特許6018232粒子撮像デバイスにおける測定精度を上げるための装置、システムおよび方法

発明の名称　粒子撮像デバイスにおける測定精度を上げるための装置、システムおよび方法

出願人　ルミネックス　コーポレーション　（識別番号 500174502）

　　　　特許公開件数ランキング 30918 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 24983 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6018232

公報発行日　2016年11月2

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6018232

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