(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
前記照射工程は、前記レーザ光の焦点を、前記チップの前記底面の中心よりも前記電極母材の前記側面の近くで、前記中心における前記焦点の位置よりも前記電極母材の前記反対面近くの位置に設定することを特徴とする請求項6記載のスパークプラグの製造方法。
【発明を実施するための形態】
【0016】
以下、本発明の好ましい実施形態について添付図面を参照して説明する。
図1は本発明の第1実施の形態におけるスパークプラグ10の中心軸Oを含む面で切断した断面図である。
図1では、紙面下側をスパークプラグ10の先端側、紙面上側をスパークプラグ10の後端側という。
図1に示すようにスパークプラグ10は、主体金具20、接地電極30、絶縁体40及び中心電極50を備えている。
【0017】
主体金具20は、内燃機関のねじ穴(図示せず)に固定される略円筒状の部材であり、中心軸Oに沿って貫通する貫通孔21が形成されている。主体金具20は導電性を有する金属材料(例えば低炭素鋼等)によって形成されている。主体金具20は、径方向の外側へ鍔状に張り出す座部22と、座部22より先端側の外周面に形成されたねじ部23とを備えている。座部22とねじ部23との間に環状のガスケット24が嵌め込まれている。ガスケット24は、内燃機関のねじ穴にねじ部23が嵌められたときに、主体金具20と内燃機関(エンジンヘッド)との隙間を封止する。
【0018】
接地電極30は、主体金具20の先端に第1端32が接合される金属製(例えばニッケル基合金製)の電極母材31と、第1端32の反対側の電極母材31の第2端33に接合されるチップ34とを備えている。電極母材31は、中心軸Oと交わるように中心軸Oへ向かって屈曲する棒状の部材である。チップ34は、白金、イリジウム、ルテニウム、ロジウム等の貴金属またはこれらを主成分とする合金によって形成される部材であり、レーザ溶接によって中心軸Oと交わる位置に接合されている。
【0019】
絶縁体40は、機械的特性や高温下の絶縁性に優れるアルミナ等により形成された略円筒状の部材であり、中心軸Oに沿って貫通する軸孔41が形成されている。絶縁体40は、主体金具20の貫通孔21に挿入され、外周に主体金具20が固定されている。絶縁体40は、先端および後端が、主体金具20の貫通孔21からそれぞれ露出している。
【0020】
軸孔41は、絶縁体40の先端側に位置する第1孔部42と、第1孔部42の後端に連なり後端側へ向かって拡径する段部43と、段部43の後端側に位置する第2孔部44とを備えている。第2孔部44は、内径が、第1孔部42の内径より大きく設定されている。
【0021】
中心電極50は、有底筒状に形成された電極母材の内部に、電極母材よりも熱伝導性に優れる芯材53を埋設した棒状の電極である。芯材53は銅または銅を主成分とする合金で形成されている。中心電極50は、軸孔41の段部43に配置される頭部51と、中心軸Oに沿って第1孔部42側へ延びる脚部52とを備えている。
【0022】
脚部52は先端が第1孔部42から露出し、チップ54がレーザ溶接によって接合されている。チップ54は、白金、イリジウム、ルテニウム、ロジウム等の貴金属またはこれらを主成分とする合金によって形成される柱状の部材であり、火花ギャップを介して接地電極30のチップ34と対向する。
【0023】
端子金具60は、高圧ケーブル(図示せず)が接続される棒状の部材であり、導電性を有する金属材料(例えば低炭素鋼等)によって形成されている。端子金具60の先端側は絶縁体40の軸孔41内に配置される。
【0024】
抵抗体70は、スパーク時に発生する電波ノイズを抑えるための部材であり、端子金具60と中心電極50との間の第2孔部44内に配置されている。抵抗体70と中心電極50との間、抵抗体70と端子金具60との間に、導電性を有するガラスシール71,72がそれぞれ配置される。ガラスシール71は抵抗体70と中心電極50とにそれぞれ接触し、ガラスシール72は抵抗体70と端子金具60とにそれぞれ接触する。この結果、中心電極50と端子金具60とは、抵抗体70とガラスシール71,72とを介して電気的に接続される。
【0025】
スパークプラグ10は、例えば、以下のような方法によって製造される。まず、絶縁体40の第2孔部44から中心電極50を挿入する。中心電極50は、脚部52の先端にチップ54が溶接されている。中心電極50は段部43に頭部51が支持され、先端部が軸孔41の先端から外部に露出するように配置される。
