電時間の累積のリクエストを送信し、ハードウェアユニット１１ａの通電時間の累積としてＴ１１を取得し、ハードウェアユニット１１ｂの通電時間の累積としてＴ２１を取得する。そして、故障解析部５１は、ハードウェアユニット１１ａの通電時間の累積Ｔ１１と、ハードウェアユニット１１ｂの通電時間の累積Ｔ２１を故障率算出部５２に送る。

【0045】

故障率算出部５２は、ハードウェアユニット１１ａの通電時間の累積Ｔ１１と、図６（Ａ）に示すハードウェアユニット１１ａの部品２１ａの故障率曲線とから、ハードウェアユニット１１ａの部品２１ａの故障率として、３０ｆｉｔを算出する。また、故障率算出部５２は、ハードウェアユニット１１ｂの通電時間の累積Ｔ２１と、図６（Ｂ）に示すハードウェアユニット１１ｂの部品２１ｂの故障率曲線とから、ハードウェアユニット１１ｂの部品２１ｂの故障率として、７０ｆｉｔを算出する。なお、ｆｉｔ（Failure In Time）は所定時間当たりに故障が発生する確率を表す単位である。

【0046】

情報処理装置１の全体の故障率を１００ｆｉｔとすると、ハードウェアユニット１１ａの部品２１ａの故障率が３０ｆｉｔ、ハードウェアユニット１１ｂの部品２１ｂの故障率が７０ｆｉｔなら、ハードウェアユニット１１ａの部品２１ａの被疑確率は３０％、ハードウェアユニット１１ｂの部品２１ｂの被疑確率は７０％となる。よって、最大の被疑確率となるのはハードウェアユニット１１ｂの部品２１ｂであり、故障率算出部５２は、ハードウェアユニット１１ｂを故障の被疑となるハードウェアユニットとして決定する。

【0047】

このように、本発明の実施形態では、故障の被疑となるハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…が１つに絞り込めない場合には、故障原因の可能性のある部位を含むハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の通電時間の累積のカウント値で、故障原因の可能性のある部位の通電時間に対する故障率曲線を索引することで、故障原因の可能性のある部位の故障率を算出する。そして、算出された故障率に基づいて、故障の被疑となるハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…を決定している。このため、故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…に跨がっている場合でも、故障の被疑となるハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…をより適切に決定できる。

【0048】

次に、ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の通電時間カウント部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、…について説明する。図７は、通電時間カウント部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、…の一例を示すブロック図である。前述したように、通電時間カウント部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、…は、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の通電時間の累積をカウントして、保持する。このような通電時間カウント部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、…は、図７に示すように、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…に設けられているＥＰＲＯＭ（Erasable Programmable Read Only Memory）６１と、実時間時計（ＲＴＣ：Real Time Clock）６２と、通電時間カウント制御部６３により構成できる。

【0049】

ＥＰＲＯＭ６１は、電源をオフしても、データを保持できる。通電時間の累積のカウント値は、このＥＰＲＯＭ６１の空き領域に格納できる。実時間時計６２は、現在時刻を計測するものである。情報処理装置１がブレードサーバシステムの場合、各ブレードサーバには、ＥＰＲＯＭや実時間時計は標準的に備えられている。また、通電時間カウント制御部６３は、ＰＯＳＴ処理のファームウェアに実装できる。

【0050】

通電時間カウント制御部６３は、以下にフローチャートで示すような処理を行うことで、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の通電時間の累積値を蓄積する。

