特許 6140498 挙動解析装置および挙動解析方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6140498

(24)【登録日】2017年5月12日

(45)【発行日】2017年5月31日

(54)【発明の名称】挙動解析装置および挙動解析方法

(51)【国際特許分類】

   G01B 11/00 20060101AFI20170522BHJP

【ＦＩ】

   G01B11/00 H

【請求項の数】6

【全頁数】11

(21)【出願番号】特願2013-64960(P2013-64960)

(22)【出願日】2013年3月26日

(65)【公開番号】特開2014-190766(P2014-190766A)

(43)【公開日】2014年10月6日

【審査請求日】2015年12月16日

(73)【特許権者】

【識別番号】000005278

【氏名又は名称】株式会社ブリヂストン

(74)【代理人】

【識別番号】100064908

【弁理士】

【氏名又は名称】志賀 正武

(74)【代理人】

【識別番号】100108578

【弁理士】

【氏名又は名称】高橋 詔男

(74)【代理人】

【識別番号】100140718

【弁理士】

【氏名又は名称】仁内 宏紀

(74)【代理人】

【識別番号】100147267

【弁理士】

【氏名又は名称】大槻 真紀子

(72)【発明者】

【氏名】深山 直記

(72)【発明者】

【氏名】長谷川 孝

(72)【発明者】

【氏名】宇田 真

【審査官】 神谷 健一

(56)【参考文献】

【文献】 特開２０１３−００９７７１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平０１−１２０６０３（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平０７−０８５１１０（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００６−１３０２８９（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１２−２４７２０９（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開昭６２−０２５２０５（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００２−２０８０３３（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平０９−１３４４４１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許出願公開第２００７／０１３２７６３（ＵＳ，Ａ１）

【文献】 中井 敦士（外２名），円柱物体の把持動作における指先軌道の近似モデル，ロボティクス・メカトロニクス講演会講演概要集，日本，一般社団法人日本機械学会，２００８年 ６月 ６日，1A1-I24(1) - 1A1-I24(2)

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｂ １１／００−１１／３０

Ｇ０１Ｃ １／００− １／１４

Ｇ０１Ｃ ５／００−１５／１４

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

移動体の挙動を解析する挙動解析装置であって、
前記移動体に設けられた特定点の三次元座標上の位置を、異なるタイミングで複数回測定する測定部と、
前記測定部の測定結果に基づいて、前記測定部による測定開始時から測定終了時に至るまでの前記特定点の三次元座標上の理論軌跡を算出する算出部と、
前記理論軌跡に基づいて前記移動体の挙動を解析する解析部と、を備え、
前記算出部は、前記理論軌跡を、前記測定結果から形成されるベジェ曲線に基づいて算出し、
前記移動体は、この移動体の前後方向に移動可能であるとともに、この移動体の左右方向の中央を通り前記前後方向に延在する中心面を基準に、前記左右方向に対称とされ、
前記解析部は、前記理論軌跡に基づいて、前記測定部による測定開始時から測定終了時までの間の時点における前記移動体の前記中心面の三次元座標上の向きを算出し、この中心面の向きに基づいて前記移動体の挙動を解析することを特徴とする挙動解析装置。

【請求項2】

請求項１記載の挙動解析装置であって、
前記算出部は、
三次元座標を構成する基準軸、第１補助軸および第２補助軸のうち、前記基準軸および前記第１補助軸により構成される第１座標平面上に、前記測定結果から形成される第１ベジェ曲線と、
前記基準軸および前記第２補助軸により構成される第２座標平面上に、前記測定結果から形成される第２ベジェ曲線と、に基づいて前記理論軌跡を算出することを特徴とする挙動解析装置。

【請求項3】

請求項１または２に記載の挙動解析装置であって、
前記測定部は、
前記特定点を、互いに異なる複数の方向から撮像する撮像部と、
前記撮像部の撮像結果に基づいて、前記特定点の三次元座標上の位置を検出する検出部と、を備えていることを特徴とする挙動解析装置。

