特許第5965448号(P5965448)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】5965448
(24)【登録日】2016年7月8日
(45)【発行日】2016年8月3日
(54)【発明の名称】撮像装置
(51)【国際特許分類】
   H01L 27/14 20060101AFI20160721BHJP
   H04N 5/369 20110101ALI20160721BHJP
【FI】
   H01L27/14 D
   H04N5/335 690
【請求項の数】10
【全頁数】13
(21)【出願番号】特願2014-194610(P2014-194610)
(22)【出願日】2014年9月25日
(65)【公開番号】特開2015-216342(P2015-216342A)
(43)【公開日】2015年12月3日
【審査請求日】2014年9月25日
(31)【優先権主張番号】14/271,815
(32)【優先日】2014年5月7日
(33)【優先権主張国】US
(73)【特許権者】
【識別番号】507296388
【氏名又は名称】采▲ぎょく▼科技股▲ふん▼有限公司
【氏名又は名称原語表記】VisEra Technologies Company Limited
(74)【代理人】
【識別番号】100105946
【弁理士】
【氏名又は名称】磯野 富彦
(72)【発明者】
【氏名】塗 宗儒
(72)【発明者】
【氏名】蕭 玉焜
【審査官】 西出 隆二
(56)【参考文献】
【文献】 国際公開第2013/031160(WO,A1)
【文献】 特開2013−016687(JP,A)
【文献】 特開2006−140413(JP,A)
【文献】 特開2012−124377(JP,A)
【文献】 特開2011−205141(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
H01L 27/14
H04N 5/369
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
フォトセンシング素子を有する半導体基板と、
前記半導体基板上に設置され、第一屈折率を有するパッシベーション層と、
前記パッシベーション層上に設置され、前記フォトセンシング素子と配列し、赤(R)、緑(G)、青(B)、および、白(W)から構成される群から選択される色と、第二屈折率を有する色パターンと、
前記色パターンと前記パッシベーション層の少なくともひとつに設置され、第三屈折率を有し、前記第三屈折率が前記第一屈折率、または、前記第二屈折率より大きく、前記第三屈折率と前記第一屈折率間の第一差異は、少なくとも0.2、および、前記第三屈折率と前記第二屈折率間の第二差異は、少なくとも0.2である電磁波誘導素子と、を含み、
前記電磁波誘導素子の上面と側面の少なくとも一部が前記色パターンで覆われる、
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項2】
前記第三屈折率と前記第一屈折率間の前記第一差異は、0.2−1.3であり、前記第三屈折率と前記第二屈折率間の前記第二差異は、0.2−1.3であることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
【請求項3】
前記電磁波誘導素子は、断面図で、スタッド、半円形、または、逆T形状であることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
【請求項4】
前記電磁波誘導素子は、上から見て、円形、多角形、または、十字型であることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
【請求項5】
前記電磁波誘導素子は、前記色パターンと前記パッシベーション層の少なくともひとつの中央部分上に位置し、前記電磁波誘導素子は第一表面積を有し、前記電磁波誘導素子下の前記フォトセンシング素子は第二表面積を有し、前記第一表面積と前記第二表面積の比率は、25%未満であることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
【請求項6】
前記色パターン上に設置されるマイクロレンズと、
前記マイクロレンズ上に設置される反射防止層と、
を更に含むことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
【請求項7】
前記マイクロレンズと前記色パターン間に設置され、第四屈折率を有する下層を更に備え、前記電磁波誘導素子が、前記下層の一部に設置され、前記第三屈折率は、前記第四屈折率より大きく、前記第三屈折率と前記第四屈折率間の第三差異は、少なくとも0.2であることを特徴とする請求項6に記載の撮像装置。
【請求項8】
