特許 6084669 校正治具

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B1)

(11)【特許番号】6084669

(24)【登録日】2017年2月3日

(45)【発行日】2017年2月22日

(54)【発明の名称】校正治具

(51)【国際特許分類】

   G01K 15/00 20060101AFI20170213BHJP

【ＦＩ】

   G01K15/00

【請求項の数】5

【全頁数】13

(21)【出願番号】特願2015-172575(P2015-172575)

(22)【出願日】2015年9月2日

【審査請求日】2015年9月2日

(73)【特許権者】

【識別番号】390014568

【氏名又は名称】東芝プラントシステム株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110000235

【氏名又は名称】特許業務法人 天城国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】小武 光

(72)【発明者】

【氏名】宮崎 宏文

【審査官】 平野 真樹

(56)【参考文献】

【文献】 特開２００５−０６９９２９（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｋ １５／００

Ｈ０１Ｃ １０／００−１０／５０

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

センサが接続される計測機器の校正に用いられる校正治具であって、
前記計測機器に電気的に接続される第１端子と、
抵抗値がそれぞれ異なる複数の固定抵抗と、１つの可変抵抗と、前記可変抵抗を複数の前記固定抵抗のいずれかに選択的に接続する接続手段を有し、選択的に接続された前記固定抵抗及び前記可変抵抗からなる直列回路の一端が前記第１端子に接続される抵抗部と、
前記抵抗部の前記直列回路の他端が電気的に接続されるとともに、前記計測機器の校正時に、前記センサに代わり前記計測機器に接続される別置の調整器が電気的に接続される第２端子と、
を備える校正治具。

【請求項2】

前記調整器はダイヤル可変抵抗器であり、前記第１端子、前記抵抗部、及び前記第２端子は、前記ダイヤル可変抵抗器より小型の筐体に配置されている請求項１に記載の校正治具。

【請求項3】

複数の前記第１端子、及び複数の前記抵抗部を有し、
前記第２端子は、複数の前記抵抗部のうちの第１の前記抵抗部を介して、複数の前記第１端子のうちの第１の前記第１端子に電気的に接続され、複数の前記抵抗部のうちの第１の前記抵抗部と異なる第２の前記抵抗部を介して、複数の前記第１端子のうちの第１の前記第１端子とは異なる第２の前記第１端子に電気的に接続される請求項１又は２に記載の校正治具。

【請求項4】

少なくとも３つの前記第１端子と、
少なくとも３つの前記抵抗部と、
第１の前記抵抗部が接続される前記第１端子、及び第２の前記抵抗部が接続される前記第１端子以外の前記第１端子に、第３の前記抵抗部を介して、電気的に接続される第３端子と、
を備える請求項３に記載の校正治具。

【請求項5】

前記可変抵抗は、ロック機能付きのポテンショメータである請求項１乃至４のいずれか一項に記載の校正治具。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、校正治具に関する。

【背景技術】

【0002】

原子炉などのプラント設備を安全に運転するためには、冷却水や原子炉の炉心温度など多数個所の温度を高い精度で計測する必要がある（例えば特許文献１参照）。このため、原子力発電所に設置される温度計測装置に対しては、定期的な校正が行われる。

【0003】

温度計測装置としては、測温抵抗体の抵抗値に基づいて、測定対象の温度を測定するものが一般的である。温度計測装置の校正作業には、測温抵抗体を模したダイヤル可変抵抗器と、測温抵抗体と温度計測装置とを繋ぐ配線を模したダイヤル可変抵抗器とが用いられる。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２００６−３２０７号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

しかしながら、上述の校正方法では、例えば温度計測装置が３線式に対応するものである場合、測温抵抗体を模したダイヤル可変抵抗器と、３つの配線を模した３台のダイヤル可変抵抗器の計４台のダイヤル可変抵抗器が必要となる。そうすると、校正作業者は、多数の温度計測装置の校正作業を行う毎に、４台のダイヤル可変抵抗器を校正現場に搬入する必要がある。このため、効率よく校正作業を進めるのが困難であった。

