特許 6054758 免疫測定方法および免疫測定装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6054758

(24)【登録日】2016年12月9日

(45)【発行日】2016年12月27日

(54)【発明の名称】免疫測定方法および免疫測定装置

(51)【国際特許分類】

   G01N 33/543 20060101AFI20161219BHJP

【ＦＩ】

   G01N33/543 581F

   G01N33/543 587

【請求項の数】20

【全頁数】26

(21)【出願番号】特願2013-17871(P2013-17871)

(22)【出願日】2013年1月31日

(65)【公開番号】特開2014-149216(P2014-149216A)

(43)【公開日】2014年8月21日

【審査請求日】2015年3月26日

(73)【特許権者】

【識別番号】390014960

【氏名又は名称】シスメックス株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100111383

【弁理士】

【氏名又は名称】芝野 正雅

(72)【発明者】

【氏名】越村 直人

【審査官】 赤坂 祐樹

(56)【参考文献】

【文献】 特開２００３−０７５４４６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００５−１９５４７３（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｎ ３３／４８−３３／９８

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

免疫測定装置において実行される免疫測定方法であって、
検体と、測定対象物質に対する抗体または抗原が感作された担体粒子とを混和して得られた測定用試料を測定して、当該測定用試料に含まれる担体粒子の結合数に関する情報を検出する検出工程と、
前記結合数に関する情報に基づき、測定用試料に含まれる各粒子を前記結合数ごとに分類する分類工程と、
分類された区分ごとに、担体粒子とは異なる測定対象外物質を処理対象から取り除く第１の除去処理、および、前記第１の除去処理とは異なる処理により測定対象外物質を処理対象から取り除く第２の除去処理のうちの何れか一方を、測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択し、選択した除去処理を実行して得られた担体粒子のデータに基づき、担体粒子の凝集度に関する情報を取得する凝集情報取得工程と、を含む、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項2】

請求項１に記載の免疫測定方法において、
前記検出工程では、前記測定用試料に光を照射して、前記測定用試料に含まれる各粒子からの光学情報を取得し、取得した光学情報に基づいて、前記結合数に関する情報として前方散乱光情報を検出する、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項3】

請求項２に記載の免疫測定方法において、
前記検出工程ではさらに、取得した光学情報に基づいて側方散乱光情報を検出し、
前記第１の除去処理では、検出した側方散乱光情報に基づいて、測定対象外物質を処理対象から取り除く、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項4】

請求項２または３に記載の免疫測定方法において、
前記第２の除去処理では、検出した前方散乱光情報に基づいて、測定対象外物質を処理対象から取り除く、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項5】

請求項１ないし４の何れか一項に記載の免疫測定方法において、
前記凝集情報取得工程は、分類された区分に対して、前記結合数の大小に基づいて、前記第１の除去処理および第２の除去処理のうちの何れか一方を、測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択する、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項6】

請求項１ないし４の何れか一項に記載の免疫測定方法において、
前記第１の除去処理は、分類された区分に対して前記第１の除去処理が適正であるとして選択された場合にのみ、実行される、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項7】

請求項１ないし４の何れか一項に記載の免疫測定方法において、
前記凝集情報取得工程では、分類された区分ごとに、前記第１の除去処理と前記第２の除去処理の両方が実行され、測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択された方の除去処理を実行して得られた担体粒子のデータに基づき、担体粒子の凝集度に関する情報が取得される、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項8】

請求項１ないし４の何れか一項に記載の免疫測定方法において、
前記凝集情報取得工程では、分類された区分のうち所定の区分について、前記第１の除去処理と前記第２の除去処理のうち何れか一方が、予め、測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択されている、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項9】

請求項１ないし４の何れか一項に記載の免疫測定方法において、
前記凝集情報取得工程は、分類された区分のうち所定の区分について、前記第１の除去処理および前記第２の除去処理のうち何れが測定対象外物質の除去に適するかを判定する処理を含み、判定結果に基づいて、前記第１の除去処理と前記第２の除去処理のうちの何れか一方を測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択する、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項10】

請求項９に記載の免疫測定方法において、
前記凝集情報取得工程は、
前記第１の除去処理が測定対象外物質の除去に適するか否かを判定する判定条件を含み、
前記判定条件を満たす区分に対して前記第１の除去処理を選択し、前記判定条件を満たさない区分に対して前記第２の除去処理を選択する、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項11】

請求項９または１０に記載の免疫測定方法において、
前記第１の除去処理では、分類された区分ごとに、担体粒子と測定対象外物質とを分ける境界を粒子の特徴量を表す所定の特徴情報に基づいて設定し、
前記凝集情報取得工程では、前記境界を含む所定の範囲における、前記特徴情報を含む粒子の数に基づいて、分類された区分ごとに、前記第１の除去処理が測定対象外物質の除去に適するか否かを判定する、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項12】

請求項１１に記載の免疫測定方法において、
前記凝集情報取得工程は、分類された区分に含まれる粒子の数に対する前記所定の範囲における前記特徴情報を含む粒子の数の割合が所定の閾値以下の場合に、前記第１の除去処理が測定対象外物質の除去に適すると判定する処理を含む、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項13】

請求項１１または１２に記載の免疫測定方法において、
前記凝集情報取得工程では、前記所定の範囲における前記特徴情報を含む粒子の数が所定の閾値以下の場合に、前記第１の除去処理が測定対象外物質の除去に適すると判定する処理を含む、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項14】

請求項１１ないし１３の何れか一項に記載の免疫測定方法において、
前記検出工程では、前記測定用試料に光を照射して、前記測定用試料に含まれる各粒子からの光学情報を取得し、取得した光学情報に基づいて、前記特徴情報として側方散乱光情報を取得する、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項15】

請求項１ないし１４の何れか一項に記載の免疫測定方法において、
前記第２の除去処理は、測定対象外物質の分布状況を推定する処理と、分類された各区分に含まれる粒子の分布から推定された測定対象物質の分布を差し引く処理とを含む、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項16】

請求項５に記載の免疫測定方法において、
前記凝集情報取得工程では、分類された区分のうち所定の区分について、前記結合数が所定の結合数を超える場合に、前記第１の除去処理が選択され、前記結合数が所定の結合数以下である場合に、前記第２の除去処理が選択されている、
ことを特徴とする免疫測定方法。

【請求項17】

検体と、測定対象物質に対する抗体または抗原が感作された担体粒子と、を混和して得られた測定用試料を測定して、当該測定用試料に含まれる担体粒子の結合数に関する情報を検出する検出部と、
制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記結合数に関する情報に基づき、測定用試料に含まれる各粒子を前記結合数ごとに分類し、
分類された区分ごとに、担体粒子とは異なる測定対象外物質を処理対象から取り除く第１の除去処理、および、前記第１の除去処理とは異なる処理により測定対象外物質を処理対象から取り除く第２の除去処理のうちの何れか一方を、測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択し、選択した除去処理を実行し、
除去処理を実行して得られた担体粒子のデータに基づき、担体粒子の凝集度に関する情報を取得する、
ことを特徴とする免疫測定装置。

【請求項18】

請求項１７に記載の免疫測定装置において、
前記制御部は、分類された区分に対して、前記結合数の大小に基づいて、前記第１の除去処理および第２の除去処理のうちの何れか一方を、測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択する、
ことを特徴とする免疫測定装置。

【請求項19】

請求項１７または１８に記載の免疫測定装置において、
前記検出部は、前記測定用試料に光を照射する光源と、前記測定用試料に含まれる各粒子からの光を受光する受光部と、を備え、
前記受光部により受光された光の情報に基づいて、前記結合数に関する情報として前方散乱光情報を検出する、
ことを特徴とする免疫測定装置。

【請求項20】

請求項１９に記載の免疫測定装置において、
前記検出部はさらに、前記受光部により受光された光の情報に基づいて、側方散乱光情報を検出する、
ことを特徴とする免疫測定装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、粒子凝集を用いた免疫測定方法および免疫測定装置に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、カウンティングイムノアッセイ（ＣＩＡ）を用いた免疫測定方法が知られている。この免疫測定方法では、検体と、測定対象物質に対応する検体または抗体を感作した担体粒子とが混和されて測定用試料が調製され、調製された測定用試料を測定することにより、担体粒子の凝集度が取得される。この測定方法では、乳び粒子等の測定対象外物質が検体に含まれていると、測定結果に誤差が生じてしまう。この誤差を軽減させる技術として、たとえば、特許文献１、２に記載された技術が知られている。

【0003】

特許文献１に記載された技術では、粒子径を横軸、粒子数を縦軸とした粒度分布図において、担体粒子が出現しない領域のデータから測定対象外物質の粒度分布が推定される。そして、推定された測定対象外物質の粒度分布を全体の粒度分布から差し引いて得られた粒度分布に基づいて、凝集度が取得される。

【0004】

特許文献２に記載された技術では、前方散乱光強度を横軸、側方散乱光強度または高周波抵抗を縦軸としたスキャッタグラムにおいて、担体粒子が出現する領域と、測定対象外物質が出現する領域が設定され、担体粒子が出現する領域に出現した粒子に基づいて、凝集度が取得される。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【特許文献1】特開平３−２７９８４２号公報

【特許文献2】特開２００５−１９５４７３号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

上記２つの技術は、乳び粒子等の測定対象外物質による誤差の減少に効果的ではあるが、更なる誤差の軽減が求められている。

【0007】

本発明は、測定対象外物質による誤差をさらに軽減させることが可能な免疫測定方法および免疫測定装置を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0008】