前記色パターンと前記パッシベーション層間に設置され、第五屈折率を有する反射防止層を更に備え、前記電磁波誘導素子が、前記反射防止層の一部に設置され、前記第三屈折率は前記第五屈折率より大きく、前記第三屈折率と前記第五屈折率間の第四差異は、少なくとも0.2であることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
【請求項9】
前記色パターンと前記パッシベーション層間に設置され、第六屈折率を有する抗漏電層を更に備え、前記電磁波誘導素子が、前記抗漏電層の一部に設置され、前記第三屈折率は、前記第六屈折率より大きく、前記第三屈折率と前記第六屈折率間の第五差異は、少なくとも0.2であることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
【請求項10】
前記電磁波誘導素子は前記色パターン中に設置され、且つ、前記パッシベーション層中に延伸し、前記電磁波誘導素子は、前記パッシベーション層中に設置され、且つ、さらに、前記色パターン中に延伸することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、撮像装置に関するものであって、特に、隣接画素間でエネルギー分散が減少する撮像装置に関するものである。
【背景技術】
【0002】
撮像装置は、デジタルカメラ、携帯電話や玩具を含む多くの光電子工学装置において不可欠の素子である。従来の撮像装置は、電荷結合素子(CCD) 撮像素子と相補型MOS (CMOS)画像素子両方を含む。
【0003】
撮像装置は、通常、画素セルの面アレイを含み、各画素セルは、フォトゲート、光伝導体、または、フォト生成電荷を累積するドープ領域を有するフォトダイオードを有する。異なる色、たとえば、赤(R)、緑(G)、または、青(B)の染料の周期性パターンは、画素セルの面アレイに重ねられる。このパターンは、カラーフィルターアレイ (CFA)として知られている。方形、または、円形の複数のマイクロレンズは、カラーフィルターアレイ (CFA) 上に任意で重ねられて、光線を、各画素セルの一初期電荷集積領域に集める。 マイクロレンズを用いることにより、撮像装置の感度が大幅に改善される。
【0004】
しかし、撮像装置中の画素セルのサイズを減少させる趨勢のため、マイクロレンズを通過し、ひとつの画素の中央で集光する入射光のエネルギー(つまり、電磁波)は、隣接する画素中で分散、または、屈折し、これにより、撮像装置中の画素セルの機能不良と感度低下を招く。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
したがって、本発明は、撮像装置を提供し、撮像装置中の隣接画素間で発生する入射光のエネルギー(すなわち、電磁波)分散により生じる撮像装置の画素セルの機能不良、および、感度低下を解決することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明の態様による撮像装置は、フォトセンシング素子を有する半導体基板、および
半導体基板上に設置され、第一屈折率を有するパッシベーション層を備えている。色パターンがパッシベーション層上に設置され、色パターンはフォトセンシング素子と配列し、且つ、赤(R)、緑(G)、青(B)、および、白(W)から構成される群から選択される色、および、第二屈折率を有する。電磁波誘導素子が色パターンとパッシベーション層の少なくともひとつ中に設置され、電磁波誘導素子は第三屈折率を有し、第三屈折率は、第一屈折率、または、第二屈折率より大きく、および、第三屈折率と第一屈折率間の第一差異は、少なくとも0.2、第三屈折率と第二屈折率間の第二差異は、少なくとも0.2である。
【0007】
一態様において、撮像装置は、さらに、抗漏電層を有し、色パターンとパッシベーション層間に設置され、第四屈折率を有し、第三屈折率は第四屈折率より大きく、差異は、少なくとも0.2である。
【0008】
別の態様において、撮像装置は、さらに、反射防止層を有し、色パターンとパッシベーション層間に設置され、第五屈折率を有し、第三屈折率は第四屈折率より大きく、差異が、少なくとも0.2である。
【0009】
さらに別の態様において、撮像装置は、さらに、マイクロレンズと色パターン間に設置される下層を有する。
【0010】
別の態様において、撮像装置は、さらに、マイクロレンズ上に設置される反射防止膜を有する。
【発明の効果】
【0011】
撮像装置の画素セルの機能不良、および、感度低下を解決する。
【図面の簡単な説明】
【0012】
図1】本発明の一実施形態による撮像装置の断面図である。
図2図1の撮像装置の上面図である。
図3】本発明の別の実施形態による撮像装置の断面図である。
図4図3の撮像装置の上面図である。
図5】本発明のさらに別の実施形態による撮像装置の断面図である。
図6図5の撮像装置の上面図である。
