特許 6025883 誤り率測定装置及び誤り率測定方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6025883

(24)【登録日】2016年10月21日

(45)【発行日】2016年11月16日

(54)【発明の名称】誤り率測定装置及び誤り率測定方法

(51)【国際特許分類】

   H04L 25/02 20060101AFI20161107BHJP

   H04L 1/00 20060101ALI20161107BHJP

   H04L 25/49 20060101ALI20161107BHJP

   H04B 17/15 20150101ALI20161107BHJP

   H04B 17/29 20150101ALI20161107BHJP

【ＦＩ】

   H04L25/02 302B

   H04L1/00 C

   H04L25/49 L

   H04B17/15

   H04B17/29

【請求項の数】6

【全頁数】10

(21)【出願番号】特願2015-22238(P2015-22238)

(22)【出願日】2015年2月6日

(65)【公開番号】特開2016-146535(P2016-146535A)

(43)【公開日】2016年8月12日

【審査請求日】2015年8月4日

(73)【特許権者】

【識別番号】000000572

【氏名又は名称】アンリツ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100067323

【弁理士】

【氏名又は名称】西村 教光

(74)【代理人】

【識別番号】100124268

【弁理士】

【氏名又は名称】鈴木 典行

(72)【発明者】

【氏名】齋藤 岳人

(72)【発明者】

【氏名】藤沼 一弘

【審査官】 阿部 弘

(56)【参考文献】

【文献】 特開昭６３−１１９３３１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平０９−１８６７２６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平０４−２７７９３１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平０８−３３１１８３（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開昭５８−０９７９８６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００５−３２８１１０（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｈ０４Ｌ ２５／０２

Ｈ０４Ｂ １７／１５

Ｈ０４Ｂ １７／２９

Ｈ０４Ｌ １／００

Ｈ０４Ｌ ２５／４９

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

被試験デバイスに所定パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率を被試験デバイスに入力したテスト信号との比較によって測定する誤り率測定装置において、
全体の振幅電圧範囲（Ｈ）が電圧レベルの高い方から高電圧範囲（Ｈ１）、中電圧範囲（Ｈ２）、低電圧範囲（Ｈ３）に分けられた３つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる４ＰＡＭ信号を前記入力データとし、該入力データを所定のサンプリング周期でデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換部（４）と、
データ閾値電圧（Ｖｔｈ）を所定ステップで可変する閾値電圧可変部（３）と、
前記閾値電圧可変部にて前記データ閾値電圧を可変したときに、前記Ａ／Ｄ変換部からのデジタル値が飽和する上限のデータ閾値電圧を前記高電圧範囲の上限電圧として検出し、前記Ａ／Ｄ変換部からのデジタル値が飽和する下限のデータ閾値電圧を前記低電圧範囲の下限電圧として検出する飽和電圧検出手段（６ｂ）と、
前記飽和電圧検出手段が検出した前記高電圧範囲の上限電圧と前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記中電圧範囲の中心電圧を算出し、この算出した中電圧範囲の中心電圧と前記飽和電圧検出手段が検出した前記高電圧範囲の上限電圧又は前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記高電圧範囲の中心電圧又は前記低電圧範囲の中心電圧を算出する中心電圧算出手段（６ｃ）とを備えたことを特徴とする誤り率測定装置。

【請求項2】

前記高電圧範囲（Ｈ１）、前記中電圧範囲（Ｈ２）、前記低電圧範囲（Ｈ３）の３つの電圧範囲から何れか１つの振幅電圧範囲を選択操作する操作部（２）と、
前記中心電圧算出手段の算出結果に基づき、前記操作部にて選択された振幅電圧範囲の中心電圧を表示する表示部（５）とを備えたことを特徴とする請求項１記載の誤り率測定装置。

