特許 6209119 探傷方法及び探傷システム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6209119

(24)【登録日】2017年9月15日

(45)【発行日】2017年10月4日

(54)【発明の名称】探傷方法及び探傷システム

(51)【国際特許分類】

   G01N 27/83 20060101AFI20170925BHJP

   G01N 27/90 20060101ALI20170925BHJP

【ＦＩ】

   G01N27/83

   G01N27/90

【請求項の数】5

【全頁数】15

(21)【出願番号】特願2014-72787(P2014-72787)

(22)【出願日】2014年3月31日

(65)【公開番号】特開2015-194420(P2015-194420A)

(43)【公開日】2015年11月5日

【審査請求日】2016年7月27日

(73)【特許権者】

【識別番号】507250427

【氏名又は名称】日立ＧＥニュークリア・エナジー株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110001829

【氏名又は名称】特許業務法人開知国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】西水 亮

(72)【発明者】

【氏名】成重 将史

【審査官】 田中 秀直

(56)【参考文献】

【文献】 特開２００９−０１９９０９（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開昭５７−１４４４５６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１３−１７０９１０（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平１１−２３７３６８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平０６−２９４７７６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００５−１５６１８４（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許出願公開第２０１２／０３０６４８３（ＵＳ，Ａ１）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｎ ２７／７２−２７／９２

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

対の磁極が検査対象物の表面に沿って離間配置される磁化器、並びに前記磁化器の磁極間に前記検査対象物の表面に沿って配置される励磁コイル、第１検出コイル、及び第２検出コイルを備え、前記励磁コイルと前記第１検出コイルの並び方向に対して前記励磁コイルと前記第２検出コイルの並び方向が交差する、探傷プローブを用いる探傷方法であって、
前記磁化器で前記検査対象物に磁場を印加し、且つ、前記励磁コイルで前記検査対象物に交流磁場を印加しない第１探傷モードを実施し、
前記磁化器で前記検査対象物に磁場を印加せず、且つ、前記励磁コイルで前記検査対象物に交流磁場を印加する第２探傷モードを実施し、
前記磁化器で前記検査対象物に磁場を印加し、且つ、前記励磁コイルで前記検査対象物に交流磁場を印加する第３探傷モードを実施し、
前記第１探傷モードにおける前記第１検出コイル又は前記第２検出コイルの検出信号の有無を判定する第１判定を行い、
前記第２探傷モードにおける前記第１検出コイルの検出信号の位相と前記第２検出コイルの検出信号の位相との差分が予め設定された閾値以上であるか否かを判定する第２判定を行い、
前記第３探傷モードにおける前記第１検出コイル及び前記第２検出コイルのうちの一方の検出コイルの検出信号の振幅が前記第２探傷モードにおける前記一方の検出コイルの検出信号の振幅以上であるか否かを判定する第３判定を行い、
前記第１判定の結果、前記第２判定の結果、及び前記第３判定の結果に基づき、きずの有無や方向を評価することを特徴とする探傷方法。

【請求項2】

請求項１記載の探傷方法において、
前記第１探傷モードにおける前記第１検出コイル又は前記第２検出コイルの検出信号が有ると判定し、且つ、前記第２探傷モードにおける前記第１検出コイルの検出信号の位相と前記第２検出コイルの検出信号の位相との差分が前記閾値未満であると判定した場合に、前記検出信号の要因がリフトオフであると評価し、
前記第１探傷モードにおける前記第１検出コイル又は前記第２検出コイルの検出信号が有ると判定し、且つ、前記第２探傷モードにおける前記第１検出コイルの検出信号の位相と前記第２検出コイルの検出信号の位相との差分が前記閾値以上であると判定した場合に、前記検出信号の要因が前記磁化器の磁場方向と交差する方向のきずであると評価し、
前記第１探傷モードにおける前記第１検出コイル又は前記第２検出コイルの検出信号が無いと判定し、且つ、前記第３探傷モードにおける前記一方の検出コイルの検出信号の振幅が前記第２探傷モードにおける前記一方の検出コイルの検出信号の振幅未満であると判定した場合に、前記検出信号の要因が前記検査対象物の磁気特性分布による磁気ノイズであると評価し、
前記第１探傷モードにおける前記第１検出コイル又は前記第２検出コイルの検出信号が無いと判定し、且つ、前記第３探傷モードにおける前記一方の検出コイルの検出信号の振幅が前記第２探傷モードにおける前記一方の検出コイルの検出信号の振幅以上であると判定した場合に、前記検出信号の要因が前記磁化器の磁場方向とほぼ平行な方向のきずであると評価することを特徴とする探傷方法。