【請求項4】

移動体の挙動を解析する挙動解析方法であって、
前記移動体に設けられた特定点の三次元座標上の位置を、異なるタイミングで複数回測定する測定工程と、
前記測定工程の測定結果に基づいて、前記測定工程における測定開始時から測定終了時に至るまでの前記特定点の三次元座標上の理論軌跡を算出する算出工程と、
前記理論軌跡に基づいて前記移動体の挙動を解析する解析工程と、を有し、
前記算出工程は、前記理論軌跡を、前記測定結果から形成されるベジェ曲線に基づいて算出し、
前記移動体は、この移動体の前後方向に移動可能であるとともに、この移動体の左右方向の中央を通り前記前後方向に延在する中心面を基準に、前記左右方向に対称とされ、
前記解析工程は、前記理論軌跡に基づいて、前記測定工程における測定開始時から測定終了時までの間の時点における前記移動体の前記中心面の三次元座標上の向きを算出し、この中心面の向きに基づいて前記移動体の挙動を解析することを特徴とする挙動解析方法。

【請求項5】

請求項４記載の挙動解析方法であって、
前記算出工程は、
三次元座標を構成する基準軸、第１補助軸および第２補助軸のうち、前記基準軸および前記第１補助軸により構成される第１座標平面上に、前記測定結果から形成される第１ベジェ曲線と、
前記基準軸および前記第２補助軸により構成される第２座標平面上に、前記測定結果から形成される第２ベジェ曲線と、に基づいて前記理論軌跡を算出することを特徴とする挙動解析方法。

【請求項6】

請求項４または５に記載の挙動解析方法であって、
前記測定工程は、
前記特定点を、互いに異なる複数の方向から撮像する撮像工程と、
前記撮像工程の撮像結果に基づいて、前記特定点の三次元座標上の位置を検出する検出工程と、を備えていることを特徴とする挙動解析方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、挙動解析装置および挙動解析方法に関する。

【背景技術】

【0002】

従来から、移動体の挙動を解析する挙動解析装置として、例えば下記特許文献１に示される構成が知られているが、この種の挙動解析装置として、移動体に設けられた特定点の三次元座標上の位置を、異なるタイミングで複数回測定する測定部と、測定部の測定結果に基づいて、測定部による測定開始時から測定終了時に至るまでの特定点の三次元座標上の理論軌跡を算出する算出部と、前記理論軌跡に基づいて移動体の挙動を解析する解析部と、を備える構成も知られている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開昭６２−２５２０５号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

ところで前記従来の挙動解析装置では、測定部による特定点の位置の測定回数が少ない場合における挙動の解析の精度を向上させることについて、改善の余地があった。

【0005】

本発明は、前述した事情に鑑みてなされたものであって、特定点の位置の測定回数が少ない場合であっても、移動体の挙動を高精度に解析することができる挙動解析装置および挙動解析方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

前記課題を解決するために、本発明は以下の手段を提案している。
本発明に係る挙動解析装置は、移動体の挙動を解析する挙動解析装置であって、前記移動体に設けられた特定点の三次元座標上の位置を、異なるタイミングで複数回測定する測定部と、前記測定部の測定結果に基づいて、前記測定部による測定開始時から測定終了時に至るまでの前記特定点の三次元座標上の理論軌跡を算出する算出部と、前記理論軌跡に基づいて前記移動体の挙動を解析する解析部と、を備え、前記算出部は、前記理論軌跡を、前記測定結果から形成されるベジェ曲線に基づいて算出し、前記移動体は、この移動体の前後方向に移動可能であるとともに、この移動体の左右方向の中央を通り前記前後方向に延在する中心面を基準に、前記左右方向に対称とされ、前記解析部は、前記理論軌跡に基づいて、前記測定部による測定開始時から測定終了時までの間の時点における前記移動体の前記中心面の三次元座標上の向きを算出し、この中心面の向きに基づいて前記移動体の挙動を解析することを特徴とする。

【0007】

この発明によれば、算出部が、測定部の測定結果から形成されるベジェ曲線に基づいて特定点の理論軌跡を算出するので、例えば、測定部の測定結果をローパスフィルタ処理することで理論軌跡を算出する場合に比べて、測定開始時から測定終了時に至るまでの測定部の測定結果の１つ１つを理論軌跡の算出に寄与させ易くすることができる。これにより、特定点の位置の測定回数が少ない場合であっても、特定点の理論軌跡を精度よく算出することが可能になり、移動体の挙動を高精度に解析することができる。
また、解析部が、移動体の中心面の向きに基づいて移動体の挙動を解析するので、移動体の挙動として、例えば移動体の三次元座標上の姿勢などの多様な挙動を解析することができる。