【0051】

図８は、通電時間カウント制御部６３の処理を示すフローチャートである。図８において、通電時間カウント制御部６３は、電源がオンされたことを検出すると（ステップＳ２０１ Ｙｅｓ）、実時間時計６２から電源オン時の時刻ＲＴＣ＿１を取得して、保持しておく（ステップＳ２０２）。そして、通電時間カウント制御部６３は、電源がオフされたことを検出すると（ステップＳ２０３ Ｙｅｓ）、実時間時計６２から電源オフ時の時刻ＲＴＣ＿２を取得する（ステップＳ２０４）。そして、通電時間カウント制御部６３は、ステップＳ２０２で取得した電源オン時の時刻ＲＴＣ＿１と、ステップＳ２０４で取得した電源オフ時の時刻ＲＴＣ＿２とから、今回の通電時間ＴＩＭＥ（ＴＩＭＥ＝ＲＴＣ＿２−ＲＴＣ＿１）を算出する（ステップＳ２０５）。そして、通電時間カウント制御部６３は、ＥＰＲＯＭ６１からこれまでの通電時間の累積値Ａ＿ＴＩＭＥを読み出し（ステップＳ２０６）、これまでの通電時間の累積値Ａ＿ＴＩＭＥに今回の通電時間ＴＩＭＥを加算して通電時間の累積値を更新し（Ａ＿ＴＩＭＥ＝Ａ＿ＴＩＭＥ＋ＴＩＭＥ）（ステップＳ２０７）、更新された通電時間の累積値をＥＰＲＯＭ６１に保存する（ステップＳ２０８）。

【0052】

＜第２の実施形態＞
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。図９は、本発明の第２の実施形態の概略構成を示すブロック図である。なお、図９において、図２に示した第１の実施形態と同一部分については、同一符号を付して、その説明を省略する。

【0053】

前述の第１の実施形態では、全てのハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…毎の通電時間に対する故障率曲線データを、一括して、故障診断制御部１２の故障率特性保持部５３に保存している。

【0054】

これに対して、この第２の実施形態では、ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…側に、故障率特性保持部１５３ａ、１５３ｂ、１５３ｃ、…が設けられる。そして、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…毎の通電時間に対する故障率曲線データは、それぞれ、ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の故障率特性保持部１５３ａ、１５３ｂ、１５３ｃ、…に保存される。

【0055】

ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…を交換した場合、以前のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…に対して改良が施されていたり、異なった部品が装着されたりする可能性がある。この場合、通電時間に対する故障率曲線についても変わっている。また、情報処理装置１に、新たな機能のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…が装着される可能性がある。

【0056】

前述の第１の実施形態では、故障診断制御部１２側に故障率特性保持部５３が設けられ、この故障率特性保持部５３に全てのハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…毎の通電時間に対する故障率曲線データを一括して保存している。このため、ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の改良や、新たな機能のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の追加に対応させることが難しい。この第２の実施形態では、ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…側に、故障率特性保持部１５３ａ、１５３ｂ、１５３ｃ、…が設けられているので、ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の改良や、新たな機能のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の追加に容易に対応できる。

【0057】

＜第３の実施形態＞
図１０は、本発明の第３の実施形態を示すものである。なお、図１０において、図２に示した第１の実施形態と同一部分については、同一符号を付して、その説明を省略する。

【0058】

前述の第１の実施形態では、故障診断制御部１２の故障率特性保持部５３に、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…毎の通電時間に対する故障率曲線をデータとして保存している。

【0059】

これに対して、この第３の実施形態では、故障率特性保持部２５３に、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…毎の通電時間に対する故障率曲線を求めるための数式のパラメータを保存している。そして、故障率曲線計算部２５５は、このパラメータを用いて数式により故障率曲線を計算し、故障率算出部５２は、計算により求められた故障率曲線から、通電時間に対応する故障率を算出する。

【0060】

前述の第１の実施形態では、故障率特性保持部５３に全てのハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…毎の通電時間に対する故障率曲線のデータを全て一括して保存するため、故障率特性保持部５３のメモリ容量が大きくなる。これに対して、この実施形態では、故障率特性保持部２５３に、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の部品２１ａ、２２ａ、２３ａ、…、部品２１ｂ、２２ｂ、２３ｂ、…、部品２１ｃ、２２ｃ、２３ｃ、…毎の通電時間に対する故障率曲線を求めるための数式のパラメータを保存しているため、メモリ容量が削減できる。

【0061】

＜基本構成＞
図１１は、本発明による情報処理装置の基本構成を示す概略ブロック図である。上述した実施形態では、本発明による情報処理装置１の実施形態について説明したが、本発明による情報処理装置の基本構成は、図１１に示すとおりである。