【請求項3】

対の磁極が検査対象物の表面に沿って離間配置される磁化器、並びに前記磁化器の磁極間に前記検査対象物の表面に沿って配置される励磁コイル、第１検出コイル、及び第２検出コイルを備え、前記励磁コイルと前記第１検出コイルの並び方向に対して前記励磁コイルと前記第２検出コイルの並び方向が交差する、探傷プローブと、
前記磁化器で前記検査対象物に磁場を印加し且つ前記励磁コイルで前記検査対象物に交流磁場を印加しない第１探傷モード、前記磁化器で前記検査対象物に磁場を印加せず且つ前記励磁コイルで前記検査対象物に交流磁場を印加する第２探傷モード、前記磁化器で前記検査対象物に磁場を印加し且つ前記励磁コイルで前記検査対象物に交流磁場を印加する第３探傷モードを実施する制御部と、
前記第１探傷モードにおける前記第１検出コイル又は前記第２検出コイルの検出結果、前記第２探傷モードにおける前記第１検出コイル及び前記第２検出コイルの検出結果、並びに前記第３探傷モードにおける前記第１検出コイル及び前記第２検出コイルのうちの少なくとも一方の検出結果を表示する表示部とを備えたことを特徴とする探傷システム。

【請求項4】

請求項３記載の探傷システムにおいて、
前記第１探傷モードにおける前記第１検出コイル又は前記第２検出コイルの検出信号の有無を判定する第１判定、前記第２探傷モードにおける前記第１検出コイルの検出信号の位相と前記第２検出コイルの検出信号の位相との差分が予め設定された閾値以上であるか否かを判定する第２判定、並びに前記第３探傷モードにおける前記第１検出コイル及び前記第２検出コイルのうちの一方の検出コイルの検出信号の振幅が前記第２探傷モードにおける前記一方の検出コイルの検出信号の振幅以上であるか否かを判定する第３判定を行い、前記第１判定の結果、前記第２判定の結果、及び前記第３判定の結果に基づき、きずの有無や方向を評価する判定・評価部をさらに備え、
前記表示部は、前記判定・評価部の評価結果を表示することを特徴とする探傷システム。

【請求項5】

請求項３記載の探傷システムにおいて、
前記探傷プローブは、
前記検査対象物の表面に沿うような形状を有し、前記磁化器の磁極に着脱可能な磁性部材と、
前記励磁コイル、前記第１検出コイル、及び前記第２検出コイルで構成されたセンサ部を前記検査対象物に押し当てる支持機構とを備えたことを特徴とする探傷システム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、磁性体を検査対象とする探傷方法及び探傷システムに関する。

【背景技術】

【0002】

電磁非破壊探傷法は、検査対象物に磁場を印加して、その応答を磁場検出素子等で捉えるものであり、金属材の検査に利用されている。

【0003】

検査対象物が磁性体である場合は、一般的に、電磁非破壊探傷法の一つである漏洩磁束探傷法を利用する（例えば特許文献１参照）。漏洩磁束探傷法では、検査対象物に磁場を印加し、検査対象物のきずによって空間に漏洩した磁束を磁場検出素子で検出する。詳しく説明すると、電磁石又は永久磁石からなる磁化器を用いて、検査対象物に磁場を印加する。直流磁場であれば、磁場検出素子としてホール素子等を用い、交流磁場であれば、磁場検出素子としてコイル又はホール素子等を用いる。検査対象物にきずが存在する場合は、磁場の流れが妨げられ、その一部が空間に漏洩して、磁場検出素子で検出される。そして、健全部で得られる磁場検出素子の出力と比較することにより、きずの存在を確認することが可能である。

【0004】

また、他の電磁非破壊探傷法として渦電流探傷法がある（例えば特許文献２参照）。相互誘導形標準比較方式の渦電流探傷法では、励磁コイルを用いて検査対象物に交流磁場を印加して、検査対象物に渦電流を発生させ、その渦電流の変化を検出コイルの検出信号として得る。そして、健全部で得られる検出コイルの検出信号と比較することにより、きずの存在を確認することが可能である。

