(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、特許文献1に記載されたセラミックヒーターは、支持部材の軸方向に円筒状であり、また、特許文献2に記載されたセラミックヒーターは、支持部材の軸方向に支持部材を貫通する複数の貫通孔を有する円柱状であるため、支持部材の軸方向の任意の位置における支持部材の断面の面積が一様である。そのため、支持部材における軸方向の熱の伝達態様が一様であることから、ヒータープレートに載置されるウェハに対して所望の温度分布の形成が困難な場合がある。
【0005】
そこで、本発明は、ヒータープレートに載置されるウェハに対して所望の温度分布の形成の容易化を図ることができるセラミックヒーターを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明のセラミックヒーターは、ウェハが載置されるヒータープレートと、前記ヒータープレートと接続する支持部材とを備えるセラミックヒーターであって、前記ウェハが載置される面と反対側の面であり、前記支持部材が接続される前記ヒータープレートのヒータープレート端面と、前記ヒータープレート端面に対して接続される前記支持部材の第1端面と、前記ヒータープレート端面側において前記ヒータープレートに形成され、環状の開口外縁が前記ヒータープレートと前記支持部材との接続領域の内側に位置するヒータープレート凹部、及び、前記第1端面側において前記支持部材に形成され、環状の開口外縁が前記接続領域の内側に位置
し、前記ウェハが載置される面の上方から臨んだときに円形をなす第1凹部の
うち少なくとも
前記第1凹部とを備え、
前記支持部材は、円柱部分と前記円柱部分よりも前記第1端面側に、前記第1凹部の周りを囲む環板状のフランジ部とを備え、前記第1凹部の半径R1と前記円柱部分の半径R2と前記フランジ部の半径R3とが、R2≦
R1<R3の関係式を満たすことを特徴とする。
【0007】
本発明のセラミックヒーターによれば、ヒータープレート凹部及び第1凹部の少なくともいずれか一方の凹部を備え、いずれの凹部もヒータープレートと支持部材との接続領域の内側に環状の開口外縁を有するので、凹部の内側の空間において温度の不均一性が緩和される。また、いずれか一方の凹部の内側の空間とセラミックヒーター外部とが連通した場合に生じる、当該凹部の内側の空間からセラミックヒーター外部への熱放出が回避され、ヒータープレートにおける局部的な温度低下が抑制される。
【0008】
さらに、ヒータープレート凹部及び第1凹部の少なくともいずれか一方を備えるので、ヒータープレートと支持部材との接続領域の面積がヒータープレートと支持部材との接続領域に凹部を有さない場合の当該接続領域の面積より小さくなり、当該接続領域を介した熱の伝達経路が狭くなり、熱の伝達が制限される。また、当該接続領域の形状により、支持部材を介したヒータープレートからの熱の伝達態様が変化する。
【0009】
本発明のヒータープレートは、支持部材とヒータープレートとの接続領域の面積及び形状が調節されることにより、ヒータープレートと支持部材との接続領域に凹部を設けないセラミックヒーターと比較して、支持部材を介したヒータープレートからの熱の伝達態様を変化させることができる。
【0010】
従って、本発明のセラミックヒーターは、支持部材を介したヒータープレートからの熱の伝達態様を変化させることにより、ヒータープレートと支持部材との接続領域に凹部を有さないセラミックヒーターと比較して、ヒータープレートに載置されるウェハに対して、所望の温度分布の形成の容易化を図ることができる。
【0011】
尚、本明細書において、「所望の温度分布の形成」とは、ヒータープレートに載置されるウェハに対して、均一な温度分布を形成することに限らず、単調減少又は単調増加するように緩やかに温度が変化する温度分布を形成することも意味する。
【0013】
本発明によれば、ヒータープレートと接続する支持部材の第1端面側に第1凹部を少なくとも備えることから、支持部材の軸方向の任意の位置における支持部材の断面の面積が一様で、支持部材における熱の伝達態様が一様なセラミックヒーターと比較して、ヒータープレートに載置されるウェハに対して所望の温度分布の形成の容易化を図ることができる。
【0015】