【0062】

すなわち、本発明による情報処理装置は、交換可能な複数のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…と、ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…を診断するための故障診断制御部１２とを具備した情報処理装置である。ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…は、各ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…の通電時間の累積をカウントして保持する通電時間カウント部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、…を有する。故障診断制御部１２は、通電時間カウント部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、…に保持されている通電時間の累積と故障率曲線に基づいて、故障原因の可能性のあるハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…に含まれる部位の故障率を算出する故障率算出部５２と、ハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…からの障害情報を検出する。すると、故障診断制御部１２は、当該障害情報を解析すると共に、故障率算出部５２で求められた故障率に基づいて、障害の被疑となるハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…を決定する故障解析部５１とを有する。これにより、故障原因の可能性のある部位が複数のハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…に跨がっている場合でも、故障の被疑となるハードウェアユニット１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、…をより適切に決定できる。

【0063】

上述の故障診断制御部１２は内部に、コンピュータシステムを有している。そして、上述した各処理部の動作は、プログラムの形式でコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されており、このプログラムをコンピュータが読み出して実行することによって、上記処理が行われる。ここでコンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、半導体メモリ等をいう。また、このコンピュータプログラムを通信回線によってコンピュータに配信し、この配信を受けたコンピュータが当該プログラムを実行するようにしても良い。

【0064】

また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良い。さらに、前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であっても良い。

【0065】

上記の実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうるが、以下には限られない。

【0066】

（付記１）
交換可能な複数のハードウェアユニットと、前記ハードウェアユニットを診断するための故障診断制御部とを具備した情報処理装置であって、前記各ハードウェアユニットは、当該ハードウェアユニットの累積をカウントして保持する通電時間カウント部を有し、前記故障診断制御部は、前記通電時間カウント部に保持されている通電時間の累積と故障率曲線に基づいて、故障原因の可能性のあるハードウェアユニットに含まれる部位の故障率を算出する故障率算出部と、前記ハードウェアユニットからの障害情報を検出すると、当該障害情報を解析すると共に、前記故障率算出部で求められた故障率に基づいて、障害の被疑となるハードウェアユニットを決定する故障解析部とを有することを特徴とする情報処理装置。

【0067】

（付記２）前記故障解析部は、前記ハードウェアユニットからの障害情報から障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できるか否かを判定し、前記ハードウェアユニットからの障害情報から障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できない場合には、前記故障率算出部で求められた故障率に基づいて、障害の被疑となるハードウェアユニットを判定することを特徴とする付記１に記載の情報処理装置。

【0068】

（付記３）更に、前記ハードウェアユニットの部位毎に通電時間に対する故障率曲線に関する情報を保持する故障率特性保持部を有することを特徴とする付記１又は２に記載の情報処理装置。

【0069】

（付記４）前記故障率特性保持部は、前記各ハードウェアユニットの部位毎に通電時間に対する故障率曲線をデータとして保持することを特徴とする付記３に記載の情報処理装置。

【0070】

（付記５）前記故障率特性保持部は、前記各ハードウェアユニットの部位毎に通電時間に対する故障率曲線を数式で求めるためのパラメータを保持することを特徴とする付記３に記載の情報処理装置。

【0071】

（付記６）前記故障特性保持部は、前記故障診断制御部に設けられ、前記ハードウェアユニットの部位毎に通電時間に対する故障率曲線に関する情報を一括して保持することを特徴とする付記３乃至５の何れかに記載の情報処理装置。

【0072】

（付記７）前記故障特性保持部は、各ハードウェアユニット毎に設けられ、前記各ハードウェアユニット毎に、前記各ハードウェアユニットの部位毎に通電時間に対する故障率曲線に関する情報を保持することを特徴とする付記３乃至５の何れかに記載の情報処理装置。

