【実施例】
【0016】
以下、本発明を実施するための形態を、添付図面を用いて詳細に説明する。
本発明の電子ビーム蒸着装置は、
図1に示したような構成を有している。
【0017】
11は真空容器の内部下方に配置された材料12の蒸発部である。この蒸発部11は、電子ビーム源である電子銃13と、電子銃13より放出された電子の衝突により加熱蒸発する前記材料12を装入する坩堝14と、坩堝14近傍における電子軌道を制御(例えば、坩堝14への電子ビーム入射により発生する反射電子の飛散方向を制御する等)するための磁石を有するポールピース15と、電子銃13より放出された電子の進路を曲げて、接地電位である坩堝14内に導くための偏向用磁石16とから構成されている。
【0018】
前記蒸発部11において、前記電子銃13からの坩堝14(材料12の表面)までの電子ビームの偏向角は特に限定されないが、電子銃13が蒸着材料や粉塵等の影響を受けず、かつ、電子ビームの偏向角の制御が可能な範囲として、225°〜315°とするのが好ましい。
【0019】
前記本発明例では、水平に設置した坩堝14内の材料12に斜め上方から電子を照射し易くするために、少なくとも電子を放出して坩堝14に導くための、電子銃13、ポールピース15、偏向用磁石16を、真空容器の内部上方に、鉛直方向に保持した基板17に向けて傾斜配置したことが特徴である。
【0020】
加えて、本発明では、坩堝14内、本発明例のように坩堝14内にハースライナー18を設置する場合は、ハースライナー18の前記基板17と離れた側に、反射板19を、基板17に向けて傾斜状に、例えばハースライナー18から直接延出すべく設けたことが特徴である。
【0021】
この反射板19は、蒸発した材料12を基板17に向けて反射するためのものであるため、蒸発した材料12が反射板19に当った際に反射板19に付着しないように加熱されている。
【0022】
また、反射板19の水平線に対する傾斜角度θは、坩堝14と基板17との相対距離L1や基板の鉛直方向の長さL2によって適宜決定するものである。
【0023】
このような構成の本発明の電子ビーム蒸着装置では、斜め上方から電子を照射された坩堝14内の材料12は、蒸発後、反射板19に当って反射して流動方向を変更し、鉛直方向に保持した基板17の表面に薄膜を形成することになる。
【0024】
つまり、水平に設置した坩堝14に対して、少なくとも電子銃13と偏向用磁石16を基板17方向に傾斜配置し、坩堝14(発明例ではハースライナー18)の近傍で、基板17と離れた側に、基板17に向けて傾斜状に延出する反射板19を設ける本発明では、坩堝14内に装入する材料12が例えばAlやCu等の溶融材料であっても、サイドデポジションでの蒸着が可能になる。
【0025】
その際、基板17の鉛直方向の上下端部に比べて中央部分の膜厚が厚くなるので、反射板19の前記傾斜角度θを変化できるように構成し、反射板19の前記傾斜角度θを変化しつつ、エミッション電流を変化させて蒸着することが望ましい。
【0026】
例えば
図1の場合では、水平方向(基板17側)への蒸着粒子の数(蒸着量)が最大となる傾斜角度θ(例えば45°付近)ではエミッション電流を最低にし、逆に蒸着粒子の数が最少となる傾斜角度θ(例えば65°付近)に行くほどエミッション電流を最大とする(
図2参照)。但し、反射板19の傾斜角度θとエミッション電流との関係は基板17と坩堝14との距離に応じて異なることは言うまでもない。
【0027】
ところで、反射板19の傾斜角度θを変化させる可動機構としては、例えば
図3に示すようなものを採用する。
【0028】
反射板19は、例えば坩堝14から離反した側の端面が前記傾斜角θを変更できるように揺動すべく坩堝14側の端面はヒンジ20を介して、前記坩堝14から離反した側の端面側はリンク機構21を介して坩堝14の近傍に取り付ける。そして、前記リンク機構21を、これを伸縮するための軸22を介して、蒸着装置外に設けたモータ23に接続することで、反射板19を所定の傾斜角θに設定できるようにする。
