(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
前記第1の電位状態は、オープン、Lo、Hi状態のいずれか1の状態であり、前記第2の電位状態は、前記第1の電位状態を除くオープン、Lo、Hi状態のいずれか1の状態であることを特徴とする請求項1に記載の静電容量検出装置。
前記静電測定部は、前記第1及び第2の電位状態のときのそれぞれの検出電極の電圧の測定をそれぞれ複数回行なうことを特徴とする請求項1又は2に記載の静電容量検出装置。
【発明を実施するための形態】
【0012】
(静電容量検出装置の構成)
図1は、本発明の実施の形態に係る静電容量検出装置の構成の一例を示す概略図である。本発明の実施の形態に係る静電容量検出装置1は、複数の静電容量検出用の電極EL
1〜EL
9と、この電極EL
1〜EL
9のうち1の電極を選択して検出電極EL
nとすると共に、検出電極EL
n以外の電極を第1の電位状態とし、又は第1の電位状態と異なる第2の電位状態として、第1の電位状態のときの検出電極EL
nの電圧、及び第2の電位状態のときの検出電極EL
nの電圧を測定する静電測定部21と、第1及び第2の電位状態のときのそれぞれの検出電極EL
nの電圧に基づく測定値を比較することにより、電極間のショート状態を判定する判定部22と、を有して構成されている。ここで、nは、1〜9の整数である。なお、本実施の形態では、電極の数を9としたがこれに限られず、2以上の複数の電極であれば適用可能である。
【0013】
ここで、第1の電位状態は、オープン、Lo、Hi状態のいずれか1の状態である。また、第2の電位状態は、第1の電位状態を除くオープン、Lo、Hi状態のいずれか1の状態である。したがって、第1の電位状態がオープンのときは、第2の電位状態はLo、Hi状態のいずれかである。また、第1の電位状態がLo状態のときは、第2の電位状態はオープン、Hi状態のいずれかである。また、第1の電位状態がHi状態のときは、第2の電位状態はオープン、Lo状態のいずれかである。
【0014】
図1に示すように、電極EL
1〜EL
9は、フレキシブル基板等により形成されたタッチパネル3上に導電性のパターンとして形成されている。この電極EL
1〜EL
9は、タッチパネル3上の配線31、コネクタ4、コネクタ端子41を介して、制御部2に接続されている。
【0015】
なお、電極EL
1〜EL
9は、指等のタッチ検出を容易にするためその表面の導電面が露出している。また、タッチ検出に困難を来たさない程度にその表面に樹脂等のカバーを設けることができる。一方、配線31は、ショート、及び指等と外部部材が接触することを防止するため、厚めの樹脂等の誘電材料により被覆されている。
【0016】
また、コネクタ4は、コネクタ端子41が所定のピッチで配置されている。すなわち、電極EL
1〜EL
9は、指等でタッチ操作できる程度のピッチ、あるいは距離を隔てて互いに配置されているが、コネクタ端子41は、電極に比べて狭いピッチで配置されている。ピッチは、例えば、2.54mm、1.27mm、0.8mm、0.5mm等である。
【0017】
静電容量検出装置1は、静電容量の検出及びショートの判定等を行なう制御部2を有している。この制御部2は、電極EL
1〜EL
9が指等によりタッチされた場合の静電容量に対応する電圧を測定する静電測定部21と、この静電測定部21での測定結果に基づいて電極EL
1〜EL
9間でのショート、あるいは、コネクタ端子41間等でのショートを判定する判定部22を有している。また、制御部2は、図示省略するが、各電極EL
1〜EL
9の静電容量測定をする際に各電極へ充電するための充電部、これらの測定、判定を所定のプログラムに従って実行する処理制御部(CPU)、所定回数の測定数をカウントするカウンタ部、外部とのデータ入出力を行なうインターフェース部等を備えている。
【0018】
静電測定部21は、
図1に示すように、電極EL
1〜EL
9にそれぞれ接続されている測定端子TR
1〜TR
9が入力として接続されている。この測定端子TR
1〜TR
9は、静電測定部21の内部回路において、スイッチ回路、マルチプレクサ等の選択回路に接続されている。また、選択回路により選択された端子は、それぞれ、電圧測定部、第1の電位、第2の電位に接続される。
【0019】
第1の電位状態は、Lo状態(グランドレベル、0v等)、Hi状態(5v、12v等)である。また、所定の電位に接続されないオープン状態も取り得る。また、第2の電位状態も同様に、Lo状態、Hi状態、オープンのいずれか1の状態である。なお、第2の電位状態は、第1の電位状態と異なるものとする。これにより、検出電極EL