フランジ部を備えることにより、フランジ部が設けられない支持部材と比較して、支持部材とヒータープレートとの接続領域の面積を大きくするように調節できる。従って、本発明のヒータープレートは、フランジ部が設けられないヒータープレートと比較して、当該接続領域の面積を調整することにより、直接支持部材を介した熱の伝達態様を変化させ、効果的にヒータープレートに載置されるウェハに対して所望の温度分布の形成の容易化を図ることができる。尚、前記フランジ部の前記支持部材の軸方向の厚さは、前記第1端面から前記第1凹部の底部までの深さと等しい又は前記深さより大きいことが好ましい。
【0016】
また、本発明において、前記支持部材は、前記第1端面と反対側の第2端面と、前記第2端面側において前記支持部材に形成され、開口の外縁が環状かつ有底の第2凹部とを備えることが好ましい。
【0017】
第2凹部を備えることにより、第2端面に接続される部材と支持部材との接続領域の面積及び形状が調節されることにより、第2端面に接続される部材と支持部材との接続領域に凹部を設けないセラミックヒーターと比較して、支持部材から支持部材に接続される部材への熱の伝達態様を変化させることができる。
【発明を実施するための形態】
【0019】
(本実施形態の構成)
図1に示されるように、セラミックヒーター1は、支持部材100と、ヒータープレート200とを備える。支持部材100は、支持部材100と接続するヒータープレート200のヒータープレート端面202の略中央部において接続されている。
【0020】
セラミックヒーター1は、ウェハ400をヒータープレート200上に保持する。セラミックヒーター1は、プロセスチャンバー(図示せず)の中に入れられ、ウェハ400を保持した状態でフッ素ガス等の各プロセスに応じたプロセスガス雰囲気に置かれる。プロセスガスは、供給経路(図示せず)を通してチャンバー内部に所定の圧力で供給される。
【0021】
支持部材100は、ウェハ400が載置されるヒータープレート200の載置面と反対側のヒータープレート端面202に対して接続される第1端面110と、第1端面110と反対側の第2端面120と、第1端面110側において支持部材100に形成され、円環状の開口外縁が支持部材100とヒータープレート200との接続領域300の内側に位置する有底の第1凹部130、及び、第2端面120側において支持部材100に形成され、開口外縁が円環状かつ有底の第2凹部132とを備える。第1凹部130と第2凹部132の円環状の開口は同一半径になるように形成されている。
【0022】
支持部材100は、AlN、SiC、Si
3N
4、MgAl
2O
4、Al
2O
3等を原料としたセラミックによって、第1端面110側に開口の外縁が円環状かつ有底の第1凹部130と、第2端面120側に開口の外縁が円環状かつ有底の第2凹部132とを備える略円柱状に形成される。
【0023】
特に、AlNは、セラミックとしては熱伝導性が高いため、ヒータープレート200を均温化するのに優れている点で好ましい。ヒータープレート200に給電端子を設けると、給電端子が設けられた部分が加熱され、当該部分の温度が高くなる場合がある。これに対し、支持部材100の原料にAlNを用いることにより、支持部材100を介して当該部分の熱を伝達させることができるので、ウェハ400の表面の温度分布を所望の温度分布に形成しやすい。
【0024】
また、支持部材100には、ヒーター端子212に接続する金属製(例えばNi製)の棒状電極214が挿通される第1貫通孔140と、高周波端子222に接続する金属製の棒状電極224が挿通される第2貫通孔142と、熱電対216が挿通される第3貫通孔144とが設けられている。
【0025】
尚、本実施形態のセラミックヒーター1は、支持部材100に第1凹部130を備えることから、各端子が挿通される貫通孔140,142,144の配置が支持部材100の中心軸に対して非対称な配置であっても、第1凹部130の内側の空間において温度の不均一性が緩和される。従って、ヒータープレート200に載置されるウェハ400に対して所望の温度分布の形成の容易化を図ることができる。
【0026】
支持部材100の第1端面110及び第2端面120は、互いに平行になるように、円環状で同一形状に形成されている。尚、第2端面120の形状を、第1端面110の面積より大きな面積を有した相似形状に形成してもよい。
【0027】
