特許 6191331 光ディスク装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6191331

(24)【登録日】2017年8月18日

(45)【発行日】2017年9月6日

(54)【発明の名称】光ディスク装置

(51)【国際特許分類】

   G11B 7/095 20060101AFI20170828BHJP

   G11B 7/005 20060101ALI20170828BHJP

   G11B 7/135 20120101ALI20170828BHJP

【ＦＩ】

   G11B7/095 C

   G11B7/005 C

   G11B7/135

【請求項の数】8

【全頁数】20

(21)【出願番号】特願2013-171523(P2013-171523)

(22)【出願日】2013年8月21日

(65)【公開番号】特開2015-41396(P2015-41396A)

(43)【公開日】2015年3月2日

【審査請求日】2016年6月14日

(73)【特許権者】

【識別番号】000201113

【氏名又は名称】船井電機株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100148460

【弁理士】

【氏名又は名称】小俣 純一

(72)【発明者】

【氏名】▲桑▼嶋 護

【審査官】 中野 和彦

(56)【参考文献】

【文献】 特開２０１２−１９０５２５（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平１１−２５９８７５（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００８−０９０９３８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許出願公開第２００８／００８２９９４（ＵＳ，Ａ１）

【文献】 特開２０１１−２３３２０４（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１１−１７０９３１（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ１１Ｂ ７／０９５

Ｇ１１Ｂ ７／００５

Ｇ１１Ｂ ７／１３５

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

所定の光源からのレーザ光を光ディスクの任意の位置に集光して照射する対物レンズと、前記光ディスクからの反射光を受光する受光部とを有する光ピックアップと、
前記受光部からの信号を用いてメインプッシュプル信号とサブプッシュプル信号を生成し、前記メインプッシュプル信号から前記サブプッシュプル信号をＫ倍した信号を減算することによりトラッキングエラー信号を生成する信号処理部と、
前記対物レンズの位置のずれを示すレンズエラー信号および前記トラッキングエラー信号に応じてトラッキング制御を行う制御部とを備え、
前記制御部は、
前記光ディスクの径方向における前記対物レンズの位置を中点位置に合わせる中点サーボ処理と、
前記中点サーボ処理の開始後、前記レンズエラー信号に対しオフセット値を追加するオフセット処理と、
前記オフセット処理の実行後、予め設定された第一固定時間が経過するのを待つことにより、前記光ディスクの振動が安定するのを待つ安定待ち処理と、
前記安定待ち処理の実行後、前記信号処理部を用いて前記トラッキングエラー信号を測定する測定処理と、
前記測定処理の結果に応じて、前記Ｋ値の調整を行うＫ値調整処理とを実行する
光ディスク装置。

【請求項2】

前記第一固定時間は、前記オフセット値に応じて設定される
請求項１に記載の光ディスク装置。

【請求項3】

前記第一固定時間は、前記オフセット値に応じて決まる前記対物レンズのシフト量が１００ｕｍの場合に、５ｍｓｅｃ以上、２０ｍｓｅｃ以下の値に設定される
請求項１に記載の光ディスク装置。

【請求項4】

所定の光源からのレーザ光を光ディスクの任意の位置に集光して照射する対物レンズと、前記光ディスクからの反射光を受光する受光部とを有する光ピックアップと、
前記受光部からの信号を用いてメインプッシュプル信号とサブプッシュプル信号を生成し、前記メインプッシュプル信号から前記サブプッシュプル信号をＫ倍した信号を減算することによりトラッキングエラー信号を生成する信号処理部と、
前記対物レンズの位置のずれを示すレンズエラー信号および前記トラッキングエラー信号に応じてトラッキング制御を行う制御部とを備え、
前記制御部は、
前記光ディスクの径方向における前記対物レンズの位置を中点位置に合わせる中点サーボ処理と、
前記中点サーボ処理の開始後、前記レンズエラー信号に対しオフセット値を追加するオフセット処理と、
前記オフセット処理の実行後、前記レンズエラー信号の現在の振幅が、所定の基準範囲内となるのを待つことにより、前記光ディスクの振動が安定するのを待つ安定待ち処理と、
前記安定待ち処理の実行後、前記信号処理部を用いて前記トラッキングエラー信号を測定する測定処理と、
前記測定処理の結果に応じて、前記Ｋ値の調整を行うＫ値調整処理とを実行する
光ディスク装置。

【請求項5】

前記制御部は、さらに、
前記中点サーボ処理の実行後、前記オフセット処理の実行前に、前記信号処理部を用いて前記レンズエラー信号の振幅を測定し、測定された振幅に応じて前記基準範囲を設定する基準範囲設定処理を実行する
請求項４に記載の光ディスク装置。

【請求項6】

前記制御部は、前記中点サーボ処理の実行後、第二固定時間が経過した後に、前記基準範囲設定処理を実行する
請求項５に記載の光ディスク装置。

【請求項7】

前記基準範囲は、測定された前記レンズエラー信号の振幅に加え、前記光ディスク装置に求められる精度を用いて設定する
請求項４〜６の何れか１項に記載の光ディスク装置。

【請求項8】

前記制御部は、前記オフセット処理、前記安定待ち処理および前記測定処理を、前記オフセット処理における前記オフセット値を変更して複数回実行するように構成されている
請求項１〜７の何れか１項に記載の光ディスク装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、光ディスク装置および光ディスク装置の駆動方法に関する。

【背景技術】

【0002】

光ディスク装置は、例えば、例えば、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｃ）あるいはＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ（登録商標） Ｄｉｓｃ）等、１または複数種類のメディアに対するデータの読み出しおよび書き込みを行う装置である。

【0003】

光ディスク装置は、例えば、光ディスクの回転を制御するスピンドルモータおよびスピンドルモータ駆動部、光ディスクに記憶されたデータの読み出しを行う光ピックアップ（ＯＰＵ：Ｏｐｔｉｃａｌ Ｐｉｃｋ−Ｕｐ Ｕｎｉｔ）、および、光ディスク装置を構成する各部を制御する制御部等を備えて構成されている。

【0004】

光ピックアップは、例えば、所定の光源からのレーザ光を光ディスクの任意の位置に集光して照射する対物レンズと、光ディスクからの反射光を受光する受光部とを備えている。

【0005】

なお、光ディスク装置は、一般的に、差動プッシュプル法を用いて光ピックアップのトラッキング制御を行っている。なお、光ピックアップのトラッキング制御としては、位相差法等の他の方法もある。

