特許6132860トランジスタテスト回路及び方法、半導体記憶装置、並びに半導体装置

発明の名称　トランジスタテスト回路及び方法、半導体記憶装置、並びに半導体装置

出願人　力晶科技股▲ふん▼有限公司　（識別番号 599092848）

　　　　特許公開件数ランキング 15070 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 12849 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6132860

公報発行日　2017年5月24

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6132860

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