本発明の第１の態様は、免疫測定装置において実行される免疫測定方法に関する。この態様に係る免疫測定方法は、検体と、測定対象物質に対する抗体または抗原が感作された担体粒子とを混和して得られた測定用試料を測定して、当該測定用試料に含まれる担体粒子の結合数に関する情報を検出する検出工程と、前記結合数に関する情報に基づき、測定用試料に含まれる各粒子を前記結合数ごとに分類する分類工程と、分類された区分ごとに、担体粒子とは異なる測定対象外物質を処理対象から取り除く第１の除去処理、および、前記第１の除去処理とは異なる処理により測定対象外物質を処理対象から取り除く第２の除去処理のうちの何れか一方を、測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択し、選択した除去処理を実行して得られた担体粒子のデータに基づき、担体粒子の凝集度に関する情報を取得する凝集情報取得工程と、を含む。

【0009】

本態様に係る免疫測定方法によれば、分類された区分ごとに、適切な測定対象外物質の除去処理が適用されるため、測定対象外物質による誤差の影響をさらに軽減することがで
きる。

【0010】

本態様に係る免疫測定方法は、前記検出工程において、前記測定用試料に光を照射して、前記測定用試料に含まれる各粒子からの光学情報を取得し、取得した光学情報に基づいて、前記結合数に関する情報として前方散乱光情報を検出するよう構成され得る。

【0011】

この場合、免疫測定方法は、前記検出工程において、さらに、取得した光学情報に基づいて側方散乱光情報を検出し、前記第１の除去処理において、検出した側方散乱光情報に基づいて、測定対象外物質を処理対象から取り除くよう構成され得る。

【0012】

さらに、この場合、免疫測定方法は、前記第２の除去処理において、検出した前方散乱光情報に基づいて、測定対象外物質を処理対象から取り除くよう構成され得る。

【0014】

この場合、前記凝集情報取得工程は、分類された区分に対して、前記結合数の大小に基づいて、前記第１の除去処理および第２の除去処理のうちの何れか一方を、測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択することが望ましい。

【0015】

また、本態様に係る免疫測定方法において、前記第１の除去処理は、分類された区分に対して前記第１の除去処理が測定対象外物質の除去に適するとして選択された場合にのみ、実行されることが望ましい。こうすると、第１の除去処理が不必要に実行されることが回避されるため、除去処理の効率化および迅速化を図ることができる。

【0016】

ただし、本態様に係る免疫測定方法では、前記凝集情報取得工程において、分類された区分ごとに、前記第１の除去処理と前記第２の除去処理の両方が実行されても良い。この場合、測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択された方の除去処理を実行して得られた担体粒子のデータに基づいて、担体粒子の凝集度に関する情報が取得される。この方法によれば、上記のように何れか一方の除去処理のみが実行される場合と比べて除去処理がやや不効率となるものの、測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択された方の除去処理により得られた担体粒子のデータに基づいて、担体粒子の凝集度に関する情報が取得されるため、上記の場合と同様、測定対象外物質による誤差の影響をさらに軽減できるとの効果が奏され得る。

【0017】

本態様に係る免疫測定方法は、前記凝集情報取得工程において、分類された区分のうち所定の区分について、前記第１の除去処理と前記第２の除去処理のうち何れか一方が、予め、測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択されるよう構成され得る。この場合、前記結合数が所定の結合数を超える場合に、前記第１の除去処理が選択され、前記結合数が所定の結合数以下である場合に、前記第２の除去処理が選択されていることが望ましい。こうすると、所定の区分については、第１の除去処理と第２の除去処理の何れが測定対象外物質の除去に適するかを判定する処理が不要となるため、処理の簡素化を図ることができる。なお、この方法は、以下の実施の形態においても言及するように、所定の区分については、第１の除去処理と第２の除去処理のうち何れか一方が他方に比べて測定対象外物質の除去に適することが明らかである場合に、用いて望ましいものである。

【0018】

本態様に係る免疫測定方法において、前記凝集情報取得工程は、分類された区分のうち所定の区分について、前記第１の除去処理および前記第２の除去処理のうち何れが測定対象外物質の除去に適するかを判定する処理を含み、判定結果に基づいて、前記第１の除去
処理と前記第２の除去処理のうちの何れか一方を測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択するよう構成され得る。こうすると、当該所定の区分に対して、より適切な除去処理が、測定用試料に応じて動的に選択されるため、測定対象外物質をより適切に取り除くことができる。なお、この方法は、以下の実施の形態においても言及するように、所定の区分については、第１の除去処理と第２の除去処理のうち何れが測定対象外物質の除去に適するかが明らかではないような場合に、用いて望ましいものである。

【0019】

このように第１の除去処理および第２の除去処理のうち何れが測定対象外物質の除去に適するかを判定する場合、前記凝集情報取得工程は、前記第１の除去処理が測定対象外物質の除去に適するか否かを判定する判定条件を含み、前記判定条件を満たす区分に対して前記第１の除去処理を選択し、前記判定条件を満たさない区分に対して前記第２の除去処理を選択するよう構成され得る。

【0020】

また、前記第１の除去処理において、分類された区分ごとに、担体粒子と測定対象外物質とを分ける境界が粒子の特徴量を表す所定の特徴情報に基づいて設定される場合、前記凝集情報取得工程は、前記境界を含む所定の範囲における、前記特徴情報を含む粒子の数に基づいて、分類された区分ごとに、前記第１の除去処理が測定対象外物質の除去に適するか否かを判定するよう構成され得る。

【0021】

この場合、前記凝集情報取得工程は、分類された区分に含まれる粒子の数に対する前記所定の範囲における前記特徴情報を含む粒子の数の割合が所定の閾値以下の場合に、前記第１の除去処理が測定対象外物質の除去に適すると判定する処理を含み得る。こうすると、担体粒子と測定対象物質との間の境界が明瞭である場合に第１の除去処理が選択されるため、測定対象外物質を適切に処理対象から取り除くことができる。

【0022】

また、前記凝集情報取得工程は、前記所定の範囲における前記特徴情報を含む粒子の数が所定の閾値以下の場合に、前記第１の除去処理が測定対象外物質の除去に適すると判定する処理を含み得る。この場合も、担体粒子と測定対象物質との間の境界が明瞭である場合に第１の除去処理が選択されるため、測定対象外物質を適切に処理対象から取り除くことができる。

【0023】

なお、このように、前記第１の除去処理において、担体粒子と測定対象外物質とを分ける境界が粒子の特徴量を表す所定の特徴情報に基づいて設定される場合、前記検出工程は、前記測定用試料に光を照射して、前記測定用試料に含まれる各粒子からの光学情報を取得し、取得した光学情報に基づいて、前記特徴情報として側方散乱光情報を取得するよう構成され得る。なお、特徴情報として、側方散乱光情報の他、上記特許文献２と同様、高周波抵抗を用いることもできる。

【0024】

本態様に係る免疫測定方法において、前記第２の除去処理は、測定対象外物質の分布状況を推定する処理と、分類された各区分に含まれる粒子の分布から推定された測定対象物質の分布を差し引く処理とを含むものとされ得る。

【0025】

本発明の第２の態様は、免疫測定装置に関する。この態様に係る免疫測定装置は、検体と、測定対象物質に対する抗体または抗原が感作された担体粒子と、を混和して得られた測定用試料を測定して、当該測定用試料に含まれる担体粒子の結合数に関する情報を検出する検出部と、制御部と、を備える。ここで、前記制御部は、前記結合数に関する情報に基づき、測定用試料に含まれる各粒子を前記結合数ごとに分類し、分類された区分ごとに、担体粒子とは異なる測定対象外物質を処理対象から取り除く第１の除去処理、および、前記第１の除去処理とは異なる処理により測定対象外物質を処理対象から取り除く第２の除去処理のうちの何れか一方を、測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択し、選択した除去処理を実行し、除去処理を実行して得られた担体粒子のデータに基づき、担体粒子の凝集度に関する情報を取得する。

【0026】

本態様に係る免疫測定装置によれば、上記第１の態様に係る免疫測定方法と同様、担体粒子の結合数に応じて分類された区分ごとに、適切な測定対象外物質の除去処理が適用されるため、測定対象外物質による誤差の影響をさらに軽減することができる。

【0028】

この場合、前記制御部は、分類された区分に対して、前記結合数の大小に基づいて、前記第１の除去処理および第２の除去処理のうちの何れか一方を、測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択することが望ましい。

【0029】

本態様に係る免疫測定装置において、前記検出部は、前記測定用試料に光を照射する光源と、前記測定用試料に含まれる各粒子からの光を受光する受光部と、を備え、前記受光部により受光された光の情報に基づいて、前記結合数に関する情報として前方散乱光情報を検出するよう構成され得る。

【0030】

この場合、前記検出部はさらに、前記受光部により受光された光の情報に基づいて、側方散乱光情報を検出するよう構成され得る。

【発明の効果】

【0031】

以上のとおり、本発明によれば、測定対象外物質による誤差をさらに軽減させることが可能な免疫測定方法および免疫測定装置を提供することができる。

【0032】

本発明の効果ないし意義は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下に示す実施の形態は、あくまでも、本発明を実施化する際の一つの例示であって、本発明は、以下の実施の形態により何ら制限されるものではない。

【図面の簡単な説明】

【0033】

【図1】実施の形態に係る免疫測定装置の外観構成および内部構成を示す図である。

【図2】実施の形態に係る試料調製部、測定部およびシースフローセルの構成を模式的に示す図である。

【図3】実施の形態に係る免疫測定装置の構成を示す図である。

【図4】実施の形態に係る制御部による処理を示すフローチャートである。

【図5】実施の形態に係るスキャッタグラムを例示する図である。

【図6】実施の形態に係るヒストグラムを例示する図および分画線の設定に用いられる値を示すフローチャートである。

【図7】実施の形態に係るカウント処理を示すフローチャートである。

【図8】実施の形態に係るカウント処理および判定処理を示すフローチャートである。

【図9】実施の形態に係るスキャッタグラムおよびヒストグラムを例示する図である。

【図10】実施の形態に係るヒストグラムを例示する図である。

【図11】実施の形態に係る免疫測定装置により実際に行われた測定対象物質の濃度の算出結果について説明する図である。

【図12】変更例１に係るカウント処理を示すフローチャートである。

【図13】変更例２に係るカウント処理を示すフローチャートおよびテーブルである。

【図14】変更例３に係るカウント処理を示すフローチャートおよびテーブルである。

【発明を実施するための形態】

【0034】

本実施の形態は、粒子凝集法を用いて、測定対象物質と担体粒子とが混和されることにより生じた凝集を検出し、検出した結果に基づいて、測定対象物質を定量するための免疫測定方法および免疫測定装置に本発明を適用したものである。

