(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
【発明を実施するための形態】
【0017】
以下、本発明の実施の形態(以下実施形態という)について、図面に基づいて説明する。
【0018】
図1は実施形態である有機EL表示装置の表示パネル2の模式的な平面図である。本実施形態の表示パネル2はカラー画像を表示し、カラー画像における画素は例えば、R、G、Bに対応する光を出射するサブピクセルで構成される。以下の説明では、記載を簡潔にするためにRGBサブピクセルをRGB画素と表す。
【0019】
本実施形態ではR画素4r、G画素4g、B画素4bが表示領域にストライプ配列される例を説明する。当該配列では、画像の垂直方向に同じ種類(色)の画素が並び、水平方向にRGBが周期的に並ぶ。なお、
図1においてR画素4r、G画素4g、B画素4bはそれぞれ有効な発光領域を模式的に示しており、それらの間の領域はバンクに対応している。
【0020】
図2は
図1に示すII−II線に沿った位置での表示パネル2の模式的な垂直断面図である。表示パネル2は、TFT基板10と対向基板12とを、充填材14を間に挟んで貼り合わせた構造を有する。
【0021】
TFT基板10はガラス基板20上に回路部22、絶縁膜24、OLED部26及び封止膜28などを積層される。
【0022】
回路部22は映像信号に応じた電流をOLED部26に供給して発光させる電子回路であり、配線やTFTなどの回路素子からなり、ガラス基板20の表面に形成される。例えば、表示領域には電源線や画素回路などが形成される。また、表示領域の外側には表示領域の駆動回路が形成されたり、外部回路につながるフレキシブル基板等が接続されたりする。
【0023】
絶縁膜24は回路部22を覆ってガラス基板20表面に積層されれ、画素ごとに設けられる画素回路の相互間や、下部電極30と回路部22との間などを電気的に絶縁する。絶縁膜24は例えば酸化シリコン(SiO
2)や窒化シリコン(SiN)等で形成される。
【0024】
OLED部26は下部電極30、有機層32(有機材料層)、上部電極34及びバンク36を含んで構成される。
【0025】
下部電極30及び上部電極34とこれらの間に挟持される有機層32とはOLEDを構成する。上部電極34は基本的に表示領域の全画素の有機層32に共通に接触する共通電極である。一方、下部電極30は画素ごとに分離して形成され、コンタクトホール38を介して回路部22と電気的に接続される。本実施形態では上部電極34がOLEDの陰極をなし、下部電極30が陽極をなす。上部電極34及び下部電極30は例えば、IZO(Indium Zinc Oxide)やITO(Indium Tin Oxide)等の透明導電材を用いて形成される。有機層32は後述する発光層を備え、発光層は両電極に印加される電圧に応じて正孔及び電子を注入され、それらの再結合により発光する。
【0026】
バンク36はRGB各画素の境界に絶縁層で形成され、下部電極30間を電気的に分離する。
【0027】
封止膜28はOLED部12の上に積層される。OLEDの特性が水分によって劣化することに対応して、封止膜28は充填材14に含まれる水分からOLEDを保護する防湿機能を有する。例えば、封止膜28はSiNからなる。
【0028】
対向基板12は透明なガラス基板からなる。TFT基板10と対向基板12とは間隙を設けて対向配置される。当該間隙には表示領域を囲んでダム材(シール材)(不図示)が配され、表示領域における当該間隙を密閉する。ダム材の内側の間隙には充填材14(フィル材)が充填される。ダム材及び充填材14は硬化して両基板を接着する。
【0029】
図3は表示パネル2におけるOLEDの構造を示す模式図であり、
図2のIII−III線に沿った垂直断面を表している。
図3ではG画素での垂直断面を示しているが、後述するように有機層32には表示領域の全画素に亘って連続した共通の膜が成膜され、よって、OLEDを形成するために積層される膜の種類、順序はRGB画素で共通である。
【0030】