【0006】

本発明は、上記事由に鑑みてなされたものであり、校正作業の負担を軽減することを課題とする。

【課題を解決するための手段】

【0007】

上記課題を解決するために、本実施形態に係る校正治具は、センサが接続される計測機器の校正に用いられる校正治具であって、前記計測機器に電気的に接続される第１端子と、抵抗値がそれぞれ異なる複数の固定抵抗と、１つの可変抵抗と、前記可変抵抗を複数の前記固定抵抗のいずれかに選択的に接続する接続手段を有し、選択的に接続された前記固定抵抗及び前記可変抵抗からなる直列回路の一端が前記第１端子に接続される抵抗部と、前記抵抗部の前記直列回路の他端が電気的に接続されるとともに、前記計測機器の校正時に、前記センサに代わり前記計測機器に接続される別置の調整器が電気的に接続される第２端子と、を備える。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】実施の形態に係る温度計測システムの概略構成図である。

【図2】実施の形態に係る温度計測装置のブロック図である。

【図3】実施の形態に係るルックアップテーブルの一例を示す図である。

【図4】実施の形態に係る温度計測システムの等価回路を示す図である。

【図5】実施の形態に係る校正実施時の状態を示す図である。

【図6A】実施の形態に係る校正治具の平面図である。

【図6B】実施の形態に係る校正治具の側面図である。

【図7】実施の形態に係る校正治具の等価回路を示す図である。

【図8】実施の形態に係る校正方法の説明図である。

【図9】従来の校正手順を説明するための図である。

【図10】変形例に係る校正治具の回路図である。

【図11】変形例に係る校正治具の回路図である。

【図12】変形例に係る校正治具の回路図である。

【発明を実施するための形態】

【0009】

以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。まず、本実施の形態に係る校正方法の対象となる温度計測システムについて説明する。

【0010】

温度計測システムは、図１に示すように、プラントの機側などの工場現場に設置される検出器１と、工場現場から離れたところに位置する工場管理室に設置され、検出器１に３本の導線Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３を介して接続される温度計測装置３と、温度計測装置３に電力を供給する電源４と、を備える。

【0011】

電源４は、商用電源の交流電圧を整流平滑化して得られた直流電圧を、温度計測装置３の動作電圧にまで降圧して出力する。

【0012】

検出器１は、測温抵抗体（Resistance Temperature Detector）ＲＴＤと、測温抵抗体ＲＴＤを収容するシース部１ｂと、計器端子箱１ａとを有している。

【0013】

測温抵抗体ＲＴＤは、検出器１を構成するシース部１ｂの先端部に内蔵されている。測温抵抗体ＲＴＤは、測温抵抗体ＲＴＤの周囲温度に応じた抵抗値を示す。測温抵抗体ＲＴＤの材料としては、白金、ニッケル、銅等の金属やゲルマニウム等の半導体が挙げられる。測温抵抗体ＲＴＤの一端には導線Ｌ１１が接続され、測温抵抗体ＲＴＤの他端には導線Ｌ１２，Ｌ１３が接続されている。

【0014】

計器端子箱１ａは、シース部１ｂと一体的に設けられており、内部に３つの端子台２ａ，２ｂ，２ｃが設けられている。端子台２ａ，２ｂ，２ｃには、測温抵抗体ＲＴＤからの導線Ｌ１１，Ｌ１２，Ｌ１３が接続されるとともに、温度計測装置３からの導線Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３が接続される。