【請求項3】

前記閾値電圧可変部（３）は、所定の電圧範囲において第１のステップでデータ閾値電圧（Ｖｔｈ）を可変し、前記Ａ／Ｄ変換部（４）のデジタル値が飽和したときに、そのデジタル値が飽和する点を中心とする電圧範囲において前記第１のステップよりも細かい第２のステップで前記データ閾値電圧を可変することを特徴とする請求項１又は２記載の誤り率測定装置。

【請求項4】

被試験デバイスに所定パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率を被試験デバイスに入力したテスト信号との比較によって測定する誤り率測定方法において、
全体の振幅電圧範囲（Ｈ）が電圧レベルの高い方から高電圧範囲（Ｈ１）、中電圧範囲（Ｈ２）、低電圧範囲（Ｈ３）に分けられた３つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる４ＰＡＭ信号を前記入力データとし、該入力データを所定のサンプリング周期でデジタル値に変換するステップと、
データ閾値電圧（Ｖｔｈ）を所定ステップで可変するステップと、
前記データ閾値電圧を可変したときに、前記デジタル値が飽和する上限のデータ閾値電圧を前記高電圧範囲の上限電圧として検出し、前記デジタル値が飽和する下限のデータ閾値電圧を前記低電圧範囲の下限電圧として検出するステップと、
前記高電圧範囲の上限電圧と前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記中電圧範囲の中心電圧を算出し、この算出した中電圧範囲の中心電圧と前記高電圧範囲の上限電圧又は前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記高電圧範囲の中心電圧又は前記低電圧範囲の中心電圧を算出するステップとを含むことを特徴とする誤り率測定方法。

【請求項5】

前記高電圧範囲（Ｈ１）、前記中電圧範囲（Ｈ２）、前記低電圧範囲（Ｈ３）の３つの電圧範囲から何れか１つの振幅電圧範囲を選択操作するステップと、
前記算出の結果に基づき、前記選択された振幅電圧範囲の中心電圧を表示するステップとを含むことを特徴とする請求項４記載の誤り率測定方法。

【請求項6】

所定の電圧範囲において第１のステップで前記データ閾値電圧（Ｖｔｈ）を可変し、前記デジタル値が飽和したときに、そのデジタル値が飽和する点を中心とする電圧範囲において前記第１のステップよりも細かい第２のステップで前記データ閾値電圧を可変するステップを含むことを特徴とする請求項４又は５記載の誤り率測定方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、被試験デバイス（ＤＵＴ：Device Under Test ）に所定パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率（Bit Error Rate）を被試験デバイスに入力したテスト信号との比較によって測定する誤り率測定装置及び誤り率測定方法に関する。

【背景技術】

【0002】

各種のディジタル通信装置は、利用者数の増加やマルチメディア通信の普及に伴い、より大容量の伝送能力が求められている。また、これらのディジタル通信装置におけるディジタル信号の品質評価の指標の一つとしては、受信データのうち符号誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるビット誤り率が知られている。

【0003】

そして、上述したディジタル通信装置において、試験対象となる光電変換部品等の被試験デバイスに対して固定データを含むテスト信号を送信し、被試験デバイスを介して入力される被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較して、被測定信号の誤り率を測定する誤り率測定装置として、例えば下記特許文献１に開示される符号誤り率測定装置が知られている。

【0004】

特許文献１に開示される符号誤り率測定装置は、クロック位相を所定範囲内で自動設定するクロック位相検出部と、２値化のためのデータ閾値電圧を所定範囲内で自動設定するデータ閾値電圧検出部と、クロック位相検出部により設定されたクロック位相およびデータ閾値電圧検出部により設定されたデータ閾値電圧に基づき、クロック位相およびデータ閾値の安定状態を検出する位相閾値安定状態検出部と、位相閾値安定状態検出部により設定された位相閾値に基づき、符号誤り率を測定する符号誤り率測定部と、符号誤り率測定部の測定結果に基づきアイパターン開口部におけるクロック位相およびデータ閾値電圧の最適設定値を検出する同期確立検出部を設け、クロック位相とデータ閾値電圧を高速かつ高精度でアイパターンの開口部中心に自動設定している。