【0005】

検出信号の表示形態の一つとして、検出信号の振幅及び位相を表すリサージュ波形が知られている。詳細には、検出信号を基準信号の位相と同じ成分（Ｘ成分）Ｖｘと９０度異なる成分（Ｙ成分）Ｖｙに分解した後、それらＸ成分ＶｘとＹ成分Ｖｙを縦軸及び横軸にプロットすることで、検出信号の振幅｜Ｖ｜及び位相θを表現する（下記の式（１）及び式（２）参照）。
｜Ｖ｜＝（Ｖｘ^２＋Ｖｙ^２）^１／２ ・・・（１）
θ＝ｔａｎ^−１（Ｖｙ／Ｖｘ） ・・・（２）

【0006】

励磁コイル及び検出コイルと検査対象物との間の距離の変化（リフトオフ）が生じても、検出信号が発生する。そこで、特許文献２では、励磁コイルに対して一方側に配置された検出コイルの検出信号の位相と、励磁コイルに対して他方側に配置された検出コイルの検出信号の位相の位相が、同相であれば（言い換えれば、位相の差分が閾値未満であれば）、検出信号の要因がリフトオフであると評価している。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0007】

【特許文献1】特許第４７４２７５７号公報

【特許文献2】特許第４９０２４４８号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0008】

検査対象物が磁性体であって、漏洩磁束探傷法又は渦電流探傷法のいずれかを採用した場合には、一長一短がある。漏洩磁束探傷法では、検査対象物に磁気特性分布のバラツキ（磁気ノイズ）があっても、信号が発生しない。しかし、磁化器及び磁場検出素子と検査対象物との間の距離の変化（リフトオフ）が生じると、信号が発生する。そのため、きずによる信号とリフトオフによる信号との識別が困難である。

【0009】

一方、渦電流探傷法では、特許文献２に記載のように２つの検出コイルの信号の位相を比較し、同相であれば、リフトオフによる信号であると識別することが可能である。しかし、きずによる信号の位相が異相であり、磁気ノイズによる信号の位相も異相であって類似することから、それらの識別が困難である。

【0010】

本発明の目的は、検査対象物が磁性体である場合に、きずをその他の要因と識別でき、きずの有無及び方向を評価できる探傷方法及び探傷システムを提供することにある。

【課題を解決するための手段】

【0011】

上記目的を達成するために、本発明は、対の磁極が検査対象物の表面に沿って離間配置される磁化器、並びに前記磁化器の磁極間に前記検査対象物の表面に沿って配置される励磁コイル、第１検出コイル、及び第２検出コイルを備え、前記励磁コイルと前記第１検出コイルの並び方向に対して前記励磁コイルと前記第２検出コイルの並び方向が交差する、探傷プローブを用いる探傷方法であって、前記磁化器で前記検査対象物に磁場を印加し、且つ、前記励磁コイルで前記検査対象物に交流磁場を印加しない第１探傷モードを実施し、前記磁化器で前記検査対象物に磁場を印加せず、且つ、前記励磁コイルで前記検査対象物に交流磁場を印加する第２探傷モードを実施し、前記磁化器で前記検査対象物に磁場を印加し、且つ、前記励磁コイルで前記検査対象物に交流磁場を印加する第３探傷モードを実施し、前記第１探傷モードにおける前記第１検出コイル又は前記第２検出コイルの検出信号の有無を判定する第１判定を行い、前記第２探傷モードにおける前記第１検出コイルの検出信号の位相と前記第２検出コイルの検出信号の位相との差分が予め設定された閾値以上であるか否かを判定する第２判定を行い、前記第３探傷モードにおける前記第１検出コイル及び前記第２検出コイルのうちの一方の検出コイルの検出信号の振幅が前記第２探傷モードにおける前記一方の検出コイルの検出信号の振幅以上であるか否かを判定する第３判定を行い、前記第１判定の結果、前記第２判定の結果、及び前記第３判定の結果に基づき、きずの有無や方向を評価する。