【0035】

粒子凝集法では、測定対象物質を含む検体と、測定対象物質に対応する抗体または抗原が感作された担体粒子とが混和される。検体中に測定対象物質が存在すると、抗原抗体反応により担体粒子が凝集する。担体粒子に感作する抗体または抗原には、測定対象物質が抗体であれば、その抗体と特異的に抗原抗体反応する抗原が用いられ、測定対象物質が抗原であれば、その抗体と特異的に抗原抗体反応する抗体が用いられる。たとえば、測定項目が癌胎児性抗原（ＣＥＡ抗原）であれば、担体粒子には抗ＣＥＡ抗体が感作される。担体粒子としては、粒子凝集法で一般的に用いられているもの、たとえば、ラテックス粒子、金属粒子、デンドリマーなどが挙げられる。

【0036】

以下、本実施の形態に係る免疫測定装置１について、図面を参照して説明する。

【0037】

以下に示す実施の形態において、測定部４は、請求項に記載の「検出部」に相当する。レーザ光源４２は、請求項に記載の「光源」に相当する。フォトダイオード４８とフォトマルチプライヤーチューブ４９は、請求項に記載の「受光部」に相当する。区分線Ｌ２１は、請求項に記載の「境界」に相当する。領域Ａ２３、Ａ２４は、請求項に記載の「範囲」に相当する。Ｓ１２、Ｓ１３は、請求項に記載の「検出工程」に相当する。Ｓ１４〜Ｓ１６は、請求項に記載の「分類工程」に相当する。Ｓ１７、Ｓ１８は、請求項に記載の「凝集情報取得工程」に相当する。Ｓ１０２、Ｓ１０３、Ｓ１０８は、請求項に記載の「第１の除去処理」に相当する。Ｓ１１２、Ｓ１１３、Ｓ１１４は、請求項に記載の「第２の除去処理」に相当する。ただし、上記請求項と本実施の形態との対応の記載はあくまで一例であって、請求項に係る発明を本実施の形態に限定するものではない。

【0038】

図１（ａ）は、免疫測定装置１の外観構成を示す図であり、図１（ｂ）は、免疫測定装置１の内部構成を示す図である。

【0039】

免疫測定装置１の前面には、カバー１ａと、スタートスイッチ１ｂと、タッチパネルからなる表示入力部２が配置されている。免疫測定装置１内の右側のスペースには、各部を制御するための制御部３が配置されており、免疫測定装置１内の左下のスペースには、測定試料から信号を検出するための測定部４が配置されている。また、免疫測定装置１内の残りのスペースには、測定試料を調製するための試料調製部５が配置されている。

【0040】

図２（ａ）は、試料調製部５の構成を模式的に示す図である。

【0041】

試料調製部５は、検体セット部５１と、試薬セット部５２と、反応部５３と、分注装置５４と、送液装置５５を備えている。ユーザは、カバー１ａを開けることにより、検体セット部５１と試薬セット部５２に、各種容器をセットすることができる。検体セット部５１には、測定対象物質を含む血液または尿などの検体を収容する容器がセットされる。試薬セット部５２には、担体粒子懸濁液を収容する容器と、反応緩衝液を収容する容器がセットされる。担体粒子懸濁液は、担体粒子を水や緩衝液など適当な液体に懸濁させたものである。反応緩衝液は、担体粒子懸濁液と共に検体に添加し、抗原抗体反応を生じさせる環境を整えるためのものである。反応部５３には、空のキュベットがセットされる。

【0042】

分注装置５４は、その先端から所定量の液体を吸引および吐出し、駆動装置（図示せず）によって上下左右前後方向に移動することが可能に構成されている。分注装置５４により、検体と、担体粒子懸濁液と、反応緩衝液が、適宜、反応部５３のキュベットに分注される。反応部５３は、キュベット内の溶液を一定の温度に保つための温度調節機構（図示せず）と、キュベット内の溶液を攪拌するための攪拌機構（図示せず）を備えている。反応部５３にセットされたキュベット内で、検体と、担体粒子懸濁液と、反応緩衝液が混合され、測定試料が調製される。

【0043】

送液装置５５は、測定試料を吸引するための吸引管５５ａと、吸引管５５ａから吸引した測定試料を測定部４へ送液する送液管５５ｂと、測定試料を吸引して測定部４へ送液するためのポンプ５５ｃからなる。また、送液装置５５は、駆動装置（図示せず）によって上下左右前後方向に移動することが可能に構成されている。送液装置５５により、反応部５３にセットされたキュベット内の測定試料が、測定部４へ送液される。

【0044】

図２（ｂ）は、測定部４の構成を模式的に示す図であり、図２（ｃ）は、シースフローセル４１の構成を模式的に示す図である。

【0045】

測定部４は、フローセル４１と、レーザ光源４２と、コンデンサレンズ４３と、集光レンズ４４、４５と、ピンホール４６、４７と、フォトダイオード４８と、フォトマルチプライヤーチューブ４９を備えている。フローセル４１は、試料調製部５で調製された測定試料を、シース液に包まれた状態で流すためのものであり、図２（ｃ）に示すように、測定試料を細孔部４１ｄに向かって上方へ噴射する試料ノズル４１ａと、シース液供給口４１ｂと、廃液口４１ｃを備える。

【0046】

レーザ光源４２から出射されたレーザ光は、コンデンサレンズ４３を通り、フローセル４１の細孔部４１ｄに照射される。これにより、細孔部４１ｄ内を通過する測定試料にレーザ光が照射される。集光レンズ４４、４５は、それぞれ、レーザ光が照射された測定試料中の粒子一個一個から得られる前方散乱光と側方散乱光を集光する。フォトダイオード４８は、ピンホール４６を通った前方散乱光を受光し、受光した前方散乱光を光電変換し、前方散乱光信号を生成する。フォトマルチプライヤーチューブ４９は、ピンホール４７を通った側方散乱光を受光し、受光した側方散乱光を光電変換し、側方散乱光信号を生成する。前方散乱光信号と側方散乱光信号は、測定試料中の粒子ごとに生成され、生成された前方散乱光信号と側方散乱光信号は、制御部３へ送られる。

【0047】

制御部３は、受信した前方散乱光信号と側方散乱光信号に基づいて、それぞれ、前方散乱光強度と側方散乱光強度を算出し、これら強度を記憶部３１（図３参照）に記憶する。

【0048】

ここで、フローセル４１の細孔部４１ｄを通った個々の粒子に含まれる担体粒子の数を「結合数」と称する。また、未凝集の担体粒子、すなわち、結合数が１の粒子を「未凝集粒子」と称し、測定対象物質と担体粒子とが抗原抗体反応を起こすことにより生じた凝集塊、すなわち、結合数が２以上の粒子を「凝集粒子」と称する。また、凝集粒子のうち、結合数が２、３、４の粒子を、それぞれ、「２個凝集粒子」、「３個凝集粒子」、「４個凝集粒子」と称し、結合数が５以上の粒子を、合わせて「結合数が５の粒子」または「５個凝集粒子」と称する。結合数が１〜５の粒子、すなわち、未凝集粒子、２個凝集粒子、３個凝集粒子、４個凝集粒子、および５個凝集粒子は、この順に大きくなる。このように結合数に応じて粒子の大きさが変わるため、制御部３は、前方散乱光強度の大きさに基づいて、フローセル４１の細孔部４１ｄを通った粒子が、上記５つの分類の粒子のうちの何れであるか判断することができる。また、制御部３は、未凝集粒子と凝集粒子とを区別して計数することができるため、凝集度を求めることができる。本実施の形態の凝集度としては、未凝集粒子数（Ｍ）、凝集粒子数（Ｐ）、および、ＭとＰの合計である総粒子数（
Ｔ）に基づいて算出されるＰ／Ｔの値が用いられる。

【0049】

図３は、免疫測定装置１の構成を示す図である。

【0050】

制御部３は、ＣＰＵと、ＲＯＭおよびＲＡＭ等の記憶装置を有するマイクロコンピュータと、各種信号を処理する回路等を備える。これにより、制御部３は、記憶部３１、分析部３２、および動作制御部３３の機能を有する。

【0051】

記憶部３１は、測定部４から受信した前方散乱光信号と側方散乱光信号とに基づいて前方散乱光強度と側方散乱光強度を算出するプログラムと、前方散乱光強度と側方散乱光強度に基づいて測定試料の分析を行う分析プログラムと、装置各部の動作を制御する制御プログラムと、を記憶している。また、記憶部３１は、算出された前方散乱光強度および側方散乱光強度のデータと、分析プログラムによる分析結果とを記憶し、さらに、各種の設定内容を記憶する。分析部３２は、分析プログラムに基づいて測定試料を分析し、測定試料に関する分析結果を生成する。分析部３２で生成された分析結果は、表示入力部２に出力される。動作制御部３３は、記憶部３１に記憶されている制御プログラムに基づき装置各部の動作を制御する。

【0052】

図４は、制御部３による処理を示すフローチャートである。

【0053】

図４に示す処理の前に、まず、ユーザは、カバー１ａを開けて、検体セット部５１と試薬セット部５２とに、それぞれ、検体を収容する容器と試薬を収容する容器とをセットする。そして、ユーザは、スタートスイッチ１ｂを押下し、処理を開始させる。

