特許第6013415号(P6013415)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】6013415
(24)【登録日】2016年9月30日
(45)【発行日】2016年10月25日
(54)【発明の名称】遮蔽膜及びその製造方法
(51)【国際特許分類】
   H05K 9/00 20060101AFI20161011BHJP
【FI】
   H05K9/00 W
【請求項の数】11
【全頁数】24
(21)【出願番号】特願2014-170220(P2014-170220)
(22)【出願日】2014年8月25日
(65)【公開番号】特開2016-46405(P2016-46405A)
(43)【公開日】2016年4月4日
【審査請求日】2014年8月25日
(73)【特許権者】
【識別番号】514215217
【氏名又は名称】欣永立企業有限公司
(74)【代理人】
【識別番号】100116159
【弁理士】
【氏名又は名称】玉城 信一
(72)【発明者】
【氏名】頼 玉豪
【審査官】 岡崎 克彦
(56)【参考文献】
【文献】 特開2004−119445(JP,A)
【文献】 特開平10−041682(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
H05K 9/00
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
絶縁層と、
前記絶縁層の表面に設けられる少なくとも1つの金属遮蔽材を設け、且つ前記金属遮蔽材の一部分の領域に複数の金属接地電極が突出形成され、前記絶縁層が前記金属接地電極に対応して複数の第1隆起部が形成され、前記金属接地電極により電極パターンを共同構成し、複数の金属接地電極の間の領域に充填空間が形成される導電遮蔽層と、
前記充填空間に収容設置される接着剤層と、
を含む遮蔽膜。
【請求項2】
前記絶縁層は、第1絶縁材で単独構成されるか、第1絶縁材及び接着材により共同構成される請求項1に記載の遮蔽膜。
【請求項3】
前記導電遮蔽層には、少なくとも1つの耐候層が設けられる請求項1に記載の遮蔽膜。
【請求項4】
前記絶縁層中に絶縁導熱材料粒子を有し、前記接着剤層に金属粒子を有する請求項1に記載の遮蔽膜。
【請求項5】
前記接着材の材料は、高分子材料から選択される請求項2に記載の遮蔽膜。
【請求項6】
絶縁層と、
前記絶縁層の表面に設けられる金属遮蔽材を設け、且つ前記金属遮蔽材の一部分の領域が一体に成型するように複数の金属接地電極が突出形成され、前記金属接地電極により電極パターンを共同構成し、複数の金属接地電極の間の領域に充填空間が形成される導電遮蔽層と、
前記充填空間に収容設置される接着剤層と、
を含む遮蔽膜。
【請求項7】
前記導電遮蔽層は、少なくとも1つの第2絶縁材を設け、前記第2絶縁材の上下表面がそれぞれ金属遮蔽材の表面に接続する請求項に記載の遮蔽膜。
【請求項8】
(A)基材を導電遮蔽層と接続し、前記基材及び導電遮蔽層に複数の凹孔を形成するステップと、
(B)前記導電遮蔽層の表面に絶縁層を形成し、前記絶縁層によって前記凹孔を充填するステップと、
(C)前記絶縁層の表面にカバーフィルムを形成するステップと、
(D)前記導電遮蔽層の表面の基材を除去し、前記導電遮蔽層の表面に複数の金属接地電極を突出形成するステップと、
(E)前記導電遮蔽層の表面に接着剤層を設置し、前記金属接地電極に電極パターンを露出形成させるステップと、
を含む遮蔽膜の製造方法。
【請求項9】
前記ステップ(A)は、
前記基材に複数の凹孔を形成することと、
前記基材の表面及び凹孔に前記導電遮蔽層を形成することと、
を含む請求項に記載の遮蔽膜の製造方法。
【請求項10】
前記ステップ(A)は、前記基材の表面に前記導電遮蔽層を形成することと、
前記基材及び導電遮蔽層に複数の凹孔を共同形成することと、
を含む請求項に記載の遮蔽膜の製造方法。
【請求項11】
前記ステップ(A)は、基材に前記凹孔を形成することと、
前記基材の表面に導電材を形成することと、
前記導電材に対して鈍化の表面処理を行うことと、
前記導電材の表面に前記導電遮蔽層を形成することと、
を含む請求項に記載の遮蔽膜の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、遮蔽膜及びその製造方法に関し、特に、遮蔽膜の接地性能を増加し、電磁遮蔽効果を増進する遮蔽膜構造及びその製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
現在の産業は、現在の電子及び通信製品の発展の要求に応じる為、製品のパッケージにおいて軽薄短小が要求されているとともに、機能においても高機能性が要求されている。
【0003】
しかしながら、上記目的を達成する為、往々にして電子製品の回路を高密度化及びクロック高周波化させ、電磁輻射の問題を日増しに深刻にさせ、機器間の干渉を招き、更に歯、人体の健康に影響を及ぼしえる。
【0004】
以前、電磁輻射の問題を解決する為、回路の特殊設計及び規格が必要とされたが、この方法は、比較的長い時間及び比較的高いコストの支出が必要となっていた。近年より、遮蔽膜を利用して電磁波を遮蔽する方法に発展し、遮蔽膜は、設計し直しが不要であり、使用に便利で低コストである利点を有するので、遮蔽膜は、近年より業界中で広く使用されている。
【0005】
遮蔽膜の主な原理は、導電性が良好な遮蔽層を利用して電子加工部品の上下表面に貼付し、更に、回路接地線に導通する。電磁輻射が遮蔽層に入る時、電磁輻射及び遮蔽層が電磁交互作用を発生し、接地回路により電磁エネルギーを吸収し、遮蔽層に遮蔽電磁輻射の効果を達成させる。