【0026】
次に、ガラスシール71の原料粉末を第2孔部44から入れて、頭部51の周囲および後端側に充填する。圧縮用棒材(図示せず)を用いて、第2孔部44に充填したガラスシール71の原料粉末を予備圧縮する。成形されたガラスシール71の原料粉末の成形体の上に、抵抗体70の原料粉末を充填する。圧縮用棒材(図示せず)を用いて、第2孔部44に充填した抵抗体70の原料粉末を予備圧縮する。次いで、抵抗体70の原料粉末の上に、ガラスシール72の原料粉末を充填する。圧縮用棒材(図示せず)を用いて、第2孔部44に充填したガラスシール72の原料粉末を予備圧縮する。
【0027】
その後、軸孔41の後端側から端子金具60の先端部61を挿入して、先端部61がガラスシール72の原料粉末に接触するように端子金具60を配置する。次いで、例えば各原料粉末に含まれるガラス成分の軟化点より高い温度まで加熱しつつ、端子金具60の後端側に設けられた張出部62の先端面が絶縁体40の後端面に当接するまで端子金具60を圧入して、先端部61によってガラスシール71、抵抗体70及びガラスシール72の原料粉末に軸方向の荷重を加える。この結果、各原料粉末が圧縮・焼結され、絶縁体40の内部にガラスシール71、抵抗体70及びガラスシール72が形成される。
【0028】
次に、予め接地電極30が接合された主体金具20を絶縁体40の外周に組み付ける。その後、接地電極30の電極母材31にチップ34を溶接し、接地電極30のチップ34が中心電極50のチップ54と軸方向に対向するように電極母材31を屈曲して、スパークプラグ10を得る。
【0029】
図2を参照して接地電極30について説明する。
図2(a)は接地電極30の斜視図であり、
図2(b)は接地電極30の平面図である。
図2(a)に示す矢印Fは、スパークプラグ10(
図1参照)が内燃機関(図示せず)に取り付けられたときの内燃機関の燃焼室に吸入された混合気の気流の向きを示している。
【0030】
図2(a)に示すように、接地電極30は電極母材31とチップ34とを備え、チップ34は、中心電極50(
図1参照)に対向する電極母材31の第2端33(
図1参照)の対向面80に接合されている。電極母材31の第2端33(
図1参照)は、チップ34が接合される対向面80、対向面80の反対側に位置する反対面83、対向面80と反対面83とを母材短辺82を介して連絡する端面84、及び、辺85を介して端面84に連絡する側面86に囲まれる略直方体状の部位である。
【0031】
側面86は、母材長辺81を介して対向面80と反対面83とを連絡する。母材長辺81は母材短辺82よりも寸法が大きく設定されており、母材長辺81の延長線上に電極母材31の第1端32が配置されている。
【0032】
チップ34は、貴金属または貴金属を主成分とする合金で形成された直方体状の部材である。チップ34は、中心電極50(
図1参照)に対向する矩形状の頂面90と、頂面90の反対側に位置する矩形状の底面95(
図3参照)と、頂面90と底面95とを連絡する側面94とを備えている。
図2(b)に示すようにチップ34の頂面90は、2本の長辺91と、長辺91より短く設定された2本の短辺92とに囲まれている。
【0033】
チップ34は、電極母材31の母材短辺82にチップ34の長辺91を沿わせ、電極母材31の母材長辺81にチップ34の短辺92を沿わせて、電極母材31の対向面80に配置されている。そのため、内燃機関(図示せず)の燃焼室内の気流の向き(矢印F方向)に沿って電極母材31の母材短辺82及びチップ34の長辺91が配置されるようにスパークプラグ10(
図1参照)が内燃機関に取り付けられると、電極母材31が燃焼室の気流を妨げるのを防ぎつつ、チップ34と中心電極50との間に生じる火花放電が気流に流されて生じる電極母材31の火花消耗を抑制できる。
【0034】
次に
図3を参照して、チップ34の接合構造について説明する。
図3は
図2の矢印III−III線における接地電極30の断面図である。
図3に示す切断面は、チップ34の頂面90の中心93と底面95の中心96とを通る一平面(母材短辺82と平行な一平面)で電極母材31の側面86を切断した切断面である。
【0035】
電極母材31にチップ34が接合された状態では底面95は溶接部100に溶融しているが、