【0005】

ところで、情報信号の振幅をパルス信号の系列で符号化したパルス振幅変調信号として、振幅をシンボルごとに４種類に分けた４ＰＡＭ信号が知られている。４ＰＡＭ信号は、図４に示すように、４つの異なる振幅を持ち、全体の振幅電圧範囲Ｈが電圧レベルの高い方から高電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、低電圧範囲Ｈ３に分けられ、３つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0006】

【特許文献1】特開２００５−３２８１１０号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0007】

しかしながら、特許文献１に開示される従来の符号誤り率測定装置は、上述した４ＰＡＭ信号を入力データとして想定したものではなかった。すなわち、上述した特許文献１に開示されるアイパターンの開口部中心を設定する技術を、４ＰＡＭ信号の振幅電圧範囲Ｈにおける高電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、低電圧範囲Ｈ３のそれぞれに単純に適用だけでは、最適な誤り測定ポイントとして、中電圧範囲Ｈ２の中心電圧にデータ閾値電圧を設定することはできても、高電圧範囲Ｈ１や低電圧範囲Ｈ３の中心電圧にデータ閾値電圧を設定することはできなかった。

【0008】

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、最適な誤り測定ポイントとして、４ＰＡＭ信号の振幅電圧範囲における中電圧範囲だけでなく高電圧範囲や低電圧範囲の中心電圧にデータ閾値電圧を設定することができる誤り率測定装置および誤り率測定方法を提供することを目的としている。

【課題を解決するための手段】

【0009】

上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された誤り率測定装置は、被試験デバイスに所定パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率を被試験デバイスに入力したテスト信号との比較によって測定する誤り率測定装置において、
全体の振幅電圧範囲Ｈが電圧レベルの高い方から高電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、低電圧範囲Ｈ３に分けられた３つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる４ＰＡＭ信号を前記入力データとし、該入力データを所定のサンプリング周期でデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換部４と、
データ閾値電圧Ｖｔｈを所定ステップで可変する閾値電圧可変部３と、
前記閾値電圧可変部にて前記データ閾値電圧を可変したときに、前記Ａ／Ｄ変換部からのデジタル値が飽和する上限のデータ閾値電圧を前記高電圧範囲の上限電圧として検出し、前記Ａ／Ｄ変換部からのデジタル値が飽和する下限のデータ閾値電圧を前記低電圧範囲の下限電圧として検出する飽和電圧検出手段６ｂと、
前記飽和電圧検出手段が検出した前記高電圧範囲の上限電圧と前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記中電圧範囲の中心電圧を算出し、この算出した中電圧範囲の中心電圧と前記飽和電圧検出手段が検出した前記高電圧範囲の上限電圧又は前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記高電圧範囲の中心電圧又は前記低電圧範囲の中心電圧を算出する中心電圧算出手段６ｃとを備えたことを特徴とする。

【0010】

請求項２に記載された誤り率測定装置は、請求項１記載の誤り率測定装置において、
前記高電圧範囲Ｈ１、前記中電圧範囲Ｈ２、前記低電圧範囲Ｈ３の３つの電圧範囲から何れか１つの振幅電圧範囲を選択操作する操作部２と、
前記中心電圧算出手段の算出結果に基づき、前記操作部にて選択された振幅電圧範囲の中心電圧を表示する表示部５とを備えたことを特徴とする。

【0011】

請求項３に記載された誤り率測定装置は、請求項１又は２記載の誤り率測定装置において、
前記閾値電圧可変部３は、所定の電圧範囲において第１のステップでデータ閾値電圧Ｖｔｈを可変し、前記Ａ／Ｄ変換部４のデジタル値が飽和したときに、そのデジタル値が飽和する点を中心とする電圧範囲において前記第１のステップよりも細かい第２のステップで前記データ閾値電圧を可変することを特徴とする。

