特許第6173248号(P6173248)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】6173248
(24)【登録日】2017年7月14日
(45)【発行日】2017年8月2日
(54)【発明の名称】加熱調理器
(51)【国際特許分類】
   F24C 7/04 20060101AFI20170724BHJP
   H05B 6/12 20060101ALI20170724BHJP
【FI】
   F24C7/04 301A
   H05B6/12 324
   H05B6/12 335
【請求項の数】10
【全頁数】10
(21)【出願番号】特願2014-69423(P2014-69423)
(22)【出願日】2014年3月28日
(65)【公開番号】特開2015-190714(P2015-190714A)
(43)【公開日】2015年11月2日
【審査請求日】2016年6月20日
(73)【特許権者】
【識別番号】000006013
【氏名又は名称】三菱電機株式会社
(73)【特許権者】
【識別番号】000176866
【氏名又は名称】三菱電機ホーム機器株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110001461
【氏名又は名称】特許業務法人きさ特許商標事務所
(72)【発明者】
【氏名】小倉 洋介
【審査官】 宮崎 賢司
(56)【参考文献】
【文献】 特許第4120536(JP,B2)
【文献】 特公平02−025097(JP,B2)
【文献】 特開2004−286367(JP,A)
【文献】 特開2003−249341(JP,A)
【文献】 特開昭58−160738(JP,A)
【文献】 特公平02−038859(JP,B2)
【文献】 特公平02−050367(JP,B2)
【文献】 特開2001−056126(JP,A)
【文献】 特開2011−249065(JP,A)
【文献】 特開2006−156006(JP,A)
【文献】 特開2013−251254(JP,A)
【文献】 特開平06−201138(JP,A)
【文献】 特開2005−061718(JP,A)
【文献】 特開2006−019068(JP,A)
【文献】 特開平04−161726(JP,A)
【文献】 米国特許出願公開第2008/0121633(US,A1)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
F24C 7/04
H05B 6/12
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
調理器本体と、
前記調理器本体に設けられ、被加熱物を加熱する加熱部と、
前記被加熱物の温度を検知する温度検知手段と、
前記温度検知手段が検知した温度を補正する検知温度補正手段と、
基準となる特性を備える校正用調理器本体により求められた標準検知温度が記憶される記憶部と、を備え、
前記検知温度補正手段は、
少なくとも負荷、火力、および時間について前記標準検知温度を求めたときと同一の条件で前記負荷を前記加熱部により加熱した際に前記温度検知手段によって検知された前記負荷の検知温度と、前記標準検知温度とを比較し、その結果に応じて求められた検知温度補正係数を用いて補正するものであり、
前記検知温度補正係数を被加熱物の条件毎に有し、
被加熱物の条件毎の相関関係を備え、
一つの被加熱物を加熱する火力を段階的に変化させることで、
その他の被加熱物の前記検知温度補正係数が求められる
ことを特徴とする加熱調理器。
【請求項2】
前記検知温度補正係数は、
前記温度検知手段によって検知された前記負荷の検知温度の変化量と、前記標準検知温度の変化量とを比較し、その結果に応じて求められる
ことを特徴とする請求項1に記載の加熱調理器。
【請求項3】
前記検知温度補正係数は、前記標準検知温度またはその変化量を、前記検知温度またはその変化量で割ることにより求められる
ことを特徴とする請求項1または2に記載の加熱調理器。
【請求項4】
前記記憶部に記憶される温度補正テーブルを備え、
前記検知温度補正係数は、前記標準検知温度またはその変化量、および前記検知温度またはその変化量に応じて前記温度補正テーブルを参照することにより求められる
ことを特徴とする請求項1または2に記載の加熱調理器。
【請求項5】
条件の異なる複数の被加熱物のうち、どの条件の被加熱物の前記検知温度補正係数を求めるのかを設定する設定手段を備えた
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の加熱調理器。
【請求項6】
被加熱物の条件毎の相関関係を備え、
一つの被加熱物の前記検知温度補正係数と前記相関関係とから、
その他の被加熱物の前記検知温度補正係数が求められる
ことを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の加熱調理器。
【請求項7】
被加熱物の条件毎の相関関係を備え、