図3では、溶融前に存在したチップ34の底面95を想像線で図示する。また、図の簡略化のため、電極母材31の第1端32側の図示を省略する。第1端32側の図示の省略および底面95の図示は、後述する
図5(b)、
図6(b)、
図7(b)、
図8(b)において同じである。
【0036】
図3に示すようにチップ34は、底面95側の側面94の一部が電極母材31に埋め込まれている。これによりチップ34は、底面95が、電極母材31の対向面80よりも反対面83側に位置する。チップ34を電極母材31に接合する溶接部100は、チップ34を溶融して接合する接合部101と、電極母材31の反対面83に露出する背面部103と、背面部103と接合部101とを電極母材31の厚さ方向(
図3上下方向)に連絡する連絡部104とを備えている。
【0037】
接合部101はチップ34を接合する部位であり、チップ34及び電極母材が溶融している。接合部101は、チップ34との界面102が、チップ34の頂面90へ向かう凸形状に形成されている。接合部101は、電極母材31の対向面80に露出せずに電極母材31の対向面80よりも反対面83側に位置する。背面部103は、溶接部100の一部が電極母材31の反対面83に露出する部位である。
【0038】
連絡部104は、電極母材31の側面86に露出せずに背面部103と接合部101とを連絡する部位である。本実施の形態では、連絡部104は電極母材31の端面84(
図2(a)参照)にも露出しない。連絡部104は、背面部103から接合部101へ向かうにつれて次第に幅(
図3左右方向寸法)が広がる形をなす。即ち連絡部104は、電極母材31の厚さ方向と直交方向(
図3左右方向)の最大幅W1が、背面部103の幅W2より大きい値に設定される。
【0039】
なお、連絡部104の最大幅W1を示す部位は、チップ34の底面95よりも電極母材31の反対面83側に位置する。また、連絡部104の最大幅W1は、チップ34の頂面90の幅W3より大きい値に設定される。さらに、チップ34の頂面90の幅W3を電極母材31の対向面80の幅W4で除した値(W3/W4)は0.3より大きい値に設定される。
【0040】
チップ34の頂面90の幅W3を電極母材31の対向面80の幅W4で除した値は0.3より大きいので(W3/W4>0.3)、チップ34の頂面90の幅W3を相対的に大きくできる。その結果、チップ34の頂面90で火花放電を生じ易くしつつ、電極母材31で火花放電を生じ難くできる。溶接部100が露出する背面部103は火花放電が生じ難い電極母材31の反対面83に存在するので、接地電極30の耐火花消耗性を確保できる。電極母材31の厚さ方向と直交方向の連絡部104の最大幅W1は背面部103の幅W2より大きいので、溶接部100の接合面積を確保し、チップ34の接合強度を確保できる。よって、チップ34の接合強度と接地電極30の耐火花消耗性とを確保できる。
【0041】
接合部101のチップ34との界面102はチップ34の頂面90へ向かう凸形状なので、チップ34の中心93,96付近の接合部101の体積を確保できる。その結果、チップ34の接合強度を確保できる。一方、接合部101はチップ34の側面94に形成されていないので、チップ34の周辺では底面95から頂面90までの距離を確保できる。その結果、チップ34の耐火花消耗性を確保できるので、チップ34の接合強度と耐火花消耗性とを確保できる。
【0042】
連絡部104は、最大幅W1を示す部位が、チップ34の底面95よりも電極母材31の反対面83側に位置し、連絡部104の最大幅W1はチップ34の頂面90の幅W3より大きい値に設定される。よって、接合部101とチップ34との接合面積を確保しつつ連絡部104と電極母材31との接合面積を確保できる。その結果、チップ34と電極母材31との接合強度を確保できる。
【0043】
チップ34の底面95は電極母材31の対向面80よりも反対面83側に位置し、接合部101は電極母材31の対向面80に露出せずに電極母材31の対向面80よりも反対面83側に位置する。接合部101が電極母材31に埋め込まれるので、接合部101を火花消耗の起点になり難くできる。よって、電極母材31の火花消耗を抑制できる。
【0044】
溶接部100は電極母材31の端面84(