【0006】
遮蔽層及び電子加工部品間の接地回路の導通性は、遮蔽膜の電磁遮蔽性能に直接影響を及ぼし、接地接触抵抗が小さく、電磁交互作用が強いほど、良好な派兵効果を得ることができる。
【0007】
図1が示すのは、公知の遮蔽膜1の構造であり、それは、主に、絶縁層11、遮蔽層12及び導電接着剤層13から構成される。絶縁層11は、導電を阻隔する遮蔽層12であり、電子部材と接触し、導電接着剤層13は、接着剤に導電粒子13aを添加して構成され、前記導電粒子13aが電子部材の接地回路及び遮蔽層12を導通すること、及び導電接着剤層13の熱硬化の工程によって、前記遮蔽膜1を電子部材の上方に固着させ、電磁波を遮蔽する目的を達成することができる。
【0008】
しかしながら、図1に示す前記遮蔽膜1の周知構造は、導電接着剤層13に導電粒子13aを添加し、この構造は、接着及び導電の効果を達成することができるが、同電粒子13aの間の接触抵抗が大きく、導電性が良好でなくなり、遮蔽効果に間接的に影響を及ぼし、且つ導電粒子13aの寸法の均一性、分散度及び沈降現象が何れも遮蔽膜1の導電性及び接着性に影響を及ぼし、遮蔽膜1の遮蔽効果を低減する。
【0009】
周知の遮蔽膜が有する欠陥に鑑み、簡易で低コストな工程により迅速に生産可能な電磁波を良好に遮蔽できる機能を有する遮蔽膜構造及びその製造方法を提供することが必要とされている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0010】
本発明の目的は、導電遮蔽層の複数の金属接地電極の間の領域に充填接着層を充填し、周知技術の導電粒子を導電接着剤層に添加して導電粒子間の高い接触抵抗が導通効果を低減させることを回避し、故に本発明の遮蔽膜が、良好な接地効果を有するようにすることにある。
【0011】
本発明のもう1つの目的は、本発明の遮蔽膜構造によって導電粒子を接着剤層に添加する必要がなく、故に接着剤の粘性の低下を招き、接着強度に影響を及ぼすことがないようにし、これに基づき、本発明の遮蔽膜が比較的強い接着強度を有するようにすることにある。
【0012】
本発明のもう1つの目的は、高い電気導通性、良好な接着強度及び良好な遮蔽性能の遮蔽膜を製造することができる遮蔽膜の製造方法を提供することにあり、この製造方法は、工程が簡単であるという利点を有し、コスト低減の目的を達成し、産業応用性の利点を大幅に上昇する。
【課題を解決するための手段】
【0013】
前記目的を実現する為、本発明の遮蔽膜は、
絶縁層と、
前記絶縁層の表面に設けられ、且つ一部分の領域に複数の金属接地電極を突出形成し、前記金属接地電極により散布パターンを共同構成し、複数の金属接地電極の間の領域に充填空間が形成される導電遮蔽層と、
前記充填空間に収容設置される粘着剤層と、
を含む。
【0014】
好適実施例において、前記絶縁層は、第1絶縁材で単独構成されるか、第1絶縁材及び接着材により共同構成され、且つ前記接着材の材料は、高分子材料から選択される。
もう1つの好適実施例において、前記絶縁層及び導電遮蔽層の間に接着材を設け、前記接着材の材料は、ニッケル(Ni)、スズ(Sn)、亜鉛(Zn)、銀(Ag)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、チタン(Ti)、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)、鉄(Fe)、バナジウム(V)、コバルト(Co)、ニオブ(Nb)のうちの少なくとも1種の材料又は前記材料の酸化物から選択して構成される。
【0015】
第1実施例において、前記導電遮蔽層には、前記絶縁層と接続する少なくとも1つの金属遮蔽材が設けられ、且つ前記金属遮蔽材の表面に複数の金属接地電極が設けられる。
【0016】
第2実施例において、前記導電遮蔽層には、前記絶縁層と接続する少なくとも1つの金属遮蔽材が設けられ、且つ前記金属遮蔽材に複数の金属接地電極が突出形成される。
【0017】
第3実施例において、前記絶縁層は、複数の第1隆起部を有し、前記導電遮蔽層には、前記絶縁層と接続する少なくとも1つの金属遮蔽材が設けられ、前記金属遮蔽材には、各第1隆起部に対応して金属接地電極がそれぞれ形成される。
【0018】
可能な実施例において、前記導電遮蔽層には、更に、少なくとも1つの耐候層が設けられる。
【0019】
好適実施例において、前記導電遮蔽層には、少なくとも1つの第2絶縁材が設けられ、前記第2絶縁材の上下表面は、それぞれ金属遮蔽材の表面に接続する。
【0021】
第4実施例において、遮蔽膜は、その中に絶縁導熱材料粒子を有する絶縁層と、前記絶縁層の表面に設けられ、且つ一部分の領域に複数の金属接地電極を突設形成し、前記金属接地電極によって散布パターンを共同構成し、複数の金属接地電極の間の領域に充填空間が形成される絶縁層と、前記充填空間に収容設置される接着剤層と、を含み、前記接着剤層に金属粒子を設置する。
【0022】
第5実施例において、遮蔽膜は、一部分領域に複数の金属接地電極が突出形成され、前記金属接地電極によって電極パターンを共同構成し、複数の金属接地電極の間の領域に充填空間が形成される導電遮蔽層と、前記充填空間に収容設置される接着剤層と、含む。
【0023】