【0008】

また、前記算出部は、三次元座標を構成する基準軸、第１補助軸および第２補助軸のうち、前記基準軸および前記第１補助軸により構成される第１座標平面上に、前記測定結果から形成される第１ベジェ曲線と、前記基準軸および前記第２補助軸により構成される第２座標平面上に、前記測定結果から形成される第２ベジェ曲線と、に基づいて前記理論軌跡を算出してもよい。

【0009】

また、前記測定部は、前記特定点を、互いに異なる複数の方向から撮像する撮像部と、前記撮像部の撮像結果に基づいて、前記特定点の三次元座標上の位置を検出する検出部と、を備えていてもよい。

【0010】

この場合、測定部が、前記撮像部および前記検出部を備えているので、移動体に、例えば変位計や加速度計などの計測器を搭載させることなく、特定点の位置を測定することができる。ここで前記計測器を移動体に搭載させると、移動体の挙動に、前記計測器を搭載させることによる意図しない影響が生じ易くなることから、本態様のように、前記計測器を移動体に搭載させることなく特定点の位置が測定可能である場合、移動体の挙動を確実に高精度に解析することができる。
ところでこのように、測定部が、前記撮像部および前記検出部を備えている場合、撮像部により移動体を広範囲にわたって撮像すると、撮像結果における特定点の大きさが相対的に小さくなり、検出部による特定点の位置の検出精度が低下するおそれがある。そのため本態様では、移動体を一定範囲に限って撮像することが好ましいが、この場合、移動体を広範囲にわたって撮像する場合に比べて、特定点の位置の測定回数が少なくなることから、この挙動解析装置が有する前述の作用効果が顕著に奏功されることとなる。

【0013】

また、本発明に係る挙動解析方法は、移動体の挙動を解析する挙動解析方法であって、前記移動体に設けられた特定点の三次元座標上の位置を、異なるタイミングで複数回測定する測定工程と、前記測定工程の測定結果に基づいて、前記測定工程における測定開始時から測定終了時に至るまでの前記特定点の三次元座標上の理論軌跡を算出する算出工程と、前記理論軌跡に基づいて前記移動体の挙動を解析する解析工程と、を有し、前記算出工程は、前記理論軌跡を、前記測定結果から形成されるベジェ曲線に基づいて算出し、前記移動体は、この移動体の前後方向に移動可能であるとともに、この移動体の左右方向の中央を通り前記前後方向に延在する中心面を基準に、前記左右方向に対称とされ、前記解析工程は、前記理論軌跡に基づいて、前記測定工程における測定開始時から測定終了時までの間の時点における前記移動体の前記中心面の三次元座標上の向きを算出し、この中心面の向きに基づいて前記移動体の挙動を解析することを特徴とする。

【0014】

この発明によれば、算出工程の際、測定工程の測定結果から形成されるベジェ曲線に基づいて特定点の理論軌跡を算出するので、例えば、測定工程の測定結果をローパスフィルタ処理することで理論軌跡を算出する場合に比べて、測定開始時から測定終了時に至るまでの測定工程の測定結果の１つ１つを理論軌跡の算出に寄与させ易くすることができる。
これにより、特定点の位置の測定回数が少ない場合であっても、特定点の理論軌跡を精度よく算出することが可能になり、移動体の挙動を高精度に解析することができる。
また、解析工程が、移動体の中心面の向きに基づいて移動体の挙動を解析するので、移動体の挙動として、例えば移動体の三次元座標上の姿勢などの多様な挙動を解析することができる。

【0015】

また、前記算出工程は、三次元座標を構成する基準軸、第１補助軸および第２補助軸のうち、前記基準軸および前記第１補助軸により構成される第１座標平面上に、前記測定結果から形成される第１ベジェ曲線と、前記基準軸および前記第２補助軸により構成される第２座標平面上に、前記測定結果から形成される第２ベジェ曲線と、に基づいて前記理論軌跡を算出してもよい。