また、支持部材100の第1凹部130及び第2凹部132の支持部材の軸方向の深さは、ヒータープレート200からの熱の伝達量と、支持部材100における熱の伝達態様とによって定められるウェハの温度分布に応じて任意に選択できる。セラミックヒーター1の強度の観点から、第1凹部130及び第2凹部132の深さの合計値は第1端面110から第2端面120までの支持部材100の長さの95%以下にすることが好ましい。
【0028】
尚、支持部材100の第1凹部130の深さは、第1凹部130の底部とヒータープレート200との直接接触が回避できれば十分である。
【0029】
支持部材100は、第1端面110側に、第1凹部130の周りを囲み、支持部材100の径方向に延出する第1フランジ部150と、第2端面120側に、第2凹部132の周りを囲み、支持部材100の径方向に延出する環板状の第2フランジ部152とが形成されている。尚、第1フランジ部150は、第1端面110側に、第1凹部130の周りを囲み、支持部材100の径方向に延出するように環板状に形成してもよい。
【0030】
第1フランジ部150の支持部材100の軸方向の厚さH1は、第1端面110から第1凹部130の底部までの深さL1より大きくなるように形成されている。尚、第1フランジ部150の厚さH1は、第1凹部130の深さL1と等しくなるように形成されてもよい。
【0031】
H1<L1の場合、第1凹部130を含む支持部材100部分において、第1フランジ部150を含む支持部材100の環状断面の面積が、第1フランジ部150を含まない支持部材100の環状断面の面積と比較して大きくなる。このような形状のセラミックヒーター1を加熱した場合、第1フランジ部150において第1端面110から第2端面120の方向に向かって急激な温度変化が生じ、ヒータープレート200と支持部材100の接続部近傍で割れの危険性が高まる。これに対して、H1≧L1の関係を満たす本実施形態のセラミックヒーター1は、支持部材100の第1端面110から第2端面120の方向に向かって第1フランジ部150において急激な温度変化が生じることを低減するので、第1フランジ部150において破壊の原因となる熱応力の低減を図ることができる。
【0032】
ヒータープレート200は、AlN、SiC、MgAl
2O
4、Al
2O
3等を原料としたセラミックによって厚み一定の略円盤状に形成されている。特に、AlNは、セラミックとしては熱伝導性が高いため、ヒータープレート200を均温化するのに優れている点で好ましい。さらに、Y
2O
3を添加することより均温性をさらに向上させることができる。尚、ヒータープレート200の形状は、三角板状、四角板状等であってもよい。
【0033】
ヒータープレート200は、ヒータープレート200と支持部材100の熱膨張係数が大きく異なる場合、ヒータープレート200と支持部材100の接続部分で破損が生じる可能性があることから、熱膨張係数が支持部材100と同程度のものを使用することが望ましい。
【0034】
ヒータープレート200には、ヒーター210が埋設されている。また、電極220が、ヒータープレート端面202と対向するウェハ400を保持する載置面に近い位置に埋設されている。
【0035】
ヒーター210は、発熱抵抗体であり、例えば、面状、螺旋状等であり、電流を流すことによってジュール熱を発生する。ヒーター210の両端部には、略有底筒状のヒーター端子212が、ヒータープレート端面202において、例えば、ロウ付けによりそれぞれ接続固定されている。そして、ヒーター端子212の筒状の穴には、第1貫通孔140を通じて、金属製の棒状電極214がロウ付けによりそれぞれ接続固定されている。金属製の棒状電極214は、それぞれヒーター電源(図示せず)に接続されており、これを作動させることにより、ヒーター210を発熱させることができる。
【0036】
ヒーター210は、耐熱性に優れ、熱膨張係数がヒータープレート200を形成するセラミックの熱膨張係数に近い金属(例えば、Mo、W、Pt等)を原料として製造されることが好ましい。また、ヒーター端子212は、コバール、Mo、Ni、Cu等を使用することができる。
【0037】
電極220は、プラズマ処理をウェハ400に施すときに使用する高周波電極である。電極220は、高周波端子222が固定されており、高周波端子222の筒状の穴には、第2貫通孔142を通じて金属製(例えば、Ni製)の棒状電極224に接続固定されている。
【0038】
また、第3貫通孔144には、ウェハ400の温度を測定するために、熱電対216が挿入される。
【0039】