【0015】

上述のように構成される検出器１は、例えば配管Ｐ１などに設けられたサーモウェル１０２に、シース部１ｂが挿入された状態で、当該サーモウェル１０２に固定される。

【0016】

温度計測装置３は、いわゆる３線式の温度計測装置である。温度計測装置３は、３本の導線Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３がそれぞれ接続される３つの入力端子ＲＣ１、ＲＣ２、ＲＣ３を備える。入力端子ＲＣ１には、コネクタＣ１を介して導線Ｌ１が接続される。同様に、入力端子ＲＣ２には、コネクタＣ２を介して導線Ｌ２が接続され、入力端子ＲＣ３には、コネクタＣ３を介して導線Ｌ３が接続される。温度計測装置３は、導線Ｌ１〜Ｌ３及び導線Ｌ１１〜Ｌ１３を介して、測温抵抗体ＲＴＤに電気的に接続される。

【0017】

図２は、温度計測装置３のブロック図である。温度計測装置３は、図２に示すように、処理部３０と、ＡＤＣ（Analog to digital converter）３６と、変換器（測定部）３７とを備える。

【0018】

処理部３０は、演算処理部３１、主記憶部３２、補助記憶部３３、インタフェース３４およびこれらを接続するシステムバス３５を有する。

【0019】

演算処理部３１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）を有し、補助記憶部３３に記憶されたプログラムを読み出して実行する。そして、プログラムに基づいて、検出器１を構成する測温抵抗体ＲＴＤの抵抗値を用いて温度を演算する。

【0020】

主記憶部３２は、ＲＡＭ（Random Access Memory）等の揮発性メモリを有している。主記憶部３２は、演算処理部３１の作業領域として用いられる。

【0021】

補助記憶部３３は、半導体メモリ等の不揮発性メモリを有している。補助記憶部３３は、演算処理部３１が実行するプログラムおよび各種パラメータなどを記憶している。また、補助記憶部３３は、温度と、変換器３７から出力される測定電圧との相関関係を示すルックアップテーブル３３ａを記憶している。

【0022】

図３に示すように、ルックアップテーブル３３ａは、例えば０．１℃間隔の温度と、各温度に対応する測定電圧から構成される。演算処理部３１は、補助記憶部３３が記憶するルックアップテーブル３３ａを参照して、上記測定電圧に基づいて温度を算出する。

【0023】

図２に示されるように、変換器３７は、３つの入力端子ＲＣ１、ＲＣ２、ＲＣ３の電位に応じた電圧（測定電圧）を出力する。変換器３７は、ＡＤＣ３６を介して処理部３０のインタフェース３４に接続されている。変換器３７は、電圧源ＨＥと増幅器ＨＱと３つの抵抗ＨＲ１、ＨＲ２、ＨＲ３とを有する。

【0024】

抵抗ＨＲ１、ＨＲ２は、入力端子ＲＣ１と増幅器ＨＱの一方の入力端との間に、相互に直列接続された状態で配置されている。抵抗ＨＲ３は、入力端子ＲＣ２と増幅器ＨＱの上記一方の入力端との間に配置されている。電圧源ＨＥは、一端が入力端子ＲＣ３に接続され、他端が抵抗ＨＲ１、ＨＲ２に接続されている。増幅器ＨＱの出力端は、ＡＤＣ３６に接続されている。

【0025】

増幅器ＨＱは、オペアンプ等の差動増幅回路から構成されている。電圧源ＨＥは、例えば整流平滑回路とツェナーダイオードとを利用した定電圧回路等から構成されている。

【0026】

本実施の形態に係る温度計測システムの等価回路は、図４に示すように、検出器１の測温抵抗体ＲＴＤに対応する抵抗Ｒと、導線Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３に対応する抵抗ｒ１、ｒ２、ｒ３とで表される。抵抗ｒ１は、測温抵抗体ＲＴＤの一端と温度計測装置３の入力端子ＲＣ１との間の導線Ｌ１の線路抵抗を示す。抵抗ｒ２、ｒ３は、測温抵抗体ＲＴＤの他端と温度計測装置３の入力端子ＲＣ２、ＲＣ３との間の導線Ｌ２，Ｌ３の線路抵抗を示す。