第1実施例の遮蔽膜の製造方法において、(A)基材を導電遮蔽層と接続し、前記基材及び導電遮蔽層に複数の凹孔を形成するステップと、(B)前記導電遮蔽層の表面に絶縁層を形成し、前記絶縁層によって前記凹孔を充填するステップと、(C)前記絶縁層の表面にカバーフィルムを形成するステップと、(D)前記導電遮蔽層の表面の基材を除去し、前記導電遮蔽層の表面に複数の金属接地電極を突出形成するステップと、(E)前記導電遮蔽層の表面に接着剤層を設置し、前記金属接地電極に電極パターンを露出形成させるステップと、を含む。
【0024】
第1の方法の実施例において、そのステップ(A)は、前記基材に複数の凹孔を形成すること、及び前記基材の表面及び凹孔に前記導電遮蔽層を形成することを含む。
【0025】
第2の方法の実施例において、そのステップ(A)は、前記基材の表面に前記導電遮蔽層を形成すること、及び前記基材及び導電遮蔽層により複数の凹孔を共同形成することを含む。
【0026】
第3の方法の実施例において、そのステップ(A)は、基材に前記凹孔を形成し、前記基材の表面に導電材を形成することと、前記導電材に対して鈍化の表面処理を行うことと、前記導電材表面に前記導電遮蔽層を形成することとを含む。
【発明の効果】
【0027】
本発明の利点は、導電遮蔽層及びその金属接地電極によって、前記複数の金属接地電極間の領域に接着剤層を充填し、上記構造を利用して、導通性質を向上し、良好な電磁遮蔽効果を獲得し、且つ導電粒子を接着剤層に添加する必要がなく、接着強度を増加させることもでき、また、本発明の遮蔽膜の製造方法によって、工程を簡単にし、コストを低減し、産業応用性を増加させる目的を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【0028】
図1】従来の遮蔽膜の構造説明図である。
図2】本発明の遮蔽膜構造の第1実施例の構造説明図である。
図3】本発明の遮蔽膜構造の第1実施例の構造説明図である。
図4】本発明の遮蔽膜構造の第1実施例の構造説明図である。
図5】本発明の遮蔽膜構造の第1実施例の構造説明図である。
図6】本発明の遮蔽膜構造の第1実施例の構造説明図である。
図7】本発明の遮蔽膜構造の第2実施例の構造説明図である。
図8】本発明の遮蔽膜構造の第2実施例の構造説明図である。
図9】本発明の遮蔽膜構造の第2実施例の構造説明図である。
図10】本発明の遮蔽膜構造の第2実施例の構造説明図である。
図11】本発明の遮蔽膜構造の第2実施例の構造説明図である。
図12】本発明の遮蔽膜構造の第3実施例の構造説明図である。
図13】本発明の遮蔽膜構造の第3実施例の構造説明図である。
図14】本発明の遮蔽膜構造の第3実施例の構造説明図である。
図15】本発明の遮蔽膜構造の第3実施例の構造説明図である。
図16】本発明の遮蔽膜構造の第3実施例の構造説明図である。
図17】本発明の遮蔽膜構造の第4実施例の構造説明図である。
図18】本発明の遮蔽膜構造の第4実施例の構造説明図である。
図19】本発明の遮蔽膜構造の第4実施例の構造説明図である。
図20】本発明の遮蔽膜構造の第5実施例の構造説明図である。
図21】本発明の遮蔽膜構造の第5実施例の構造説明図である。
図22】本発明の遮蔽膜構造の第5実施例の構造説明図である。
図23】本発明の導電遮蔽層の異なる態様の側面図である。
図24】本発明の導電遮蔽層の異なる態様の側面図である。
図25】本発明の導電遮蔽層の異なる態様の側面図である。
図26】本発明の導電遮蔽層の異なる態様の平面図である。
図27】本発明の導電遮蔽層の異なる態様の平面図である。
図28】本発明の導電遮蔽層の異なる態様の平面図である。
図29】本発明の導電遮蔽層の異なる態様の平面図である。
図30】本発明の遮蔽膜の製造方法の第1実施例のフロー図である。
図31】本発明の遮蔽膜の製造方法の第1実施例の構造図である。
図32】本発明の遮蔽膜の製造方法の第1実施例の構造図である。
図33】本発明の遮蔽膜の製造方法の第2実施例のフロー図である。
図34】本発明の遮蔽膜の製造方法の第2実施例の構造図である。
図35】本発明の遮蔽膜の製造方法の第3実施例のフロー図である。
図36】本発明の遮蔽膜の製造方法の第3実施例の構造図である。
図37】本発明の遮蔽膜の製造方法の第4実施例のフロー図である。
図38】本発明の遮蔽膜の製造方法の第4実施例の構造図である。
図39】本発明の遮蔽膜の製造方法の第5実施例のフロー図である。
図40】本発明の遮蔽膜の製造方法の第5実施例の構造図である。
図41】本発明の遮蔽膜の製造方法の第6実施例のフロー図である。
図42】本発明の遮蔽膜の製造方法の第6実施例の構造図である。
図43】本発明の遮蔽膜の製造方法の第7実施例のフロー図である。
図44】本発明の遮蔽膜の製造方法の第7実施例の構造図である。
図45】本発明の遮蔽膜の製造方法の第7実施例のもう1つの構造図である。
【発明を実施するための形態】
【0029】
本考案の構造、使用及びその特徴をより一層明確に、詳細に認識、理解させる為、好適実施例を挙げ、図面を併せて以下に詳細に説明する。
【0030】
図2を参考し、それは、本発明の遮蔽膜2の構造の第1実施例であり、それは、絶縁層21、導電遮蔽層22及び接着剤層24を含む。
【0031】
図2に示すように、前記絶縁層21は、第1絶縁材21aを有する単独構造であることができ、前記第1絶縁材21aの厚さは、5〜25μmに介する。前記第1絶縁材21aの材料は、ポリイミド(PI-Polyimide)、ポリエチレンテレフタレート(PET-Polyethylene Terephthalate)、ポリカーボネート(PC-polycarbonate)又はポリフェニレンスルホン(PPSU-Polyphenylene sulfon)のうちの少なくとも1種の材料から選択して構成されることができる。好適実施例において、前記第1絶縁材21aの材料は、黒色材料により本発明の遮蔽膜2の製造時に良好な効果を有する。