なお、ヒータープレート200は、他にESC電極を内蔵していてもよい。
【0040】
支持部材100とヒータープレート200との接続は、接合材を用いた接合、耐熱性に優れたAu系やAg系の活性金属ロウを用いたろう付け、拡散接合、ボルト固定等の機械固定等の公知の方法を用いて行うことができる。尚、接合材を用いた接合の場合、支持部材100、ヒータープレート200の成分を含有する接合材を用いることが好ましい。
【0041】
(セラミックヒーター1の製造方法)
次に、本発明の実施形態のセラミックヒーター1の製造方法について説明する。
【0042】
まず、ヒータープレート200として、ヒーター210等を内部に埋設した円板状のセラミックス焼結体(例えば、窒化アルミニウム製の焼結体)を準備する。
【0043】
次に、ヒータープレート200において、ウェハ400の載置面と反対側の支持部材100と接続する面を、所定の表面粗さRa(例えば、1.0μm)となるように研磨加工する。一方、第1端面110側において形成された開口の外縁が円環状かつ有底の第1凹部130と、第2端面120側において形成された開口の外縁が円環状かつ有底の第2凹部132とが形成された円柱状の支持部材100(例えば、窒化アルミニウム製支持部材)を作製する。そして、支持部材100の第1端面110を、所定の表面粗さRa(例えば、1.0μm)となるように研磨加工する。
【0044】
次に、支持部材100の第1端面110及びヒータープレート200の面に、接合材となるAl−Y−O系のペーストを塗布し、乾燥させる。
【0045】
そして、接合材を塗布した部位同士を合わせ、不活性ガス雰囲気(例えば、窒素ガス雰囲気、減圧100Pa以下)の真空炉中に入れ、接合を行い、セラミックヒーター1を製造する。
【0046】
(ヒーター210の形状パターンとヒータープレート載置面の温度分布)
図2〜
図4を参照して、本実施形態のセラミックヒーター1及び円筒状に形成された支持部材を備える従来のセラミックヒーター1’において、発熱抵抗体であるヒーター210の形状パターンと、ウェハ400が載置されるヒータープレート200の載置面の温度分布との関係を説明する。
図2は本実施形態のセラミックヒーター1を示す断面図であり、
図8は円筒状に形成された支持部材100’を備える従来例のセラミックヒーター1’を示す断面図である。
【0047】
図2に示されるように、本実施形態の支持部材100は、第1凹部130の内壁130Aと、第1フランジ部150の外壁150Aとを備える。また、
図8に示されるように、円筒状の従来例の支持部材100’は、支持部材100’の内壁130A’と、第1フランジ部150’の外壁150A’とを備える。
図2と
図8とにおいて、支持部材100(100’)とヒータープレート200との接続部分における接続面積は同じである。
【0048】
図3(A)及び
図4(A)は、セラミックヒーター1,1’を載置面上方から臨んだセラミックヒーター1,1’に用いられるヒーター210のパターンを示した図である。破線は支持部材100(100’)がヒータープレート200に接続する接続領域300の内周を表す第1凹部130の内壁130A(支持部材100’の内壁130A’)の位置を示し、一点鎖線は接続領域300の外周を表す支持部材100の外壁150A(支持部材100’の外壁150A’)の位置を示す。
【0049】
ここで、
図3(A)に示されるように、破線で囲まれた円形領域をU1、破線及び一点鎖線で囲まれた円環状領域をU2、そして、ヒータープレート200の外縁と一点鎖線で囲まれた円環状領域をU3と表す。第1凹部130の円環状の開口外縁は円形領域U1の外周に位置し、支持部材100がヒータープレート200に接続する接続領域300は円環状領域U2に対応する。従って、第1凹部130の円環状の開口外縁は円環状領域U2が対応する接続領域300の内側に位置することがわかる。
【0050】
また、
図3(A)のヒーター210のパターンは、円形領域U1のヒーター210の密度が円環状領域U2のヒーター210の密度に対して小さくなるように形成されている。また、円環状領域U3のヒーター210の密度が領域U1及びU2に比較して最も小さくなるように形成されている。
【0051】
図3(B)は、
図2の本実施形態のセラミックヒーター1を使用した場合における、
図3(A)のヒーター210のパターンを有するヒータープレート200の載置面の中心Oから径方向(X方向)の位置に対する温度(T)の分布を示す。