【0016】

また、前記測定工程は、前記特定点を、互いに異なる複数の方向から撮像する撮像工程と、前記撮像工程の撮像結果に基づいて、前記特定点の三次元座標上の位置を検出する検出工程と、を備えていてもよい。

【0017】

この場合、測定工程が、前記撮像工程および前記検出工程を備えているので、移動体に、例えば変位計や加速度計などの計測器を搭載させることなく、特定点の位置を測定することができる。ここで前記計測器を移動体に搭載させると、移動体の挙動に、前記計測器を搭載させることによる意図しない影響が生じ易くなることから、本態様のように、前記計測器を移動体に搭載させることなく特定点の位置が測定可能である場合、移動体の挙動を確実に高精度に解析することができる。
ところでこのように、測定工程が、前記撮像工程および前記検出工程を備えている場合、撮像工程において移動体を広範囲にわたって撮像すると、撮像結果における特定点の大きさが相対的に小さくなり、検出工程における特定点の位置の検出精度が低下するおそれがある。そのため本態様では、移動体を一定範囲に限って撮像することが好ましいが、この場合、移動体を広範囲にわたって撮像する場合に比べて、特定点の位置の測定回数が少なくなることから、この挙動解析方法が有する前述の作用効果が顕著に奏功されることとなる。

【発明の効果】

【0020】

本発明によれば、特定点の位置の測定回数が少ない場合であっても、移動体の挙動を高精度に解析することができる。

【図面の簡単な説明】

【0021】

【図1】本発明の一実施形態に係る挙動解析装置を示す全体図である。

【図2】図１に示す挙動解析装置により挙動を解析する移動体の側面図である。

【図3】図２に示す移動体の中心面を示す模式図である。

【図4】図１に示す挙動解析装置により理論軌跡を算出するために３次元のベジェ曲線を、ＸＹ座標平面に射影（分解）したときに形成される第１ベジェ曲線を説明するグラフである。

【図5】図１に示す挙動解析装置により理論軌跡を算出するために３次元のベジェ曲線を、ＸＺ座標平面に射影（分解）したときに形成される第２ベジェ曲線を説明するグラフである。

【発明を実施するための形態】

【0022】

以下、図面を参照し、本発明の一実施形態に係る挙動解析装置および挙動解析方法を説明する。
図１から図３に示すように、挙動解析装置１０は、移動体２０の挙動を解析する。図２に示すように、移動体２０は、車体２１にタイヤ２２、２３が装着されてなる車両であり、図示の例では自動二輪車である。車体２１には、タイヤ２２、２３として前輪２２および後輪２３がそれぞれ１つずつ装着されている。挙動解析装置１０は、移動体２０における車体２１、前輪２２および後輪２３それぞれにおける挙動を解析する。

【0023】

図３に示すように、移動体２０は、この移動体２０の前後方向に移動可能であるとともに、この移動体２０の左右方向の中央を通り前後方向に延在する中心面２１ａ、２２ａ、２３ａを基準に、左右方向に実質的に対称とされている。車体２１は、この車体２１についての中心面である車体中心面２１ａを基準に左右対称とされ、タイヤ２２、２３は、各タイヤ２２、２３についての中心面であるタイヤ中心面２２ａ、２３ａを基準に左右対称とされている。

【0024】

図２に示すように、移動体２０には、後述する挙動解析装置１０の撮像部１４により撮像されるマーカ（特定点）２４が設けられている。マーカ２４は、移動体２０とは別体に形成され、移動体２０に貼り付けられている。マーカ２４は、移動体２０における左右方向の一方側の側面に設けられている。マーカ２４は、車体２１およびタイヤ２２、２３に各別に設けられている。マーカ２４は、車体２１およびタイヤ２２、２３それぞれに、互いに位置を異ならせて同一直線上を回避するように３つ以上ずつ設けられている。

【0025】

車体２１には、複数のマーカ２４が、前記一方側から見た側面視において、同一直線上を回避するように設けられている。タイヤ２２、２３にも、複数のマーカ２４が、前記側面視において、同一直線上を回避するように設けられている。タイヤ２２、２３には、マーカ２４が、移動体２０同様、互いに位置を異ならせて同一直線上を回避するように３つ以上ずつ設けられている。
図１に示すように、移動体２０は、試験コース３０上を周回走行する。移動体２０は、前記一方側の側面が、この移動体２０の周回軌道における径方向の内側を向くように、試験コース３０上を周回走行する。