【0029】
上記の通り、反射板19の傾斜角度θとエミッション電流値に応じて蒸着量は変化するため、予め、各エミッション電流値と反射板19の傾斜角度θにおける蒸着量の関係を事前に計測しておく。そして、実際の成膜時には、例えば基板17全体が均一な膜厚分布になるように(基板17全体の蒸着量が一定になるように)、シーケンサ24から蒸発部11のコントローラ25に指令を出してエミッション電流値を、シーケンサ24からモータ23のコントローラ26に指令を出して反射板19の傾斜角度θを制御する。
【0030】
反射板19を傾斜させるための機構は、
図3に示した構成に限定されず、
図4のように、反射板19の可動軸27にモータ23を直結させたものであっても良い。
【0031】
なお、上記制御に限らず、基板17近傍に配置した膜厚センサー(図示せず)の値に応じて、基板17全体の蒸着量が一定になるように、エミッション電流値、反射板19の傾斜角度θを制御しても良い。また、反射板19を可動させずに傾斜角度θを一定とし、基板17側もしくは蒸発部11側を鉛直方向に移動させても良い。
【0032】
また、同様な考え方により、坩堝14と反射板19を水平方向に回転させながらエミッション電流を変化させれば、基板17の横方向の付着量を均一化することができる。
【0033】
例えば、坩堝14と反射板19を、軸方向の中心軸c(
図3、
図4参照)を回転中心として、例えば
図3に示す例では紙面手前から奥方向に回転させることで、基板17の水平方向(
図3では紙面手前から奥方向、
図4では紙面上下方向)の膜厚分布を均一化することができる。坩堝14と反射板19の回転角度は、坩堝14の
図3の位置を0°とした場合、例えば±15°とされ、基板17への蒸着量が最大となる0°でエミッション電流値を最小とし、+15°、−15°に行くにしたがってエミッション電流値が大となるように制御することで、基板17の水平方向の膜厚分布が均一化される(
図5参照)。
【0034】
ちなみに、
図1の構成の本発明の電子ビーム蒸着装置と、
図8の構成の従来の電子ビーム蒸着装置を使用して、以下の条件で300mm×300mmのガラス基板上にAlを蒸着して、膜厚分布を測定したところ、両者の膜厚分布はほぼ一致し、±20%であった。
【0035】
これにより、本発明によれば、坩堝内に装入する材料がAlやCu等の溶融材料であっても、従来のフェイスダウンの状態と同様の膜厚分布で、サイドデポジションで蒸着できることが判明した。従って、本発明によれば、大型の基板であってもたわみが発生せず、マスクやベースプレートへの密着性が悪くなることもなく、小型の基板と同様の精度で成膜することができるようになる。
【0036】
(蒸着条件)
・加速電圧:2kV
・エミッション電流:270mA
・ビーム偏向角:270°
・反射板の傾斜角度:55°
【0037】
さらに、膜厚分布を改善するために、
図1の構成の本発明の電子ビーム蒸着装置における反射板の傾斜角度が45°〜65°の間を、5°/秒の角速度で往復させた。その際、反射板の傾斜角度が45°の時はエミッション電流が240mA、傾斜角度が65°の時はエミッション電流が300mAとなるように、3秒で240mAから300mAとなるようにリニアに変化させた。その結果、膜厚分布は±10%と向上した。
【0038】
本発明は、前記の例に限るものではなく、各請求項に記載の技術的思想の範疇であれば、適宜実施の形態を変更しても良いことは言うまでもない。
【0039】
例えば、基板17への付着量の分布は、反射板19の前記傾斜角度θの変化に限らず、坩堝14内の材料12への電子の照射角度や基板17の上下方向の保持位置によっても調整することができる。
【0040】
また、
図1では坩堝14をポールピース15より上方の位置に配置しているが、
図6に示すように、坩堝14をポールピース15より下方の位置に配置してもよい。また、基板17の上下方向長さが大きい場合、
図7に示すように、例えば
図1の電子ビーム蒸着装置を鉛直方向に複数(
図7では2台)設けても良い。