【0006】

差動プッシュプル法では、光ピックアップは、光源からの光を用いて１つのメインビームと２つのサブビームとを生成し、光ディスクに照射する。光ピックアップの受光部は、光ディスクからのメインビームの反射光を受光してメインプッシュプル信号を生成する。さらに、受光部は、光ディスクからのサブビームの反射光を受光してサブプッシュプル信号を生成する。光ディスク装置の信号処理部は、メインプッシュプル信号からサブプッシュプル信号をＫ倍した信号を減算することにより、差動プッシュプル信号を生成する。信号処理部は、生成した差動プッシュプル信号からトラッキングエラー信号を生成する。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0007】

【特許文献1】特開２０１２−１９０５２５号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0008】

上述したように、光ディスク装置のトラッキング制御では、差動プッシュプル信号を用いて生成されたトラッキングエラー信号を利用している。従って、トラッキング制御を良好に行うためには、Ｋ値をより高精度に調整することが求められている。

【0009】

本発明は上述の課題を解決するためになされたものであり、差動プッシュプル法におけるＫ値の調整をより精確に行うことができる光ディスク装置および光ディスク装置の駆動方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0010】

上記目的を達成するために、本発明の一態様に係る光ディスク装置は、所定の光源からのレーザ光を光ディスクの任意の位置に集光して照射する対物レンズと、前記光ディスクからの反射光を受光する受光部とを有する光ピックアップと、前記受光部からの信号を用いてメインプッシュプル信号とサブプッシュプル信号を生成し、前記メインプッシュプル信号から前記サブプッシュプル信号をＫ倍した信号を減算することによりトラッキングエラー信号を生成する信号処理部と、前記対物レンズの位置のずれを示すレンズエラー信号および前記トラッキングエラー信号に応じてトラッキング制御を行う制御部とを備え、前記制御部は、前記対物レンズの径方向の位置を中点位置に合わせる中点サーボ処理と、前記中点サーボ処理の開始後、前記レンズエラー信号に対しオフセット値を追加するオフセット処理と、前記オフセット処理の実行後、前記光ディスクの振動が安定するのを待つ安定待ち処理と、前記安定待ち処理の実行後、前記信号処理部を用いて前記トラッキングエラー信号を測定する測定処理と、前記測定処理の結果に応じて、前記Ｋ値の調整を行うＫ値調整処理とを実行する。

【0011】

上記構成の光ディスク装置では、光ディスクの振動に伴うレンズ振動が低減するのを待つ安定待ち処理を行うので、Ｋ値のばらつきを効果的に抑えることが可能になる。ここで、光ディスクの振動が安定するのを待つとは、完全に安定する場合のみを指すものではない。光ディスクの振動が安定した状態とは、対物レンズの移動直後よりもレンズ振動が低減し、Ｋ値のばらつきが抑えられる状態であればよい。

【0012】

例えば、前記制御部は、前記安定待ち処理において、予め設定された第一固定時間が経過するのを待つことにより、前記光ディスクの振動が安定するのを待っても良い。

【0013】

上記構成の光ディスク装置では、安定待ち処理において、第一固定時間を設定するので、装置構成を簡素にできる。

【0014】

さらに、前記第一固定時間は、前記オフセット値に応じて設定されても良いし、前記第一固定時間は、前記オフセット値に応じて決まる前記対物レンズのシフト量が１００ｕｍの場合に、５ｍｓｅｃ以上、２０ｍｓｅｃ以下の値に設定されても良い。

【0015】

上記構成の光ディスク装置では、レンズ振動が低減する時間は、オフセット値および光ディスク装置の特性に応じて決まるため、予め第一固定時間を設定することが可能である。

【0016】

また、例えば、前記制御部は、前記安定待ち処理において、前記レンズエラー信号の現在の振幅が、所定の基準範囲内となるのを待つことにより、前記光ディスクの振動が安定するのを待っても良い。

【0017】

上記構成の光ディスク装置では、レンズエラー信号の振幅により、光ディスクの振動が安定したか否かを判定するので、予め光ディスク装置の特性あるいはオフセット値を求めることなく、実装することが可能である。また、上記構成の光ディスク装置では、レンズエラー信号の実際の測定に応じて安定待ち処理を行うので、より確実に、ＴＥ信号の測定のタイミングを求めることが可能になる。

【0018】

また、前記制御部は、さらに、前記中点サーボ処理の実行後、前記オフセット処理の実行前に、前記信号処理部を用いて前記レンズエラー信号の振幅を測定し、測定された振幅に応じて前記基準範囲を設定する基準範囲設定処理を実行しても良い。

【0019】

上記構成の光ディスク装置では、基準範囲をレンズエラー信号の測定により求めるので、適切に基準範囲を設定することが可能になる。

【0020】

さらに、前記制御部は、前記中点サーボ処理の実行後、第二固定時間が経過した後に、前記基準範囲設定処理を実行しても良い。

【0021】

上記構成の光ディスク装置では、基準範囲を求めるための基準レベルの測定を、第二固定時間が経過した後に行う。これにより、基準レベルの測定は、レンズ振動がある程度低減した後に実行されることになるため、基準範囲を求めるための基準レベルとして適切なレベルを計測可能になる。

【0022】

また、前記基準範囲は、測定された前記レンズエラー信号の振幅に加え、前記光ディスク装置に求められる精度を用いて設定しても良い。

【0023】

上記構成の光ディスク装置では、光ディスク装置に求められる精度に応じて基準範囲を設定できるので、Ｋ値の調整方法の汎用性を高めることが可能になる。

【0024】

また、前記制御部は、前記オフセット処理、前記安定待ち処理および前記測定処理を、前記オフセット処理における前記オフセット値を変更して複数回実行するように構成されていても良い。

【0025】

なお、本発明は、このような特徴的な処理部を備える光ディスク装置として実現することができるだけでなく、光ディスク装置に含まれる特徴的な処理部が実行する処理をステップとする光ディスク装置の駆動方法として実現することができる。また、光ディスク装置に含まれる特徴的な処理部としてコンピュータを機能させるためのプログラムまたは光ディスク装置の駆動方法に含まれる特徴的なステップをコンピュータに実行させるプログラムとして実現することもできる。そして、そのようなプログラムを、ＣＤ−ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｃ−Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）等のコンピュータ読み取り可能な非一時的な記録媒体あるいはインターネット等の通信ネットワークを介して流通させることができるのは、言うまでもない。