【0073】

（付記８）複数のハードウェアユニットを交換可能に実装した情報処理装置の診断を行う故障診断制御装置であって、前記ハードウェアユニットに保持されている通電時間の累積と故障率曲線に基づいて、故障原因の可能性のあるハードウェアユニットに含まれる部位の故障率を算出する故障率算出部と、前記ハードウェアユニットからの障害情報を検出すると、当該障害情報を解析すると共に、前記故障率算出部で求められた故障率に基づいて、障害の被疑となるハードウェアユニットを決定する故障解析部とを有することを特徴とする故障診断制御装置。

【0074】

（付記９）前記故障解析部は、前記ハードウェアユニットからの障害情報から障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できるか否かを判定し、前記ハードウェアユニットからの障害情報から障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できない場合には、前記故障率算出部で求められた故障率に基づいて、障害の被疑となるハードウェアユニットを決定することを特徴とする付記８に記載の故障診断制御装置。

【0075】

（付記１０）更に、前記ハードウェアユニットの部位毎に通電時間に対する故障率曲線に関する情報を保持する故障率特性保持部を有することを特徴とする付記８又は９に記載の故障診断制御装置。

【0076】

（付記１１）前記故障率特性保持部は、前記各ハードウェアユニットの部位毎に通電時間に対する故障率曲線をデータとして保持することを特徴とする付記１０に記載の故障診断制御装置。

【0077】

（付記１２）前記故障率特性保持部は、前記各ハードウェアユニットの部位毎に通電時間に対する故障率曲線を数式で求めるためのパラメータを保持することを特徴とする付記１０に記載の故障診断制御装置。

【0078】

（付記１３）複数のハードウェアユニットを交換可能に実装した情報処理装置の故障判定方法であって、前記各ハードウェアユニットは、当該ハードウェアユニットの通電時間の累積をカウントして保持しており、前記ハードウェアユニットからの障害情報を検出すると、当該障害情報を解析すると共に、前記ハードウェアユニットに保持されている通電時間の累積と故障率曲線に基づいて、故障原因の可能性のあるハードウェアユニットに含まれる部位の故障率を算出し、障害の被疑となるハードウェアユニットを決定することを特徴とする情報処理装置の故障判定方法。

【0079】

（付記１４）前記障害の被疑となるハードウェアユニットを決定は、前記ハードウェアユニットからの障害情報から障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できるか否かを判定し、前記ハードウェアユニットからの障害情報から障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できない場合には、前記求められた故障率に基づいて、障害の被疑となるハードウェアユニットを判定して行うことを特徴とする付記１３に記載の情報処理装置の故障判定方法。

【0080】

（付記１５）複数のハードウェアユニットを交換可能に実装した情報処理装置の故障判定プログラムであって、前記各ハードウェアユニットは、当該ハードウェアユニットの通電時間の累積をカウントして保持しており、前記ハードウェアユニットからの障害情報を検出するステップと、当該障害情報を解析するステップと、前記ハードウェアユニットに保持されている通電時間の累積と故障率曲線に基づいて、故障原因の可能性のあるハードウェアユニットに含まれる部位の故障率を算出し、障害の被疑となるハードウェアユニットを決定するステップとを含むことを特徴とするコンピュータにより実行可能な故障判定プログラム。

【0081】

（付記１６）前記障害の被疑となるハードウェアユニットを決定するステップは、前記ハードウェアユニットからの障害情報から障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できるか否かを判定するステップと、前記ハードウェアユニットからの障害情報から障害の被疑となるハードウェアユニットを特定できない場合には、前記求められた故障率に基づいて、障害の被疑となるハードウェアユニットを判定するステップとを含むことを特徴とする付記１５に記載の故障判定プログラム。

【符号の説明】

【0082】

１：情報処理装置
１１ａ，１１ｂ，１１ｃ： ハードウェアユニット
１２： 故障診断制御部
２１ａ〜２３ａ，２１ｂ〜２３ｂ，２１ｃ〜２３ｃ：部品
３２ａ，３２ｂ，３２ｃ：通電時間カウント部
３３ａ，３３ｂ，３３ｃ：入出力部
５１：故障解析部
５２：故障率算出部
５３：故障率特性保持部
５４：入出力部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】