【0027】

次に、この温度計測装置３の温度校正に用いられる校正治具１０およびダイヤル可変抵抗器５０の構成について説明する。

【0028】

温度計測装置３の温度校正は、図５に示すように、温度計測装置３に校正治具１０を接続するとともに、校正治具１０にダイヤル可変抵抗器５０を接続した状態で行われる。校正治具１０の端子ｔｅ１１、ｔｅ１２、ｔｅ１３は、導線Ｌ４１、Ｌ４２、Ｌ４３を介して入力端子ＲＣ１、ＲＣ２、ＲＣ３に電気的に接続されている。また、校正治具１０の端子ｔｅ２１、ｔｅ２２は、導線Ｌ５１、Ｌ５２を介してダイヤル可変抵抗器５０の入力端子ｔｅ５１、ｔｅ５２に電気的に接続されている。

【0029】

導線Ｌ４１、Ｌ４２、Ｌ４３、Ｌ５１、Ｌ５２は、導線Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３に比べて十分短くそれらの抵抗は無視できるものである。導線Ｌ４１、Ｌ４２、Ｌ４３それぞれの両端部には、接続手段例えばバナナプラグＣ１１、Ｃ４１、Ｃ１２、Ｃ４２、Ｃ１３、Ｃ４３が設けられている。また、導線Ｌ５１、Ｌ５２それぞれの両端部にも、接続手段例えばバナナプラグＣ５１、Ｃ５２、Ｃ５３、Ｃ５４が設けられている。

【0030】

校正治具１０は、図６Ａおよび図６Ｂに示すように、略矩形箱状の筐体１１と、３つの第１端子ｔｅ１１、ｔｅ１２、ｔｅ１３と、第２端子ｔｅ２２と、第３端子ｔｅ２１と、３つの抵抗部１２Ａ、１２Ｂ、１２Ｃと、を備える。

【0031】

抵抗部１２Ａは、３つの抵抗Ｒ１１、Ｒ１２、Ｒ１３と、３つの第１ジャンパ用端子ｔｅ１１１、ｔｅ１１２、ｔｅ１１３と、１つの第２ジャンパ用端子ｔｅ２１１と、１つの可変抵抗例えばポテンショメータＶＲ１と、を有する。

【0032】

抵抗部１２Ｂは、３つの抵抗Ｒ２１、Ｒ２２、Ｒ２３と、３つの第１ジャンパ用端子ｔｅ１２１、ｔｅ１２２、ｔｅ１２３と、１つの第２ジャンパ用端子ｔｅ２２１と、１つのポテンショメータＶＲ２と、を有する。

【0033】

抵抗部１２Ｃは、３つの抵抗Ｒ３１、Ｒ３２、Ｒ３３と、３つの第１ジャンパ用端子ｔｅ１３１、ｔｅ１３２、ｔｅ１３３と、１つの第２ジャンパ用端子ｔｅ２３１と、１つのポテンショメータＶＲ３と、を有する。この校正治具１０は、図７に示すような回路図で表される。

【0034】

筐体１１は、金属または樹脂材料から形成され、図６Ａおよび図６Ｂに示すように、内側に抵抗Ｒ１１、Ｒ１２、Ｒ１３、Ｒ２１、Ｒ２２、Ｒ２３、Ｒ３１、Ｒ３２、Ｒ３３とポテンショメータＶＲ１、ＶＲ２、ＶＲ３の一部とが配置されている。筐体１１の長さＬＥ１は例えば１００ｍｍ、ＬＥ２は例えば８０ｍｍである。また、筐体１１の厚さＬＥ３は、例えば５０ｍｍである。