【発明の効果】

【0026】

本発明によると、差動プッシュプル法におけるＫ値の調整をより精確に行うことができる光ディスク装置および光ディスク装置の駆動方法を提供する。

【図面の簡単な説明】

【0027】

【図1】通常ディスクを用いた場合のメインプッシュプル信号ＭＰＰ、サブプッシュプル信号ＳＰＰおよび信号ＴｒＤｒｖの波形を示す波形図である。

【図2】偏重心ディスクを用いた場合のメインプッシュプル信号ＭＰＰ、サブプッシュプル信号ＳＰＰおよび信号ＴｒＤｒｖの波形を示す波形図である。

【図3】光ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。

【図4】光ピックアップ（ＯＰＵ）の受光部およびＴＥ信号生成部の構成を示す図である。

【図5】受光部およびＬＥ信号生成部の構成を示す図である。

【図6】実施の形態１のＫ値の調整の処理手順を示すフローチャートである。

【図7】レンズ中点サーボ信号と、対物レンズのシフト量との関係を示すグラフである。

【図8】実施の形態１のレンズ中点サーボ信号、ＴＥ信号の測定信号、ＭＰＰ、ＳＰＰの波形を示す波形図である。

【図9】従来のＫ値の調整の処理手順を示すフローチャートである。

【図10】図９に示すＫ値の調整方法における各波形を示す図である。

【図11】実施の形態２のＫ値の調整の処理手順を示すフローチャートである。

【図12】実施の形態２のレンズ中点サーボ信号およびＴＥ信号の測定信号の波形を示す波形図である。

【図13】従来の光ディスク装置、実施の形態１の光ディスク装置、および、実施の形態２のＫ値の調整値のばらつきの一例を示すグラフである。

【発明を実施するための形態】

【0028】

＜課題の詳細＞
課題の詳細について、図１および図２を基に説明する。

【0029】

上述した光ディスクにおけるＫ値の調整方法には、例えば、対物レンズの位置をずらしてＴＥ信号を測定することにより、Ｋ値を検索する方法がある。ここで、ＴＥ信号は、光ディスクＯＤのトラックと光の照射位置との位置ずれを示す信号である。対物レンズの位置の調整は、例えば、対物レンズの位置ずれを示すＬＥ信号（レンズエラー信号）を調整して行う。具体的には、ＬＥ信号に対し、対物レンズのシフト量に応じたオフセット値を追加する。なお、一般的に、上述したＫ値の調整方法では、ＴＥ信号の測定は、対物レンズの位置を変えて複数回行う。

【0030】

上述した光ディスク装置では、重心があまり偏っていない光ディスク（以下、適宜「通常ディスク」と称する）の場合は、光ディスクを回転させた際に発生するレンズ振動の大きさが相当小さいため、Ｋ値の調整値はあまりばらつかないと考えられる。

【0031】

しかし、上述した光ディスク装置において、重心が偏った光ディスク（以下、適宜「偏重心ディスク」と称する）の場合、レンズ振動が比較的大きくなる傾向がある。レンズ振動が大きくなると、上述したＫ値の調整値のバラつきが大きくなると言う問題がある。

【0032】

ここで、図１は、通常ディスクを用いた場合のメインプッシュプル信号ＭＰＰ、サブプッシュプル信号ＳＰＰおよび信号ＴｒＤｒｖの波形を示す波形図である。図２は、偏重心ディスクを用いた場合のメインプッシュプル信号ＭＰＰ、サブプッシュプル信号ＳＰＰおよび信号ＴｒＤｒｖの波形を示す波形図である。図１および図２において、（１）は、ＬＥ信号に対し、対物レンズが内周側に移動するように＋オフセット値を追加してＴＥを測定した期間である。（２）は、ＬＥ信号に対し、対物レンズが外周側に移動するように−オフセット値を追加してＴＥ信号を測定した期間である。

【0033】

図１および図２から分かるように、偏重心ディスクは、通常ディスクに比べ、メインプッシュプル信号ＭＰＰおよびサブプッシュプル信号ＳＰＰの振幅の変動が大きい。特に、図中の（１）内周側に示すように、ＬＥ信号に対し内周側へのオフセット値が追加される期間の開始直後には、振幅が大きくなっている。同様に、図中の（２）外周側に示すように、ＬＥ信号に対し外周側へのオフセット値が追加される期間の開始直後には、振幅が大きくなっている。このように、レンズ振動が発生し、信号のレベルが安定しない状態では、Ｋ値の調整値がばらついてしまう場合があるという問題がある。

【0034】

以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、各図は、必ずしも各寸法あるいは各寸法比等を厳密に図示したものではない。

【0035】

また、以下で説明する実施の形態は、いずれも本発明の好ましい一具体例を示すものである。以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置及び接続形態、ステップ、ステップの順序などは、一例であり、本発明を限定する主旨ではない。本発明は、特許請求の範囲によって特定される。よって、以下の実施の形態における構成要素のうち、独立請求項に記載されていない構成要素については、本発明の課題を達成するのに必ずしも必要ではないが、より好ましい形態を構成するものとして説明される。

【0036】

（実施の形態１）
実施の形態１の光ディスク装置およびその駆動方法について、図１〜図８を基に説明する。

【0037】

本実施の形態の光ディスク装置は、Ｋ値の調整において、対物レンズの移動直後ではなく、一定の時間が経過した後、つまり、レンズ振動がある程度低減した後に、ＴＥ信号の測定を行う。

【0038】

＜１−１．光ディスク装置の構成＞
光ディスク装置１００の構成について、図３を基に説明する。図３は、光ディスク装置１００の構成を示すブロック図である。

【0039】

光ディスク装置１００は、図３に示すように、
（１）光ディスクの回転およびその制御を行うスピンドルモータ１０およびスピンドルモータ駆動部１１と、
（２）光ディスクに記憶されたデータの読み出しを行う光ピックアップ２０と、
（３）光ピックアップ２０を構成する光学部材の駆動を制御する光ピックアップ駆動部２６および信号処理部３０と、
（４）光ピックアップ２０の径方向の移動を制御する光ピックアップ移動機構４０および移動機構駆動部４１と、
（５）温度センサ５０と、
（６）光ディスク装置１００を構成する各部を制御する制御部６０とを備えている。

【0040】

（１）スピンドルモータ１０は、ターンテーブルに連結されている。ターンテーブルは、光ディスクＯＤの再生時または記録時において、光ディスクＯＤを載置する部材であり、スピンドルモータ１０の駆動に応じて回転する。光ディスクＯＤの再生時または記録時において、光ディスクＯＤを載置した状態でターンテーブルを回転させることにより、光ディスクＯＤを回転させることができる。