【0026】

挙動解析装置１０は、測定部１１と算出部１２と解析部１３とを備えている。
測定部１１は、移動体２０のマーカ２４の三次元座標上の位置を、異なるタイミングで複数回測定する。測定部１１は、マーカ２４について、互いに直交するＸ軸（基準軸）、Ｙ軸（第１補助軸）およびＺ軸（第２補助軸）からなる三次元座標上の位置を測定する。なお本実施形態では、Ｘ軸およびＹ軸により構成されるＸＹ座標平面（第１座標平面）を水平面とし、Ｚ軸を鉛直軸としているが、使用する測定器が各測定方向で分解能や精度が異なる場合、それに合わせる形に座標系を変えることもできる。

【0027】

測定部１１は、撮像部１４と検出部１５とを備えている。
撮像部１４は、移動体２０のマーカ２４を、互いに異なる複数の方向から撮像する。撮像部１４は、前記周回軌道の内側に配置されている。撮像部１４は、前記周回軌道のうちの一部の区間において、移動体２０の前記一方側の側面を連続して撮像する。図示の例では、撮像部１４は複数台の高速度カメラにより構成されている。
検出部１５は、撮像部１４の撮像結果に基づいて、移動体２０のマーカ２４の三次元座標上の位置を検出する。

【0028】

算出部１２は、測定部１１の測定結果に基づいて、測定部１１による測定開始時から測定終了時に至るまでのマーカ２４の三次元座標上の理論軌跡を算出する。
解析部１３は、前記理論軌跡に基づいて移動体２０の挙動を解析する。解析部１３には、車体２１の各マーカ２４について、車体中心面２１ａまでの左右方向の距離であるオフセット量が記憶されている。解析部１３には、タイヤ２２、２３の各マーカ２４について、タイヤ中心面２２ａ、２３ａまでのオフセット量も記憶されている。
なお図示の例では、前記検出部１５、前記算出部１２および前記解析部１３は、共通の情報処理装置１６に記憶されたプログラムにより構成されている。

【0029】

前記挙動解析装置１０を用いて移動体２０の挙動を解析する挙動解析方法では、まず測定部１１が、移動体２０のマーカ２４の三次元座標上の位置を、異なるタイミングで複数回測定する（測定工程）。このとき撮像部１４が、移動体２０のマーカ２４を、互いに異なる複数の方向から撮像し（撮像工程）、この撮像結果に基づいて、例えば検出部１５が撮像結果を画像解析すること等により、マーカ２４の三次元座標上の位置を検出する（検出工程）。

【0030】

その後、算出部１２が、測定部１１の測定結果に基づいて、測定部１１による測定開始時から測定終了時に至るまでのマーカ２４の三次元座標上の理論軌跡を算出する（算出工程）。このとき算出部１２は、複数のマーカ２４それぞれの理論曲線を各別に算出する。
ここで本実施形態では、図４および図５に示すように、算出部１２は、理論軌跡を、測定部１１の測定結果から形成されるベジェ曲線Ｌ１、Ｌ２に基づいて算出する。このとき算出部１２は、図４に破線で示す第１ベジェ曲線Ｌ１と、図５に破線で示す第２ベジェ曲線Ｌ２と、に基づいて理論軌跡を算出する。これらのベジェ曲線Ｌ１、Ｌ２は、３次元のベジェ曲線で一度に求めることができる。

【0031】

図４に示すように、第１ベジェ曲線Ｌ１は、ＸＹ座標平面上に測定部１１の測定結果から形成される。なお図４には、測定部１１の測定結果のうち、Ｘ軸方向に隣り合うもの同士が直線で結ばれることでＸＹ座標平面上に形成される第１グラフ線Ｇ１を実線で示している。第１グラフ線Ｇ１は、Ｘ軸方向の値が増加し続けるまたは減少し続けるときに、Ｙ軸方向に微振幅を繰り返している。