有機層32を構成する各層は下部電極30の上に順番に積層される。本実施形態では、有機層32は発光層(Emissive Layer:EML)50と正孔注入層(Hole Injection Layer:HIL)52及び電子輸送層(Electron Transport Layer:ETL)54とを備え、下部電極30側から順に、正孔注入層52、発光層50、電子輸送層54が積層され、電子輸送層54の上に上部電極34が積層される。さらに発光層50はRGB各画素の発光色ごとに設けられた複数の色別発光層の積層体であり、例えば、下から順にR色を発光するR発光層(R−EML)50r、G色を発光するG発光層(G−EML)50g、B色を発光するB発光層(B−EML)50bが積層される。各色別発光層はホスト材料と、その中に分散されたドーパント材料とからなる。
【0031】
既に述べたように、色別発光層であるR発光層50r、G発光層50g、B発光層50bはそれぞれRGB画素で共通の材料で成膜される。但し、成膜後の処理により、各画素において当該画素に対応する発光色より波長が長い発光色の色別発光層は、そのホスト材料が変質して発光機能を喪失している。具体的には、G画素にてR発光層50rが発光機能を失い、またB画素にてR発光層50r及びG発光層50gが発光機能を失っている。
【0032】
発光層にて、キャリアである電子や正孔はホスト材料の分子により輸送され再結合する。電子と正孔との再結合によりホスト材料の分子は励起状態となり、そのエネルギーがドーパント分子に移動し、ドーパント分子が発光する。G画素及びB画素におけるホスト材料を変質させた色別発光層は、このような発光メカニズムが阻害され発光しない、または発光しにくくなっている。但し、ホスト材料を変質させた色別発光層はキャリアを通過させる機能は有している。
【0033】
発光層50は電流を流されると、励起エネルギーレベルが低いドーパント分子から優先的に発光する。すなわち、発光層50を構成する複数の色別発光層のうち発光色の波長が長いものが優先的に発光する。そのため、R画素の発光層50ではR発光層50r、G発光層50g、B発光層50bのいずれも発光機能を有しているが、R発光層50rの発光が支配的となり、R画素からはR発光が得られる。一方、G画素の発光層50ではR発光層50rが発光機能を失っているので、発光機能を有するG発光層50g、B発光層50bのうちG発光層50gの発光が支配的となり、G画素からはG発光が得られる。また、B画素の発光層50ではR発光層50r及びG発光層50gが発光機能を失っているので、B発光層50bが発光し、B画素からはB発光が得られる。
【0034】
ここで、発光層は素子動作の安定性を確保する観点から非晶質の薄膜に形成される。これは、発光層を結晶性の薄膜とすると不均一で疎な膜質となりやすく、例えば、短絡する確率が高くなるからである。そこで、上述の発光層のホスト材料の変質は温度上昇により生じさせることができる。発光層をそのガラス転移温度より高い温度に加熱するとホスト材料の結晶化が可能となり、上記変質を起こさせることができる。
【0035】
本実施形態では、R発光層50r、G発光層50g、B発光層50bそれぞれのホスト材料は、発光色の波長が短い色別発光層ほど高いガラス転移温度を有するように選択されている。すなわち、R発光層50r、G発光層50g、B発光層50bのホスト材料のガラス転移温度T
gをそれぞれT
g−R,T
g−G,T
g−Bと表すと、
T
g−R<T
g−G<T
g−B …(1)
である。
【0036】
発光層50の加熱は、レーザーアニールにより局所的に行うことができる。つまり、レーザービームを用いることによって画素ごとにアニール処理を行うことができる。また、表示領域をレーザビームでスキャンすることで、表示領域全体に亘るアニール処理を行うことができる。
【0037】
本実施形態では、G画素とB画素とに対してレーザーアニールを行う。その際、レーザーの出力エネルギーを調節するなどの方法により、G画素に対するアニール温度T
Aは次式を満たすように制御する。
T
g−R<T
A<T
g−G …(2)
【0038】
また、B画素に対するアニール温度T
Aは次式を満たすように制御する。
T
g−G<T
A<T
g−B …(3)
【0039】