一つの被加熱物を加熱する火力を段階的に変化させることで、
その他の被加熱物の前記検知温度補正係数が求められる
ことを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の加熱調理器。
【請求項8】
報知手段を備え、
前記検知温度補正係数を求める処理を行った結果または前記検知温度補正係数の内容を前記報知手段により報知する
ことを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載の加熱調理器。
【請求項9】
エラー報知手段を備え、
前記検知温度が予め設定された範囲外であれば前記エラー報知手段によりエラーを報知する
ことを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載の加熱調理器。
【請求項10】
前記検知温度補正係数を用いて補正された値に応じて前記加熱部が制御される
ことを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載の加熱調理器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、主として一般家庭で使用される加熱調理器に関するものである。
【背景技術】
【0002】
従来の加熱調理器において、被加熱物毎の特性差異を是正する温度補正手段を備えたものがある(たとえば、特許文献1参照)。
【0003】
特許文献1に記載の加熱調理器は、材質判定手段と、温度検知手段と、温度補正手段と、を備え、材質判定手段により検知した被加熱物の材質に応じて温度検知手段の検知温度を温度補正手段により補正している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特許第4120536号公報(たとえば、請求項1参照)
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかし、特許文献1に記載の加熱調理器は、被加熱物の材質に応じて検知温度を補正しているが、その補正は温度検知手段がばらつきの無い理想的な状態であることを前提としている。そのため、温度検知手段の検知温度が理想値になっていない(つまり、ばらつきがある)場合、温度補正手段により検知温度を補正することによって、かえって誤差を助長してしまう恐れがあった。
また、温度検知手段のばらつきを是正する手段として可変抵抗器を用いた調整手段などが存在するが、部品とそれを調整する作業が必要となるため、コストと手間がかかるという課題があった。
【0006】
本発明は、以上のような課題を解決するためになされたもので、検知温度を適切な値に補正することができる加熱調理器を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明に係る加熱調理器は、調理器本体と、前記調理器本体に設けられ、被加熱物を加熱する加熱部と、前記被加熱物の温度を検知する温度検知手段と、前記温度検知手段が検知した温度を補正する検知温度補正手段と、基準となる特性を備える校正用調理器本体により求められた標準検知温度が記憶される記憶部と、を備え、前記検知温度補正手段は、少なくとも負荷、火力、および時間について前記標準検知温度を求めたときと同一の条件で前記負荷を前記加熱部により加熱した際に前記温度検知手段によって検知された前記負荷の検知温度と、前記標準検知温度とを比較し、その結果に応じて求められた検知温度補正係数を用いて補正するものであり、前記検知温度補正係数を被加熱物の条件毎に有し、被加熱物の条件毎の相関関係を備え、一つの被加熱物を加熱する火力を段階的に変化させることで、その他の被加熱物の前記検知温度補正係数が求められるものである。
【発明の効果】
【0008】
本発明に係る加熱調理器によれば、負荷、火力、時間について前記標準検知温度を求めたときと同一の条件で前記負荷を前記加熱部により加熱した際に前記温度検知手段によって検知された前記負荷の検知温度と、前記標準検知温度とを比較し、その結果に応じて求められた検知温度補正係数を用いて補正するため、検知温度を適切な値に補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
図1】本発明の実施の形態に係る加熱調理器を示す斜視図である。
図2】本発明の実施の形態に係る加熱調理器の温度検知回路を示す図である。
図3】本発明の実施の形態に係る加熱調理器のブロック図である。
図4】本発明の実施の形態に係る加熱調理器の検知温度の補正について示すフローチャートである。
図5】本発明の実施の形態に係る加熱調理器に用いられる材質の異なる被加熱物の温度と検知温度との関係を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。なお、以下に説明する実施の形態によって本発明が限定されるものではない。また、以下の図面では各構成部材の大きさの関係が実際のものとは異なる場合がある。
【0011】
実施の形態.