【0041】

スピンドルモータ駆動部１１は、制御部６０からの制御に応じて、スピンドルモータ１０に駆動電流を供給することにより、スピンドルモータ１０を駆動する。

【0042】

（２）光ピックアップ２０は、光ディスクＯＤの情報記憶面ＲＳに光を照射し、反射された光を受光することにより、情報記憶面ＲＳに記録されたデータを読み取る光学部材で構成されている。なお、光ピックアップ２０は、光ディスクＯＤにデータを書き込む機能を備えていてもよい。

【0043】

また、図示しないが、光ピックアップ２０は、光ディスク装置１００内に設けられた２本のガイドシャフトで支持されており、ガイドシャフトを伝って移動可能である。ガイドシャフトは、径方向に向けて配置されており、これにより、光ピックアップ２０は、径方向に移動可能となっている。

【0044】

光ピックアップ２０は、光学部材として、図３に示すように、ＬＤ（半導体レーザ）２１と、ビームスプリッタ２２と、コリメータ２３と、対物レンズ２４と、受光部２５とを備えている。

【0045】

ＬＤ２１は、光源の一例であり、光を出射する部材である。

【0046】

ビームスプリッタ２２は、ＬＤ２１から照射された光を透過させてコリメータ２３に照射する。より詳細には、ビームスプリッタ２２は、ＬＤ２１からの光を分光して、１つのメインビームと２つのサブビームとを生成し、コリメータ２３に入射させる。また、ビームスプリッタ２２は、光ディスクＯＤから反射され、対物レンズ２４およびコリメータ２３を介して入射される光を、受光部２５に入射させる。

【0047】

コリメータ２３は、対物レンズ２４における球面収差を補正するための部材であり、光軸方向に移動可能に構成されている。コリメータ２３は、ビームスプリッタ２２を介して照射されるＬＤ２１からの光を、コリメートする（平行光にする）。コリメータ２３を光軸方向に移動させ、コリメータ２３と対物レンズ２４との距離を調整することで、対物レンズ２４に入射する光の収束および発散の度合い（光の平行度）を調整することができる。これにより、球面収差の影響を抑制可能になる。

【0048】

対物レンズ２４は、コリメータ２３を介して照射されるＬＤ２１からの光を、情報記憶面ＲＳ上の任意の位置に集光して照射する部材であり、径方向および光軸方向に移動可能に構成されている。フォーカスの調整のため、対物レンズ２４の光軸方向の位置が調整される。光ディスクＯＤのトラック（溝）に光を集光させるため、対物レンズ２４の径方向の位置が調整される。なお、本実施の形態では、対物レンズ２４は、径方向の移動について、トラック４つ分の移動が可能である場合を例に説明する。

【0049】

受光部２５は、情報記憶面ＲＳで反射した光を受光して光電変換し、制御部６０に出力する。ここで、図４は、受光部２５および後述する信号処理部３０のＴＥ信号生成部３１の構成を示す図であり、図５は、受光部２５および後述する信号処理部３０のＬＥ信号生成部３２の構成を示す図である。図４および図５に示すように、受光部は、メインビームを受光する４つの受光素子Ａ〜Ｄと、サブビームを受光する４つの受光素子Ｅ〜Ｇとを備えている。

【0050】

（３）光ピックアップ駆動部２６は、光学部材の調整を行うように構成されている。

【0051】

信号処理部３０は、受光部２５から出力される電気信号を用いて、ＲＦ信号、ＦＥ信号、ＴＥ信号およびＬＥ信号等を生成し、制御部６０に出力する。信号処理部３０は、図３に示すようにＴＥ信号を生成するＴＥ信号生成部３１と、ＬＥ信号を生成するＬＥ信号生成部３２とを備えている。

【0052】

ＴＥ信号生成部３１は、図４に示すように、受光素子Ａ〜Ｄからの電気信号を用いて差動プッシュプル信号ＤＰＰ（ＴＥ信号）を生成するように構成されており、加算器ＡＤＤ１〜加算器ＡＤＤ４と、減算器ＳＵＢ１〜３と、Ｋ値調整部Ｋ１とを備えている。

【0053】

差動プッシュプル信号ＤＰＰは、メインプッシュプル信号ＭＰＰからサブプッシュプル信号ＳＰＰをＫ倍した信号を減算して生成する。つまり、差動プッシュプル信号ＤＰＰは、ＭＰＰ−Ｋ×ＳＰＰと表せる。

【0054】

ＴＥ信号生成部３１は、図４に示すように、受光素子Ａ〜Ｄからの電気信号を用いてメインプッシュプル信号ＭＰＰを生成する。メインプッシュプル信号ＭＰＰは、Ａ＋Ｄ−（Ｂ＋Ｃ）と表せる。

【0055】

また、ＴＥ信号生成部３１は、図４に示すように、受光素子Ｅ〜Ｈからの電気信号を用いてサブプッシュプル信号ＳＰＰを生成する。より詳細には、サブプッシュプル信号ＳＰＰは、Ｅ＋Ｇ−（Ｆ＋Ｈ）と表せる。

【0056】

以上より、差動プッシュプル信号ＤＰＰは、ＭＰＰ−Ｋ×ＳＰＰ＝（Ａ＋Ｄ−（Ｂ＋Ｃ））−Ｋ×（Ｅ＋Ｇ−（Ｆ＋Ｈ））と表せる。

【0057】

ＬＥ信号生成部３２は、図５に示すように、受光素子Ａ〜Ｄからの電気信号を用いて、ＬＥ信号を生成するように構成されており、加算器ＡＤＤ５〜加算器ＡＤＤ７と、減算器ＳＵＢ４と、ＰＥＡＫ検波部ＤＥＴ１およびＰＥＡＫ検波部ＤＥＴ２と、オフセット付加部Ｏ１とを備えている。

【0058】

ＬＥ信号は、受光素子Ａからの電気信号と受光素子Ｄからの電気信号とを加算した信号のＰＥＡＫを検波した信号から、受光素子Ｂからの電気信号と受光素子Ｃからの電気信号とを加算した信号のＰＥＡＫを検波した信号を、減算器ＳＵＢ４により減算して生成される。さらに、Ｋ値の調整の際には、減算器ＳＵＢ４から出力される信号に対し、図３に示す対物レンズ２４の径方向のシフト量に応じたオフセット値が、加算器ＡＤＤ７により加算される。オフセット値は、オフセット付加部Ｏ１により生成される。