これにより、G画素では発光層50を構成する3つの色別発光層のうちR発光層50rの発光機能のみが失われG発光層50gの発光機能は維持され、B画素ではR発光層50r及びG発光層50gの発光機能が失われB発光層50bの発光機能は維持される。また、レーザーアニールされないR画素ではいずれの色別発光層も変質せず、R発光層50rの発光機能が維持される。
図4〜
図6はこれを模式的に示すOLEDの垂直断面図であり、
図4はR画素のOLED、
図5はG画素のOLED、
図6はB画素のOLEDを表しており、レーザーアニールにより発光機能を喪失した色別発光層を斜線ハッチで示し、電流供給により発光する色別発光層を網掛けで示している。
【0040】
なお、各色別発光層のドーパント材料が加熱されることで変質し、それによっても当該色別発光層は発光機能を失い得る。ここで、R発光層50r、G発光層50g、B発光層50bそれぞれのドーパント材料の変質温度をT
d−R,T
d−G,T
d−Bと表す。このドーパント材料による発光機能の喪失を考慮すると、各色別発光層のホスト材料及びドーパント材料は、(1)式に代えて次式を満たすように選択される。
min{T
g−R,T
d−R}<min{T
g−G,T
d−G}<min{T
g−B,T
d−B} …(4)
【0041】
また、G画素、B画素に対するアニール温度T
Aはそれぞれ(2)式、(3)式に代えて、下記(5)式、(6)式を満たすように制御される。
min{T
g−R,T
d−R}<T
A<min{T
g−G,T
d−G} …(5)
min{T
g−G,T
d−G}<T
A<min{T
g−B,T
d−B} …(6)
【0042】
上述のように色別発光層の構成とレーザーアニールとにより、高精細にRGB画素を作成することが可能となる。また、上述のOLEDの形成の方法は、RGB画素別に発光層を塗り分けるための高精細なマスクを用いる必要がないので、従来技術で述べた塗り分け法での異物や傷といったプロセス起因の不良要因を排除することが可能であり、有機EL表示パネルを高歩留で低コストにて製造できる。
【0043】
レーザーアニール処理はOLED部26の形成後に行うことができる。当該アニール処理の時点で既に形成されているOLEDの積層構造を維持するために、OLEDを構成する層がアニール処理で融解しないように各層の材料を選択することが好適である。
【0044】
以下、本実施形態の有機層32を構成する各層について説明する。
【0045】
R発光層50rは例えば、ホスト材料としてTPD(N, N'-Bis(3-methylphenyl)-N,N'-bis(phenyl)-benzidine)を用い、ドーパント材料としてDCM((E)-2-(2-(4-(dimethylamino)styryl)-6-methyl-4H-pyran-4-ylidene)malononitrile)を用いて形成される。例えば、膜厚は20nmとし、ドーパント濃度は3%とすることができる。
【0046】
G発光層50gは例えば、ホスト材料としてADN(9,10-Di(naphth-2-yl)anthracene)、ドーパント材料としてCoumarin6(3-(2-Benzothiazolyl)-7-(diethylamino)coumarin)を用いて形成される。例えば、膜厚は20nmとし、ドーパント濃度は5%とすることができる。
【0047】
B発光層50bは例えば、ホスト材料としてTSBF(2,7-Bis(9,9-spirobifluoren-2-yl)-9,9-spirobifluorene)を用い、ドーパント材料として、Peryleneを用いて形成される。例えば、膜厚は20nmとし、ドーパント濃度は5%とすることができる。
【0048】
ちなみに、これら色別発光層のホスト材料のガラス転移温度はTPD、ADN、TSBFの順に高くなり、上記(1)式のT
g−R<T
g−G<T
g−Bなる関係を満たしている。なお、これら色別発光層の材料は一例であり、ホスト材料及びドーパント材料は(1)式又は(4)式を満たす他の材料とすることができる。また、ドーパント材料は蛍光材料に限られず、燐光材料であってもよい。上述した成膜膜厚及びドーパント濃度も一例であり、適宜変更することができる。
【0049】