【0012】

請求項４に記載された誤り率測定方法は、被試験デバイスに所定パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率を被試験デバイスに入力したテスト信号との比較によって測定する誤り率測定方法において、
全体の振幅電圧範囲Ｈが電圧レベルの高い方から高電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、低電圧範囲Ｈ３に分けられた３つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる４ＰＡＭ信号を前記入力データとし、該入力データを所定のサンプリング周期でデジタル値に変換するステップと、
データ閾値電圧Ｖｔｈを所定ステップで可変するステップと、
前記データ閾値電圧を可変したときに、前記デジタル値が飽和する上限のデータ閾値電圧を前記高電圧範囲の上限電圧として検出し、前記デジタル値が飽和する下限のデータ閾値電圧を前記低電圧範囲の下限電圧として検出するステップと、
前記高電圧範囲の上限電圧と前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記中電圧範囲の中心電圧を算出し、この算出した中電圧範囲の中心電圧と前記高電圧範囲の上限電圧又は前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記高電圧範囲の中心電圧又は前記低電圧範囲の中心電圧を算出するステップとを含むことを特徴とする。

【0013】

請求項５に記載された誤り率測定方法は、請求項４記載の誤り率測定方法において、
前記高電圧範囲Ｈ１、前記中電圧範囲Ｈ２、前記低電圧範囲Ｈ３の３つの電圧範囲から何れか１つの振幅電圧範囲を選択操作するステップと、
前記算出の結果に基づき、前記選択された振幅電圧範囲の中心電圧を表示するステップとを含むことを特徴とする。

【0014】

請求項６に記載された誤り率測定方法は、請求項４又は５記載の誤り率測定方法において、
所定の電圧範囲において第１のステップで前記データ閾値電圧Ｖｔｈを可変し、前記デジタル値が飽和したときに、そのデジタル値が飽和する点を中心とする電圧範囲において前記第１のステップよりも細かい第２のステップで前記データ閾値電圧を可変するステップを含むことを特徴とする。

【発明の効果】

【0015】

本発明によれば、４ＰＡＭ信号の全体の振幅電圧範囲における各振幅電圧範囲（高電圧範囲、中電圧範囲、低電圧範囲）の中心電圧を算出し、選択された振幅電圧範囲における中心電圧にデータ閾値電圧を最適な測定ポイントとして設定することができる。

【0016】

また、高電圧範囲の上限電圧や低電圧範囲の下限電圧を検出する場合には、最初にデータ閾値電圧を荒い第１のステップで可変し、ＡＤ値が飽和すると、ＡＤ値が飽和する点を中心として第１のステップよりも細かい第２のステップでデータ閾値電圧を可変してＡＤ値が飽和する上限又は下限のデータ閾値電圧を検出するので、効率良く高電圧範囲の上限電圧や低電圧範囲の下限電圧を検出することができる。

【0017】

さらに、操作部にて選択された振幅電圧範囲における中心電圧を表示部に表示するので、ユーザは設定した振幅電圧範囲における中心電圧を視認することができる。

【図面の簡単な説明】

【0018】

【図1】本発明に係る誤り率測定装置のブロック構成図である。

【図2】本発明に係る誤り率測定装置における設定画面の表示例を示す図である。

【図3】本発明に係る誤り率測定装置におけるデータ閾値電圧とＡＤ値（１０進数）との関係を示す図である。

【図4】４ＰＡＭ信号のアイパターン開口部の一例を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0019】

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面の図１〜４を参照しながら詳細に説明する。

【0020】

本発明に係る誤り率測定装置及び誤り率測定方法は、被試験デバイス（ＤＵＴ）に所定パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率を被試験デバイスに入力したテスト信号との比較によって測定するものである。