【0012】

また、上記目的を達成するために、本発明は、対の磁極が検査対象物の表面に沿って離間配置される磁化器、並びに前記磁化器の磁極間に前記検査対象物の表面に沿って配置される励磁コイル、第１検出コイル、及び第２検出コイルを備え、前記励磁コイルと前記第１検出コイルの並び方向に対して前記励磁コイルと前記第２検出コイルの並び方向が交差する、探傷プローブと、前記磁化器で前記検査対象物に磁場を印加し且つ前記励磁コイルで前記検査対象物に交流磁場を印加しない第１探傷モード、前記磁化器で前記検査対象物に磁場を印加せず且つ前記励磁コイルで前記検査対象物に交流磁場を印加する第２探傷モード、前記磁化器で前記検査対象物に磁場を印加し且つ前記励磁コイルで前記検査対象物に交流磁場を印加する第３探傷モードを実施する制御部と、前記第１探傷モードにおける前記第１検出コイル又は前記第２検出コイルの検出結果、前記第２探傷モードにおける前記第１検出コイル及び前記第２検出コイルの検出結果、並びに前記第３探傷モードにおける前記第１検出コイル及び前記第２検出コイルのうちの少なくとも一方の検出結果を表示する表示部とを備える。

【発明の効果】

【0014】

本発明によれば、検査対象物が磁性体である場合に、きずをその他の要因と識別でき、きずの有無及び方向を評価できる。

【図面の簡単な説明】

【0015】

【図1】本発明の第１の実施形態における探傷システムの構成を表すブロック図である。

【図2】本発明の第１の実施形態における探傷プローブの概略構造を表す側面図、及び探傷プローブのセンサ部の概略構造を表す平面図である。

【図3】本発明の第１の実施形態における探傷方法の手順を表すフローチャートである。

【図4】本発明の第１の実施形態における評価パターンを表す図である。

【図5】本発明の第１の実施形態における第１探傷モードを説明するための平面図及びリサージュ図であり、検査対象物にきずＡがある場合を示す。

【図6】本発明の第１の実施形態における第１探傷モードを説明するための側面図であり、検査対象物にきずＡがある場合を示す。

【図7】本発明の第１の実施形態における第１探傷モードを説明するための平面図及びリサージュ図であり、検査対象物にきずＢがある場合を示す。

【図8】本発明の第１の実施形態における第１探傷モードを説明するための側面図であり、リフトオフが生じる場合を示す。

【図9】本発明の第１の実施形態における第２探傷モードを説明するための平面図及びリサージュ図であり、検査対象物にきずＢがある場合を示す。

【図10】本発明の第１の実施形態における第２探傷モードを説明するためのリサージュ図であり、リフトオフが生じる場合を示す。

【図11】本発明の第１の実施形態における第２探傷モードを説明するためのリサージュ図であり、磁気ノイズがある場合を示す。

【図12】本発明の第１の実施形態における第３探傷モードを説明するための図であり、磁界強度と検査対象物の内部の磁束密度の関係を表す。

【図13】本発明の第１の実施形態における第３探傷モードを説明するための側面図であり、磁気ノイズがある場合を示す。

【図14】本発明の第２の実施形態における探傷システムの構成を表すブロック図である。

【図15】本発明の第１の変形例における探傷プローブの概略構造を表す側面図である。

【図16】図１５中断面矢視XVI−XVIによる断面図である。

【図17】本発明の第２の変形例における探傷プローブの概略構造を表す側面図、及び探傷プローブのセンサ部の概略構造を表す平面配置図である。

【発明を実施するための形態】

【0016】

本発明の第１の実施形態を、図面を参照しつつ説明する。

【0017】

図１は、本実施形態における探傷システムの構成を表すブロック図である。図２（ａ）は、本実施形態における探傷プローブの概略構造を表す側面図であり、図２（ｂ）は、本実施形態における探傷プローブのセンサ部の概略構造を表す平面配置図である。

【0018】

本実施形態の探傷システムは、探傷プローブ１と、探傷プローブ１に接続された制御装置１０と、制御装置１０に接続された入力部２０（詳細には、例えばキーボードやマウス等）と、制御装置１０に接続された表示部２１とを備えている。

【0019】

探傷プローブ１は、磁化器２を備えている。この磁化器２は、いわゆる電磁石であって、馬蹄形状（言い換えれば、コの字形状）の磁性材３と、この磁性材３に巻き付けられたコイル４とを有している。磁化器２の一端側の磁極５ａ及び他端側の磁極５ｂは、磁性体（例えばクロムモリブデンバナジウム鋼等）である検査対象物６の表面に沿って離間配置されるようになっている。