【0059】

（４）光ピックアップ移動機構４０は、例えば、ガイドシャフトに平行に設けられたリードスクリュー（送りネジ、図示せず）と、リードスクリューの凹凸部分に噛み合い、リードスクリューの回転に伴って移動するティース部材で構成されている。ティース部材は、光ピックアップ２０に設けられており、ティース部材が移動することにより、光ピックアップ２０がガイドシャフトに沿って移動する。

【0060】

移動機構駆動部４１は、制御部６０からの信号に応じて、光ピックアップ移動機構４０を構成するリードスクリューの回転を制御する。

【0061】

（５）温度センサ５０は、本実施の形態では、サーミスタである。温度センサ５０は、常時温度を計測し、制御部６０に温度情報を出力する。

【0062】

（６）制御部６０は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）等を用いて構成され、後述する記憶部６４に記憶された制御プログラムを実行することにより、光ディスク装置１００を構成する各部を制御する。

【0063】

制御部６０は、図３に示すように、再生処理部６１と、記録処理部６２と、駆動制御部６３と、記憶部６４とを備えている。

【0064】

再生処理部６１は、信号処理部３０から出力されたＲＦ信号をデコードし、外部に出力する。出力先の機器としては、例えば、液晶ディスプレイあるいはＴＶ等の映像を再生する機能を有する機器、スピーカ等の音声を出力する機能を備える機器、あるいは、ＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ ｃｏｍｐｕｔｅｒ）等が考えられる。

【0065】

記録処理部６２は、外部から入力されたデータを符号化し、光ピックアップ２０に出力して、光ディスクＯＤに当該データの書き込みを行わせる。

【0066】

駆動制御部６３は、信号処理部３０から出力されるＲＦ信号、ＦＥ信号、ＴＲ信号およびＬＥ信号、および、温度センサ５０から出力される温度情報に基づいて、スピンドルモータ駆動部１１、光ピックアップ駆動部２６および移動機構駆動部４１等を制御する。

【0067】

記憶部６４は、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）およびＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）を備えている。ＲＡＭには、制御部６０における各種制御に必要なパラメータ等が一時的に記憶される。ＲＯＭには、上述した制御プログラムが記憶されている。

【0068】

＜１−２．光ディスク装置の駆動方法＞
本実施の形態における光ディスク装置１００の駆動方法について、図６および図８を基に説明する。図６は、本実施の形態の光ディスク装置１００におけるＫ値の調整の処理手順を示すフローチャートである。図８は、本実施の形態のレンズ中点サーボ信号、ＴＥ信号の測定信号、ＭＰＰ、ＳＰＰの波形を示す波形図である。なお、図８では、サーボが可能な範囲において、重心の偏りが相当大きい場合を示している。

【0069】

光ディスク装置１００の制御部６０は、時刻ｔ０において、レンズ中点サーボ処理（中点サーボ処理）を開始する（Ｓ１０１）。ここで、レンズ中点サーボ処理とは、図３に示す光ピックアップ２０を構成する対物レンズ２４の径方向の位置を、ＬＥ信号を用いて中点位置に保持する処理である。図７は、レンズ中点サーボ信号（図７のＬＥ）と、対物レンズ２４のシフト量との関係を示すグラフである。図７では、±１００μｍ分の関係を示している。また、Ｋ値の調整時は、光ディスクＯＤを通常の２倍速で回転させている。

【0070】

制御部６０は、対物レンズ２４を複数回移動させてＴＥ信号を測定する。具体的には、制御部６０は、対物レンズ２４を内周側の１点に移動させてＴＥ信号の測定を行う第一測定処理（Ｓ１０２）と、外周側の１点に移動させてＴＥ信号の測定を行う第二測定処理（Ｓ１０３）とを実行する。

【0071】

第一測定処理（Ｓ１０２）では、ＬＥ信号生成部３２は、時刻ｔ１において、対物レンズを内周側にシフトさせる＋オフセット値をＬＥ信号に加算する（Ｓ１１１、オフセット処理）。具体的には、時刻ｔ１になると、制御部６０が、レンズシフト量（例えば、１００μｍ）に対応したデジタル値を所定のレジスタに書き込み、ＬＥ信号生成部３２のオフセット付加部Ｏ１が、前記デジタル値に応じた電圧を生成する。加算器ＡＤＤ７は、オフセット付加部Ｏ１により生成された＋オフセット値に対応する電圧をＬＥ信号に加算する。ＬＥ信号にオフセット値が加算されたことにより、光ピックアップ駆動部２６は、対物レンズ２４を内周側に移動させる。

【0072】

制御部６０は、ＬＥ信号への＋オフセット値の追加後、＋オフセット値に応じて設定された第一時間（第一固定時間の一例）が経過するのを待つ安定待ち処理を行う（Ｓ１１２）。第一時間は、光ディスク装置１００に固有の時間である。ここで、本実施の形態では、対物レンズ２４の中点位置からのシフト量が１００ｕｍに、第一時間が５ｍｓｅｃに設定されている。対物レンズ２４の中点位置からのシフト量が１００ｕｍの場合、第一時間は、例えば、５ｍｓｅｃ〜２０ｍｓｅｃの範囲としてもよい。なお、対物レンズ２４のシフト量が異なる場合には、当該対物レンズ２４のシフト量に応じて、第一時間を適切な時間に設定する。

【0073】

制御部６０は、第一時間の経過後（時刻ｔ２）、ＴＥ信号の測定を行う（Ｓ１１３、測定処理）。制御部６０は、信号処理部３０のＴＥ信号生成部３１からＴＥ信号を取得する。

【0074】

第二測定処理（Ｓ１０３）では、ＬＥ信号生成部３２は、時刻ｔ４において、対物レンズを外周側にシフトさせる−オフセット値をＬＥ信号に加算する（Ｓ１２１、オフセット処理）。具体的には、時刻ｔ４になると、制御部６０が、レンズシフト量（例えば、１００μｍ）に対応したデジタル値を所定のレジスタに書き込み、ＬＥ信号生成部３２のオフセット付加部Ｏ１が、前記デジタル値に応じた電圧を生成する。加算器ＡＤＤ７は、オフセット付加部Ｏ１により生成された−オフセット値に対応する電圧をＬＥ信号に加算する。ＬＥ信号にオフセット値が加算されたことにより、光ピックアップ駆動部２６は、対物レンズ２４を外周側に移動させる。