図1は、本発明の実施の形態に係る加熱調理器1を示す斜視図である。
この図1に基づいて、本実施の形態に係る加熱調理器1について説明する。
図1に示すように、加熱調理器1は、上面が開口した箱状の調理器本体2と、調理器本体2の上面に載置された天板3とを備えている。
【0012】
天板3において、手前側(矢印Y1方向)には、各種の操作入力を行う操作部4が設けられており、奥側(矢印Y2方向)には、吸排気口を覆う吸排気口カバー5が設置されている。そして、天板3において、手前側と奥側との間には、鍋などの被加熱物が載置される載置部6が、たとえば3個設けられている。
【0013】
また、調理器本体2において、載置部6の下方には、被加熱物を加熱する誘導加熱コイルである加熱部7(後述する図3に図示)が設置されている。
加熱部7は、インバータ回路14(後述する図3に図示)から出力される高周波の交流電圧によって、加熱部7の誘導加熱コイルに流れる電流により発生する高周波磁界により、加熱部7の上方に載置される被加熱物を誘導加熱するものである。そして、操作部4が操作されることにより、加熱部7の火力が調整される。
また、調理器本体2には、たとえばグリル部8も設けられている。
【0014】
図2は、本発明の実施の形態に係る加熱調理器1の温度検知回路10を示す図である。
次に、加熱調理器1の温度検知回路10について説明する。
図2に示すように、温度検知回路10は、温度検知素子11、電圧増幅回路12、演算素子13を備えている。
【0015】
温度検知素子11は、加熱部7の近傍に設けられ、たとえば赤外線センサ11aと抵抗型サーミスタ11bとで構成されており、赤外線センサ11aは、物体の温度変化に応じて赤外線のエネルギー量が変化する特性を利用して温度を検知し、抵抗型サーミスタ11bは、自身の温度変化に応じて抵抗値が変化する特性を利用して温度を検知する。
【0016】
電圧増幅回路12は、温度検知素子11の赤外線センサ11a側に接続されており、赤外線センサ11a側から入力された微小な電圧を増幅させた後、演算素子13に出力する。演算素子13は、温度検知素子11の赤外線センサ11a側および抵抗型サーミスタ11b側から入力された電圧値に基づいて温度を算出する。なお、温度検知素子11の構成は上記に限定されるものではなく、熱電対や白金測温抵抗体素子などを用いてもよい。
【0017】
図3は、本発明の実施の形態に係る加熱調理器1のブロック図である。
次に、温度制御部21について詳細に説明する。
図3に示すように、温度制御部21は、検知温度補正手段22を備えている。また、加熱調理器1には記憶部26が設けられており、この記憶部26には標準検知温度が記憶されている。標準検知温度とは、基準となる特性を備える校正用調理器本体(図示せず)の検知手段によって求められるものである。また、校正用調理器本体とは、それを構成する電気部品の電気定数(抵抗値、キャパシタンス値など)や寸法、取り付け位置などがノミナル値を有するものである。
【0018】
そして、加熱に供される校正用の基準となる負荷(たとえば、揚げ物用の付属鍋にその容量の半分の水を入れたもの)に、所定火力(たとえば、設定可能最大火力)を所定時間(たとえば、5分間)印加した際に、校正用調理器本体の温度検知手段で検知された負荷の検知温度を標準検知温度として用いる。
【0019】
また、記憶部26には、検知温度補正係数αが記憶されている。検知温度補正係数αは、たとえば工場出荷時の各加熱調理器に対し、校正用調理器本体を用いて標準検知温度を求めたときと同じ条件で、基準となる負荷に所定火力を所定時間印加した際に、温度検知回路10により構成される温度検知手段16によって検知された負荷の検知温度と、記憶部26に記憶された標準検知温度とを比較し、それらの差が閾値以上である場合に、標準検知温度を検知温度で除算して求められるものである。
【0020】
そして、温度制御部21に備えられた検知温度補正手段22は、この記憶部26に記憶された検知温度補正係数αを用いて、温度検知手段16によって検知された検知温度を補正する。ここで、標準検知温度をTstd、検知温度値をTtとすると、検知温度補正係数αは、下記式(1)から求められる。
【0021】
α=Tstd/Tt・・・・・・(1)
【0022】
たとえば、操作部4より所定の温度が設定された場合、温度検知手段16により被加熱物の温度を検知し、その検知温度Tdが温度制御部21の検知温度補正手段22によって記憶部26に記憶されている検知温度補正係数αを用いて補正された補正後の検知温度Tcとし、補正後の検知温度Tcに応じて設定された温度となるようにインバータ回路14を介して加熱部7が制御される。また、補正された値は、温度表示部(図示せず)に表示される。
ここで、補正後の検知温度Tcは次式から求められる。