図3(C)は、
図8の従来例のセラミックヒーター1’を使用した場合における、
図3(A)のヒーター210のパターンを有するヒータープレート200の載置面の中心Oから径方向(X方向)の位置に対する温度(T)の分布を示す。
図4(B)は、
図2の本実施形態のセラミックヒーター1を使用した場合における、
図4(A)のヒーター210のパターンを有するヒータープレート200の載置面の中心Oから径方向(X方向)の位置に対する温度(T)の分布を示す。
図4(C)は、
図8の従来例のセラミックヒーター1’を使用した場合における、
図4(A)のヒーター210のパターンを有するヒータープレート200の載置面の中心Oから径方向(X方向)の位置に対する温度(T)の分布を示す。
【0052】
円筒状の支持部材100’を備える従来のセラミックヒーター1’の場合、温度分布は、支持部材100’が円筒状であるため、支持部材100’を介した伝熱量が制限される。そのため、
図3(C)に示されるように、温度分布は、ヒーター210の密度が最も大きい円環状領域U2において温度ピークを有する、中心Oに対して略対称な温度分布に形成される。
【0053】
これに対して、
図3(B)に示されるように、本実施形態のセラミックヒーター1の場合、支持部材100は円柱状であるので十分に支持部材100を介した熱の伝達が可能となり、さらに、第1凹部130を備えるので第1凹部130の内側の空間において温度の不均一性が緩和される。従って、載置面の温度分布は、均一な温度分布に形成される。
【0054】
図4(A)のヒーター210のパターンは、円形領域U1、円環状領域U2、及び円環状領域U3のヒーター210の密度が均等になるように形成されている。
【0055】
円筒状の支持部材100’を備える従来のセラミックヒーター1’の場合、ヒータープレート200が厚み一定であり、円形領域U1の面積が円環状領域U2,U3の面積と比較して最も小さい。従って、
図4(C)に示されるように、載置面の温度分布は、円形領域U1で急峻な温度変化を示す曲線を有し、中心Oで低温ピークを有する、中心Oに対して略対称な温度分布に形成される。
【0056】
これに対して、
図4(B)に示されるように、本実施形態のセラミックヒーター1の場合、内側に空間を有する第1凹部130を備える。従って、載置面の温度分布は、緩やかに温度が変化する曲線を有し、中心Oで低温ピークを有する、中心Oに対して略対称な分布に形成される。
【0057】
従って、ヒーター210のパターンに応じて、ヒータープレート端面202と支持部材100との接続部分の面積及び形状を調整することにより、ヒータープレート200に載置されるウェハ400に対して、均一な温度分布、緩やかに温度が変化する温度分布等の所望の温度分布の形成の容易化を図ることができる。
【0058】
尚、本実施形態のヒータープレート200は厚み一定に形成されているが、ヒーター210の形状パターンを変更することなく、ヒータープレート200の厚みをヒーター210の形状パターンに応じて変更させることにより、
図4(B)の温度分布を
図3(B)のような均一な温度分布に、また、
図3(B)の温度分布を
図4(B)のような緩やかに温度が変化する温度分布に調整することができる。
【0059】
(他の実施形態)
本実施形態のセラミックヒーター1の支持部材100は、第1凹部130を備える。
図5に示されるように、第1凹部130に代えて、ヒータープレート端面202側においてヒータープレート200Cに形成され、円環状の開口外縁が支持部材100Cとヒータープレート200Cとの接続領域300の内側に位置する有底のヒータープレート凹部204を備えるセラミックヒーター1Cとすることもできる。また、第1凹部130と、ヒータープレート凹部204とを共に備えることもできる。尚、ヒータープレート凹部204の開口の外縁は、三角形環状、四角形環状等の環状に形成されてもよい。
【0060】
ヒータープレート凹部204を備え、ヒータープレート200Cと支持部材100Cとの接続領域300の面積を調整することにより、支持部材100Cを介したヒータープレート200Cからの熱の伝達態様を変化させることができる。従って、ヒータープレートに載置されるウェハに対して所望の温度分布の形成の容易化を図ることができる。
【0061】