nの静電容量検出において、測定値に異なる影響を与えることが可能となり、電極間のショートの有無の判断が容易又は可能となる。
【0020】
静電測定部21は、前述した測定プログラムにより、選択された検出電極EL
n以外の電極を第1の電位状態(Lo状態、Hi状態、オープンのいずれか1の状態)として、静電容量に対応する電圧を測定する。この測定は、nを順次変化させてすべての検出電極EL
nに対して行なわれる。次に、選択された検出電極EL
n以外の電極を第1の電位状態と異なる第2の電位状態(Lo状態、Hi状態、オープンのいずれか1の状態)として、同様に、nを順次変化させてすべての検出電極EL
nに対して静電容量に対応する電圧を測定する。このような一連の測定を所定回数行ない、それぞれの検出電極EL
nについて測定した電圧をA/D変換した値を積算して、この積算した平均値をそれぞれの検出電極EL
nの電圧に基づく測定値C
nとすることができる。積算または平均をとることにより、測定誤差の低減、ノイズ等の外乱要因の排除が可能となる。
【0021】
判定部22は、第1及び第2の電位状態のときのそれぞれの検出電極EL
nの電圧に対応した測定値を比較する。第1の電位状態のときの検出電極EL
nの電圧に基づく測定値C
n1と、第2の電位状態のときの検出電極EL
nの電圧に基づく測定値C
n2の差が、所定の閾値を超えている場合は、電極EL
1〜EL
9、又は、コネクタ端子41等でショートがあると判定することができる。なお、例えば、コネクタ端子41等を樹脂等で封止することにより、電極EL
1〜EL
9部分に限定してショートを判定する構成とすることもできる。
【0022】
(静電容量検出装置の動作)
図2は、静電容量検出装置の動作の一例を示すフローチャートである。以下では、第1の電位状態をオープン、第2の電位状態をLo状態として説明する。
【0023】
静電容量検出装置1の動作がスタートすると、まず、Step1(S1)〜Step7(S7)により、検出電極EL
n以外の電極をオープン状態とした測定を所定回数行なう。
【0024】
制御部2は、カウンタ部でのカウンタ値をn=1として、電極EL
1〜EL
9から検出電極EL
1を選択する(S1)。
【0025】
制御部2は、検出電極への充電準備として、測定端子TR
1をグランドレベルに接続して検出電極EL
1の放電を行なう(S2)。
【0026】
制御部2は、充電部から測定端子TR
1を介して検出電極EL
1へ充電を行なう(S3)。
【0027】
制御部2は、検出電極EL
1以外の電極をオープン状態にして、検出電極EL
1の電圧を測定する(S4)。
【0028】
制御部2は、検出電極EL
1の電圧測定値を積算して測定値C
11を得る(S5)。
【0029】
制御部2は、n=9かどうかを判断する。n=9の場合は、Step8(S8)へ進み、n=9でない場合は、Step7(S7)でカウンタ値を2(n=n+1)として、Step2(S2)へ戻る。
【0030】
上記の検出電極EL
n以外の電極をオープン状態とした測定は、n=9となるまで、各検出電極EL
nについて電圧測定値の積算を行ない、各検出電極EL
nについて測定値C
n1を得る。
【0031】
上記の検出電極EL
n以外の電極をオープン状態とした測定が終了した後に、Step9(S9)〜Step15(S15)により、検出電極EL
m以外の電極をLo状態とした測定を所定回数行なう。
【0032】
制御部2は、カウンタ部でのカウンタ値をm=1として、電極EL
1〜EL
9から検出電極EL
1を選択する(S8)。
【0033】
制御部2は、検出電極への充電準備として、測定端子TR
1をグランドレベルに接続して検出電極EL
1の放電を行なう(S9)。
【0034】
制御部2は、充電部から測定端子TR
1を介して検出電極EL
1へ充電を行なう(S10)。
【0035】
制御部2は、検出電極EL
1以外の電極をLo状態にして、検出電極EL
1の電圧を測定する(S11)。
【0036】
制御部2は、検出電極EL
1の電圧測定値を積算して測定値C
12を得る(S12)。
【0037】
制御部2は、m=9かどうかを判断する。m=9の場合は、Step15(S15)へ進み、m=9でない場合は、Step14(S14)でカウンタ値を2(m=m+1)として、Step9(S9)へ戻る。
【0038】
上記の検出電極EL
m以外の電極をLo状態とした測定は、m=9となるまで、各検出電極EL
mについて電圧測定値の積算を行ない、各検出電極EL
nについて測定値C
n2を得る。
【0039】
制御部2は、判定部22において、検出電極EL
n以外の電極をオープン状態とした測定値C
n1と、検出電極EL
m以外の電極をLo状態とした測定値C