【0021】

そして、本実施の形態に係る誤り率測定装置及び誤り率測定方法は、入力データとしての４ＰＡＭ信号の振幅電圧範囲Ｈにおける高電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、低電圧範囲Ｈ３から選択された振幅電圧範囲の中心電圧を算出し、最適な誤り測定ポイントとして、算出した中心電圧にデータ閾値電圧を設定する機能を有する。

【0022】

図１に示すように、本実施の形態の誤り率測定装置１は、上述した４ＰＡＭ信号の各振幅電圧範囲の中心電圧を効率的に算出するための構成として、操作部２、閾値電圧可変部３、Ａ／Ｄ変換部４、表示部５、制御部６を備えて概略構成される。

【0023】

操作部２は、例えば装置本体に設けられる各種キー、スイッチ、ボタンや表示部５の表示画面上のソフトキーなどで構成され、誤り率測定の開始・終了など誤り率測定に関わる各種設定を行う際にユーザにより操作される。

【0024】

特に、本例における操作部２は、４ＰＡＭ信号における高電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、低電圧範囲Ｈ３から自動検索対象とする振幅電圧範囲を設定する際に操作される。具体的には、図２の設定画面１１に表示される高電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、低電圧範囲Ｈ３の３つの電圧範囲から何れか１つの振幅電圧範囲を選択操作すると、選択操作された振幅電圧範囲が設定される。図２の例では、高電圧範囲Ｈ１が設定された状態を示している。

【0025】

閾値電圧可変部３は、高電圧範囲Ｈ１の上限電圧Ｖ１又は低電圧範囲Ｈ３の下限電圧Ｖ４を検出する際に、閾値電圧制御手段６ａからの制御信号により、所定の電圧範囲においてデータ閾値電圧Ｖｔｈを所定ステップで可変する。

【0026】

さらに説明すると、操作部２にて高電圧範囲Ｈ１が設定された場合は、所定の電圧範囲（例えば−０．６〜−０Ｖ）において第１のステップ（例えば１０ｍＶ）でデータ閾値電圧Ｖｔｈを可変し、Ａ／Ｄ変換部４のＡＤ値が飽和すると、そのＡＤ値が飽和する点を中心とする電圧範囲（例えば−０．３〜−０．１Ｖ）において第１のステップよりも細かい第２のステップ（例えば２ｍＶ）でデータ閾値電圧Ｖｔｈを可変する。

【0027】

また、操作部２にて低電圧範囲Ｈ３が設定された場合は、所定の電圧範囲（例えば０〜０．６Ｖ）において第１のステップ（例えば１０ｍＶ）でデータ閾値電圧Ｖｔｈを可変し、Ａ／Ｄ変換部４のＡＤ値が飽和すると、そのＡＤ値が飽和する点を中心とする電圧範囲（例えば０．１〜０．３Ｖ）において第１のステップよりも細かい第２のステップ（例えば２ｍＶ）でデータ閾値電圧Ｖｔｈを可変する。

【0028】

Ａ／Ｄ変換部４は、入力信号としての４ＰＡＭ信号を所定のサンプリング周期でＡＤ値（１０進数）に変換する。この４ＰＡＭ信号をＡ／Ｄ変換したＡＤ値は制御部６に入力される。

【0029】

表示部５は、例えば液晶表示器などで構成され、誤り率測定に関わる設定画面や測定結果などを表示する。特に、本例における表示部５は、図２の設定画面１１に示すように、高電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、低電圧範囲Ｈ３の３つの選択項目１２から１つを選択すると、選択した振幅電圧範囲の中心電圧を算出し、算出した中心電圧の電圧値を算出結果項目１３に表示する。図２の例では、高電圧範囲Ｈ１の中心電圧Ｖｃ１の電圧値が算出結果項目１３に表示された状態を示している。

【0030】

制御部６は、入力される４ＰＡＭ信号の誤り率を測定するため、操作部２、閾値電圧可変部３、Ａ／Ｄ変換部４、表示部５を統括制御する。また、制御部６は、操作部２にて設定された振幅電圧範囲の中心電圧を算出するための構成として、閾値電圧制御手段６ａ、飽和電圧検出手段６ｂ、中心電圧算出手段６ｃを有する。