図7】本発明の別の実施形態による撮像装置の断面図である。
図8図7の撮像装置の上面図である。
図9】本発明のさらに別の実施形態による撮像装置の断面図である。
図10図9の撮像装置の断面図である。
図11】本発明の別の実施形態による撮像装置の断面図である。
図12図11の撮像装置の上面図である。
図13】本発明のさらに別の実施形態による撮像装置の断面図である。
図14図13の撮像装置の上面図である。
図15】本発明の別の実施形態による撮像装置の断面図である。
図16図15の撮像装置の上面図である。
図17】本発明のさらに別の実施形態による撮像装置の断面図である。
図18図17の撮像装置の上面図である。
図19】本発明の別の実施形態による撮像装置の断面図である。
図20図19の撮像装置の上面図である。
図21】本発明のさらに別の実施形態による撮像装置の断面図である。
図22図21の撮像装置の上面図である。
図23】本発明のさらに別の実施形態による撮像装置の断面図である。
図24図23の撮像装置の上面図である。
図25】本発明の別の実施形態による撮像装置の断面図である。
図26】本発明の一実施形態による 撮像装置に用いるカラーフィルターアレイの上面図である。
図27】本発明の別の実施形態による撮像装置に用いるカラーフィルターアレイの上面図である。
【発明を実施するための形態】
【0013】
本発明が充分理解できるように、次に添付図面を参照しながら発明を説明する。
本発明の更なる特徴及び利点は、以下の本発明の好ましい実施形態についての説明及び添付図面及び特許請求の範囲から明らかになるであろう。
【0014】
図1は、本発明の態様による撮像装置100の断面図である。撮像装置100は、複数のフォトセンシング素子104を有する半導体基板102と、半導体基板102上に形成される複数の遮光金属108を有するパッシベーション層106と、パッシベーション層106上の複数の電磁波誘導素子150と、パッシベーション層106上の複数の色パターン110、112、114と、色パターン110、112、114上の複数のマイクロレンズ116とを有する。
【0015】
図1に示されるように、半導体基板102は、たとえば、シリコン基板で、フォトセンシング素子104は、たとえば、半導体基板102上に別々に形成されたフォトダイオードである。パッシベーション層106は、フォトセンシング素子104と外部回路(図示しない)間に、たとえば、相互接続構造(図示しない)を形成する誘電材(図示しない)と導体素子(図示しない)を含むが、フォトセンシング素子を含まない単一層、または、複合層である。パッシベーション層106中の遮光金属108は、それぞれ、半導体基板102上のフォトセンシング素子104を被覆しない場所に形成され、これにより、フォトセンシング素子104の領域を除く画素の領域を遮蔽する遮光領域、および、フォトセンシング素子104の領域を露出する開口領域を定義する。このほか、パッシベーション層106上の電磁波誘導素子150が、フォトセンシング素子104のひとつ上で、且つ、フォトセンシング素子104のひとつの中央部分の場所に形成される。
【0016】
さらに、図1に示されるように、パッシベーション層106上に位置する色パターン110、112、114も、フォトセンシング素子104のひとつ上に形成されて、パッシベーション層106上の電磁波誘導素子150のひとつを完全に被覆すると共に、それぞれ、電磁波誘導素子150のひとつと照準する。色パターン110、112、114上のマイクロレンズ116は、フォトセンシング素子104のひとつ上に形成される。一実施形態において、色パターン110、112、114は、赤(R)、緑(G)、青(B)、および、白(W)から構成される群から選択される同色、または、異なる色の感光性カラーレジストを有し、たとえば、スピンコート、および、フォトリソグラフィプロセスにより形成される。
【0017】
図1に示されるように、電磁波誘導素子150は、長方形のスタッド断面を有し、任意の透光材料を含む。電磁波誘導素子150の屈折率 (n)は、隣接する色パターン110、112、および、114 より大きく、少なくとも0.2の差異を有する。一態様において、電磁波誘導素子150の屈折率 (n)と色パターン110、112、および、114の屈折率 (n) は、約0.2−1.3の差異がある。このほか、電磁波誘導素子150上面は、色パターン110、112、および、114の高さHの半分より低い。電磁波誘導素子150は、色パターン110、112、および、114の形成前に、パッシベーション層106上に形成することができる。
【0018】