【0054】

制御部３は、スタートスイッチ１ｂが押下されると（Ｓ１１：ＹＥＳ）、測定試料の調製を行う（Ｓ１２）。具体的には、分注装置５４が、検体セット部５１にセットされた容器に収容されている検体を、反応部５３にセットされたキュベットに所定量（たとえば、１０μＬ）分注する。続いて、分注装置５４が、試薬セット部５２にセットされた容器に収容されている反応緩衝液を、反応部５３にセットされたキュベットに所定量（たとえば８０μＬ）分注し、試薬セット部５２にセットされた容器に収容されている担体粒子懸濁液を、反応部５３にセットされたキュベットに所定量（たとえば１０μＬ）分注する。そして、制御部３は、反応部５３によりキュベットを所定温度（たとえば、４５℃）に保ちながら所定時間（たとえば、５分）攪拌する。これにより、キュベットにおいて測定試料が調製される。そして、送液装置５５により、反応部５３のキュベット内の所定量の測定試料が、測定部４のフローセル４１へ送液される。

【0055】

続いて、制御部３は、測定部４により測定を行う（Ｓ１３）。具体的には、測定部４により、測定試料中の各粒子から得られる前方散乱光と側方散乱光とに基づいて、前方散乱光信号と側方散乱光信号が生成される。制御部３は、前方散乱光信号と側方散乱光信号に基づいて、それぞれ、前方散乱光強度と側方散乱光強度とを算出し、これらの強度を記憶部３１に記憶する。続いて、制御部３は、記憶部３１に記憶した前方散乱光強度と側方散乱光強度を読み出して（Ｓ１４）、測定試料の分析を開始する。

【0056】

なお、以下では、説明の便宜上、適宜、スキャッタグラムとヒストグラムとが参照されるが、これらのスキャッタグラムとヒストグラムは、必ずしも図形またはグラフとして作成される必要はなく、データ処理によって同様の結果が得られれば良い。また、これらスキャッタグラムとヒストグラムを作成する工程は、必ずしも、２軸を用いたグラフが作成される必要はなく、これらスキャッタグラムとヒストグラムが作成されたと同等のデータ構造が、記憶部３１に記憶された前方散乱光強度および側方散乱光強度のデータに適用されれば良い。

【0057】

図５（ａ）は、図４のＳ１４で読み出した各粒子の、前方散乱光強度（以下、「ＦＳＣ」という）と側方散乱光強度（以下、「ＳＳＣ」という）とをパラメータとしたスキャッタグラムＳＧ１を例示する図である。横軸はＦＳＣを示し、縦軸はＳＳＣを示している。ＦＳＣは粒子の大きさを反映する情報であり、粒子の大きさは、スキャッタグラムＳＧ１の右方向に進むにつれて大きくなる。ＳＳＣは粒子の内部情報（密度）を反映する情報であり、粒子の内部情報（密度）は、スキャッタグラムＳＧ１の上方向に進むにつれて大きくなる。

【0058】

スキャッタグラムＳＧ１において、結合数が１〜５の粒子、すなわち、未凝集粒子、２個凝集粒子、３個凝集粒子、４個凝集粒子、および、５個凝集粒子は、この順に、左下から右上へと分布している。このように、未凝集粒子と凝集粒子は、結合数に応じてスキャッタグラムＳＧ１での分布が異なるため、各粒子が分布する領域を設定すれば、各粒子を区分して計数することができる。

【0059】

図４に戻り、制御部３は、図５（ｂ）に示すように、スキャッタグラムＳＧ１に対して、未凝集粒子と２個〜５個凝集粒子がそれぞれ分布する領域Ａ１１〜Ａ１５に分画するための分画線Ｌ１１〜Ｌ１４を設定する（Ｓ１５）。分画線Ｌ１１〜Ｌ１４は、以下のように、ヒストグラムＨＧ１に基づいて設定される。

【0060】

図６（ａ）は、図４のＳ１４で読み出した各粒子の、ＦＳＣと粒子数とをパラメータとしたヒストグラムＨＧ１を例示する図である。横軸はＦＳＣを示し、縦軸は粒子数を示している。ヒストグラムＨＧ１の曲線Ｇ１に示すように、結合数が１〜５の粒子、すなわち、未凝集粒子と、２個凝集粒子、３個凝集粒子、４個凝集粒子、および、５個凝集粒子は、それぞれ、粒子数がピークとなるときのＦＳＣの値（ピーク値Ｐ１〜Ｐ５）の近傍に分布する。したがって、図５（ｂ）に示す領域Ａ１１〜Ａ１５に分画するための分画線Ｌ１１〜Ｌ１４は、それぞれ、隣り合うピーク値の間に設定される。

【0061】

ここで、分画線Ｌ１１〜Ｌ１４は、経験的および統計的に適正とされる位置に固定されても良い。しかしながら、分画線Ｌ１１〜Ｌ１４は、同一種類の検体においても測定試料間でややずれるため、領域Ａ１１〜Ａ１５の分画精度を高めるためには、測定試料ごとに分画線Ｌ１１〜Ｌ１４を微調整することが望ましい。そこで、本実施の形態では、予め、経験的および統計的に適正とされる分画線Ｌ１１〜Ｌ１４の固定値ｖ１１〜ｖ１４が保持され、これら固定値ｖ１１〜ｖ１４を、それぞれ、測定試料における未凝集粒子のピークの位置（ピーク値Ｐ１）に応じて調整することで、分角線Ｌ１１〜Ｌ１４を規定する値Ｖ１１〜Ｖ１４が求められる。

【0062】

すなわち、記憶部３１には、図６（ｂ）に示すように、未凝集粒子のピークが経験的および統計的に位置付けられるＦＳＣの固定値ｐ１が記憶され、さらに、未凝集と２個凝集、２個凝集と３個凝集、３個凝集と４個凝集、４個凝集と５個凝集の分布の境界が、それぞれ、経験的および統計的に位置付けられるＦＳＣの固定値ｖ１１〜ｖ１４が記憶されている。

【0063】

制御部３は、ヒストグラムＨＧ１が図６（ａ）のような状態のとき、この場合のピーク値Ｐ１を固定値ｐ１で除算した値（Ｐ１／ｐ１）を、固定値ｖ１１〜ｖ１４に乗算することにより、値Ｖ１１〜Ｖ１４を算出する。すなわち、値Ｖ１１〜Ｖ１４は、それぞれ、ｖ１１×（Ｐ１／ｐ１）、ｖ１２×（Ｐ１／ｐ１）、ｖ１３×（Ｐ１／ｐ１）、ｖ１４×（Ｐ１／ｐ１）となる。そして、制御部３は、算出した値Ｖ１１〜Ｖ１４に従って、図５（ｂ）に示すように、上下方向に延びる分画線Ｌ１１〜Ｌ１４を設定する。

【0064】

なお、記憶部３１には、未凝集粒子のピークが経験的および統計的に位置付けられるＦＳＣの固定値ｐ１だけでなく、２個〜５個凝集粒子のピークが、それぞれ、経験的および統計的に位置付けられるＦＳＣの固定値ｐ２〜ｐ５が記憶されても良い。この場合、たとえば、値Ｖ１１〜Ｖ１４は、それぞれ、ｖ１１×（Ｐ１／ｐ１）、ｖ１２×（Ｐ２／ｐ２）、ｖ１３×（Ｐ３／ｐ３）、ｖ１４×（Ｐ４／ｐ４）と求められ得る。

【0065】

図４に戻り、続いて、制御部３は、図５（ｂ）に示すように、分画線Ｌ１１〜Ｌ１４によりスキャッタグラムＳＧ１全体の領域を分画し、結合数が１〜５の粒子がそれぞれ分布する領域Ａ１１〜Ａ１５を設定する（Ｓ１６）。そして、制御部３は、領域Ａ１１〜Ａ１５にそれぞれ含まれる未凝集粒子と２〜５個凝集粒子の数を計数するカウント処理を実行する（Ｓ１７）。

【0066】

ここで、スキャッタグラムＳＧ１の下部には、たとえば図５（ａ）の領域Ａ０に示すように、乳び粒子等の測定対象外物質が分布する場合がある。この場合、図５（ｂ）の領域Ａ１１〜Ａ１５には、測定対象外物質が、未凝集粒子または凝集粒子とともに含まれることとなる。このため、単に結合数に応じた領域Ａ１１〜Ａ１５を設定して、これら領域Ａ１１〜Ａ１５に含まれる粒子を計数したのでは、領域Ａ１１〜Ａ１５に含まれる未凝集粒子と凝集粒子を精度良く計数することができない。

【0067】

そこで、本実施の形態では、図４に示すカウント処理（Ｓ１７）により、領域Ａ１１〜Ａ１５に含まれる測定対象外物質が計数対象から除外され、結合数が１〜５の各粒子が精度良く計数される。カウント処理（Ｓ１７）については、追って図７と図８（ａ）を参照して説明する。

【0068】

図４に戻り、次に、制御部３は、カウントされた各粒子の数に基づいて凝集度と濃度を算出する（Ｓ１８）。具体的には、制御部３は、カウント処理により得られた２〜５個凝集粒子の計数値を合計して合計粒子数（Ｐ）を求め、さらに、未凝集粒子の粒子数（Ｍ）と合計粒子数（Ｐ）とを加算して総粒子数（Ｔ）求める。そして、制御部３は、求めた合計粒子数（Ｐ）と総粒子数（Ｔ）から、凝集度（Ｐ／Ｔ）を算出し、さらに、算出した凝集度と、あらかじめ作成してある検量線とに基づいて、この検体に含まれる測定対象物質の濃度を算出する。

【0069】

続いて、制御部３は、Ｓ１８で算出した結果を記憶部３１に記憶する（Ｓ１９）。なお、算出された測定対象物質の濃度は、適宜、免疫測定装置１の表示入力部２（図１（ａ）参照）に表示される。こうして、制御部３による処理が終了する。