【0023】
Tc=α×Td・・・・・・(2)
【0024】
なお、検知温度補正係数αを求める式は上記式(1)に限定されず、他の式を用いて求めてもよい。
【0025】
図4は、本発明の実施の形態に係る加熱調理器1の検知温度の補正について示すフローチャートである。
次に、検知温度の補正について詳細に説明する。
本実施の形態に係る加熱調理器1は「温度補正モード」を備え、たとえば操作部4より「温度補正モード」を選択し、「温度補正モード」が開始されたら温度検知工程を実施する(S1)。温度検知工程は、基準となる負荷に所定火力を所定時間印加して行われるが、その際の負荷、所定火力、および所定時間は、標準検知温度を求めたときと同様の条件とする。
【0026】
温度検知工程を実施し、温度検知手段16によって検知された負荷の検知温度と、記憶部26に記憶された標準検知温度とを比較し、それらの差が閾値以上かどうかの判定を行う(S2)。そして、それらの差が閾値未満なら(S2のNO)、温度補正なしとして(S3)、たとえば天板3に設けられた表示部(図示せず)に補正結果を表示し(S4)、「温度補正モード」を終了する。その際に、「温度補正モード」を終了したことを音声などの報知手段で報知するようにしてもよい。
【0027】
一方、それらの差が閾値以上なら(S2のYES)、検知温度補正係数αを上記式(1)から求める(S5)。そして、求めた検知温度補正係数αを記憶部26に記憶し(S6)、表示部(図示せず)に補正結果を表示し(S4)、「温度補正モード」を終了する。
なお、S2において温度検知手段16によって検知された負荷の検知温度が所定の範囲外だった場合は、音声などのエラー報知手段でエラー報知を行うようにしてもよい。
【0028】
また、検知温度補正係数αは、被加熱物の条件毎に複数有するようにしてもよい。
被加熱物は、その種類(鍋やフライパンなど)、材質(鉄やアルミなど)、寸法、厚さなどによって、検知温度と調理対象物との温度差や、温度検知素子11近傍の温度が異なる。そこで、被加熱物の種類などの条件毎に検知温度補正係数αを複数有し、検知温度補正係数αを使い分けることによって、さらに検知温度を適切な値に補正することができる。
【0029】
なお、検知温度補正係数αを条件毎に複数有する場合は、「温度補正モード」が開始されたら、温度検知工程を実施する前にどの条件の被加熱物を用いて実施するのかを、たとえば操作部4により設定できるようにするとよい。
ここで、操作部4は本発明の「設定手段」に相当する。
【0030】
図5は、本発明の実施の形態に係る加熱調理器1に用いられる材質の異なる被加熱物の温度と検知温度との関係を示すグラフである。
温度検知手段16の検知温度は被加熱物の温度と比例関係にあるが、被加熱物の材質によって検知温度と被加熱物の温度に誤差が発生してしまう。図5では被加熱物の温度が100℃の例を示しているが、温度検知手段16の検知温度は被加熱物の材質が鉄、ステンレス、アルミの場合で、被加熱物の実際の温度は90℃、100℃、110℃となっている。この誤差は、被加熱物の材質によって放射率が異なるために発生してしまう。
【0031】
温度検知手段16と被加熱物の温度との相関関係を、ステンレスを基準に決定すると、アルミは放射率が低いので温度検知手段16の検知温度は実際の被加熱物の温度より低く検知してしまう。また、鉄は放射率が高いので温度検知手段16の検知温度は実際の被加熱物の温度より高く検知してしまう。
そこで、上記の例では基準であるステンレスの検知温度補正係数αをβとしたとき、鉄の検知温度補正係数αを1.1β、アルミの検知温度補正係数αを0.9βとし、温度検知手段16により検知された検知温度に適用することによって、検知温度を適切な値に補正することができる。
【0032】
以上のように、同条件の負荷、所定火力、および所定時間によって求められた校正用調理器本体の検知手段による負荷の標準検知温度と、加熱調理器1の温度検知手段16による負荷の検知温度とを比較し、それらの差が閾値以上かどうかの判定を行い、それらの差が閾値以上なら検知温度補正係数αを求める。そして、検知温度補正係数αを温度検知手段16により検知された検知温度に適用することによって、検知温度を適切な値に補正することができる。
また、被加熱物の種類などの条件毎に検知温度補正係数αを複数有し、検知温度補正係数αを使い分けることによって、さらに検知温度を適切な値に補正することができる。
【0033】
なお、本実施の形態では、検知温度補正係数αを上記式(1)から求めたが、温度補正テーブルを用意し、その温度補正テーブルに基づいて検知温度補正係数αを求めるようにしてもよい。
【0034】