【0020】

磁化器２の磁極５ａと磁極５ｂの間には、センサ部７が設けられている。このセンサ部７は、励磁コイル８及び検出コイル９ａ，９ｂを備えている。励磁コイル８及び検出コイル９ａ，９ｂは、検査対象物６の表面に沿って配置されるようになっている。また、励磁コイル８と検出コイル９ａの並び方向Ｌａに対して、励磁コイル８と検出コイル９ｂの並び方向Ｌｂが所定の角度（本実施形態では９０度程度）で交差している。また、励磁コイル８と検出コイル９ａの間隔と、励磁コイル８と検出コイル９ｂの間隔が等しくなっている。また、励磁コイル８及び検出コイル９ａ，９ｂの軸方向（図２（ａ）中上下方向）が検査対象物６の表面に対してほぼ垂直となっている。

【0021】

なお、本実施形態では、磁化器２の磁極５ａ，５ｂの離間方向（言い換えれば、磁化器２の磁場方向）に対し、励磁コイル８と検出コイル９ａの並び方向Ｌａが同じとなるように配置しているが、これに限られない。すなわち、磁化器２の磁極５ａ，５ｂの離間方向に対し、励磁コイル８と検出コイル９ａの並び方向Ｌａ及び励磁コイル８と検出コイル９ｂの並び方向が異なるように配置してもよい。

【0022】

制御装置１０は、機能的構成として、探傷モード制御部１１、磁化器制御部１２、励磁コイル制御部１３、検出信号処理部１４、バッファメモリ１５、データ記憶部１６，１７，１８、及び表示制御部１９を備えている。

【0023】

探傷モード制御部１１は、第１探傷モード、第２探傷モード、及び第３探傷モードのうちのいずれかを選択して、その指示信号を磁化器制御部１２、励磁コイル制御部１３、及びバッファメモリ１５等に出力するようになっている。探傷モード制御部１１からの第１探傷モードの指示信号に応じて、磁化器制御部１２が磁化器２のコイル４に交流電流を流させ、励磁コイル制御部１３が励磁コイル８に交流電流を流させない。これにより、磁化器２で検査対象物６に交流磁場を印加し、励磁コイル８で検査対象物６に交流磁場を印加しない。すなわち、漏洩磁束探傷法を行うようになっている。

【0024】

探傷モード制御部１１からの第２探傷モードの指示信号に応じて、磁化器制御部１２が磁化器２のコイル４に交流電流を流させず、励磁コイル制御部１３が励磁コイル８に交流電流を流させる。これにより、磁化器２で検査対象物６に交流磁場を印加せず、励磁コイル８で検査対象物６に交流磁場を印加する。すなわち、通常の渦電流探傷法を行うようになっている。

【0025】

探傷モード制御部１１からの第３探傷モードの指示信号に応じて、磁化器制御部１２が磁化器２のコイル４に交流電流を流させ、励磁コイル制御部１３が励磁コイル８に交流電流を流させる。これにより、磁化器２で検査対象物６に交流磁場を印加し、励磁コイル８で検査対象物６に交流磁場を印加する。すなわち、特殊な渦電流探傷法を行うようになっている。

【0026】

検出信号処理部１４は、検出コイル９ａ，９ｂからの検出信号に対し所定の処理を行う。詳細には、例えば、基準信号の位相と同じ成分（Ｘ成分）と９０度異なる成分（Ｙ成分）に分解する。そして、処理後のデータをバッファメモリ１５に一時的に記憶させる。

【0027】

バッファメモリ１５は、探傷モード制御部１１からの第１探傷モードの指示信号に応じて、第１探傷モードのデータ記憶部１６にデータを転送して記憶させる。また、探傷モード制御部１１からの第２探傷モードの指示信号に応じて、第２探傷モードのデータ記憶部１７にデータを転送して記憶させる。また、探傷モード制御部１１からの第３探傷モードの指示信号に応じて、第３探傷モードのデータ記憶部１８にデータを転送して記憶させる。なお、データ記憶部１６，１８に転送するデータは、検出コイル９ａ，９ｂのデータでもよいが、本実施形態では、予め選択された一方の検出コイル（例えば検出コイル９ａ）のみのデータとしている。