したがって、撮像装置100内の電磁波誘導素子150の形成のため、マイクロレンズ116を通過する入射光 (図示しない)は下向けに、下方のフォトセンシング素子104に集光され、その後、色パターン110、112、または、114中に形成される電磁波誘導素子150により導かれ、下方に、フォトセンシング素子104に伝送されて、よって、撮像装置100中の画素セルの臨界サイズSがさらに減少する間、集められた光線は、隣接する別の画素セルの色パターン、および/または、フォトセンシング素子に分散、または、屈折しない。よって、撮像装置100の画素セルのサイズが減少しても、撮像装置100の画素セルの機能性と感度が確保される。
【0019】
図2は、図1の撮像装置100の上面図で、図1の撮像装置100の断面は図2の線1−1に沿ったものである。簡潔にするため、図2中では、撮像装置100のフォトセンシング素子104、色パターン110、112、114、および、電磁波誘導素子150だけが示される。図2に示されるように、上から見ると、電磁波誘導素子150は長方形である。このほか、電磁波誘導素子150の表面積は、フォトセンシング素子104より小さいので、電磁波誘導素子150の表面積とフォトセンシング素子104の表面積の比率は、25%未満である。
【0020】
しかし、電磁波誘導素子150の形状は図1図2に限定されず、別の実施形態の撮像装置において、電磁波誘導素子150は別の形状を有する。
【0021】
図3は、別の実施形態の撮像装置100の断面図である。図3に示される撮像装置100中の素子は、図3に示される電磁波誘導素子150が、断面図で、半円形状を有することを除いて、図1と同じである。
【0022】
このほか、図4は、図3の撮像装置100の上面図で、図3の撮像装置100の断面は、図4の線3−3に沿う。簡潔にするため、撮像装置100のフォトセンシング素子104、色パターン110、112、114、および、電磁波誘導素子150だけが図4に示される。図4に示されるように、電磁波誘導素子150は、上から見て、円形である。このほか、電磁波誘導素子150の表面積は、フォトセンシング素子104より小さいので、電磁波誘導素子150の表面積とフォトセンシング素子104の表面積の比率は、25%未満である。
【0023】
図5は、さらに別の実施形態の撮像装置100の断面図である。図5に示される撮像装置100中の素子は、図5の電磁波誘導素子150が、断面図で、多角形スタッド形状を有することを除いて、図1と同じである。
【0024】
このほか、図6は、図5の撮像装置100の上面図で、図5の撮像装置100の断面は図6の線5−5に沿ったものである。簡潔にするため、撮像装置100のフォトセンシング素子104、色パターン110、112、114、および、電磁波誘導素子150だけが図6に示されている。
【0025】
図6に示されるように、電磁波誘導素子150は、上から見て、多角形(たとえば、八角形)である。このほか、電磁波誘導素子150の表面積は、フォトセンシング素子104より小さいので、電磁波誘導素子150の表面積とフォトセンシング素子104の表面積の比率は、25%未満である。
【0026】
図7は、別の実施形態の撮像装置100の断面図である。図7に示される撮像装置100中の素子は、図7に示される電磁波誘導素子150が、断面図で、逆T形状を有することを除いて、図1と同じである。
【0027】
このほか、図8は、図8の撮像装置100の上面図で、図7の撮像装置100の断面は、図8の線7−7に沿ったものである。簡潔にするため、撮像装置100のフォトセンシング素子104、色パターン110、112、114、および、電磁波誘導素子150だけが図8に示される。
【0028】
図8に示されるように、電磁波誘導素子150は、上から見ると、十字型である。このほか、電磁波誘導素子150の表面積は、フォトセンシング素子104より小さいので、電磁波誘導素子150の表面積とフォトセンシング素子104の表面積の比率は、25%未満である。
【0029】
さらに、電磁波誘導素子150の形状と位置は、図1から図8に限定されず、別の態様の撮像装置において、電磁波誘導素子150は、別の設定と位置を有する。
【0030】
図9図11図13、および、図15は、別の実施形態の撮像装置100の断面図である。図9図11図13、および、図15中に示される撮像装置100の素子は、図9図11図13、および、図15中に示される電磁波誘導素子150がさらに、下方に、パッシベーション層106に延伸し、且つ、それぞれ、下方のフォトセンシング素子104のひとつと接触することを除いて、それぞれ、図1図3図5、および、図7と同じである。図10図12図14、および、図16は、それぞれ、図9図11図13、および、図15中の撮像装置100の上面図で、図9図11図13、および、図15中の撮像装置100の断面は、それぞれ、図10の線9−9、図12の線11−11、図14の線13−13、図16の線15−15に沿ったものである。
【0031】
さらに、電磁波誘導素子150の形状と位置は、図1から図8、および、図9から図16に限定されず、別の態様の撮像装置において、電磁波誘導素子150は、別の設定と位置を有する。
