特許第6023497号(P6023497)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

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特許6023497ワイドギャップ半導体のバンドギャップ電子物性測定方法及びワイドギャップ半導体のバンドギャップ電子物性測定装置
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