【0032】
継続して図2を参照し、前記絶縁層21の表面に導電遮蔽層22を設置し、前記導電遮蔽層22は、金属遮蔽材221を有し、前記金属遮蔽材221は、前記絶縁層21の表面に接続し、前記金属遮蔽材221の厚さは、0.1〜15μmの範囲に介し、且つ前記金属遮蔽材221の材料は、銅(Cu)、銀(Ag)、アルミニウム(Al)、ニッケル(Ni)と、亜鉛(Zn)、スズ(Sn)、鉄(Fe)、炭素(C)、グラファイト(黒鉛)、グラフェン(グラフェン)、導電高分子材料のうちの少なくとも1種の材料から構成される。
【0033】
図2に示すように、前記金属遮蔽材221の表面に複数の外凸状の金属接地電極222を設置し、前記金属接地電極222の高さは、3〜30μmに介し、且つ前記金属接地電極222の材料は、銅(Cu)、銀(Ag)、アルミニウム(Al)、ニッケル(Ni)と、亜鉛(Zn)、スズ(Sn)、鉄(Fe)、炭素(C)、グラファイト(黒鉛)、グラフェン(グラフェン)、導電高分子材料のうちの少なくとも1種の材料から構成される。
【0034】
継続して図2を参照し、前記複数の金属接地電極222は、導電遮蔽層22表面に共同で電極パターンを形成する。前記金属接地電極222をパターン化することによって複数の金属接地電極222の間の領域に充填空間23を形成させることができ、前記充填空間23は、前記導電遮蔽層22表面積の100分の65〜99を占め、前記充填空間23は、接着剤層24をその中に充填することに用いる。
【0035】
図2の接着剤層24の材質は、熱硬化のエポキシ樹脂、(Epoxy)、アクリル樹脂(Acrylic acid)、ポリウレタン樹脂(Polyurethane)、ポリイミド樹脂(Polyimide)のうちの少なくとも1種から構成される。
【0036】
図3に示すように、好適実施例において、前記絶縁層21は、接着材21bを更に含むことができ、前記第1絶縁材21a及び前記接着剤21bに複合構造の絶縁層21を共同形成させ、前記接着材21bの厚さは、0.01〜10μmに介し、且つ前記接着材21bの材料は、ニッケル(Ni)、スズ(Sn)、亜鉛(Zn)、銀(Ag)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、チタン(Ti)、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)、鉄(Fe)、バナジウム(V)、コバルト(Co)、ニオブ(Nb)、高分子材料のうちの少なくとも1種の材料又は前記材料の酸化物から選択されて構成され、また、前記導電遮蔽層22には、更に、耐候層223が設けられることができ、前記金属接地電極222表面に更に耐候層223を接続被覆することができ、前記耐候層223の厚さは、0.005〜1μmに介し、且つ前記耐候層223の材料は、ニッケル(Ni)、スズ(Sn)、亜鉛(Zn)、銀(Ag)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、チタン(Ti)、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)、鉄(Fe)、バナジウム(V)、コバルト(Co)、ニオブ(Nb)、高分子材料のうちの少なくとも1種の材料又は前記材料の酸化物から選択されて構成される。
【0037】
本発明の遮蔽膜2の第1実施例の構造の前記導電遮蔽層22は、少なくとも1つの前記金属遮蔽材221を有することができ、複数層の金属遮蔽材221を形成させ、図4に示すようである。
【0038】
もう1つの可能な実施例において、本発明の遮蔽膜2の第1実施例の構造の前記耐候層223は、前記金属遮蔽材221の上下表面のうちの一面に増設するか、前記金属遮蔽材221の上下表面に同時に設置することができ、図5に示すようである。
【0039】
もう1つの好適実施例において、図6に示すように、前記導電遮蔽層22に少なくとも1つの第2絶縁材224が設けられ、前記第2絶縁材224の上下表面がそれぞれ金属遮蔽材221の表面に接続する。
【0040】
図7を参照し、それは、本発明の遮蔽膜2の第2実施例の構造であり、前記導電遮蔽層22には、前記絶縁層21と接続する金属遮蔽材221が設けられ、且つ前記金属遮蔽材221の部分領域に外向きに凸伸し、複数の金属接地電極222を形成し、前記複数の金属接地電極222の間で前記接着剤層24を充填空間23に充填する。
【0041】
図8に示すように、前記絶縁層21は、更に接着材21bを有し、且つ前記接着材21bの材料は、高分子材料から選択され、前記金属遮蔽材221の表面に耐候層223を設置し、且つ前記実施例と同様に、前記複数の金属接地電極222の間で前記接着剤層24を充填空間23に充填する。
または、前記絶縁層21及び導電遮蔽層221の間にさらに接着材21bを設け、前記接着材21bの材料は、ニッケル(Ni)、スズ(Sn)、亜鉛(Zn)、銀(Ag)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、チタン(Ti)、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)、鉄(Fe)、バナジウム(V)、コバルト(Co)、ニオブ(Nb)のうちの少なくとも1種の材料又は前記材料の酸化物から選択して構成される。
【0042】
