特許6039093結晶学的結晶粒方位マッピング機能を有する実験室Ｘ線マイクロトモグラフィシステム

発明の名称　結晶学的結晶粒方位マッピング機能を有する実験室Ｘ線マイクロトモグラフィシステム

出願人　カール・ツァイス・エックス−レイ・マイクロスコピー・インコーポレイテッド　（識別番号 515063079）

　　　　特許公開件数ランキング 14556 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 12424 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6039093

公報発行日　2016年12月7

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6039093

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