【0035】

筐体１１の一面からは、第１端子ｔｅ１１、ｔｅ１２、ｔｅ１３、第３端子ｔｅ２１および第２端子ｔｅ２２の一部と、第１ジャンパ用端子ｔｅ１１１、ｔｅ１１２、ｔｅ１１３、ｔｅ１２１、ｔｅ１２２、ｔｅ１２３、ｔｅ１３１、ｔｅ１３２、ｔｅ１３３の一部と、第２ジャンパ用端子ｔｅ２１１、ｔｅ２２１、ｔｅ２３１の一部と、ポテンショメータＶＲ１、ＶＲ２、ＶＲ３のつまみ部と、が突出している。

【0036】

第１端子ｔｅ１１、ｔｅ１２、ｔｅ１３は、導線Ｌ４１、Ｌ４２、Ｌ４３の一端部に設けられたバナナプラグＣ１１、Ｃ１２、Ｃ１３が着脱可能な端子から構成される。第３端子ｔｅ２１、第２端子ｔｅ２２は、導線Ｌ５１、Ｌ５２の一端部に設けられたバナナプラグＣ５２、Ｃ５４が着脱可能な端子から構成される。

【0037】

第１ジャンパ用端子ｔｅ１１１、ｔｅ１１２、ｔｅ１１３は、それぞれ抵抗Ｒ１１、Ｒ１２、Ｒ１３を介して第１端子ｔｅ１１と電気的に接続されている。ジャンパ用端子ｔｅ１２１、ｔｅ１２２、ｔｅ１２３は、それぞれ抵抗Ｒ２１、Ｒ２２、Ｒ２３を介して第１端子ｔｅ１２と接続されている。ジャンパ用端子ｔｅ１３１、ｔｅ１３２、ｔｅ１３３は、それぞれ抵抗Ｒ３１、Ｒ３２、Ｒ３３を介して第１端子ｔｅ１３と電気的に接続されている。

【0038】

抵抗Ｒ１１、Ｒ２１、Ｒ３１は、例えば２０Ωに設定される。抵抗Ｒ１２、Ｒ２２、Ｒ３２は、例えば１０Ωに設定される。抵抗Ｒ１３、Ｒ２３、Ｒ３３は、例えば５Ωに設定される。

【0039】

第２ジャンパ用端子ｔｅ２２１、ｔｅ２３１は、それぞれポテンショメータＶＲ２、ＶＲ３を介して第２端子ｔｅ２２と電気的に接続されている。第２ジャンパ用端子ｔｅ２１１は、ポテンショメータＶＲ１を介して第３端子ｔｅ２１と電気的に接続されている。

【0040】

ポテンショメータＶＲ１、ＶＲ２、ＶＲ３は、例えば抵抗値を０Ωから１０Ωの間で変化させることができる。ポテンショメータＶＲ１、ＶＲ２、ＶＲ３は、ロック機能付きのポテンショメータである。温度校正作業においては、ポテンショメータＶＲ１、ＶＲ２、ＶＲ３の抵抗値を設定した後ロック機能を有効にすれば、作業中に校正治具１０に衝撃が加わった場合でもポテンショメータＶＲ１、ＶＲ２、ＶＲ３の抵抗値は変動せず一定に維持される。

【0041】

第２ジャンパ用端子ｔｅ２１１は、ジャンパ線１１１を介して第１ジャンパ用端子ｔｅ１１１、ｔｅ１１２、ｔｅ１１３のいずれかと電気的に接続される。第２ジャンパ用端子ｔｅ２２１は、ジャンパ線１１２を介して第１ジャンパ用端子ｔｅ１２１、ｔｅ１２２、ｔｅ１２３のいずれかと電気的に接続される。第２ジャンパ用端子ｔｅ２３１は、ジャンパ線１１３を介して第１ジャンパ用端子ｔｅ１３１、ｔｅ１３２、ｔｅ１３３のいずれかと電気的に接続される。