本発明の遮蔽膜2の第2実施例の構造の前記導電遮蔽層22は、少なくとも1つの前記金属遮蔽材221を有することができ、複数層の金属遮蔽材221を形成させ、図9に示すようである。
【0043】
もう1つの可能な実施例において、本発明の遮蔽膜2の第2実施例の構造の前記耐候層223は、前記金属遮蔽材221の上下表面のうちの一面に増設するか、前記金属遮蔽材221の上下表面に同時に設置することができ、図10に示すようである。
【0044】
もう1つの好適実施例において、図11に示すように、前記導電遮蔽層22に少なくとも1つの第2絶縁材224が設けられ、前記第2絶縁材224の上下表面にそれぞれ金属遮蔽材221の表面に接続する。
【0045】
図12を参照し、それは、本発明の遮蔽膜2の第3実施例の結構であり、第3実施例において、前記絶縁層21の部分領域表面に複数の第1隆起部21cを有し、前記第1隆起部21cは、外向きに表面に凸伸し、前記導電遮蔽層22には、前記絶縁層21と接続する金属遮蔽材221が設けられ、前記金属遮蔽材221の前記第1隆起部21cと対応する箇所に金属接地電極222をそれぞれ形成し、また、前記複数の金属接地電極222の間で前記接着剤層24を充填空間23に充填する。
【0046】
図13を参照し、前記絶縁層21は、接着材21bを更に有し、前記金属遮蔽材221の表面に更に耐候層223を設置し、前記複数の金属接地電極222の間で前記接着剤層24を充填空間23に充填する。
【0047】
本発明の遮蔽膜2の第3実施例構造の前記導電遮蔽層22は、少なくとも1つの前記金属遮蔽材221を有することができ、複数層の金属遮蔽材221を形成させ、図14に示すようである。
【0048】
もう1つの可能な実施例において、本発明の遮蔽膜2の第3実施例の構造の前記耐候層223は、前記金属遮蔽材221の上下表面のうちの一面に増設するか、前記金属遮蔽材221の上下表面に同時に設置することができ、図15に示すようである。
【0049】
もう1つの好適実施例において、図16に示すように、前記導電遮蔽層22には、少なくとも1つの第2絶縁材224が設けられ、前記第2絶縁材224の上下表面にそれぞれ金属遮蔽材221の表面に接続する。
【0050】
本発明の遮蔽膜2の第4実施例の構造の図17図19に示すように、絶縁層21と、一部分領域に複数の金属接地電極222が突出形成され、前記金属接地電極222によって電極パターンを共同構成し、複数の金属接地電極222の間の領域に充填空間23を形成する導電遮蔽層22と、前記充填空間23に収容設置される接着剤層24とを含む。前記絶縁層21中に絶縁導熱材料粒子21e、例えば、酸化アルミ(Al2O3)、窒化アルミニウム(AlN)、窒化ホウ素(BN)、炭化珪素(SiC)、酸化マグネシウム(MgO)、酸化亜鉛(ZnO)、酸化ニッケル(NiO)、シリカ(SiO2)、窒化ケイ素(Si3N4)、炭素(C)、重合体の絶縁導熱材料粒子のうちの少なくとも1種を添加し、且つ前記接着剤層24に金属粒子24aを設置する。
【0051】
前記導電遮蔽層22には、前記絶縁層21と接続する金属遮蔽材221が設けられ、且つ前記金属遮蔽材221表面に複数の外凸状の金属接地電極222を設置し、図17に示すようである。実施例において、前記導電遮蔽層22は、少なくとも1つの前記金属遮蔽材221を有することができ、図4に示すようであり、もう1つの実施例において、前記耐候層223は、前記金属遮蔽材221の上下表面のうち一面に増設するか、前記金属遮蔽材221の上下表面に同時接地することができ、図5に示すようである。もう1つの好適実施例において、前記導電遮蔽層22には、少なくとも1つの第2絶縁材224が設けられ、前記第2絶縁材224の上下表面がそれぞれ金属遮蔽材221の表面に接続し、図6に示すようである。
【0052】
図18に示すように、前記導電遮蔽層22には、前記絶縁層21と接続する金属遮蔽材221が設けられ、且つ前記金属遮蔽材221の部分領域は、外向きに凸伸して複数の金属接地電極222を形成する。実施例において、前記導電遮蔽層22は、少なくとも1つの前記金属遮蔽材221を有することができ、図9に示すようである。もう1つの実施例において、本発明の遮蔽膜2の第2実施例の構造の前記耐候層223は、前記金属遮蔽材221の上下表面のうちの一面に増設するか、前記金属遮蔽材221の上下表面に同時に設置することができ、図10に示すようである。もう1つの好適実施例において、図11に示すように、前記導電遮蔽層22に少なくとも1つの第2絶縁材224が設けられ、前記第2絶縁材224の上下表面にそれぞれ金属遮蔽材221の表面に接続する。
【0053】
図19に示すように、前記絶縁層21の部分領域表面に複数の第1隆起部21cを有し、前記第1隆起部21cは、外向きに表面に凸伸し、前記導電遮蔽層22には、前記絶縁層21と接続する金属遮蔽材221が設けられ、前記金属遮蔽材221の前記第1隆起部21cと対応する箇所に金属接地電極222をそれぞれ形成する。実施例において、前記導電遮蔽層22は、少なくとも1つの前記金属遮蔽材221を有することができ、図14に示すようである。もう1つの実施例において、前記耐候層223は、前記金属遮蔽材221の上下表面のうちの一面に増設するか、前記金属遮蔽材221の上下表面に同時に設置することができ、図15に示すようである。もう1つの好適実施例において、図16に示すように、前記導電遮蔽層22には、少なくとも1つの第2絶縁材224が設けられ、前記第2絶縁材224の上下表面にそれぞれ金属遮蔽材221の表面に接続する。
【0054】