また、本実施形態のセラミックヒーター1の支持部材100は、第1凹部130と第2凹部132とを備える。支持部材100は、ヒータープレート200からの熱の伝達量と、支持部材における熱の伝達態様とによって定められるウェハ400の温度分布に応じて、第1凹部130及び第2凹部132の一方を設けるように形成することもできる。
【0062】
図6に、第1端面110側に第1凹部130を設け、第2端面120側に凹部を設けない支持部材100Aを示す。また、
図7に、第1端面110側に凹部を設けず、第2端面120側に第2凹部132を設けた支持部材100Bを示す。支持部材100A及び100Bは、第1端面110及び第2端面120のいずれか一方に凹部を設けないことから、支持部材を介した熱の伝達態様を変化させ、ヒータープレート200に載置されるウェハ400に対して所望の温度分布の形成の容易化を図るとともに、支持部材の強度の向上を図ることができる。
【0063】
尚、第1端面110側に第1凹部130を設けた支持部材100A(
図6)は、第2端面120側に第2凹部132を設けた支持部材100B(
図7)と比較して、支持部材100とヒータープレート200との接続部分の面積を調節できる。従って、支持部材100A(
図6)を備えるセラミックヒーターは、支持部材100B(
図7)を備えるセラミックヒーターと比較して、直接支持部材を介した熱の伝達態様を変化させ、効果的にヒータープレート200に載置されるウェハ400に対して所望の温度分布の形成の容易化を図ることができる。
【0064】
また、本実施形態のセラミックヒーター1の支持部材100は、第1端面110側に開口の外縁が円環状かつ有底の第1凹部130と、第2端面120側に開口の外縁が円環状かつ有底の第2凹部132とを備える。ウェハ400の温度分布に応じて、第1凹部130及び第2凹部132は、開口の外縁が三角形環状、四角形環状等の環状に形成されてもよい。
【0065】
また、本実施形態のセラミックヒーター1の支持部材100は、
図1に示されるように、支持部材100の軸方向における第1端面110から第1凹部130の底部までの深さL1は、第2端面120から第2凹部132の底部までの深さL2より小さくなるように、すなわち、0<L1/L2<1の関係式が満たされるように形成されている。ウェハ400に対して要求される温度分布に応じて、セラミックヒーターは、第1凹部130の深さL1が第2凹部132の深さL2と同じ又は深さL2より大きくなるように、すなわち、L1/L2≧1の関係式が満たされるように形成されてもよい。
【0066】
また、本実施形態のセラミックヒーター1の支持部材100は、
図1に示されるように、第1凹部130の半径R1が支持部材100の円柱部分の半径R2より小さくなるように、すなわち、R1<R2の関係式がみたされるように形成されている。ウェハ400に対して要求される温度分布に応じて、セラミックヒーターは、第1凹部130の半径R1の大きさが支持部材100の円柱部分の半径R2の大きさ以上であって、第1フランジ部150の半径R3の大きさより小さくなるように、すなわち、R2≦R1<R3の関係式が満たされるように形成されてもよい。
【0067】
また、本実施形態のセラミックヒーター1の支持部材100は、第1凹部130と第2凹部132の円環状の開口が同一半径になるように形成されている。支持部材100は、ウェハ400に対して要求される温度分布に応じて、第1凹部130と第2凹部132の円環状の開口の半径が異なるように形成されてもよい。
【0068】
また、本実施形態の支持部材100は、ヒータープレート200に載置されるウェハ400に対して等方的な温度分布を形成するために、ヒータープレート端面202の略中央部において接続されている。支持部材100は、ウェハ400に対して要求される温度分布に応じて、ヒータープレート端面202の中央部以外の位置(例えば、ヒータープレート端面202の外縁と中心との間)でヒータープレート200と接続されてもよい。
【0069】
さらに、本実施形態のセラミックヒーター1は、支持部材100がヒータープレート200の中央部一箇所において接続されている。セラミックヒーターは、ウェハ400に対して要求される温度分布に応じて、複数の支持部材が設けられ、複数の支持部材が複数位置でヒータープレート200と接続するように形成されてもよい。複数の支持部材が設けられた場合、セラミックヒーターは、複数の支持部材同士が離間するように、あるいは複数の支持部材の全部又は一部が隣接するように形成されてもよい。