【0042】

ジャンパ線１１１の両端部には、鰐口クリップ１１１ａ、１１１ｂが設けられている。このジャンパ線１１１は、鰐口クリップ１１１ａが第１ジャンパ用端子ｔｅ１１１、ｔｅ１１２、ｔｅ１１３のいずれかを挟持し鰐口クリップ１１１ｂが第２ジャンパ用端子ｔｅ２１１を挟持した状態で使用される。ジャンパ線１１２、１１３の両端部にも、それぞれ鰐口クリップ１１２ａ、１１２ｂ、１１３ａ、１１３ｂが設けられている。

【0043】

ダイヤル可変抵抗器５０は、例えば横川電気社製２７９３０１を使用できる。図５に示されるように、このダイヤル可変抵抗器５０は、６つのダイヤルスイッチ５１１、５１２、５１３、５１４、５１５、５１６と、これらに対応する表示部５２１、５２２、５２３、５２４、５２５、５２６と、を備える。このダイヤル可変抵抗器５０は、抵抗値０．１〜１１１１．２１０Ωの範囲内において、分解能０．００１Ωで抵抗値を設定することができる。このダイヤル可変抵抗器５０の外形寸法は、５００ｍｍ×１２０ｍｍ×１４０ｍｍ程度である。

【0044】

次に、校正治具１０を使った温度計測装置３の校正方法について説明する。

【0045】

まず、図１に示される導線Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３のコネクタＣ１、Ｃ２、Ｃ３を、温度計測装置３の入力端子ＲＣ１、ＲＣ２、ＲＣ３から取り外す。

【0046】

次に、３本の導線Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３それぞれのコネクタＣ１、Ｃ２、Ｃ３のうちの２つのコネクタＣ２，Ｃ３の間の抵抗値Ｒ２３を測定する。導線Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３の抵抗はほぼ等しいと考えられる。そこで、抵抗値Ｒ２３を２で除することにより得られる値ＲＬ（＝Ｒ２３／２）を、導線Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３それぞれの抵抗値ｒ１，ｒ２，ｒ３とする。例えば、抵抗値Ｒ２３が２４Ωである場合には、導線Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３それぞれの抵抗値は１２Ωとなる。なお、導線Ｌ１〜Ｌ３それぞれの抵抗値ｒ１〜ｒ３を、検出器１の導線Ｌ１３,Ｌ１２の抵抗値を考量して、適宜補正してもよい。

【0047】

次に、図５に示されるように、温度計測装置３の入力端子ＲＣ１、ＲＣ２、ＲＣ３に校正治具１０を介してダイヤル可変抵抗器５０を電気的に接続する。抵抗部１２Ａ、１２Ｂ、１２Ｃの抵抗値は、３つの導線Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３それぞれの抵抗値と等しい抵抗値に設定する。

【0048】

例えば、導線Ｌ１の抵抗が１２Ωである場合には、ジャンパ線１１１で、第１ジャンパ用端子ｔｅ１１２と第２ジャンパ用端子ｔｅ２１１とをジャンパするとともに、ポテンショメータＶＲ１の値を２Ωにすることで、抵抗部１２Ａでの抵抗値を１２Ωにする。同様に、導線Ｌ２，Ｌ３の値に応じて、抵抗部１２Ｂ，１２Ｃの抵抗値を設定する。

【0049】

次に、ダイヤル可変抵抗器５０の抵抗値を順次変更しながら、変換器３７から出力される測定電圧を取得する。

【0050】

続いて、ダイヤル可変抵抗器５０の抵抗値に対応する測温抵抗体ＲＴＤの検出温度と、取得した測定電圧との関係から、検出温度と測定電圧との相関関係を示す相関関数を算出する。相関関数は、例えば最小二乗法を利用して算出する。

【0051】

例えば、検出温度Ｔ１〜Ｔ５における測温抵抗体ＲＴＤの抵抗がＲ１〜Ｒ５である場合に、ダイヤル可変抵抗器５０の抵抗値を順次Ｒ１からＲ５まで変えたときに、測定電圧ｅ１〜ｅ５が取得されたとする。この場合には、図８に示される５つの点（Ｒ１，ｅ１）〜（Ｒ５，ｅ５）の座標から直線Ｓ１で示される相関関数を求める。