【0070】

図７は、カウント処理（Ｓ１７）を示すフローチャートである。

【0071】

制御部３は、まず、記憶部３１に記憶している変数ｉに１をセットする（Ｓ１０１）。次に、制御部３は、図５（ｂ）の領域Ａ１ｉ（ここでは、変数ｉが１のため領域Ａ１１）に対して、Ｓ１０２〜Ｓ１０９の処理を実行する。すなわち、制御部３は、領域Ａ１１に対して、測定対象外物質を計数対象から取り除く第１の除去処理（Ｓ１０２、Ｓ１０３、Ｓ１０８）と、測定対象外物質が取り除かれた残りの粒子を計数して第１のカウント値Ｃ１１を取得する処理（Ｓ１０９）を実行する。また、このとき、制御部３はさらに、第１の除去処理が測定対象外物質の除去に適するか否かを判定し、その適否に対応する値をフラグＦ１に設定する処理（Ｓ１０４〜Ｓ１０７）を実行する。

【0072】

こうして、領域Ａ１１に対する処理が終了すると、制御部３は、変数ｉに１を加算し（Ｓ１１０）、１を加算した後の変数ｉの値が５を超えているか否かを判定する（Ｓ１１１）。変数ｉが５を超えていなければ（Ｓ１１１：ＮＯ）、Ｓ１０２に戻って、領域Ａ１ｉ
に対して、Ｓ１０２〜Ｓ１０９の処理を実行する。ここでは、変数ｉの値が２となっているため、図５（ｂ）の領域Ａ１２に対して、Ｓ１０２〜Ｓ１０９の処理が実行され、第１のカウント値Ｃ１２と、フラグＦ２が取得される。

【0073】

その後、制御部３は、変数ｉの値が５を超えるまで、Ｓ１０２〜Ｓ１０９の処理を繰り返し実行する。これにより、図５（ｂ）の領域Ａ１３、Ａ１４、Ａ１５に対して、それぞれ、第１のカウント値Ｃ１３、Ｃ１４、Ｃ１５と、フラグＦ３、Ｆ４、Ｆ５が取得される。

【0074】

以下、Ｓ１０２〜Ｓ１０９における具体的処理について、図５（ｂ）の領域Ａ１３（変数ｉ＝３）に対する処理を例に挙げながら説明する。なお、図５（ｂ）の領域Ａ１１（変数ｉ＝１）、Ａ１２（変数ｉ＝２）、Ａ１４（変数ｉ＝４）、Ａ１５（変数ｉ＝５）に対する処理も、以下と同様の工程により行われる。

【0075】

図９（ａ）〜（ｄ）は、領域Ａ１３に対する処理の過程を模式的に示す図である。

【0076】

制御部３は、スキャッタグラムＳＧ１の領域Ａ１３に含まれる粒子に対して、ＳＳＣと粒子数をパラメータとしたヒストグラムＨＧ２を作成する（Ｓ１０２）。次に、制御部３は、ヒストグラムＨＧ２に対して、領域Ａ１３に含まれる対象粒子（この場合、３個凝集粒子）と測定対象外物質とを区分するための分画線Ｌ２１を設定する（Ｓ１０３）。

【0077】

図９（ｂ）は、ヒストグラムＨＧ２の波形を示す図である。ヒストグラムＨＧ２において、左側の山状部分が測定対象外物質に対応する部分であり、右側の山状部分が３個凝集粒子に対応する部分である。図７のＳ１０２において、制御部３は、まず、ヒストグラムＨＧ２の波形に対してスムージング処理を実行し、ヒストグラムＨＧ２の波形を平滑化する。その上で、制御部３は、左側の山状部分のピークと右側の山状部分のピークとの間において、最も粒子数が少なくなるときのＳＳＣの値Ｖ２１を取得する。そして、制御部３は、取得した値Ｖ２１に従って、上下方向に延びる分画線Ｌ２１を設定する。なお、この分画線Ｌ２１は、図９（ｃ）に示すように、スキャッタグラムＳＧ１上では分画線Ｌ２２に相当する。

【0078】

続いて、制御部３は、分画線Ｌ２１による対象粒子と測定対象外物質との分画が適正であるか否かを判定するために、分画線Ｌ２１を含む所定幅の領域Ａ２３を設定する（Ｓ１０４）。すなわち、制御部３は、図９（ｄ）に示すように、分画線Ｌ２１に対して、ＳＳＣが小さくなる方向と大きくなる方向にそれぞれ所定の範囲を持つ領域Ａ２３を設定する。なお、この領域Ａ２３は、図９（ｃ）に示すように、スキャッタグラムＳＧ１上では領域Ａ２４に相当する。

【0079】

ここで、領域Ａ２３に含まれる粒子の数が少なければ、分画線Ｌ２１の近傍において、対象粒子と測定対象外物質が余り存在しないこととなるため、領域Ａ１３において、対象粒子に対応する領域と測定対象外物質の領域との分離が良好であると判定される。この場合、分画線Ｌ２１による対象粒子と測定対象外物質との分画が適正であると判定される。一方、領域Ａ２３に含まれる粒子の数が多ければ、分画線Ｌ２１の近傍において、対象粒子と測定対象外物質が混在することとなるため、領域Ａ１３において、対象粒子に対応する領域と測定対象外物質の領域との分離が良好でないと判定される。この場合、分画線Ｌ２１による対象粒子と測定対象外物質との分画は適正ではないと判定される。

【0080】

制御部３は、このように、分画線Ｌ２１を含む所定幅の領域Ａ２３に含まれる粒子の数に基づいて、分画線Ｌ２１による対象粒子と測定対象外物質との分画が適正であるか否かを判定する（Ｓ１０５）。そして、制御部３は、分画線Ｌ２１による分画が適正である場
合（Ｓ１０５：ＹＥＳ）、フラグＦ３に１を設定し（Ｓ１０６）、分画線Ｌ２１による分画が適正でない場合（Ｓ１０５：Ｎｏ）、フラグＦ３に２を設定する（Ｓ１０７）。

【0081】

図８（ｂ）は、Ｓ１０５の具体的処理を示す図である。制御部３は、領域Ａ２３に含まれる粒子の数Ｃａを計数し（Ｓ１０５ａ）、さらに、領域Ａ１３（変数ｉ＝３）に含まれる粒子の数Ｃｂを計数する（１０５ｂ）。そして、制御部３は、粒子数Ｃｂに対する粒子数Ｃａの割合Ｃａ／Ｃｂが所定の閾値Ｃｓｈ１以下であるかを判定し（Ｓ１０５ｃ）、割合Ｃａ／Ｃｂが閾値Ｃｓｈ１以下である場合には（Ｓ１０５ｃ：ＹＥＳ）、分画線Ｌ２１による分画が適正であると判定して、図７のＳ１０６において、フラグＦｉに１を設定する。一方、割合Ｃａ／Ｃｂが閾値Ｃｓｈ１以下でない場合（Ｓ１０５ｃ：ＮＯ）、制御部３は、さらに、領域Ａ２３に含まれる粒子の数Ｃａが所定の閾値Ｃｓｈ２以下であるかを判定する（Ｓ１０５ｄ）。ここで、制御部３は、粒子数Ｃａが閾値Ｃｓｈ２以下である場合に（Ｓ１０５ｄ：ＹＥＳ）、分画線Ｌ２１による分画が適正であると判定して、図７のＳ１０６において、フラグＦｉに１を設定し、粒子数Ｃａが閾値Ｃｓｈ２以下でない場合は（Ｓ１０５ｄ：ＮＯ）、分画線Ｌ２１による分画が適正でないと判定して、図７のＳ１０７において、フラグＦｉに２を設定する。

【0082】

図７に戻り、こうして分画線Ｌ２１による対象粒子と測定対象外物質との分画が適正であるか否かを判定した後、制御部３は、図９（ｂ）に示すように、分画線Ｌ２１によりヒストグラムＨＧ２を分画して、測定対象外物質が分布する領域Ａ２１が除去された領域Ａ２２、すなわち、対象粒子が分布する領域Ａ２２を設定する（Ｓ１０８）。そして、制御部３は、領域Ａ２２に含まれる粒子の数を計数し、その計数値を領域Ａ１３に対する第１のカウント値Ｃ１３として取得する（Ｓ１０９）。

【0083】

なお、本実施の形態では、図７のフローチャートで示されるように、Ｓ１０５において、分画線Ｌ２１による分画が適正であると判定された場合（Ｓ１０５：ＹＥＳ）の他、分画線Ｌ２１による分画が適正でないと判定された場合（Ｓ１０５：ＮＯ）にも、Ｓ１０８、Ｓ１０９において、領域Ａ２２が設定され、第１のカウント値Ｃ１３が取得される。

【0084】

こうして、領域Ａ１３に対して第１のカウント値Ｃ１３が取得され、フラグＦ３が設定される。他の領域Ａ１１、Ａ１２、Ａ１４、Ａ１５についても、Ｓ１０２〜Ｓ１０９の処理が実行されることにより、上記と同様にして、分画線Ｌ２１が設定され、第１のカウント値Ｃ１１、Ｃ１２、Ｃ１４、Ｃ１５が取得され、さらに、フラグＦ１、Ｆ２、Ｆ４、Ｆ５が設定される。

【0085】

図７のＳ１０２〜Ｓ１０９の処理においては、Ｓ１０８における処理により、測定対象外物質が分布する領域Ａ２１が処理対象から除かれるため、Ｓ１０９において取得される第１のカウント値Ｃ１ｉは、測定対象外物質の影響が抑制された値となる。しかしながら、図５（ａ）、（ｂ）に示すように、４個凝集や５個凝集に対応する領域Ａ１４、Ａ１５等、結合数が大きい領域では、測定対象外物質が対象粒子から明確に分離されるものの、結合数が小さくなるにつれて、測定対象外物質と対象粒子との間の境界が次第に不明瞭となる。このため、結合数の大きい領域（領域Ａ１４、Ａ１５、等）については、図７の第１の除去処理（Ｓ１０２、Ｓ１０３、Ｓ１０８）により、測定対象外物質を精度良く除去できるが、結合数の小さい領域（領域Ａ１、Ａ２、等）については、第１の除去処理による測定対象外物質の除去精度は低くなる。

