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特許6039681ＤＣＳＱＵＩＤベースのＲＦ磁気計を用いた電子デバイスにおけるオープン欠陥の位置測定のための方法およびシステム
発明の名称 ＤＣＳＱＵＩＤベースのＲＦ磁気計を用いた電子デバイスにおけるオープン欠陥の位置測定のための方法およびシステム
出願人 ネオセラ リミテッド ライアビリティ カンパニー （識別番号 514094070）
特許公開件数ランキング 14225 位（0件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 12103 位（0件）（共同出願を含む）
公報番号 特許-6039681
公報発行日 2016年12月7
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6039681
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