【0032】

図５に示すように、第２ベジェ曲線Ｌ２は、Ｘ軸およびＺ軸により構成されるＸＺ座標平面（第２座標平面）上に、測定部１１の測定結果から形成される。なお図５には、測定部１１の測定結果のうち、Ｘ軸方向に隣り合うもの同士が直線で結ばれることでＸＺ座標平面上に形成される第２グラフ線Ｇ２を実線で示している。第２グラフ線Ｇ２は、Ｘ軸方向の値が増加し続けるまたは減少し続けるときに、Ｚ軸方向に微振幅を繰り返しながら、この微振幅の周期よりも長い周期を伴ってＺ軸方向に変動している。
これらのベジェ曲線Ｌ１、Ｌ２は、マーカ２４の位置の測定回数がｎ回の場合、ｎ−１次の１つのベジェ曲線により形成されていてもよい。またベジェ曲線Ｌ１、Ｌ２は、３次以上の複数のベジェ曲線が繋ぎ合わせて形成されていてもよい。複数のベジェ曲線は、４次、５次のベジェ曲線であってもよい。

【0033】

そして解析部１３が、理論軌跡に基づいて移動体２０の挙動を解析する（解析工程）。
ここで本実施形態では、図３に示すように、解析部１３は、理論軌跡に基づいて、測定部１１による測定開始時と測定終了時との間の時点（以下、基準時点という）における移動体２０の中心面２１ａ、２２ａ、２３ａの三次元座標上の向きを算出する。なお解析部１３は、中心面２１ａ、２２ａ、２３ａの向きとして、中心面２１ａ、２２ａ、２３ａの単位法線ベクトルを算出する。

【0034】

解析部１３は、基準時点における車体中心面２１ａの向きおよびタイヤ中心面２２ａ、２３ａの向きを各別に算出する。車体中心面２１ａの向きは、車体２１の複数のマーカ２４それぞれの理論軌跡から求められた基準時点における各マーカ２４の位置と、これらのマーカ２４の前記オフセット量と、に基づいて算出される。タイヤ中心面２２ａ、２３ａの向きは、タイヤ２２、２３の複数のマーカ２４それぞれの理論軌跡から求められた基準時点における各マーカ２４の位置と、これらのマーカ２４の前記オフセット量と、に基づいて算出される。
そして解析部１３は、前記中心面２１ａ、２２ａ、２３ａの向きに基づいて移動体２０の挙動を解析する。解析部１３は、例えば基準時点における移動体２０の操舵角や実舵角、車体２１のバンク角もしくはスリップ角、タイヤ２２、２３のキャンバー角もしくはスリップ角などを算出する。

【0035】

なお操舵角は、車体中心面２１ａと、前輪２２のタイヤ中心面２２ａと、がなす角度であり、実舵角は、路面上における操舵角の射影である。これらの操舵角や実舵角は、車体中心面２１ａの単位法線ベクトルと、前輪２２のタイヤ中心面２２ａの単位法線ベクトルと、に基づいて算出される。
また車体２１のバンク角は、車体中心面２１ａがＺ軸に対して傾斜する角度であり、タイヤ２２、２３のキャンバー角は、タイヤ中心面２２ａ、２３ａがＺ軸に対して傾斜する角度である。これらのバンク角やキャンバー角は、各中心面２１ａ、２２ａ、２３ａの単位法線ベクトルに基づいて算出される。

【0036】

さらに車体２１のスリップ角は、車体中心面２１ａが車体２１の移動方向に対して傾斜する角度であり、タイヤ２２、２３のスリップ角は、タイヤ中心面２２ａ、２３ａがタイヤ２２、２３の移動方向に対して傾斜する角度である。車体２１のスリップ角は、車体中心面２１ａの単位法線ベクトルと、車体重心の速度ベクトルと、に基づいて算出される。車体重心の速度ベクトルは、車体２１の複数のマーカ２４の各理論軌跡から求められる車体重心の理論軌跡に基づいて算出される。タイヤ２２、２３のスリップ角は、タイヤ中心面２２ａ、２３ａの単位法線ベクトルと、タイヤ接地点の速度ベクトルと、に基づいて算出される。タイヤ接地点の速度ベクトルは、タイヤ２２、２３の複数のマーカ２４の各理論軌跡から求められるタイヤ接地点の理論軌跡に基づいて算出される。