【0086】

図７のフローチャートでは、第１の除去処理（Ｓ１０２、Ｓ１０３、Ｓ１０８）が領域Ａ１ｉに対する測定対象外物質の除去に適する否かが、Ｓ１０６、Ｓ１０７において設定されるフラグＦｉの値によって示される。すなわち、Ｓ１０５において分画線Ｌ２１による分画が適正であると判定されると（Ｓ１０５：ＹＥＳ）、第１の除去処理が適するとし
て、フラグＦｉに１が設定される。一方、Ｓ１０５において分画線Ｌ２１による分画が適正でないと判定されると（Ｓ１０５：ＮＯ）、第１の除去処理が適しないとして、フラグＦｉに２が設定される。このように設定されたフラグＦｉは、第１のカウント値Ｃ１ｉと、Ｓ１１２〜Ｓ１１８により取得される第２のカウント値Ｃ２ｉのうちの何れを、領域Ａ１ｉに対する対象粒子のカウント値として選択するかにおいて参照される。

【0087】

以上の処理が完了すると、次に、制御部３は、測定対象外物質を計数対象から取り除く第２の除去処理（Ｓ１１２〜Ｓ１１４）と、測定対象外物質が取り除かれた残りの粒子をカウントして、結合数１〜５の粒子の計数値である第２のカウント値Ｃ２１〜Ｃ２５を取得する処理（Ｓ１１５〜Ｓ１１８）を実行する。

【0088】

すなわち、制御部３は、図１０（ａ）に示すヒストグラムＨＧ１に基づいて、測定対象外物質の分布を示す曲線Ｇ２を推定する（Ｓ１１２）。なお、図１０（ａ）に示すヒストグラムＨＧ１は、図６（ａ）に示すヒストグラムＨＧ１と同じものである。具体的には、制御部３は、図１０（ａ）に示す曲線Ｇ１に基づいて、測定対象外物質に対応する曲線Ｇ２をスプライン関数により推定する。続いて、制御部３は、曲線Ｇ１から曲線Ｇ２を差し引くことにより、図１０（ｂ）に示すヒストグラムＨＧ３を作成し、対象粒子（未凝集粒子および凝集粒子）の分布を示す曲線Ｇ３を設定する（Ｓ１１３）。このような曲線Ｇ３の設定方法は、上記特許文献１として示した特開平３−２７９８４２号公報（対応米国特許Ｎｏ．ＵＳ５５２７７１４）に詳細に記載されている。

【0089】

続いて、制御部３は、図１０（ｂ）に示すように、曲線Ｇ３が設定されたヒストグラムＨＧ３を、図４のＳ１５で算出した値Ｖ１１〜Ｖ１４（図６（ｂ）参照）に基づいて分画し、領域Ａ３１〜Ａ３５を設定する（Ｓ１１４）。

【0090】

次に、制御部３は、変数ｉに１をセットする（Ｓ１１５）。続いて、制御部３は、領域Ａ３ｉに含まれる粒子（結合数がｉの粒子）をカウントし、そのカウント値を第２のカウント値Ｃ２ｉとして取得する（Ｓ１１６）。ここでは、変数ｉの値が１であるため、領域Ａ３１に含まれる粒子のカウント値が第２のカウント値Ｃ２１として取得される。そして、制御部３は、変数ｉに１を加算し（Ｓ１１７）、変数ｉの値が５以下である場合（Ｓ１１８：ＮＯ）、処理をＳ１１６に戻して、領域Ａ３ｉに対する第２のカウント値Ｃ２ｉの取得処理を実行する。ここでは、Ｓ１１７の処理により、変数ｉの値が２となっているため、領域Ａ３２に対する第２のカウント値Ｃ２２の取得処理が実行される。かかる第２のカウント値Ｃ２ｉの取得処理は、変数ｉの値が５を超えるまで（Ｓ１１８：ＹＥＳ）、繰り返される。こうして、Ｓ１１６〜Ｓ１１７の処理が領域Ａ３１〜Ａ３５に対して順に行われ、結合数１〜５の粒子に関して、それぞれ、第２のカウント値Ｃ２１〜Ｃ２５が取得される。

【0091】

図７のＳ１１２〜Ｓ１１６の処理では、Ｓ１１３において、ヒストグラムＨＧ１上の曲線Ｇ１から、測定対象外物質の分布を示す曲線Ｇ２が差し引かれて、ヒストグラムＨＧ３が作成されるため、ヒストグラムＨＧ３に設定された領域Ａ３１〜Ａ３５に含まれる粒子を計数して得られる第２のカウント値Ｃ２ｉは、測定対象外物質の影響が抑制された値となる。この場合、図１０（ａ）に示すように、ＦＳＣが小さい領域においては、測定対象外物質の数が多いため、測定対象外物質の分布を高い精度で推定できる。このため、第２の除去処理（Ｓ１１２〜Ｓ１１４）による測定対象外物質の除去精度は、ＦＳＣが低い領域では高くなる。

【0092】

しかしながら、図１０（ａ）に示すように、ＦＳＣが大きくなるにつれて、測定対象外物質の数が次第にゼロに近づくため、ＦＳＣが大きい領域においては、測定対象外物質の分布を高い精度で推定することが困難となる。このため、第２の除去処理（Ｓ１１２〜Ｓ
１１４）による測定対象外物質の除去精度は、ＦＳＣが大きくなるにつれて、次第に低下する。

【0093】

したがって、第２の除去処理（Ｓ１１２〜Ｓ１１４）による測定対象外物質の除去精度は、結合数の小さい領域（領域Ａ３１、Ａ３２等）については高いが、結合数の大きい領域（領域Ａ３４、Ａ３５等）については低くなる。

【0094】

これに対し、上記のように、第１の除去処理（Ｓ１０２、１０３、Ｓ１０８）による測定対象外物質の除去精度は、第２の除去処理（Ｓ１１２〜Ｓ１１４）とは逆に、結合数の大きい領域（領域Ａ３４、Ａ３５等）において高く、結合数の小さい領域（領域Ａ３１、Ａ３２等）において低い。このため、第１の除去処理の精度が高い領域、すなわち、フラグＦｉが１である領域は、第１の除去処理を採用し、第１の除去処理の精度が低い領域、すなわち、フラグＦｉが２である領域は、第２の除去処理を採用することが望ましい。

【0095】

そこで、本実施の形態では、第１の除去処理（Ｓ１０２、１０３、Ｓ１０８）を実行して得られた第１のカウント値Ｃ１ｉと、第２の除去処理（Ｓ１１２〜Ｓ１１４）を実行して得られた第２のカウント値Ｃ２ｉのうちの何れか一方が、フラグＦｉの値に基づいて、結合数ｉの粒子に対するカウント値として選択される。

【0096】

図８（ａ）は、かかる選択処理を示すフローチャートである。図８（ａ）のフローチャートは、図７のＳ１１８に続くものである。

【0097】

すなわち、制御部３は、変数ｉに１をセットし（Ｓ１１９）、Ｓ１０６またはＳ１０７でセットしたフラグＦｉの値が、１であるか否かを判定する（Ｓ１２０）。制御部３は、フラグＦｉの値が１であると（Ｓ１２０：ＹＥＳ）、結合数がｉの粒子の数として、第１のカウント値Ｃ１ｉを採用し（Ｓ１２１）、フラグＦｉの値が２であると（Ｓ１２０：ＮＯ）、結合数がｉの粒子の数として、第２のカウント値Ｃ２ｉを採用する（Ｓ１２２）。こうして、Ｓ１２０〜Ｓ１２３の処理は、変数ｉが５を超えるまで繰り返される（Ｓ１２４）。これにより、結合数１〜５の粒子の数として、それぞれ、第１のカウント値Ｃ１ｉと第２のカウント値Ｃ２ｉのうちの何れか一方が採用される。こうして、カウント処理が終了する。

【0098】

このように、結合数が１〜５の粒子の数として、それぞれ、フラグＦ１〜Ｆ５の値に基づいて、第１のカウント値と第２のカウント値のうちの何れか一方が採用されると、結合数が１〜５の粒子の数として、第１のカウント値Ｃ１ｉのみが採用される場合、および、第２のカウント値Ｃ２ｉのみが採用される場合に比べて、精度の高いカウント値が採用されることになる。すなわち、上述したように、結合数の大きい粒子については、第１の除去処理の精度が高いため、第１のカウント値Ｃ１ｉの精度が高くなり、結合数の小さい粒子については、第２の除去処理の精度が高いため、第２のカウント値Ｃ２ｉの精度が高くなる傾向がある。このため、結合数の大きい粒子については第１のカウント値が採用されることが望ましく、結合数の小さい粒子については第２のカウント値が採用されることが望ましい。本実施の形態では、Ｓ１０５において第１のカウント値を採用すべきか否かが判定され、かかる判定結果に基づいて第１および第２のカウント値のうちの何れかが採用されるため、結合数が１〜５の粒子の数を、精度よく取得することができる。これにより、図４のＳ１８において、精度の高い凝集度と濃度を算出することができる。

【0099】

次に、図４、図７および図８（ａ）のフローチャートに従って免疫測定装置１により実際に行われた測定対象物質の濃度の算出結果について説明する。

【0100】

図１１は、７つの測定試料Ｃ０〜Ｃ６を用いて、図４、図７および図８（ａ）に示す処
理（実施の形態）と、第１のカウント値のみを取得する場合の処理（比較例１）と、第２のカウント値のみを取得する場合の処理（比較例２）と、によって得られた結果を示す図である。