【0075】

制御部６０は、ＬＥ信号への−オフセット値の追加後、−オフセット値に応じて設定された第二時間（第一固定時間の一例）が経過するのを待つ安定待ち処理を行う（Ｓ１２２）。第二時間は、第一時間と同様に、光ディスク装置１００に固有の時間である。ここで、本実施の形態では、第二時間は、第一時間と同じ値に設定されている。このときの対物レンズ２４の中点位置からのシフト量は、第一測定処理と同様に、１００ｕｍに設定されている。なお、対物レンズ２４のシフト量が異なる場合には、当該対物レンズ２４のシフト量に応じて、第二時間を適切な時間に設定する。

【0076】

制御部６０は、第二時間の経過後（時刻ｔ５）、ＴＥ信号の測定を行う（Ｓ１２３、測定処理）。制御部６０は、信号処理部３０のＴＥ信号生成部３１からＴＥ信号を取得する。

【0077】

第二測定処理（Ｓ１０３）の実行後、制御部６０は、オフセット付加部Ｏ１にＬＥ信号のオフセット値を元に戻させる（Ｓ１０４）。

【0078】

制御部６０は、レンズ中点サーボ処理を終了する（Ｓ１０５）。

【0079】

制御部６０は、第一測定処理（Ｓ１０２）で測定したＴＥ信号および第二測定処理（Ｓ１０３）で測定したＴＥ信号を用いて、Ｋ値の調整を行う（Ｓ１０６、Ｋ値調整処理）。

【0080】

＜１−３．効果等＞
本実施の形態の光ディスク装置１００は、Ｋ値の調整において、レンズ振動がある程度低減した後に、ＴＥ信号の測定を行うので、Ｋ値の調整値がばらつくのを低減できる。例えば、図８から分かるように、測定信号の振幅は、対物レンズ２４をシフトさせた後（レンズ中点サーボ信号が変位した後）大きくなり、次第に振れ幅が低減する。このため、測定信号の振幅のふれ幅がある程度低減した後に、ＴＥ信号の測定を行うことで、Ｋ値の調整値がばらつくのを低減することが可能になる。

【0081】

以下、従来の光ディスク装置との差異を図９および図１０を用いて説明する。

【0082】

図９は、従来の光ディスク装置におけるＫ値の調整方法の処理手順を、図１０は、図９に示すＫ値の調整方法における各波形を示す図である。

【0083】

図９に示すように、従来の光ディスク装置では、まず、対物レンズの光軸方向への移動を抑制するレンズダンピング制御を開始する（Ｓ０１）。

【0084】

従来の光ディスク装置は、ＬＥ信号に−オフセット値を追加し（Ｓ０２）、追加した後すぐに、ＴＥ信号の測定を行う（Ｓ０３）。

【0085】

引き続き、従来の光ディスク装置は、ＬＥ信号のオフセット値を中点位置に戻して（Ｓ０４）、対物レンズの径方向の中点位置でＴＥ信号を測定する（Ｓ０５）。従来の光ディスク装置は、ＬＥ信号に−オフセット値を追加し（Ｓ０６）、追加した後すぐに、ＴＥ信号の測定を行う（Ｓ０３）。

【0086】

従来の光ディスク装置は、ステップＳ０３、Ｓ０５、Ｓ０７において取得したＴＥ信号を用いて、Ｋ値の調整を行う（Ｓ０８）。

【0087】

従来の光ディスク装置におけるＫ値の調整方法では、図１０の点線で囲んだ部分に示すように、ＬＥ信号（レンズ中点サーボ信号）の振れ幅が多きい間に、ＴＥ信号の測定が行われることになる。このため、Ｋ値の調整値がばらつきやすい。

【0088】

これに対し、本実施の形態の光ディスク装置１００では、図８から分かるように、ＬＥ信号（レンズ中点サーボ信号）の振れ幅がある程度減少してから、ＴＥ信号を測定する。このため、Ｋ値の調整値のばらつきを抑えることが可能になる。

【0089】

（実施の形態２）
実施の形態２の光ディスク装置およびその駆動方法について、図１１〜図１３を基に説明する。

【0090】

実施の形態１では、第一固定時間が経過した後にＴＥ信号の測定を行ったが、本実施の形態では、ＬＥ信号の振幅を測定してＴＥ信号の測定のタイミングを決定する。

【0091】

なお、本実施の形態の光ディスク装置の構成は、図３に示す光ディスク装置１００の構成と同じである。

【0092】

＜２−１．光ディスク装置の駆動方法＞
本実施の形態における光ディスク装置１００の駆動方法について、図１１および図１２を基に説明する。図１１は、本実施の形態の光ディスク装置１００におけるＫ値の調整の処理手順を示すフローチャートである。図１２は、本実施の形態のレンズ中点サーボ信号およびＴＥ信号の測定信号の波形を示す波形図である。なお、図１２では、サーボが可能な範囲において、重心の偏りが相当大きい場合を示している。

【0093】

光ディスク装置１００の制御部６０は、まず、レンズ中点サーボ処理を開始する（Ｓ２０１）。なお、実施の形態１で説明したように、Ｋ値の調整時は、光ディスクＯＤを通常の２倍速で回転させている。

【0094】

制御部６０は、本実施の形態では、次に、ＬＥ信号の基準レベルの測定を行う（Ｓ２０２）。さらに、制御部６０は、基準レベルから、レンズ振動が低減したか否かを判定するための基準範囲を設定する（基準範囲設定処理）。

【0095】

ここで、基準レベルの測定は、レンズ中点サーボ処理の開始から、第二固定時間、例えば、１０ｍｓｅｃが経過した後に行う。これは、基準レベルから、上述したレンズ振動が低減したか否かを判定するための基準範囲を設定するため、基準レベルの測定時には、ある程度、レンズ振動が低減していることが望ましいためである。基準範囲は、Ｋ値の調整値のばらつきが抑えられる範囲を考慮して設定することができ、第二固定時間の長さ等を考慮して設定する。基準範囲は、本実施の形態では、基準レベル以下とする。

【0096】

制御部６０は、ＬＥ信号の基準レベルの測定後、対物レンズ２４を複数回移動させてＴＥ信号を測定する。具体的には、制御部６０は、対物レンズ２４を内周側の１点に移動させてＴＥ信号の測定を行う第一測定処理（Ｓ２０３）と、外周側の１点に移動させてＴＥ信号の測定を行う第二測定処理（２０４）とを実行する。