【0032】
図17図19図21、および、図23は、別の実施形態の撮像装置100の断面図である。図17図19図21、および、図23に示される撮像装置100中の素子は、図17図19図21、および、図23に示される電磁波誘導素子150がパッシベーション層106中だけに形成され、且つ、下方のフォトセンシング素子104に接触するが、それぞれ、上向けに、色パターン110、112、および、114に延伸しないことを除いて、それぞれ、図9図11図13、および、図15と同じである。図18図20図22、および、図24は、それぞれ、図17図19図21、および、図23の撮像装置100の上面図で、図17図19図21、および、図23中の撮像装置100の断面は、図18の線17−17、図20の線19−19、図22の線21−21、および、図24の線23−23に沿ったものである。
【0033】
さらに、撮像装置の形状は、図1から図8図9から図16、および、図17から図2に限定されず、撮像装置中にその他の素子を提供し、機能性、および/または、感度を改善することができる。
【0034】
図25は、本発明の実施形態による撮像装置100の断面図で、図1から図8図9から図16、および、図17から図24と異なるその他の素子を有する。実施形態の撮像装置100の素子は、抗漏電層160、反射防止層170、下層180、および、反射防止膜190が、図25に示される撮像装置に任意で提供されることを除いて、図1と同じである。一態様において、抗漏電層160、反射防止層170、下層180、および、反射防止膜190は、単一膜で形成されるか、または、複数のスタック膜を含む膜スタックである。抗漏電層160、反射防止層170、下層180、および、反射防止膜190は、図3から図8図9から図16、および、図17から図24に示される撮像装置にも提供されるが、簡潔にするため説明しない。一旦、抗漏電層160 、および/または、反射防止層170が、図9から図24に示される撮像装置の色パターン110、112、および、114とパッシベーション層160間に任意で形成されると、電磁波誘導素子150も、抗漏電層160、および/または、反射防止層170の一部内に形成される。同様に、任意の抗漏電層160 、および/または、反射防止層170中に形成される電磁波誘導素子150を有する撮像装置において、電磁波誘導素子150の屈折率(n)は、任意の抗漏電層160、および/または、反射防止層170より大きく、少なくとも0.2の差異を有する。
【0035】
図25に示されるように、抗漏電層160、および/または、反射防止層170は、色パターン110、112、および、114とパッシベーション層160間に任意で形成され、下層180が、マイクロレンズ116と色パターン110、112、および、114間に任意で形成され、 反射防止膜190は、マイクロレンズ116上面に任意で形成される。
【0036】
図26は、図1図25に示される撮像装置に適用するカラーフィルターアレイの上面図である。図26に示されるように、カラーフィルターアレイは、X方向に交錯して配列、設置される複数のユニットパターン200と300を有する。一実施形態において、ユニットパターン200と300は2X2 カラーフィルターアレイとして示され、異なる設置状況を有する赤(R)、青(B)と緑(G)カラーフィルターを有する。
【0037】
図27は、図1図25に示される撮像装置に適用するカラーフィルターアレイの上面図である。図27に示されるように、カラーフィルターアレイは、X方向に交錯して配列、設置される複数のユニットパターン200と300を有する。一実施形態において、ユニットパターン200と300は2X2 カラーフィルターアレイとして示され、異なる設置状況を有する赤(R)、青(B)、緑(G)、および、透明/白(W)のカラーフィルターを有する。
【0038】
しかし、本発明の撮像装置は、図26図27に示されるカラーフィルターと異なる配列を有し、図26図27に示されるものに限定されない。
【0039】
本発明では好ましい実施例を前述の通り開示したが、これらは決して本発明に限定するものではなく、当該技術を熟知する者なら誰でも、本発明の精神と領域を脱しない範囲内で各種の変動や潤色を加えることができ、従って本発明の保護範囲は、特許請求の範囲で指定した内容を基準とする。
【符号の説明】
【0040】
100〜撮像装置;
102〜半導体基板;
104〜フォトセンシング素子;
106〜パッシベーション層;
108〜遮光金属;
110、112、114〜色パターン;
116〜マイクロレンズ;
150〜電磁波誘導素子;
160〜抗漏電層
170〜反射防止層;
180〜下方層;
190〜反射防止膜;
図1
図2
図3
図4
図5
図6
図7
図8
図9
図10
図11
図12
図13
図14
図15
図16
図17
図18
図19
図20
図21
図22
図23
図24
図25
図26
図27