【0101】

本測定では、測定試料Ｃ０〜Ｃ６として、シスメックス株式会社製「ランリームＨＢｓＡｇ」が用いられた。これは、ＨＢｓ抗原測定用の試薬キットであり、ＨＢｓＡｇラテックス試薬、ＨＢｓＡｇ緩衝液、ＨＢｓＡｇ検体希釈液、ＨＢｓＡｇキャリブレータから構成される。本測定では、検体としてＨＢｓＡｇキャリブレータが用いられ、反応緩衝液としてＨＢｓＡｇ緩衝液が用いられた。担体粒子懸濁液は、本測定用に別途生成されたものである。また、本測定では、乳び試料としてシスメックス株式会社製「干渉チェック・Ａプラス」が用いられた。また、本測定では、反応部５３のキュベットで混合された検体と、反応緩衝液と、担体粒子懸濁液とが、４５℃に保たれながら５分間攪拌された。検体の分注量は１０μＬ、反応緩衝液の分注量は８０μＬ、担体粒子懸濁液の分注量は１０μＬとした。

【0102】

なお、ＨＢｓＡｇラテックス試薬は、抗ＨＢｓ抗体を感作したラテックス粒子の懸濁液である。ＨＢｓ抗原は、Ｂ型肝炎ウイルス（ＨＢＶ）の表面抗原であり、ＨＢｓ抗原測定用の試薬を用いた測定によりＨＢＶ感染状態かどうかを調べることができる。

【0103】

図１１において、測定試料ごとに設けられた６つの「項目」には、凝集度（Ｐ／Ｔ）と、結合数が１〜５の粒子（未凝集〜５個凝集粒子）に関する情報が個別に示されている。「実施の形態」、「比較例１」、「比較例２」には、乳び試料が混合された測定試料に対する結果が示されており、「真値」には、乳び試料が混合されていない測定試料に対する結果が示されている。実施の形態と比較例１、２において、「取得値」には、取得された凝集度と、取得された粒子の数が示されており、「乖離度」には、「真値」の値との乖離度が示されている。実施の形態の「選択」には、図７と図８（ａ）に示すカウント処理に従って、比較例１（第１のカウント値）と比較例２（第２のカウント値）の何れが採用されたかが示されている。

【0104】

実施の形態では、結合数が１〜５の粒子の数について、比較例１、２のうち乖離度の絶対値が小さい方のカウント値が採用されている。たとえば、測定試料Ｃ２の未凝集粒子について、比較例１の乖離度は３．８２％であり、比較例２の乖離度は−０．４０％である。そして、実施の形態の乖離度は、乖離度の絶対値が小さい方、すなわち比較例２のカウント値（７８９８５）となっている。また、測定試料Ｃ２の３個凝集粒子について、比較例１の乖離度は１６．３２％であり、比較例２の乖離度は−３７．８９％である。そして、実施の形態の乖離度は、乖離度の絶対値が小さい方、すなわち比較例１のカウント値（２２１）となっている。このように、実施の形態では、比較例１、２のうち乖離度の絶対値が小さい方のカウント値、すなわち、より真値に近いカウント値が採用されている。

【0105】

また、実施の形態では、結合数が１〜５の粒子について、それぞれ、比較例１、２のうち真値に近いカウント値が採用されるため、結合数が１〜５の粒子の数から算出される凝集度の乖離度の絶対値は、比較例１、２以下となる。たとえば、測定試料Ｃ１について、比較例１の凝集度は１．９６％で真値との乖離度は１７．７６％であり、比較例２の凝集度は１．６８％で真値との乖離度は０．５２％である。そして、実施の形態の凝集度は１．６８％であり比較例２と同様の値となっている。また、測定試料Ｃ３について、比較例１の凝集度は８．５６％で真値との乖離度は３．３４％であり、比較例２の凝集度は８．５０％で真値との乖離度は２．６３％である。そして、実施の形態の凝集度は８．１８％であり真値との乖離度は−１．２８％となっている。このように、実施の形態では、凝集度の乖離度の絶対値が比較例１、２以下、すなわち、凝集度の精度が比較例１、２以上に高められる。

【0106】

なお、実施の形態の「選択」の値に示されるように、各測定試料において、結合数が小さい粒子については比較例２（第２のカウント値）が採用されており、結合数が大きい粒子については比較例１（第１のカウント値）が採用されていることが分かる。結合数が中程度の粒子については、比較例１（第１のカウント値）と比較例２（第２のカウント値）のうちの何れか一方が、選択され、採用されていることが分かる。

【0107】

以上、本実施の形態によれば、スキャッタグラムＳＧ１の領域Ａ１１〜Ａ１５ごとに、分画線Ｌ２１により適正な分画が可能か否かが判定される。適正な分画が可能と判定されると、第１の除去処理を実行して得られた第１のカウント値が選択され、適正な分画が不可能と判定されると、第２の除去処理を実行して得られた第２のカウント値が選択される。これにより、凝集度および濃度に対する測定対象外物質による誤差の影響をより効果的に軽減することができる。

【0108】

また、本実施の形態によれば、Ｓ１０５の判定において、図９（ｄ）に示す領域Ａ２３に含まれる粒子の数、および、ヒストグラムＨＧ２全体に含まれる粒子数に対する領域Ａ２３に含まれる粒子の数の比率が、それぞれ、所定の閾値Ｃｓｈ２、Ｃｓｈ１以下であるかが判定される。これら判定により、ヒストグラムＨＧ２において、測定対象外物質に対応する左側の山状部分と、対象粒子に対応する右側の山状部分との境界が明瞭であるか否かを適正に判定することができる。よって、Ｓ１０５の判定により、第１の除去処理の適否を適正に判定することができ、第１のカウント値と第２のカウント値の選択を適正に行うことができる。

【0109】

なお、上記実施の形態では、図４、図７および図８（ａ）に示す処理を、スキャッタグラムＳＧ１とヒストグラムＨＧ１〜ＨＧ３を用いて説明し、これらの図において分画線と領域を図示した。しかしながら、上述のように、これらの図と、分画線および領域は、実際に描画され、たとえば表示入力部２に表示される必要はなく、制御部３の分析部３２により処理として設定されれば良いものである。具体的には、たとえば、記憶部３１に記憶されている全ての粒子の情報に、結合数が１〜５の粒子と測定対象外物質の粒子の何れに分類されたかを示す情報が付加され、分画線と領域は、座標を示す数値によって設定される。

【0110】

以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明の実施の形態はこれらに限定されるものではない。

【0111】

たとえば、上記実施の形態では、全ての結合数の粒子について、第１および第２の除去処理を実行して第１および第２のカウント値の両方を取得し、その後、何れか一方のカウント値が選択された。しかしながら、これに限らず、第１および第２のカウント値のうち、適正なカウント値のみが取得されるようにしても良い。

【0112】

図１２は、この場合のカウント処理を示すフローチャート（変更例１）である。図１２に示すカウント処理では、図７と図８（ａ）に示すカウント処理のＳ１０９、Ｓ１１６が、それぞれ、Ｓ１３１、Ｓ１３３に変更され、Ｓ１１５の後にＳ１３２が追加されている。また、Ｓ１０７の処理の後、処理がＳ１１０へと進むように変更されている。さらに、図１２に示すカウント処理では、図８（ａ）のＳ１１９〜Ｓ１２４が省略される。

【0113】

この場合、結合数がｉの粒子について、分画線Ｌ２１により分画が適正でなれば（Ｓ１０５：ＮＯ）、制御部３は、フラグＦｉに２を設定し（Ｓ１０７）、処理をＳ１１０に進める。すなわち、本変更例では、分画線Ｌ２１により分画が適正でない場合（Ｓ１０５：ＮＯ）、第１の除去処理（Ｓ１０８）と、粒子数のカウント値の取得処理（Ｓ１３１）が
スキップされる。他方、結合数がｉの粒子について、分画線Ｌ２１により分画が適正である場合（Ｓ１０５：ＹＥＳ）、制御部３は、フラグＦｉに１を設定し（Ｓ１０６）、分画線Ｌ２１によって分画されたヒストグラムＨＧ２に含まれる粒子の数をカウントし、そのカウント値を、結合数ｉの粒子の数として取得する（Ｓ１３１）。

【0114】

また、制御部３は、Ｓ１１３において変数ｉを１に設定した後、フラグＦｉの値が２であるかを判定する（Ｓ１３２）。フラグＦｉの値が２ではない場合（Ｓ１３２：ＮＯ）、制御部３は、粒子数のカウント値の取得処理（Ｓ１３３）をスキップする。他方、フラグＦｉの値が２である場合（Ｓ１３２：ＹＥＳ）、制御部３は、領域Ａ３ｉに含まれる粒子の数をカウントし、そのカウント値を、結合数ｉの粒子の数として取得する（Ｓ１３３）。

【0115】

図１２に示すカウント処理によれば、上記実施の形態と同様、結合数が１〜５の粒子の数を、精度良く取得することができる。また、第１の除去処理が適切でない場合には（Ｓ１０５：ＮＯ）、第１の除去処理（Ｓ１０８）が実行されないため、処理の効率化および迅速化を図ることができる。さらに、第１の除去処理が適正でない場合には（Ｓ１０５：ＮＯ）、Ｓ１３１のカウント値の取得処理がスキップされ、第２の除去処理が適正でない場合には（Ｓ１３２：ＮＯ）、Ｓ１３３のカウント値の取得処理がスキップされるため、上記実施の形態に比べて、カウント処理の効率化および迅速化を図ることができる。

【0116】

また、上記実施の形態では、結合数が１〜５の５種類の粒子全てについて、それぞれ、Ｓ１０５において、第１の除去処理が適正であるか否かが判定された。しかしながら、かかる判定を行わずに、予め、結合数ごとに、第１の除去処理と第２の除去処理の何れか一方が、測定対象外物質の除去に適する処理として選択されていても良い。

