特許6039786周波数間セル測定のための方法、装置、及びシステム

発明の名称　周波数間セル測定のための方法、装置、及びシステム

出願人　華為技術有限公司　（識別番号 503433420）

　　　　特許公開件数ランキング 46 位（522件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 31 位（600件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6039786

公報発行日　2016年12月7

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6039786

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