たとえば、温度補正テーブルを記憶部26に記憶させておき、標準検知温度と加熱調理器1の検知温度とから温度補正テーブルの参照先を決定し、参照先に記載された値を検知温度補正係数αとする。そうすることで、たとえば校正用調理器本体の設置されている温度環境と加熱調理器1が設置されている温度環境が異なるような場合、その温度環境を考慮して温度補正テーブルを作成することで、上記(1)に基づいて求めるよりも正確な検知温度補正係数αを求めることができる。
【0035】
また、本実施の形態では、基準となる負荷に所定火力を所定時間印加した際の負荷の検知温度に基づいて求めているが、負荷に所定火力を所定時間印加した際の負荷の検知温度の変化量(温度勾配)に基づいて求めてもよい。
【0036】
たとえば、揚げ物用の付属鍋にその容量の半分の水を入れたものの温度が10℃として、設定可能最大火力を1分間印加した際の温度が20℃だとしたら、検知温度の変化量は10℃となる。この検知温度の変化量を校正用調理器本体と加熱調理器1とで求め、上記(1)または温度補正テーブルに基づいて検知温度補正係数αを求めることができる。
【0037】
検知温度補正係数αを、基準となる負荷に所定火力を所定時間印加した際の負荷の検知温度に基づいて求める場合は、温度値を安定させるため(外気温の影響を受けなくするため)に負荷を十分な時間加熱させる必要がある。そのため、温度検知工程に時間がかかってしまう。しかし、検知温度補正係数αを、基準となる負荷に所定火力を所定時間印加した際の検知温度の変化量に基づいて求めることで、温度値を安定させるために負荷を十分な時間加熱させる必要がないため、時間を短縮することができる。
【0038】
また、検知温度補正係数αを条件毎に複数有するようにする際、条件毎の相関関係を予め用意しておくことで、1つの条件における検知温度補正係数αを求めれば、複数の検知温度補正係数αを求めることができる。
【0039】
たとえば、材質がアルミ、銅、鉄の被加熱物がある場合、それらの相関関係を記憶部26に記憶させておくことにより、銅の被加熱物の検知温度補正係数αを求めることにより、相関関係を参照してアルミと鉄の被加熱物の検知温度補正係数αもそれぞれ求めることができる。
【0040】
また、本実施の形態では、温度検知手段16による検知温度として、温度検知素子11の赤外線センサ11a側および抵抗型サーミスタ11b側から入力された電圧値に基づいて演算素子13によって算出された値を用いているが、たとえば補正時には温度検知素子11の赤外線センサ11aのみに基づいた値を用いてもよいし、温度検知素子11の抵抗型サーミスタ11bのみに基づいた値を用いてもよい。そうすることで、赤外線センサ11aおよび抵抗型サーミスタ11bのいずれかのばらつきが大きい場合でも、温度補正の精度を高めることができる。
【0041】
また、被加熱物の種類などに応じて温度上昇率や飽和温度が変わるため、その相関関係を予め用意しておくことで、1つの被加熱物で複数の検知温度補正係数αを求めることができる。
【0042】
たとえば、アルミの被加熱物を設定可能最大火力の90%で加熱した際の時間に対する温度特性と、ステンレスの被加熱物を設定可能最大火力で加熱した際の時間に対する温度特性と、が同じであり、アルミの被加熱物を設定可能最大火力の80%で加熱した際の時間に対する温度特性と、鉄の被加熱物を設定可能最大火力で加熱した際の時間に対する温度特性と、が同じであるような場合、アルミの非加熱物に対する火力を段階的に切り替えて検査を行うことで、複数の被加熱物の検知温度補正係数αを求めることができる。
【0043】
また、温度検知素子11近傍の温度や加熱動作の有無が検知結果に及ぼす影響が小さい場合、つまり温度検知素子11が加熱部7の温度上昇を検知しなければ、一定温度の熱源を使用することで、試験時間を短縮することができる。
【0044】
たとえば、他の装置であるフラットヒーターなどで100℃にした熱源を加熱部7に載置することで、検知温度補正係数αを求めることができる。そのため、実際に火力を投入することなく温度検知工程を実施することができ、「温度補正モード」の時間を短縮するができる。また、加熱部7によって被加熱物を加熱する必要がないため、校正用調理器本体および加熱調理器1の所定の定格電圧よりも低い電圧しか供給されないような環境でも、温度検知工程を実施することができる。また、熱源の温度が他の装置によって担保されているため、より正確な検知温度補正係数αを求めることができる。
【符号の説明】
【0045】
1 加熱調理器、2 調理器本体、3 天板、4 操作部、5 吸排気口カバー、6 載置部、7 加熱部、8 グリル部、10 温度検知回路、11 温度検知素子、11a 赤外線センサ、11b 抵抗型サーミスタ、12 電圧増幅回路、13 演算素子、14 インバータ回路、16 温度検知手段、21 温度制御部、22 検知温度補正手段、26 記憶部。
図1
図2
図3
図4
図5