【図1】工作物が載せられているＣＭＭ（座標測定機）を示す図である。

【図2】図１のＣＭＭに取り付けられる関節式走査ヘッドを示す図である。

【図3】関節式プローブヘッドの軸とスタイラス先端の位置を示す図である。

【図4】関節式プローブヘッドに取り付けられたプローブを使用して測定される穴を示す図である。

【図5A】本発明の第１の実施形態によるリングゲージの測定を示す図である。

【図5B】本発明の第１の実施形態によるリングゲージの測定を示す図である。

【図6】リングゲージの一部の測定結果を示す図である。

【図7A】本発明の第２の実施形態によるリングゲージの測定を示す図である。

【図7B】本発明の第２の実施形態によるリングゲージの測定を示す図である。

【図8】図７Ａおよび図７Ｂに示す方法から判定された測定中心を示すリングゲージの平面図である。

【図9】考えられる測定誤差の要因を示す概略図である。

【図10】図５Ａおよび図５Ｂに関連して説明した方法を使って得られる測定を示すリングゲージの平面図である。

【図11】図７Ａおよび図７Ｂに関連して説明した方法を使って得られる測定を示すリングゲージの平面図である。

【図12】本発明の方法で使用するのに適したゲージブロックを示す図である。

【図13】本発明の方法で使用するのに適したゲージリングを示す図である。

【図14A】３回の測定に対するオフセットの影響を示す図であり、オフセットが各測定に与える影響が正反対ではなく部分的に反するように、プローブが毎回の測定の合間に回転される。

【図14B】３回の測定に対するオフセットの影響を示す図であり、オフセットが各測定に与える影響が正反対ではなく部分的に反するように、プローブが毎回の測定の合間に回転される。