特許5989697IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

レーザ式ガス分析装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

排ガス流路は、残存する煤塵などのダストを含み、レーザ式ガス分析により対象ガスであるアンモニアの濃度を精度よく計測するには煤塵などのダストを集塵する必要がある。煤塵などのダストが多い場合、レーザ式ガス分析は、対象ガス分析の精度が低下する可能性がある。煤塵などのダストを集塵する方法としては、特許文献2に記載の電気集塵機などがあるが、動力源が必要となり、サンプリングする範囲でよりダスト量を低減しようとすると、より簡易に分析するガスの集塵を行うことが望まれている。 本発明は、に鑑みてなされたものであって、無動力でダストの影響を抑制し、ガス分析の精度の高いレーザ式ガス分析装置を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明のレーザ式ガス分析装置は、排ガス流路の内部に挿入される円筒部材のガス採取管と、前記円筒部材が延びる方向に沿って計測用の光を発光する発光部と、前記円筒部材の内部空間を通過した前記計測用の光を受光する受光部と、を備え、前記円筒部材の内壁に開けられた気体導入孔から導入される、前記排ガス流路のガスが前記円筒部材の内壁に沿って旋回流となることを特徴とす・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
本発明によれば、無動力でダストの影響を抑制し、精度の高いレーザ式ガス分析装置を提供することができる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】図1は、本レーザ式ガス分析装置を模式的に説明する上面図である。

【図2】図2は、本レーザ式ガス分析装置の断面図である。

【図3】図3は、本レーザ式ガス分析装置の気体導入孔を説明するための説明図である。

【図4】図4は、本レーザ式ガス分析装置の気体排出孔を説明するための説明図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

10 送受信ユニット   11 発光部   12 受光部   13 信号処理回路   14 光学部材   20 ミラーユニット   21 ミラー   22 光学部材   30 ガス採取ユニット   31 ガス採取管   31 排ガス流路   32 整流板   32i 導入路   32e 放出路   33 気体導入孔   34 気体排出孔   40 制御装置   42 メモリ   43 記憶部   90 流路壁   91 排ガス流路   100 レーザ式ガス分析装置   EJ 気体排出領域   IJ 気体導入領域   LR 復路光路   LT 往路光路   V 排ガス   Xr 中心

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