上記好適実施例において、金属接地電極222により接地し、絶縁導熱材料粒子21eを絶縁層21中に添加し、同時に金属粒子24aを接着剤層24に増加する技術手段によって、本発明の遮蔽膜2に良好な接地効果をもたせ、放熱効果ももたせる。
【0055】
本発明の遮蔽膜2の第5実施例の構造は、図20図22に示すように、一部分の領域に複数の金属接地電極222が突出形成され、前記金属接地電極222によって電極パターンを共同構成し、複数の金属接地電極222の間の領域に充填空間23を形成する導電遮蔽層22と、前記充填空間23に収容設置する接着剤層24と、を含む。
【0056】
図20に示すように、前記導電遮蔽層22には、金属遮蔽材221が設けられ、且つ前記金属遮蔽材221表面に複数の外凸状金属接地電極222を設置する。実施例において、前記導電遮蔽層22は、少なくとも1つの前記金属遮蔽材221を有することができ、複数層の金属遮蔽材221を形成させ、図4に示すようである。もう1つの実施例において、前記耐候層223は、前記金属遮蔽材221の上下表面のうちの一面に増設するか、前記金属遮蔽材221の上下表面に同時に設置することができ、図5に示すようである。もう1つの好適実施例において、前記導電遮蔽層22中に少なくとも1つの第2絶縁材224が設けられ、前記第2絶縁材224の上下表面がそれぞれ金属遮蔽材221の表面に接続し、図6に示すようである。
【0057】
図21に示すように、前記導電遮蔽層22には、金属遮蔽材221が設けられ、且つ前記金属遮蔽材221の部分領域に外向きに凸伸し、複数の金属接地電極222を形成する。実施例において、前記導電遮蔽層22は、少なくとも1つの前記金属遮蔽材221を有することができ、図9に示すようである。もう1つの実施例において、前記耐候層223は、前記金属遮蔽材221の上下表面のうちの一面に増設するか、前記金属遮蔽材221の上下表面に同時に設置することができ、図10に示すようである。もう1つの好適実施例において、図11に示すように、前記導電遮蔽層22中に少なくとも1つの第2絶縁材224が設けられ、前記第2絶縁材224の上下表面にそれぞれ金属遮蔽材221の表面に接続する。
【0058】
図22に示すように、前記導電遮蔽層22には、金属遮蔽材221が設けられ、且つ前記金属遮蔽材221は、金属接地電極222を形成する。実施例において、前記導電遮蔽層22は、少なくとも1つの前記金属遮蔽材221を有することができ、図14に示すようである。もう1つの実施例において、前記耐候層223は、前記金属遮蔽材221の上下表面のうちの一面に増設するか、前記金属遮蔽材221の上下表面に同時に設置することができ、図15に示すようである。もう1つの好適実施例において、図16に示すように、前記導電遮蔽層22には、少なくとも1つの第2絶縁材224が設けられ、前記第2絶縁材224の上下表面にそれぞれ金属遮蔽材221の表面に接続する。
【0059】
本発明の第5実施例の遮蔽膜2も、絶縁層21を設置する必要があるが、第5実施例の遮蔽膜2を電子製品の表面殻体と接続するように設置し、これにより遮蔽電子製品の電磁波は、金属接地電極222によって接地され、良好な接地効果を獲得する。
【0060】
前記実施例の接着材21b及び耐候層223は、何れも遮蔽膜2の製造工程の要求に従って設置することができ、前記接着材21b及び耐候層223を同時に増設することなく、ただ前記接着材21bのみを増設するか、ただ前記耐候層223のみを増設するか、或いは、前記接着材21b及び耐候層223を同時に増設することができる。
【0061】
図23図25に示すように、前記導電遮蔽層22の金属接地電極222の堆積態様は、各種幾何態様のうちの1種に設けることができ、例えば、図23に示すように柱状の堆積態様であり、図24に示すように台形状の堆積態様であり、図25に示すように錐形状堆積態様であることができる。
【0062】
図26図28に示すのは、各種金属接地電極222が前記導電遮蔽層22表面上方に設置される態様の構造の説明図であり、前記金属接地電極222の態様は、各種幾何態様のうちの1種に設けることができ、接着剤層24を複数の金属接地電極222の間の充填空間23に充填し、好適実施例において、金属接地電極222を、図25に示すように直線ストライプ状に設け、図26に示すように円柱形状に設け、図27に示すように菱形メッシュ状に設けるか、図28に示すように、六角形状メッシュ状に設けることができる。
【0063】
図29図30に示すのは、遮蔽膜2の製造方法の第1実施例のフロー及び構造説明図であり、それは、以下のステップを含む。
【0064】
(A)基材25をエンボス加工機により少なくとも1つの凹孔を形成した後、前記基材25の表面及び凹孔にスパッタリング機によるスパッタリング、蒸着機による蒸着、又は化学鍍金のうちの1種の方式で前記導電遮蔽層22を形成し、前記基材25及び導電遮蔽層22を相互に接続し、複数の凹孔パターンを共同でもたせる。前記エンボス加工機による熱プレスダイキャストの熱圧温度は、約100〜200℃である。
【0065】
(B)前記導電遮蔽層22表面に塗布機により絶縁層21を塗布貼合し、前記絶縁層21を前記導電遮蔽層22上方に設置し、前記絶縁層21を前記凹孔に充填して充満させ、前記絶縁層21は、単一第1絶縁材21a構造又は第1絶縁材21a表面に接着材21bの複合構造を設ける。
【0066】
(C)前記絶縁層21表面にカバーフィルム26を貼合形成し、前記カバーフィルム26は、PETであることができ、前記カバーフィルム26は、遮蔽膜2を使用する時に除去することができる。
【0067】