【0052】

相関関数を算出すると、当該相関関数に基づいて、温度と測定電圧との関係を示すルックアップテーブルを作成する。そして、温度計測装置３の補助記憶部３３に記憶されたルックアップテーブル３３ａを更新する。以上のように温度計測装置３の校正作業が行われる。

【0053】

以上説明したように、本実施形態に係る校正治具１０を用いることで、校正作業において、導線Ｌ１〜Ｌ３を模擬するための３つのダイヤル可変抵抗器を準備する必要がなく、ダイヤル可変抵抗器５０より小型の校正治具１０を１台用意するだけですむ。したがって、校正作業の負担を軽減することができる。

【0054】

具体的には、校正治具１０を用いる前の校正作業では図９に示すように、温度計測装置３の入力端子ＲＣ１、ＲＣ２、ＲＣ３それぞれにダイヤル可変抵抗器９５０Ａ、９５０Ｂ、９５０Ｃを接続し、これらのダイヤル可変抵抗器９５０Ａ〜９５０Ｃにダイヤル可変抵抗器５０を接続する必要がある。ダイヤル可変抵抗器９５０Ａ、９５０Ｂ、９５０Ｃは、それぞれ３つの導線Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３の抵抗値と等しい抵抗値に設定される。

【0055】

図９に示されるように、従来の校正作業では、４台のダイヤル可変抵抗器９５０Ａ、９５０Ｂ、９５０Ｃ、５０を搬入して使用する必要がある。このため、校正用機器を搬入するための負担やコストが大きくなる。

【0056】

これに対して、本実施の形態に係る校正治具１０を用いることで、校正に必要なダイヤル可変抵抗器を、図５に示されるように、１台に削減することができる。したがって、校正作業の負担が軽減される。

【0057】

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は前述の実施形態によって限定されるものではない。例えば、校正対象の温度計測装置がいわゆる４線式である場合には、図１０に示すように、校正治具２１０が、４つの第１端子ｔｅ２０１１、ｔｅ１１、ｔｅ１２、ｔｅ１３と、それらに対応する４つの抵抗部２０１２Ａ、１２Ａ、１２Ｂ、１２Ｃと、２つの第２端子ｔｅ２１、ｔｅ２２とを、更に備えるものであってもよい。

【0058】

この校正治具２１０は、実施の形態で説明した校正治具１０に抵抗部２０１２Ａを追加した構成を有する。抵抗部２０１２Ａでは、第１ジャンパ用端子ｔｅ２１１１、ｔｅ２１１２、ｔｅ２１１３がそれぞれ抵抗Ｒ２０１１、Ｒ２０１２、Ｒ２０１３を介して第１端子ｔｅ２０１１と電気的に接続され、第２ジャンパ用端子ｔｅ２２１１がポテンショメータＶＲ２１を介して第２端子ｔｅ２１と電気的に接続される。第２ジャンパ用端子ｔｅ２２１１は、ジャンパ線２１１１を介して第１ジャンパ用端子ｔｅ２１１１、ｔｅ２１１２、ｔｅ２１１３のいずれかと電気的に接続される。

【0059】

校正対象の温度計測装置がいわゆる２線式である場合、図１１に示すように、校正治具３１０が、２つの第１端子ｔｅ１１、ｔｅ１２と、それらに対応する２つの抵抗部１２Ａ、１２Ｂと、第２端子ｔｅ２２と、第３端子ｔｅ２１とを備えるものであってもよい。

【0060】

本構成によれば、いわゆる２線式または４線式の温度計測装置の校正作業においても、校正現場に搬入すべき校正用機器の点数を低減することができるので、校正作業者の負担を軽減できる。