【0028】

表示制御部１９は、第１探傷モードのデータ記憶部１６から検出コイル９ａのデータを読込み、例えばＸ成分及びＹ成分を横軸及び縦軸にプロットしてリサージュ波形を作成し、表示部２１に表示させる。また、第２探傷モードのデータ記憶部１７から検出コイル９ａ，９ｂのデータを読込み、例えばＸ成分及びＹ成分を横軸及び縦軸にプロットしてリサージュ波形を作成し、表示部２１に表示させる。また、第３探傷モードのデータ記憶部１８から検出コイル９ａのデータを読込み、例えばＸ成分及びＹ成分を横軸及び縦軸にプロットしてリサージュ波形を作成し、表示部２１に表示させる。なお、好ましくは、検出信号の位相や振幅をそれぞれ演算して（上記の式（１）及び（２）参照）、それらの数値も表示させる。

【0029】

そして、検査者は、表示部２１で表示された第１探傷モードの検出結果、第２探傷モードの検出結果、及び第３探傷モードの検出結果に基づき、きずの有無や方向を評価する。

【0030】

次に、上述したきずの有無や方向を評価する方法を含め、本実施形態における探傷方法を説明する。図３は、本実施形態における探傷方法の手順を表すフローチャートである。図４は、本実施形態における評価パターンを表す図である。

【0031】

ステップ１００にて、制御装置１０は、第１探傷モード（詳細には、磁化器２による磁場の印加）を実施する。これにより、第１探傷モードにおける検出コイル９ａのデータをデータ記憶部１６に記憶し、そのリサージュ波形を表示部２１に表示する。ステップ１１０にて、制御装置１０は、第２探傷モード（詳細には、励磁コイル８による磁場の印加）を実施する。これにより、第２探傷モードにおける検出コイル９ａ，９ｂのデータをデータ記憶部１７に記憶し、そのリサージュ波形を表示部２１に表示する。ステップ１２０にて、制御装置１０は、第３探傷モード（詳細には、磁化器２及び励磁コイル８による磁場の印加）を実施する。これにより、第３探傷モードにおける検出コイル９ａのデータをデータ記憶部１８に記憶し、そのリサージュ波形を表示部２１に表示する。なお、第１探傷モード、第２探傷モード、及び第３探傷モードの実施順は、これに限られない。

【0032】

そして、ステップ１３０にて、検査者は、表示部２１で表示された第１探傷モードのリサージュ波形に基づき、第１探傷モードの検出信号が有るかどうか（詳細には、Ｘ成分又はＹ成分が予め設定された閾値以上であるかどうか）を判定する。例えば第１探傷モードの検出信号が有る場合は、ステップ１３０の判定が満たされ、ステップ１４０に移る。ステップ１４０にて、検査者は、表示部２１で表示された第２探傷モードのリサージュ波形に基づき、第２探傷モードにおける検出コイル９ａの検出信号の位相θａ２と検出コイル９ｂの検出信号の位相θａｂが異相であるかどうか（詳細には、位相θａ２と位相θｂ２との差分が予め設定された閾値以上であるかどうか）を判定する。

【0033】

例えば位相θａ２と位相θｂ２が同相である場合は、ステップ１４０の判定が満たされず、ステップ１５０に進み、検査者は、検出信号の要因がリフトオフであると評価する。一方、例えば位相θａ２と位相θｂ２が位相である場合は、ステップ１６０に進み、検査者は、検出信号の要因がきずＡ（詳細には、磁化器２の磁場方向に対して交差する方向に延在した、きず）であると評価する。

【0034】

また、ステップ１３０にて、例えば第１探傷モードの検出信号が無い場合は、その判定が満たされず、ステップ１７０に移る。ステップ１７０にて、検査者は、表示部２１で表示された第３探傷モードのリサージュ波形及び第２探傷モードのリサージュ波形に基づき、第３探傷モードにおける検出コイル９ａの検出信号の振幅｜Ｖａ３｜が第２探傷モードにおける検出コイル９ａの検出信号の振幅｜Ｖｂ３｜以上であるかどうかを判定する。

【0035】

例えば振幅｜Ｖａ３｜が振幅｜Ｖａ２｜未満である場合は、ステップ１７０の判定が満たされず、ステップ１８０に進み、検査者は、検出信号の要因が磁気ノイズであると評価する。一方、例えば振幅｜Ｖａ３｜が振幅｜Ｖａ２｜以上である場合は、ステップ１７０の判定が満たされ、ステップ１９０に進み、検査者は、検出信号の要因がきずＢ（詳細には、磁化器２の磁場方向に対してほぼ平行方向に延在した、きず）であると評価する。