(D)前記導電遮蔽層22表面の基材25を除去し、前記エンボス加工機によりダイキャストした凹孔パターンを露出させ、前記凹孔パターンが導電遮蔽層22の表面に突出し、複数の金属接地電極222を形成する。
【0068】
(E)前記導電遮蔽層22表面に金属接地電極222を有さない充填空間23内に接着剤層24を充填設置し、前記金属接地電極222を導電遮蔽層22の表面上方に露出させ、電極パターンを形成する。
【0069】
可能な態様において、図31に示すように、更に、もう1つのステップを含むことができる。 前記接着剤層24及び金属接地電極222の表面に離型材3を設置し、製品表面を保護し、美観性を増加する。
【0070】
図32図33は、遮蔽膜2の製造方法の第2実施例であり、それは、ただステップ(A)が前記第1実施例と異なり、本発明の第2実施例のステップ(A)は、基材25を設置し、先ず、前記基材25の表面において、蒸着、スパッタリング又は化学鍍金により前記導電遮蔽層22を形成し、前記基材25を前記導電遮蔽層22と相互に接続させ、前記基材25及び導電遮蔽層22をエンボス加工機により共同でダイキャストし、前記凹孔を形成し、前記基材25及び導電遮蔽層22を共同で複数の凹孔をもたせた後にその残りのステップを行う。そのステップ(B)〜(E)は、第1実施例と何れも同一であるので、ここでは、再度記載しない。
【0071】
図34図35を参照し、それは、遮蔽膜2の製造方法の第3実施例であり、それは、ステップ(A)のみが前記第1及び第2実施例と異なり、本発明の第3実施例のステップ(A)は、直接エンボス加工機により基材25をダイキャストし、前記基材は、繰り返し使用できる母型として設けられて前記凹孔パターンを形成し、前記基材25の表面において、蒸着、スパッタリング又は化学鍍金方式で導電材27を形成し、前記導電材27は、金属材質であり、それから、前記導電材27に鈍化の表面処理を行い、前記鈍化処理は、金属の表面状態を変化させており、金属を耐腐蝕の鈍化状態にし、金属表面に薄膜を形成し、この層膜は、即ち、鈍化膜であり、産業応用において、通常鈍化材(主に酸化剤)を使用し、金属に対して鈍化処理を行い、一層の保護膜を形成し、例えば、冷濃硫酸、冷濃硝酸及び鉄、アルミは、何れも鈍化を発生することができ、本発明のこの鈍化処理は、導電材27を容易に接触する層耐と剥離分離させ、基材25の耐久性を増強することができる。
【0072】
ステップ(A)は、最後に前記導電材27の表面において、スパッタリング、化学鍍金又は電気鍍金方式で前記導電遮蔽層22を形成する。前記電気鍍金工程は、高効率且つ精密な成型技術であり、電気鍍金堆積の原理によって、外部に提供される電気エネルギーにより、金属イオン及びその他の添加物を含有する混合溶液を陰極又は陽極表面で電気化学の酸化還元反応を行わせ、堆積させたい金属を物体表面に形成する。前記第3実施例は、その残りのステップ(B)〜(E)は、第1及び第2実施例と何れも同一であるので、ここでは、再度記載しない。
【0073】
図36図37を参照し、それは、遮蔽膜2の製造方法の第4実施例であり、それは、以下のステップを含む。
(A)絶縁層21を提供する。
(B)前記絶縁層21の表面に蒸着、スパッタリング又は化学鍍金方式で導電遮蔽層22を成型する。
(C)前記絶縁層21及び導電遮蔽層22に対してエンボス加工機により突起した金属接地電極222を同時に共同形成する。
(D)前記導電遮蔽層22の表面の充填空間23内に接着剤層24を充填設置し、前記金属接地電極222を表面に露出させて電極パターンを形成する。
【0074】
図38図39を参照し、それは、遮蔽膜2の製造方法の第5実施例のフロー説明図及びその構造図であり、それは、以下のステップを含む。
そのステップ(A)は、先ず、第1絶縁材21aを提供し、塗布機により高分子材料21dを前記第1絶縁材21a表面上方に塗布した後、前記高分子材料21dを予備硬化し、ダイキャストを行って、前記高分子材料21dをパターン化し、前記第1絶縁材21a及び前記高分子材料21dを共同で前記絶縁層21を構成し、その後、前記絶縁層21の表面に複数の突起を形成し、最後に、UV光照射又はオーブンでベイクする方式で前記高分子材料21dの硬化定形を完成することができる。
(B)前記絶縁層21上に導電遮蔽層22を形成し、前記導電遮蔽層22は、前記突起に対応して金属接地電極222を形成する。
(C)前記導電遮蔽層22の表面に接着剤層24を設置し、前記金属接地電極222を露出して電極パターンを形成する。
【0075】
続けて、図40図41を参照し、それは、遮蔽膜2の製造方法の第6実施例のフロー図及びその構造図であり、第6実施例及び第5実施例が同一のフロー図を有し、ステップ(A)のみが異なり、第6実施例のステップ(A)は、第1絶縁材21aを提供し、転写又はスクリーン印刷方式で高分子材料21dをパターン化し、前記高分子材料21dを前記第1絶縁材21aの表面に設置し、前記絶縁層21を共同構成し、その後、前記絶縁層21は、複数の突起を形成し、最後に、前記実施例と同様に、UV光照射又はオーブンでベイクする方式前記高分子材料21dの硬化定形を完成することができる。
【0076】
第6実施例は、ステップ(A)のみが第5実施例と異なり、その残りのステップ(B)〜(C)は、第5実施例と何れも同一であるので、ここでは、再度記載しない。
【0077】
図42図44を参照し、それは、遮蔽膜2の製造方法の第7実施例のフロー説明図及びその構造図であり、それは、以下のステップを含む。
(A)ダイキャスト方式又は電気鍍金方式で導電遮蔽層22を形成し、前記導電遮蔽層22の表面に複数の突起を形成し、前記突起が金属接地電極222を形成する。
(B)前記導電遮蔽層22の表面に絶縁層21を形成する。
