特許第6039207号(P6039207)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

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特許6039207EUVリソグラフィー用多層反射膜付き基板の製造方法及びEUVリソグラフィー用反射型マスクブランクの製造方法、EUVリソグラフィー用反射型マスクの製造方法、及び半導体装置の製造方法
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  • 特許6039207-EUVリソグラフィー用多層反射膜付き基板の製造方法及びEUVリソグラフィー用反射型マスクブランクの製造方法、EUVリソグラフィー用反射型マスクの製造方法、及び半導体装置の製造方法 図000002
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