正孔注入層52は例えば、PEDOT:PSS(Poly(3,4-ethylenedioxythiophene)-poly(styrenesulfonate))を用いて、膜厚を60nmに形成することができる。なお、正孔注入層52はその他の有機材料で形成することもでき、例えばCuPc(Copper phthalocyanine)やHAT−CN6(hexaazatirphenylene hexacarbonitrile)などを用いて形成することができる。
【0050】
電子輸送層54は、Alq3(Tris(8-quinolinolato)aluminum)とリチウム(Li)とを共蒸着した膜からなり、Liの濃度は1wt%とし、膜厚は30nmとしている。
【0051】
上述の構造を有する表示パネル2は、OLED等を形成したTFT基板10に対向基板12を貼り合わせて製造される。TFT基板10は例えば、以下のような工程を経て製造される。ガラス基板20の一方主面に回路部22がフォトリソグラフィ技術を用いて形成され、その上にSiO
2やSiN等からなる絶縁膜24がCVD(Chemical Vapor Deposition)法などにより堆積される。絶縁膜24にコンタクトホール38を形成した後、絶縁膜24の上に導電膜を成膜し、これをフォトリソグラフィ技術によりパターニングして下部電極30を形成する。下部電極30はコンタクトホール38に充填され、回路部22を構成するTFTに電気的に接続される。例えば、下部電極30はITOからなり、Ar+O
2混合ガスを用いた反応性スパッタ法により成膜することができる。なお、表示パネル2をトップエミッション方式とする場合には下部電極30は光反射率が高い材料で形成された反射層上に透明導電膜を積層した2層構造とすることができる。例えば、反射層はアルミニウム(Al)や銀(Ag)等で形成することができる。
【0052】
下部電極30の形成後、その上に例えば、感光性のアクリル樹脂を塗布しフォトリソグラフィによってパターニングして画素境界にバンク36を形成する。バンク36で囲まれた画素の有効領域には下部電極30が露出する。
【0053】
正孔注入層52は例えば、インクジェット方式の塗布方法にて、下部電極30上に選択的に積層される。
【0054】
続いて、R発光層50r、G発光層50g、B発光層50b、電子輸送層54が順番に、それぞれ表示領域に対応した開口を有するシャドウマスクを用いたマスク蒸着法により成膜される。その際、各色別発光層はホスト材料とドーパント材料とを共蒸着される。なお、当該蒸着による成膜処理は例えば、モリブデン(Mo)製の蒸着ボートを用いて、気圧が1.0×10
−4Pa以下となる蒸着チャンバーにて行うことができる。
【0055】
ここまでで有機層32が積層され、その上に上部電極34として例えば、IZOがAr+O
2混合ガスを用いた反応性スパッタ法により成膜される。その膜厚は例えば100nmとすることができる。そして、CVD法によって封止膜28としてSiNを成膜する。このSiN成膜時には、SiH
4、NH
3、N
2を混合ガスとし、プラズマを発生させてSiN成膜する。例えば、SiN膜厚は500μmとすることができる。また、当該成膜処理において基板温度は極力上げないことが好適であり、例えば50℃以下で当該成膜処理を行う。
【0056】
このようにしてTFT基板10が製造され、次にTFT基板10と対向基板12とが貼り合わされる。例えば、TFT基板10側に表示領域を囲んでダム材が配され、その内側に充填材14がディスペンサーを用いて滴下され、しかる後、TFT基板10と対向基板12とが貼り合わされる。充填材14は例えばエポキシ系樹脂やアクリル系樹脂からなり、熱等で硬化し、TFT基板10と対向基板12とを接着する。
【0057】
上記のように作製したパネルをぺネットにてガラス切断し、アニール前の表示パネル2が完成される。
【0058】
この表示パネル2に対してレーザーアニール処理が行われる。例えば、上述の材料からなる発光層50を備えた本実施形態の表示パネル2では、(2)式及び(5)式を満たすアニール温度T
Aとして100℃、(3)式及び(6)式を満たすアニール温度T
Aとして150℃をそれぞれ選択することができる。そこで、G画素の発光領域に対しては、T
Aが100℃となるように調整したエキシマレーザーを、そしてB画素の発光領域に対してはT