【0036】

次に、上述した評価パターンについて説明するため、各探傷モードの検出信号を説明する。

【0037】

（１）第１探傷モード（漏洩磁束探傷モード）
例えば図５（ａ）で示すように、検査対象物６にきずＡ（詳細には、磁化器２の磁場方向に対して交差する方向に延在した、きず）が存在する場合は、磁化器２で印加した磁場の流れ（図６中点線参照）が妨げられ、その一部が空間に漏洩して、センサ部７の検出コイル９ａ（又は９ｂ）で検出される。そのため、例えば図５（ｂ）で示すようなリサージュ波形３０が得られる。

【0038】

一方、例えば図７（ａ）で示すように、検査対象物６にきずＢ（詳細には、磁化器２の磁場方向に対してほぼ平行方向に延在した、きず）が存在する場合は、磁化器２で印加した磁場の流れに影響がなく、その一部が空間に漏洩せず、センサ部７の検出コイル９ａ（又は９ｂ）で検出されない。そのため、例えば図７（ｂ）で示すようなリサージュ波形３１が得られる。

【0039】

また、例えば図８に示すように、探傷プローブ１が検査対象物６から離れてしまい、探傷プローブ１と検査対象物６との間の距離が大きくなる場合（リフトオフ）、磁化器２の磁場（図８中点線参照）が、検査対象物６の内部を渡るよりも、磁極５ａ，５ｂ間の空間を渡るほうが多くなり、センサ部７の検出コイル９ａ（又は９ｂ）で検出される。また、例えば検査対象物６に磁気特性分布のバラツキ（磁気ノイズ）がある場合、磁化器２の磁場への作用が小さく、センサ部７の検出コイル９ａ（又は９ｂ）で検出されない。

【0040】

（２）第２探傷モード（通常の渦電流探傷モード）
例えば図９（ａ）で示すように、検査対象物６にきずＢ（人工スリット）が存在する場合は、渦電流の変化が検出コイル９ａ，９ｂで検出される。そのため、例えば図９（ｂ）で示すように、検出コイル９ａの検出信号のリサージュ波形３２ａと、検出コイル９ｂの検出信号のリサージュ波形３２ｂが得られる。それらの位相は、異相となる。

【0041】

また、図示しないが、検査対象物６にきずＡが存在する場合も、渦電流の乱れが検出コイル９ａ，９ｂで検出される。そのため、検出コイル９ａの検出信号のリサージュ波形と、検出コイル９ｂの検出信号のリサージュ波形が得られる。それらの位相は、異相となる。

【0042】

また、リフトオフが生じた場合には、例えば図１０で示すように、検出コイル９ａの検出信号のリサージュ波形３３ａと、検出コイル９ｂの検出信号のリサージュ波形３３ｂが得られる。それらの位相は、同相となる。

【0043】

また、渦電流は、検査対象物６の透磁率や導電率で変化することから、検査対象物に磁気特性分布のバラツキ（磁気ノイズ）があっても変化する。すなわち、検査対象物６に磁気ノイズがある場合も、検出コイル９ａ，９ｂで検出される。そのため、例えば図１１で示すように、検出コイル９ａの検出信号のリサージュ波形３４ａと、検出コイル９ｂの検出信号のリサージュ波形３４ｂが得られる。それらの位相は、異相となる。

【0044】

（３）第３探傷モード（特殊な渦電流探傷モード）
例えば検査対象物６にきずが存在する場合は、きずの周辺領域が磁化されにくい一方で、他の領域が磁化される。ここで、図１２は、磁界強度と検査対象物の内部の磁束密度の関係を表す図であり、図中の特性曲線の傾きが透磁率である。磁性体である検査対象物６は、磁界が作用すると透磁率が低くなる。飽和磁束密度に相当する強い磁界が印加されると、空気の透磁率と等しくなる。そのため、きずの周辺領域と他の領域は、透磁率が変化する。そして、第３探傷モードにおける検出コイル９ａ（又は９ｂ）の検出信号（きず信号）の振幅は、透磁率の変化の影響が重複して、第２探傷モードにおける検出コイル９ａ（又は９ｂ）の検出信号（きず信号）の振幅より大きくなる。