【0097】

第一測定処理（Ｓ２０３）では、ＬＥ信号生成部３２は、時刻ｔ１において、対物レンズを内周側にシフトさせる＋オフセット値をＬＥ信号に加算する（Ｓ２１１、オフセット処理）。具体的には、時刻ｔ１になると、制御部６０が、レンズシフト量（例えば、１００μｍ）に対応したデジタル値を所定のレジスタに書き込み、ＬＥ信号生成部３２のオフセット付加部Ｏ１が、前記デジタル値に応じた電圧を生成する。加算器ＡＤＤ７は、オフセット付加部Ｏ１により生成された＋オフセット値に対応する電圧をＬＥ信号に加算する。ＬＥ信号にオフセット値が加算されたことにより、光ピックアップ駆動部２６は、対物レンズ２４を内周側に移動させる。

【0098】

制御部６０は、ＬＥ信号の振幅を測定し（Ｓ２１２）、ＬＥ信号の振幅が基準範囲内であるか否かを判定する（Ｓ２１３、安定待ち処理）。制御部６０は、ＬＥ信号の振幅が基準範囲外であると判定した場合（Ｓ２１３の「ＮＯ」）、ステップＳ２１２に移行する。

【0099】

制御部６０は、ＬＥ信号の振幅が基準範囲内であると判定した場合（Ｓ２１３の「ＹＥＳ」）、ＴＥ信号の測定を行う（Ｓ２１４、測定処理）。制御部６０は、信号処理部３０のＴＥ信号生成部３１からＴＥ信号を取得する。

【0100】

第二測定処理（Ｓ２０４）では、ＬＥ信号生成部３２は、時刻ｔ３において、対物レンズを外周側にシフトさせる−オフセット値をＬＥ信号に加算する（Ｓ２２１、オフセット処理）。具体的には、時刻ｔ３になると、制御部６０が、レンズシフト量（例えば、１００μｍ）に対応したデジタル値を所定のレジスタに書き込み、ＬＥ信号生成部３２のオフセット付加部Ｏ１が、前記デジタル値に応じた電圧を生成する。加算器ＡＤＤ７は、オフセット付加部Ｏ１により生成された＋オフセット値に対応する電圧をＬＥ信号に加算する。ＬＥ信号にオフセット値が加算されたことにより、光ピックアップ駆動部２６は、対物レンズ２４を外周側に移動させる。

【0101】

制御部６０は、ＬＥ信号の振幅を測定し（Ｓ２２２）、ＬＥ信号の振幅が基準範囲内であるか否かを判定する（Ｓ２２３、安定待ち処理）。制御部６０は、ＬＥ信号の振幅が基準範囲外であると判定した場合（Ｓ２２３の「ＮＯ」）、ステップＳ２２２に移行する。

【0102】

制御部６０は、ＬＥ信号の振幅が基準範囲内であると判定した場合（Ｓ２２３の「ＹＥＳ」）、ＴＥ信号の測定を行う（Ｓ２２４、測定処理）。制御部６０は、信号処理部３０のＴＥ信号生成部３１からＴＥ信号を取得する。

【0103】

第二測定処理（Ｓ２０４）の実行後、制御部６０は、オフセット付加部Ｏ１にＬＥ信号のオフセット値を元に戻させる（Ｓ２０５）。

【0104】

制御部６０は、レンズ中点サーボ処理を終了する（Ｓ２０６）。

【0105】

制御部６０は、第一測定処理（Ｓ２０３）で測定したＴＥ信号および第二測定処理（Ｓ２０４）で測定したＴＥ信号を用いて、Ｋ値の調整を行う（Ｓ２０７、Ｋ値調整処理）。

【0106】

なお、上述したＫ値の調整方法では、ステップＳ２１３およびＳ２２３に示すように、ＬＥ信号の振幅が基準範囲内となるまで、ＴＥ信号の測定を待機させるが、光ディスク装置１００の応答性等を考慮し、第三固定時間（例えば、３０ｍｓｅｃ）が経過した後は、ＬＥ信号の振幅が基準範囲外であっても、ＴＥ信号の測定を行う（タイムアウトする）ように構成してもよい。

【0107】

＜２−２．効果等＞
本実施の形態の光ディスク装置１００は、Ｋ値の調整において、ＬＥ信号の振幅が基準範囲内となってから、つまり、レンズ振動がある範囲内に低減した後に、ＴＥ信号を測定するので、Ｋ値の調整値のばらつきをより確実に低減可能になる。また、本実施の形態の光ディスク装置１００は、ＬＥ信号の実際の測定により、ＴＥ信号の測定のタイミングを決定するので、予め光ディスク装置の特性を知る必要がない。

【0108】

図１３は、従来の光ディスク装置、実施の形態１の光ディスク装置１００、および、本実施の形態（実施の形態２）の光ディスク装置１００におけるＫ値の調整値のばらつきの一例を示すグラフである。図１３において、四角の各点は、従来の光ディスク装置におけるＫ値を示している。菱形の各点は、実施の形態１の光ディスク装置１００におけるＫ値を示している。三角形の各点は、本実施の形態の光ディスク装置１００におけるＫ値を示している。

【0109】

図１３から分かるように、実施の形態１および実施の形態２の何れの場合も、従来の光ディスク装置に比べ、Ｋ値のばらつきが低減していることが分かる。

【0110】

（実施の形態３）
実施の形態３の光ディスク装置およびその駆動方法について説明する。

【0111】

実施の形態２では、ＬＥ信号の振幅が基準範囲内であるか否かに応じてＴＥ信号の測定のタイミングを決定したが、本実施の形態の光ディスク装置１００では、調整精度に応じて、基準範囲を設定する場合について説明する。

【0112】

なお、本実施の形態の光ディスク装置の構成は、図３に示す光ディスク装置１００の構成と同じである。

【0113】

＜３−１．光ディスク装置の駆動方法＞
本実施の形態における光ディスク装置１００の駆動方法について、図１１を参照して説明する。

【0114】

光ディスク装置１００の制御部６０は、レンズ中点サーボ処理を開始し（Ｓ２０１）、一定期間経過後に、ＬＥ信号の基準レベルの測定および基準範囲の設定を行う（Ｓ２０２）。

【0115】

ここで、本実施の形態では、光ディスク装置１００に求められる光ディスクＯＤの再生および記録における精度に応じて、基準範囲を適宜設定する。

【0116】

具体的には、例えば、基準範囲は、高い精度が要求される場合（高精度）は、基準レベル以下、あるいは、基準レベル±１０％の範囲とする。また、例えば、基準範囲は、一般的な精度が求められる場合（中精度）は、基準レベル±２０％の範囲とする。さらに、例えば、基準範囲は、精度があまり要求されない場合（低精度）は、基準レベル±３０％の範囲とする。