Aが150℃となるように調整したエキシマレーザーを例えばそれぞれ1分間照射する。ここで温度調整は、レーザー出力の調整やレーザーパルスのデューティの調整により行うことができる。
【0059】
このレーザー照射前後での色度変化を下記表に示す。
【表1】
【0060】
この表はRGB各画素についてレーザー照射前における発光色のxy色度図上での座標(x,y)と、レーザー照射後における発光色のxy色度図上での座標(x,y)とを示している。RGB画素のいずれもレーザー照射前では座標値(0.58,0.39)で表される橙色寄りの赤色の発光が得られる。一方、レーザー照射後ではG画素は座標値(0.33,0.57)で表される黄色寄りの緑色で発光し、B画素は座標値(0.14,0.18)で表される青色(藍色)で発光した。なお、R画素はG画素、B画素のレーザーアニール処理後においても当該処理前と色で発光した。このように、レーザーアニール処理を施すことによって、発光層50における発光色の変化を起こすことができ、RGB画素の互いに異なる色の発光を用いてカラー表示を行う表示パネル2が得られる。
【0061】
本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能である。
【0062】
例えば、有機層32は、正孔注入層52と発光層50との間に正孔輸送層を備えたり、電子輸送層54と上部電極34(陰極)との間に電子注入層を備えたりしてもよい。また、キャリアブロック層などがあっても構わない。また、電子輸送層54と陰極との間には、LiのほかLiq((8-hydroxyquinolinolato)-lithium)、LiO
2やLiFを用いた層を形成したり、電子輸送材料とのLiq混合成膜を形成したりしてもかまわない。
【0063】
また、有機層32の各層は上述したもの以外の手法を用いて形成することができ、例えば、スピンコート法やインクジェット方式の塗布方法、有機蒸着、スパッタリング、CVD(Chemical Vapor Deposition)法などによる成膜方法を適宜選択することができる。
【0064】
レーザーアニールは、エキシマレーザー以外のレーザー、例えば、YAGレーザーなどを用いてもかまわない。
【0065】
本発明はトップエミッション方式の表示パネル2だけでなくボトムエミッション方式の表示パネルにも適用することができる。いずれの方式においても、OLEDの陽極、陰極のうち表示画面とは反対側に位置する電極は、透明導電材を用いずに、AlやMg−Agなどの材料で形成することができる。
【0066】
なお、上記実施形態ではTFT基板10と対向基板12とを貼り合わせた後、レーザー照射を行ったが、貼り合わせの前に行うこともできる。特に、発光層50の積層の途中段階にてレーザー照射によるアニール処理を行うこともできる。具体的には、下部電極30の上に発光層50としてR発光層50rを積層した段階で、G画素及びB画素の両方にレーザー照射を行ってT
g−R又はmin{T
g−R,T
d−R}より高温にアニールし、その後、G発光層50gを積層し、B画素だけにレーザー照射を行ってT
g−G又はmin{T
g−G,T
d−G}より高温にアニールし、しかる後、上述したB発光層50bを積層することで、RGB画素ごとに異なる色で発光する発光層50を完成することができる。この場合、各色別発光層のガラス転移温度の大小関係は基本的には任意となり、それに伴い各色別発光層の積層順序の自由度が増す。また、T
g−R又はmin{T
g−R,T
d−R}よりT
g−G又はmin{T
g−G,T
d−G}が高温である場合には、R発光層50rを積層した段階ではG画素だけレーザー照射を行い、B画素へのレーザー照射を省略し、G発光層50gを積層した段階でB画素にレーザー照射を行ってT
g−G又はmin{T
g−G,T
d−G}より高温にアニールすることで、G発光層50gと共にR発光層50rの発光機能を喪失させることができる。
【0067】
上述の実施形態では、色別発光層を表示領域の全画素について共通に成膜することで高精細なシャドウマスクを不要とすることができた。一方、画素ごとに色別発光層を積層した発光層50を形成する構造において、上述のレーザアニールで画素ごとに特定の色別発光層の発光機能を喪失させて発光色の異なる複数種類の画素を形成することもできる。