【0045】

一方、例えば図１３で示すように、検査対象物６に磁気ノイズの領域４０が存在する場合は、磁気ノイズの領域４０及びその周辺領域を含む領域４１が磁化される。そのため、きずが存在する場合のような透磁率の変化が生じないし、全体的に透磁率が低くなる。そして、第３探傷モードにおける検出コイル９ａ（又は９ｂ）の検出信号（磁気ノイズ信号）の振幅は、第２探傷モードにおける検出コイル９ａ（又は９ｂ）の検出信号（磁気ノイズ信号）の振幅より小さくなる。

【0046】

以上のように、本実施形態では、上述した原理に基づき、きずをその他の要因と識別し、きずの有無及び方向を評価することができる。

【0047】

本発明の第２の実施形態を、図１４を用いて説明する。図１４は、本実施形態における探傷システムの構成を表すブロック図である。なお、本実施形態において、上記第１の実施形態と同等の部分は同一の符号を付し、適宜、説明を省略する。

【0048】

本実施形態の制御装置１０は、上記第１の実施形態と同様、探傷モード制御部１１、磁化器制御部１２、励磁コイル制御部１３、検出信号処理部１４、バッファメモリ１５、データ記憶部１６，１７，１８、及び表示制御部１９を備えている。さらに、上述した図３のステップ１４０〜１９０の判定・評価を処理する判定・評価部２２を備えている。そして、表示制御部１９は、判定・評価部２２の評価結果も表示部２１に表示させるようになっている。

【0049】

このように構成された本実施形態においても、上記第１の実施形態と同様、きずをその他の要因と識別し、きずの有無及び方向を評価することができる。

【0050】

なお、上記第１及び第２の実施形態において、特に、説明しなかったが、探傷プローブ１は、検査対象物６の表面の形状が異なる場合に対応可能な構成としてもよい。すなわち、例えば図１５及び図１６で示す変形例のように、磁化器２の磁極にボルト等で着脱可能な磁性部材２３ａ．２３ｂを設け、これら磁性部材２３ａ，２３ｂが検査対象物６の表面に沿うような形状を有していてもよい。さらに、センサ部７を検査対象物６に押し当てる支持機構２４を設けてもよい。支持機構２４は、磁化器２の両側（図１６中左右両側）にそれぞれ設けられた当金２５と、センサ部７の両側にそれぞれ設けられた支持部材２６とを有し、当金２５の凸部２７と支持部材２６の長穴２８が係合している。これにより、磁化器２に対してセンサ部７がスライド可能に支持されている。そして、磁化器２とセンサ部７との間に設けられたスプリング２９によって、センサ部７を検査対象物６に押し当てるようになっている。

【0051】

また、上記第１及び第２の実施形態において、探傷プローブ１のセンサ部７は、１組の励磁コイル８及び検出コイル９ａ，９ｂ（すなわち、３つのコイル）を備えた場合を例にとって説明したが、これに限られず、本発明の趣旨及び技術思想を逸脱しない範囲内で変形が可能である。すなわち、例えば図１７で示す変形例のように、センサ部７Ａは、２組以上の励磁コイル８及び検出コイル９ａ，９ｂ（すなわち、６つ以上のコイル）を備えていてもよく、励磁コイル８及び検出コイル９ａ，９ｂの組合せを順次切替えるようにしてもよい。

【0052】

また、上記第１及び第２の実施形態において、探傷プローブ１の磁化器２は、電磁石で構成された場合を例にとって説明したが、これに限られず、本発明の趣旨及び技術思想を逸脱しない範囲内で変形が可能である。すなわち、例えば永久磁石で構成してもよい。そして、例えば、検査対象物６の表面にセンサ部７を配置したまま、検査対象物６の表面と永久磁石の間の距離を変化させる機構を設け、これによって検査対象物に磁場を印加するか否かを切替えるようにしてもよい。

【符号の説明】

【0053】

１ 探傷プローブ
２ 磁化器
５ａ，５ｂ 磁極
６ 検査対象物
７ センサ部
８ 励磁コイル
９ａ，９ｂ 検出コイル
１０ 制御装置
１１ 探傷モード制御部
１２ 磁化器制御部
１３ 励磁コイル制御部
２１ 表示部
２２ 判定・評価部
２３ａ，２３ｂ 磁性部材
２４ 支持機構

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】