【0117】

制御部６０は、ＬＥ信号の基準レベルの測定後、対物レンズ２４を複数回移動させてＴＥ信号を測定する。具体的には、制御部６０は、対物レンズ２４を内周側の１点に移動させてＴＥ信号の測定を行う第一測定処理（Ｓ２０３）と、外周側の１点に移動させてＴＥ信号の測定を行う第二測定処理（２０４）とを実行する。

【0118】

第一測定処理（Ｓ２０３）および第二測定処理（Ｓ２０４）の処理手順は、実施の形態２と同じである。

【0119】

第二測定処理（Ｓ２０４）の実行後、制御部６０は、オフセット付加部Ｏ１にＬＥ信号のオフセット値を元に戻させる（Ｓ２０５）。

【0120】

制御部６０は、レンズ中点サーボ処理を終了する（Ｓ２０６）。

【0121】

制御部６０は、第一測定処理（Ｓ２０３）で測定したＴＥ信号および第二測定処理（Ｓ２０４）で測定したＴＥ信号を用いて、Ｋ値の調整を行う（Ｓ２０７、Ｋ値調整処理）。

【0122】

なお、本実施の形態においても、ステップＳ２１３およびＳ２２３において、タイムアウトするように構成してもよい。

【0123】

＜３−２．効果等＞
本実施の形態の光ディスク装置１００は、精度に応じて基準範囲を設定するので、光ディスク装置の用途に応じた設定が可能になる。なお、光ディスク装置毎に異なる基準範囲としても良いし、１台の光ディスク装置において複数種類のメディアを再生可能な場合には、メディア毎に基準範囲を変更する等しても良い。

【0124】

また、本実施の形態の光ディスク装置１００は、Ｋ値の調整において、ＬＥ信号の振幅が基準範囲内となってから、つまり、レンズ振動がある範囲内に低減した後に、ＴＥ信号を測定するので、Ｋ値の調整値のばらつきをより確実に低減可能になる。また、本実施の形態の光ディスク装置１００は、実施の形態２と同様に、ＬＥ信号の実際の測定により、ＴＥ信号の測定のタイミングを決定するので、予め光ディスク装置の特性を知る必要がない。

【0125】

（他の実施の形態）
以上、本発明の実施の形態に係る光ディスク装置について説明したが、本発明は、この実施の形態に限定されるものではない。

【0126】

また、上記の各装置（例えば、制御部６０）は、具体的には、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスクドライブ、ディスプレイユニット、キーボード、マウスなどから構成されるコンピュータシステムとして構成されても良い。ＲＡＭまたはハードディスクドライブには、コンピュータプログラムが記憶されている。マイクロプロセッサが、コンピュータプログラムに従って動作することにより、各装置は、その機能を達成する。ここでコンピュータプログラムは、所定の機能を達成するために、コンピュータに対する指令を示す命令コードが複数個組み合わされて構成されたものである。

【0127】

さらに、上記の各装置を構成する構成要素の一部（例えば、制御部６０の一部または全部）は、１個のシステムＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ Ｓｃａｌｅ Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ：大規模集積回路）から構成されているとしても良い。システムＬＳＩは、複数の構成部を１個のチップ上に集積して製造された超多機能ＬＳＩであり、具体的には、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭなどを含んで構成されるコンピュータシステムである。ＲＡＭには、コンピュータプログラムが記憶されている。マイクロプロセッサが、コンピュータプログラムに従って動作することにより、システムＬＳＩは、その機能を達成する。

【0128】

さらにまた、上記の各装置を構成する構成要素の一部（例えば、制御部６０の一部または全部）は、各装置に脱着可能なＩＣカードまたは単体のモジュールから構成されているとしても良い。ＩＣカードまたはモジュールは、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭなどから構成されるコンピュータシステムである。ＩＣカードまたはモジュールは、上記の超多機能ＬＳＩを含むとしても良い。マイクロプロセッサが、コンピュータプログラムに従って動作することにより、ＩＣカードまたはモジュールは、その機能を達成する。このＩＣカードまたはこのモジュールは、耐タンパ性を有するとしても良い。

【0129】

また、本発明は、上記に示す方法であるとしても良い。また、本発明は、これらの方法をコンピュータにより実現するコンピュータプログラムであるとしても良いし、上記コンピュータプログラムからなるデジタル信号であるとしても良い。

【0130】

さらに、本発明は、上記コンピュータプログラムまたは上記デジタル信号をコンピュータ読み取り可能な非一時的な記録媒体、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ（登録商標） Ｄｉｓｃ）、半導体メモリなどに記録したものとしても良い。また、これらの非一時的な記録媒体に記録されている上記デジタル信号であるとしても良い。

【0131】

また、本発明は、上記コンピュータプログラムまたは上記デジタル信号を、電気通信回線、無線または有線通信回線、インターネットを代表とするネットワーク、データ放送等を経由して伝送するものとしても良い。

【0132】

また、本発明は、マイクロプロセッサとメモリを備えたコンピュータシステムであって、上記メモリは、上記コンピュータプログラムを記憶しており、上記マイクロプロセッサは、上記コンピュータプログラムに従って動作するとしても良い。

【0133】

また、上記プログラムまたは上記デジタル信号を上記非一時的な記録媒体に記録して移送することにより、または上記プログラムまたは上記デジタル信号を上記ネットワーク等を経由して移送することにより、独立した他のコンピュータシステムにより実施するとしても良い。

【0134】

さらに、上記実施の形態及び上記変形例をそれぞれ組み合わせるとしても良い。

【産業上の利用可能性】

【0135】

本発明は、ＤＶＤあるいはＢＤ等の光ディスク装置に有用である。

【符号の説明】

【0136】

１００ 光ディスク装置
１０ スピンドルモータ
１１ スピンドルモータ駆動部
２０ 光ピックアップ
２１ ＬＤ
２２ ビームスプリッタ
２３ コリメータ
２４ 対物レンズ
２５ 受光部
２６ 光ピックアップ駆動部
３０ 信号処理部
３１ ＴＥ信号生成部
３２ ＬＥ信号生成部
４０ 光ピックアップ移動機構
４１ 移動機構駆動部
５０ 温度センサ
６０ 制御部
６１ 再生処理部
６２ 記録処理部
６３ 駆動制御部
６４ 記憶部
ＯＤ 光ディスク
ＲＳ 情報記憶面
Ａ〜Ｈ 受光素子
ＡＤＤ１〜ＡＤＤ７ 加算器
ＳＵＢ１〜ＳＵＢ４ 減算器
Ｏ１ オフセット付加部
ＤＥＴ１、ＤＥＴ２ ＰＥＡＫ検波部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】