【0061】

実施の形態では、第１ジャンパ用端子ｔｅ１１１、ｔｅ１１２、ｔｅ１１３、ｔｅ１２１、ｔｅ１２２、ｔｅ１２３、ｔｅ１３１、ｔｅ１３２、ｔｅ１３３と、第２ジャンパ用端子ｔｅ２１１、ｔｅ２２１、ｔｅ２３１とを備える校正治具１０について説明したが、例えば図１２に示すように、第１ジャンパ用端子と第２ジャンパ用端子との代わりにセレクタスイッチ４１１、４１２、４１３を設けた校正治具４１０であってもよい。

【0062】

本構成によれば、ジャンパ線１１１、１１２、１１３を挿脱する作業が不要なため、校正治具４１０の操作性が向上する。したがって、校正作業の負担を軽減することができる。

【0063】

実施の形態では、測温抵抗体ＲＴＤを利用して温度を計測する温度計測装置３の校正に用いる校正治具１０の例について説明したが、抵抗体を利用した計測装置であれば計測対象の物理量が温度である装置に限定されるものではない。例えば歪ゲージを利用した応力計測装置の校正に用いるものであってもよい。また、抵抗体の抵抗値の変化を利用するものであれば、校正対象が計測装置に限定されるものではない。

【0064】

また、実施の形態では、校正治具１０が、導線Ｌ１〜Ｌ３を模擬する抵抗部１２Ａ、１２Ｂ、１２Ｃを備える場合について説明した。これに限らず、校正治具１０は、導線Ｌ１〜Ｌ３のいずれか１つを模擬する抵抗部のみを有していてもよい。この場合は、導線の数に応じた校正治具を使用して校正を行えばよい。

【0065】

実施の形態では、導線Ｌ１〜Ｌ３が、コネクタＣ１〜Ｃ３を介して、入力端子ＲＣ１〜ＲＣ３に接続されている場合について説明した。コネクタＣ１〜Ｃ３については、任意にものを使用することができる。また、コネクタＣ１〜Ｃ３に代えて、導線Ｌ１〜Ｌ３の一端に圧着端子を取り付けて、圧着端子をネジによって、入力端子ＲＣ１、ＲＣ２、ＲＣ３に接続することとしてもよい。

【0066】

本発明の実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。この新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことが出来る。この実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

【符号の説明】

【0067】

１ 検出器
３ 温度計測装置
１０，２１０，３１０，４１０ 校正治具
１１ 筐体
１２Ａ〜１２Ｃ，２０１２Ａ 抵抗部
３１ 演算処理部
３２ 主記憶部
３３ 補助記憶部
３３ａ ルックアップテーブル
３４ インタフェース
３５ システムバス
３６ ＡＤＣ
３７ 変換器
５０，９５０Ａ〜９５０Ｃ ダイヤル可変抵抗器
１０２ サーモウェル
１ｂ シース部
１１１〜１１３ ジャンパ線
４１１〜４１３ セレクタスイッチ
Ｌ１〜Ｌ３，Ｌ１１〜Ｌ１３，Ｌ４１〜Ｌ４３，Ｌ５１，Ｌ５２ 導線
ＲＴＤ 測温抵抗体
Ｒ１１〜Ｒ１３，Ｒ２１〜Ｒ２３，Ｒ３１〜Ｒ３３ 抵抗
ＲＣ１〜ＲＣ３ 入力端子
ＶＲ１〜ＶＲ３ ポテンショメータ
ｔｅ１１〜ｔｅ１３ 第１端子
ｔｅ２１ 第３端子
ｔｅ２２ 第２端子

【要約】

【課題】校正作業の負担を軽減する。
【解決手段】本実施形態に係る校正治具は、センサが接続される計測機器の校正に用いられる校正治具であって、前記計測機器に電気的に接続される第１端子と、前記第１端子と可変抵抗を介して電気的に接続されるとともに、前記計測機器の校正時に、前記センサに代わり前記計測機器に接続される調整器が電気的に接続される第２端子と、を備える。
【選択図】図６Ａ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6A】

【図6B】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】