【0117】

図１３（ａ）は、この場合のカウント処理を示すフローチャートである（変更例２）。図１３（ａ）のカウント処理では、図１２のカウント処理に対して、Ｓ２０１が追加され、Ｓ１０３〜Ｓ１０６が削除されている。また、記憶部３１に、図１３（ｂ）に示すテーブルが保持され、第１の除去処理と第２の除去処理の何れが選択されるかを示すフラグＦ１〜Ｆ５とその値とが関連付けられている。フラグＦｉの値が１であれば、第１の除去処理（Ｓ１０２、Ｓ１０３、Ｓ１０８）が適正な除去処理として選択され、フラグＦｉの値が２であれば、第２の除去処理（Ｓ１１２〜Ｓ１１４）が適正な除去処理として選択される。

【0118】

制御部３は、変数ｉに１を設定し（Ｓ１０１）、記憶部３１に記憶されたフラグＦｉの値が１であるか否かを判定する（Ｓ２０１）。ここで、フラグＦｉの値が１でなければ（Ｓ２０１：ＮＯ）、制御部３は、第１の除去処理（Ｓ１０２、Ｓ１０３、Ｓ１０８）と、粒子数のカウント値の取得処理（Ｓ１３１）をスキップし、変数ｉに１を加算する（Ｓ１１０）。一方、フラグＦｉの値が１であると（Ｓ２０１：ＹＥＳ）、制御部３は、第１の除去処理（Ｓ１０２、Ｓ１０３、Ｓ１０８）を実行して領域Ａ２２を設定し、さらに、設定した領域Ａ２２に含まれる粒子の数をカウントして、そのカウント値を、結合数ｉの粒子の数として取得する（Ｓ１３１）。

【0119】

以上の処理が、変数ｉの値が５を超えるまで繰り返される。これにより、フラグＦｉの値が１である結合数の粒子についてのみ、粒子数が取得される。図１３（ｂ）のようにフラグＦｉが設定されている場合、結合数が３、４、５の粒子についてのみ、Ｓ１０２、Ｓ１０３、Ｓ１０８、Ｓ１３１の処理により粒子数が取得され、結合数が１、２の粒子については粒子数が取得されない。結合数が１、２の粒子については、Ｓ１３２、Ｓ１３３の処理により、粒子数が取得される。

【0120】

図１３（ａ）に示すカウント処理によれば、上記実施の形態と同様、結合数が１〜５の粒子の数を、精度良く取得することができる。また、第１の除去処理（Ｓ１０２、Ｓ１０３、Ｓ１０８）が測定対象外物質の除去に適正であるか否かが判定されないため、処理の簡素化および迅速化を図ることができる。

【0121】

なお、上述したように、結合数の大きい粒子については第１の除去処理の精度が高く、結合数の小さい粒子については第２の除去処理の精度が高い。したがって、この傾向に基づいて、予め、第１の除去処理と第２の除去処理のうちの何れか一方を測定対象外物質の除去に適する除去処理として選択しておくことも可能である。図１３（ｂ）に示すフラグＦｉの設定内容は、この傾向を反映したものである。すなわち、結合数が大きい粒子に対応するフラグＦ４、Ｆ５は、第１の除去処理の精度が高いため、第１の除去処理を選択することを示す値１が設定され、結合数が小さい粒子に対応するフラグＦ１、Ｆ２は、第２の除去処理の精度が高いため、第２の除去処理を選択することを示す値２が設定されている。図１１に示す検証結果からも、結合数が４、５の粒子に対して第１の除去処理の精度が高く、結合数が１、２の粒子に対して第２の除去処理の精度が高いことが分かる。

【0122】

このように、第１の除去処理と第２の除去処理のうちの何れか一方を予め選択および設定しておく手法は、特に、その結合数の粒子に対して何れの除去処理が適正であるかが統計的および経験的に明らかである場合に用いて望ましいものである。

【0123】

なお、図１１に示す検証結果からすると、結合数が３の粒子については、第１の除去処理と第２の除去処理の何れが測定対象外物質の除去に適するかが、測定対象試料ごとに異なる傾向がある。これに対し、図１３（ｂ）によるフラグＦｉの設定では、結合数が３の粒子については、第１の除去処理が選択される。このため、測定対象試料によっては、結合数が３の粒子について取得された粒子数に、測定対象外物質による誤差が含まれることが起こり得るものと想定され得る。

【0124】

しかしながら、このように結合数が３の粒子について取得された粒子数の精度がやや低下する可能性はあるものの、その他の結合数の粒子について取得された粒子数の精度は高く維持される。したがって、本変更例によっても、図４のＳ１８によって算出される凝集度と濃度の精度を高めることができる。

【0125】

なお、図１３（ａ）のカウント処理において、第１の除去処理と第２の除去処理の何れが測定対象外物質の除去に適するかが不明瞭な結合数の粒子（ここでは、結合数が３の粒子）についてのみ、第１の除去処理と第２の除去処理の何れが測定対象外物質の除去に適するかを判定するようにしても良い。

【0126】

図１４（ａ）は、この場合のカウント処理を示すフローチャート（変更例３）である。なお、図１４（ａ）に示すフローチャートにおいて、Ｓ１１１以降の処理ステップは、図１３（ａ）に示すフローチャートと同じである。図１４（ａ）のカウント処理では、図１３のカウント処理に対して、Ｓ２１１〜Ｓ２１６が追加されている。また、記憶部３１に、図１４（ｂ）に示すテーブルが保持され、第１の除去処理と第２の除去処理の何れが選択されるか、あるいは、判定処理が行われることを示すフラグＦ１〜Ｆ５とその値とが関連付けられている。フラグＦｉの値が１であれば、第１の除去処理（Ｓ１０２、Ｓ１０３、Ｓ１０８）が適正な除去処理として選択され、フラグＦｉの値が２であれば、第２の除去処理（Ｓ１１２〜Ｓ１１４、図１３（ａ）参照）が適正な除去処理として選択され、フラグＦｉの値が３であれば、第１の除去処理と第２の除去処理の何れが測定対象外物質の除去に適正であるかの判定処理が選択される。

【0127】

Ｓ２０１において、フラグＦｉの値が１で無いと判定した場合（Ｓ２０１：ＮＯ）、制
御部３は、さらに、フラグＦｉの値が２であるか否かを判定する（Ｓ２１１）。ここで、フラグＦｉの値が２であれば（Ｓ２１１：ＹＥＳ）、制御部３は、処理をＳ１１０に処理を進める。他方、フラグＦｉの値が２ではない場合、すなわち、フラグＦｉの値が３である場合（Ｓ２１１：ＮＯ）、制御部３は、領域Ａ１ｉに対して、Ｓ２１２〜Ｓ２１５の判定処理を実行する。ここで、Ｓ２１２〜Ｓ２１５における処理は、それぞれ、図７のＳ１０２〜Ｓ１０５の処理と同じである。

【0128】

Ｓ２１５において、分画線Ｌ２１による分画が適正であると判定すると、すなわち、第１の除去処理が測定対象外物質の除去に適すると判定すると（Ｓ２１５：ＹＥＳ）、制御部３は、処理をＳ１０８に進めて、領域Ａ１ｉ（ここでは、領域Ａ１３）に対する粒子数のカウント値の取得処理を実行する（Ｓ１０８、Ｓ１３１）。他方、分画線Ｌ２１による分画が適正でないと判定すると、すなわち、第１の除去処理が測定対象外物質の除去に適しないと判定すると（Ｓ２１５：ＮＯ）、制御部３は、一時的にフラグＦｉを２に書き換えて（Ｓ２１６）、処理をＳ１１０に進める。この場合、結合数がｉの粒子（ここでは、結合数が３の粒子）に対しては、図１３（ａ）のＳ１３２の判定がＹＥＳとなり、Ｓ１３３のカウント値の取得処理が実行され、第２の除去処理に基づく粒子数が取得される。

【0129】

図１４（ａ）に示すカウント処理によれば、上記実施の形態と同様、結合数が１〜５の粒子の数を、精度良く取得することができる。また、第１の除去処理と第２の除去処理のうちの何れかが測定対象外物質の除去に適するかが不明である結合数の粒子についてのみ判定処理が行われるため、粒子数の計数精度を高めながら、処理の簡素化および迅速化を図ることができる。

【0130】

このように、第１の除去処理と第２の除去処理のうちの何れが測定対象外物質の除去に適するかを判定する処理は、特に、その結合数の粒子に対して何れの除去処理が適正であるかが統計的および経験的に明らかではない場合に用いて望ましいものである。

【0131】

また、図１４（ａ）に示すようにカウント処理が行われる場合、図１４（ｂ）に示すテーブル（フラグＦ１〜Ｆ５の値）が、記憶部３１に複数記憶され、測定対象物質および測定条件等に応じて、適宜、差し替え可能となるよう免疫分析装置１が構成されても良い。こうすると、測定対象物質や測定条件等が変化しても、精度良く粒子の数を取得することができる。

【0132】

また、上記実施の形態では、スキャッタグラムＳＧ１の横軸とヒストグラムＨＧ１、ＨＧ３の横軸にＦＳＣが用いられたが、ＦＳＣに替えて、直流電流を流した電極間に粒子を通過させた際に得られる直流抵抗といった電気的情報が用いられても良い。また、スキャッタグラムＳＧ１の縦軸とヒストグラムＨＧ２の横軸にＳＳＣが用いられたが、ＳＳＣに替えて、高周波電流を流した電極間に粒子を通過させた際に得られる高周波抵抗といった電気的情報が用いられても良い。

【0133】

この他、本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。

【符号の説明】

【0134】

１ … 免疫測定装置
３ … 制御部
４ … 測定部（検出部）
４２ … レーザ光源（光源）
４８ … フォトダイオード（受光部）
４９ … フォトマルチプライヤーチューブ（受光部）

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図6】

【図7】

【図8】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図5】

【図9】