【0031】

閾値電圧制御手段６ａは、所定の電圧範囲でデータ閾値電圧Ｖｔｈを所定ステップごとに可変するように閾値電圧可変部３に制御信号を出力する。

【0032】

飽和電圧検出手段６ｂは、図３に示すように、Ａ／Ｄ変換部４からのＡＤ値が飽和する上限のデータ閾値電圧Ｖｔｈを高電圧範囲Ｈ１の上限電圧Ｖ１として検出する。また、飽和電圧検出手段６ｂは、図３に示すように、Ａ／Ｄ変換部４からのＡＤ値が飽和する下限のデータ閾値電圧Ｖｔｈを低電圧範囲Ｈ３の下限電圧Ｖ４として検出する。

【0033】

中心電圧算出手段６ｃは、操作部２の操作により設定された振幅電圧範囲（高電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、低電圧範囲Ｈ３の何れかの振幅電圧範囲）における中心電圧を算出する。

【0034】

さらに説明すると、中心電圧算出手段６ｃは、飽和電圧検出手段６ｂが検出した高電圧範囲Ｈ１の上限電圧Ｖ１と低電圧範囲Ｈ３の下限電圧Ｖ４を用い、（Ｖ１＋Ｖ４）／２の計算式により中電圧範囲Ｈ２の中心電圧Ｖｃ２を算出する。

【0035】

また、中心電圧算出手段６ｃは、上記のように算出した中電圧範囲Ｈ２の中心電圧Ｖｃ２、飽和電圧検出手段６ｂが検出した高電圧範囲Ｈ１の上限電圧Ｖ１と低電圧範囲Ｈ３の下限電圧Ｖ４を用い、（Ｖ１＋Ｖｃ２）／２の計算式により高電圧範囲Ｈ１の中心電圧Ｖｃ１を算出し、（Ｖ４＋Ｖｃ２）／２の計算式により低電圧範囲Ｈ３の中心電圧Ｖｃ３を算出する。

【0036】

なお、制御部６は、設定された測定ポイントにおいて、Ａ／Ｄ変換部４からの４ＰＡＭ信号に基づくデータと、被試験デバイスに入力したテスト信号とのビット比較により被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率を算出する。

【0037】

次に、上記のように構成される誤り率測定装置１の動作として、４ＰＡＭ信号における各振幅電圧範囲Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３の中心電圧Ｖｃ１，Ｖｃ２，Ｖｃ３の算出処理について説明する。

【0038】

４ＰＡＭ信号における各振幅電圧範囲Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３の中心電圧Ｖｃ１，Ｖｃ２，Ｖｃ３を算出するにあたっては、図２に示す設定画面１１において、選択項目１２に表示される高電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、低電圧範囲Ｈ３の中から何れか１つの振幅電圧範囲を選択する。

【0039】

そして、飽和電圧検出手段６ｂは、振幅電圧範囲が選択されると、Ａ／Ｄ変換部４からのＡＤ値が飽和する上限のデータ閾値電圧Ｖｔｈを高電圧範囲Ｈ１の上限電圧Ｖ１として検出する。また、Ａ／Ｄ変換部４からのＡＤ値が飽和する下限のデータ閾値電圧Ｖｔｈを低電圧範囲Ｈ３の下限電圧Ｖ４として検出する。

【0040】

また、中心電圧算出手段６ｃは、飽和電圧検出手段６ｂが検出した高電圧範囲Ｈ１の上限電圧Ｖ１と低電圧範囲Ｈ３の下限電圧Ｖ４を用い、（Ｖ１＋Ｖ４）／２の計算式により中電圧範囲Ｈ２の中心電圧Ｖｃ２を算出する。