(C)前記導電遮蔽層22の絶縁層21一側に相対するもう1つの表面上方に接着剤層24を設置し、前記金属接地電極222を露出させ、電極パターンを形成する。
【0078】
実施例において、前記ステップ(A)の導電遮蔽層22は、エンボス加工機により複数の突起をダイキャスト形成し、図43に示すようである。
【0079】
もう1つの実施例において、前記ステップ(A)の導電遮蔽層22は、凹孔を有する金型で成型でき、前記導電遮蔽層22に金型中において複数の突起を形成させ、図44に示すようである。
【0080】
前記第7実施例の2つの可能な態様は、ステップ(A)の導電遮蔽層22を形成する方式のみが異なり、故にステップ(B)及び(C)は、更に説明せず、また、本第7実施例の図44の導電遮蔽層22は、前記耐候層22は、前記耐候層223を設置せず、可能な方式において、電気鍍金方式により更に耐候層223(図示せず)を金属接地電極222の外部に設置することができる。
【0081】
前記第1実施例の第7実施例の製造方法の絶縁層21は、何れも単一の第1絶縁材21a構造又は第1絶縁材21aの表面に接着材21bを設けた複合構造であることができ、且つその導電遮蔽層22の耐候層223は、必要に応じて設置することができ、実施例において、前記耐候層223は、金属接地電極222の表面に耐候層223を増設するか(図4図9図14参照)、前記導電遮蔽層22を形成する時にスパッタリング、電気鍍金又は化学鍍金の方式で耐候層223を前記金属遮蔽材221の上下表面に増加形成し(図5図10図15参照)、また、上記遮蔽膜2の製造方法は、何れも更にもう1つのステップを含む:前記接着剤層24及び金属接地電極222の表面に離型材3(図32参照)を設置し、製品表面を保護し、美観性を増加する。
【0082】
下表は、本発明の遮蔽膜2の構造及びその製造方法により製造した遮蔽膜2と周知の遮蔽膜1の比較表であり、本発明の遮蔽膜2の構造及びその製造方法で製造した遮蔽膜2が確かに周知の遮蔽膜2と比較して良好な接地効果及び接着強度を有することを分かることができる。
【0083】
【表1】
【0084】
上記のように、本発明の利点は、導電遮蔽層及びその金属接地電極によって、前記複数の金属接地電極間の領域において接着剤層をその中に充填し、前記構造は、従来技術の遮蔽膜内の導電粒子間の高い接触抵抗を回避することができ、従って、本発明の遮蔽膜は、良好な導電性質を獲得し、遮蔽膜の電磁遮蔽効果を向上させることができることである。
【0085】
なお、本発明では好ましい実施例を前述の通り開示したが、これらは決して本発明に限定するものではなく、当該技術を熟知する者なら誰でも、本発明の精神と領域を脱しない均等の範囲内で各種の変動や潤色を加えることができることは勿論である。
【符号の説明】
【0086】
〔従来技術〕
1 遮蔽膜 shielding film
11 絶縁層 insulating layer
12 遮蔽層 shield layer
13 導電接着剤層 conductive adhesive layer
14 導電粒子 conductive particles
〔本発明〕
2 遮蔽膜 shielding film
21 絶縁層 insulating layer
21a 第1絶縁材 first insulating material
21b 接着材 adhesive material
21c 第1隆起部 first ridge portion
21d 高分子材料 polymer material
21e 絶縁導電材料粒子 insulated conductive material particles
22 導電遮蔽層 conductive shielding layer
221 金属遮蔽材 metal shielding material
222 金属接地電極 metal ground electrode
223 耐候層 weather-proof layer
224 第2絶縁材 second insulating material
23 充填空間 filling space
24 接着剤層 adhesive layer
24a 金属粒子 metal particles
25 基材 substrate
26 カバーフィルム cover film
27 導電材 conductive material
3 離型材 release material
図1
図2
図3
図4
図5
図6
図7
図8
図9
図10
図11
図12
図13
図14
図15
図16
図17
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図19
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図22
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図24
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図26
図27
図28
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図30
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図32
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図39
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