【0037】

以上説明したように、本実施形態に係る挙動解析装置１０および挙動解析方法によれば、算出部１２が、測定部１１の測定結果から形成されるベジェ曲線Ｌ１、Ｌ２に基づいてマーカ２４の理論軌跡を算出するので、例えば図４、図５中の鎖線Ｃ１、Ｃ２に示されるように、測定部の測定結果をローパスフィルタ処理することで理論軌跡を算出する場合に比べて、測定開始時から測定終了時に至るまでの測定部１１の測定結果の１つ１つを理論軌跡の算出に寄与させ易くすることができる。これにより、マーカ２４の位置の測定回数が少ない場合であっても、マーカ２４の理論軌跡を精度よく算出することが可能になり、移動体２０の挙動を高精度に解析することができる。
また算出部１２が、第１ベジェ曲線Ｌ１および第２ベジェ曲線Ｌ２に基づいて理論軌跡を算出するので、理論軌跡を一層精度よく算出することができる。

【0038】

さらに測定部１１が、前記撮像部１４および前記検出部１５を備えているので、移動体２０に、例えば変位計や加速度計などの計測器を搭載させることなく、マーカ２４の位置を測定することができる。ここで前記計測器を移動体２０に搭載させると、移動体２０の挙動に、前記計測器を搭載させることによる意図しない影響が生じ易くなることから、本実施形態のように、前記計測器を移動体２０に搭載させることなくマーカ２４の位置が測定可能である場合、移動体２０の挙動を確実に高精度に解析することができる。
ところでこのように、測定部１１が、前記撮像部１４および前記検出部１５を備えている場合、撮像部１４により移動体２０を広範囲にわたって撮像すると、撮像結果におけるマーカ２４の大きさが相対的に小さくなり、検出部１５によるマーカ２４の位置の検出精度が低下するおそれがある。そのため本実施形態では、移動体２０を一定範囲に限って撮像することが好ましいが、この場合、移動体２０を広範囲にわたって撮像する場合に比べて、マーカ２４の位置の測定回数が少なくなることから、この挙動解析装置１０が有する前述の作用効果が顕著に奏功されることとなる。

【0039】

また解析部１３が、移動体２０の中心面２１ａ、２２ａ、２３ａの向きに基づいて移動体２０の挙動を解析するので、移動体２０の挙動として、移動体２０の三次元座標上の姿勢などの多様な挙動を解析することができる。

【0040】

なお、本発明の技術的範囲は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば前記実施形態では、マーカ２４が車体２１およびタイヤ２２、２３に設けられているものとしたが、これに限られず、マーカが車体のみに設けられていたり、タイヤのみに設けられていたりしてもよい。

【0041】

また前記実施形態では、解析部１３が移動体２０の中心面２１ａ、２２ａ、２３ａの向きを算出するものとしたが、これに限られない。例えばマーカの理論軌跡を解析することで、移動体の挙動を解析してもよい。
さらに前記実施形態では、移動体２０が自動二輪車であるものとしたが、これに限られない。例えば移動体が自動車（四輪車）であったり、自転車であったりしてもよい。また移動体が、中心面を基準に左右方向に対称でなくてもよい。

【0042】

また前記実施形態では、測定部１１は、移動体２０のマーカ２４の位置を測定するものとしたが、これに限られない。例えば、移動体において識別が容易な形状や模様を有する部分を特定点とし、測定部がこの特定点の位置を測定するように構成されていてもよい。
さらに前記実施形態では、測定部１１が撮像部１４と検出部１５とを備えているものとしたが、これに限られない。例えば、ＧＰＳを用いて移動体の特定点の位置を測定してもよい。

【0043】

その他、本発明の趣旨に逸脱しない範囲で、前記実施形態における構成要素を周知の構成要素に置き換えることは適宜可能であり、また、前記した変形例を適宜組み合わせてもよい。

【符号の説明】

【0044】

１０ 挙動解析装置
１１ 測定部
１２ 算出部
１３ 解析部
１４ 撮像部
１５ 検出部
２０ 移動体
２１ａ、２２ａ、２３ａ 中心面
２４ マーカ（特定点）
Ｌ１ 第１ベジェ曲線
Ｌ２ 第２ベジェ曲線

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】