m1を比較して、電極EL
1〜EL
9部分のショートの有無を判定する。なお、比較は、それぞれn=mの場合について、すなわち、同一電極について、オープン状態とLo状態の違いにより測定値に差が生じているかどうかによりショートの有無を判定する。
【0040】
図3は、静電容量検出装置の動作の一例を示す電極EL
1〜EL
9の電圧変化を並べて示すグラフである。また、
図4は、電極間でショートがない場合と、ショートがある場合の検出電圧の違いを示すグラフである。
【0041】
図3において、電極EL
1には、時間t0〜t1で放電が行なわれ(Step2)、時間t1〜t2で充電が行なわれる(Step3)。時間t2〜t3の測定期間T1で、電圧の測定、A/D変換、積算が行なわれる。この電圧波形は、ループ測定に従って、同様の電圧波形が電極EL
1、EL
2、・・・・、EL
9に現れる。
【0042】
図4に示すように、検出電極以外の電極をオープン状態で測定した場合にショートがある場合は、検出電極から周囲の電極に電流が流れるので、検出電極の電位は低下する。また、検出電極以外の電極をLo状態で測定した場合にショートがある場合は、検出電極から周囲の電極に電流が流れさらにグランドに電流が流れるので、オープン状態での測定よりも検出電極の電位低下は大きい。
【0043】
前述したように、第1又は第2の電位状態として、Hi状態をとることもできる。
図4において、検出電極以外の電極をHi状態で測定した場合にショートがある場合は、検出電極に周囲の電極から電流が流れ込むので、検出電極の電位は上昇する。
【0044】
上記示したような電位の変化を各測定期間T1〜T9において電圧測定し、これをA/D変換して積算した測定値を、第1の電位状態(Lo状態、Hi状態、オープンのいずれか1の状態)と第2の電位状態(第1の電位状態と異なるLo状態、Hi状態、オープンのいずれか1の状態)で比較することで、各検出電極のショートの有無が判定できる。
【0045】
上記の一連の動作により、電極EL
1〜EL
9部分のショートの有無が判定可能となる。ショートの有無の判定は、それぞれの電極EL
1〜EL
9について判定可能である。したがって、それぞれの電極間でのショートの発生を検出できる。また、前述のように、コネクタ4のコネクタ端子41におけるピン間ショートの発生も検出可能である。
【0046】
なお、上記示したフローでは、オープン状態でのループ測定、Lo状態でのループ測定を、それぞれ1回行なったが、それぞれについて複数回のループ測定を行なうことが可能である。また、測定の順序は、静電測定部21における選択回路の選択動作を変更することにより任意に設定することができる。
【0047】
(本実施の形態に係る静電容量検出装置の効果)
本実施の形態に係る静電容量検出装置によれば、以下のような効果を有する。
(1)本実施の形態に係る静電容量検出装置1は、検出電極EL
n以外の電極を第1の電位状態(Lo状態、Hi状態、オープンのいずれか1の状態)として、静電容量に対応する電圧を測定し、この電圧をA/D変換した値を積算して平均値としたものを測定値C
n1とする。また、検出電極EL
n以外の電極を第2の電位状態(第1の電位状態と異なるLo状態、Hi状態、オープンのいずれか1の状態)として、静電容量に対応する電圧を測定し、この電圧をA/D変換した値を積算して平均値としたものを測定値C
n2とする。2つの電位状態による測定値を比較することによりショートの有無を判定するので、通常の静電容量の検出処理を変更することなく、また、処理時間の増加がなくショート検出ができる静電容量検出装置を提供することが可能となる。
(2)測定した電圧をA/D変換した値を積算し、また、所定回数繰り返した平均値を比較することにより、測定誤差の低減、ノイズ等の外乱要因の排除が可能となる。
(3)電極間のショートの判定だけでなく、コネクタ端子等のピン間ショートの検出も可能である。特に、狭ピッチのコネクタを使用する場合等に効果を有する。
【0048】
以上、本発明の実施の形態を説明したが、これらの実施の形態は、一例に過ぎず、特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。これら新規な実施の形態およびその変形例は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更等を行うことができる。また、これら実施の形態の中で説明した特徴の組合せの全てが発明の課題を解決するための手段に必須であるとは限らない。さらに、これら実施の形態およびその変形例は、発明の範囲及び要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。