【0041】

さらに、中心電圧算出手段６ｃは、（Ｖ１＋Ｖｃ２）／２の計算式から高電圧範囲Ｈ１の中心電圧Ｖｃ１を算出し、中心電圧算出手段６ｃは、（Ｖ４＋Ｖｃ２）／２の計算式から低電圧範囲Ｈ３の中心電圧Ｖｃ３を算出する。

【0042】

そして、操作部２の操作により選択された振幅電圧範囲が高電圧範囲Ｈ１であれば、中心電圧算出手段６ｃが算出した中心電圧Ｖｃ１の電圧値を、図２に示す設定画面１１の算出結果項目１３に表示し、この中心電圧Ｖｃ１の電圧値にデータ閾値電圧Ｖｔｈを設定する。

【0043】

また、操作部２の操作により選択された振幅電圧範囲が中電圧範囲Ｈ２であれば、中心電圧算出手段６ｃが算出した中心電圧Ｖｃ２の電圧値を、図２に示す設定画面１１の算出結果項目１３に表示し、この中心電圧Ｖｃ２の電圧値にデータ閾値電圧Ｖｔｈを設定する。

【0044】

さらに、操作部２の操作により選択された振幅電圧範囲が低電圧範囲Ｈ３であれば、中心電圧算出手段６ｃが算出した中心電圧Ｖｃ３の電圧値を、図２に示す設定画面１１の算出結果項目１３に表示し、この中心電圧Ｖｃ３の電圧値にデータ閾値電圧Ｖｔｈを設定する。

【0045】

以上、説明したように、本実施の形態によれば、４ＰＡＭ信号の全体の振幅電圧範囲Ｈにおける各振幅電圧範囲（高電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、低電圧範囲Ｈ３）の中心電圧を算出することができ、選択された振幅電圧範囲における中心電圧の電圧値にデータ閾値電圧Ｖｔｈを最適な測定ポイントとして設定することができる。

【0046】

また、高電圧範囲Ｈ１の上限電圧Ｖ１や低電圧範囲Ｈ３の下限電圧Ｖ４を検出する場合には、最初にデータ閾値電圧Ｖｔｈを荒い第１のステップで可変し、ＡＤ値が飽和すると、ＡＤ値が飽和する点を中心として第１のステップよりも細かい第２のステップでデータ閾値電圧Ｖｔｈを可変してＡＤ値が飽和する上限又は下限のデータ閾値電圧Ｖｔｈを検出する。これにより、効率良く高電圧範囲Ｈ１の上限電圧Ｖ１や低電圧範囲Ｈ３の下限電圧Ｖ４を検出することができる。

【0047】

さらに、操作部２の操作により選択された振幅電圧範囲における中心電圧の電圧値を表示部５の算出結果項目１３に表示するので、ユーザは設定した振幅電圧範囲における中心電圧を表示により視認することができる。

【0048】

以上、本発明に係る誤り率測定装置及び誤り率測定方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述及び図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例及び運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。

【符号の説明】

【0049】

１ 誤り率測定装置
２ 操作部
３ 閾値電圧可変部
４ Ａ／Ｄ変換部
５ 表示部
６ 制御部
６ａ 閾値電圧制御手段
６ｂ 中心電圧算出手段
６ｃ 誤り率算出手段
１１ 設定画面
１２ 選択項目
１３ 算出結果項目
Ｈ ４ＰＡＭ信号の全体の振幅電圧範囲
Ｈ１ 高電圧範囲
Ｈ２ 中電圧範囲
Ｈ３ 低電圧範囲
Ｖ１ 高電圧範囲の上限電圧
Ｖ２ 中電圧範囲の上限電圧
Ｖ３ 中電圧範囲の下限電圧
Ｖ４ 低電圧範囲の下限電圧
Ｖｃ１ 高電圧範囲の中心電圧
Ｖｃ２ 中電圧範囲の中心電圧
Ｖｃ３ 低電圧範囲の中心電圧

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】