図2(a)参照)に露出しないので、端面84に露出した溶接部100が火花消耗の起点になることを防止できる。よって、電極母材31の端面84の火花消耗を抑制できる。
【0045】
次に
図4を参照して電極母材31とチップ34との接合方法を説明する。
図4は溶接装置110の模式図である。溶接装置110は、レーザ光を出射する照射ヘッド111と、照射ヘッド111が出射したレーザ光を反射して電極母材31に照射する鏡112とを備えている。
図4では、理解を容易にするためにレーザ光はビーム軸113(レーザ光断面の空間的中心を結んだ直線)が図示されている。
【0046】
鏡112は電極母材31の反対面83側に配置されており、ビーム軸113に直交する軸(図示せず)を中心に、揺動可能に構成されている。反射角を変えてレーザ光を走査するためである。照射ヘッド111は、鏡112を揺動してレーザ光を走査する間は焦点距離を変えない(ビーム軸113の長さを一定にする)ので、チップ34の周辺における焦点114は、チップ34の中心付近における焦点114に比べて、反対面83寄りに存在する。
【0047】
電極母材31にチップ34を接合するには、まず、電極母材31の対向面80にチップ34を配置し、チップ34を仮固定する。仮固定は、チップ34の底面95を対向面80に押し付けるように加圧しつつ抵抗溶接を行い、チップ34の底面95側の一部を電極母材31に埋め込む。なお、対向面80に凹み等を設け、その凹み等にチップ34を嵌め込んでも良い。
【0048】
次に、照射ヘッド111からレーザ光を鏡112に向けて出射し、鏡112を揺動して、電極母材31の側面86同士が対向する方向(
図4左右方向)にビーム軸113を交互に動かしながら、電極母材31の反対面83からレーザ光を照射する。走査されたビーム軸113は鏡112の表面で交差する。レーザ光の焦点114は、本実施の形態では、チップ34の中心ではチップ34の底面95に設定し、チップ34の周辺では電極母材31内に設定する。これによりチップ34の長辺91(
図2(b)参照)方向に溶接部100(
図3参照)が形成され、電極母材31にチップ34が接合される。
【0049】
この接地電極30の製造方法によれば、ビーム軸113は電極母材31の反対面83側に配置された鏡112の表面で交差するので、電極母材31の側面86同士が対向する方向の溶接部100の幅を、電極母材31の対向面80側より反対面83側で小さくできる。よって、背面部103の幅W2より連絡部104の最大幅W1が大きい溶接部100を簡易に形成できる。
【0050】
照射ヘッド111は、レーザ光の焦点114を、チップ34の底面95の中心よりも電極母材31の側面86の近くで、チップ34の中心における焦点114の位置よりも電極母材31の反対面83近くの位置に設定している。チップ34の中心に比べてチップ34の周辺を溶融させ難くできるので、チップ34の周辺で、頂面90と底面95との距離を確保できる。その結果、チップ34の耐火花消耗性を確保できるスパークプラグ10を安定して製造できる。
【0051】
なお、レーザ光は連続発振レーザ、パルス発振レーザのいずれも用いることができる。チップ34の短辺92の長さが大きい場合には、焦点114とチップ34との位置関係を維持したまま、電極母材31の母材長辺81に沿って(
図4紙面垂直方向へ)溶接装置110を移動させる。これにより、チップ34の短辺92方向にも溶接部100を安定して形成できる。
【0052】
次に
図5を参照して第2実施の形態について説明する。第1実施の形態ではチップ34の底面95が電極母材31の対向面80に埋め込まれる場合について説明した。これに対し第2実施の形態では、チップ121の底面125が電極母材31の対向面80と同一面上に配置される場合について説明する。なお、第1実施の形態で説明した部分と同一の部分については、同一の符号を付して以下の説明を省略する。
【0053】
図5(a)は第2実施の形態における接地電極120の平面図であり、
図5(b)は
図5(a)の矢印Vb−Vb線における接地電極120の断面図である。
図5(b)に示す切断面は、チップ121の頂面122の中心123と底面125の中心126とを通る一平面(母材短辺82と平行な一平面)で電極母材31の側面86を切断した切断面である。
【0054】
図5(a)及び
図5(b)に示すように、接地電極120は電極母材31の対向面80にチップ121が配置されている。チップ121は円形の頂面122、頂面122の反対側に位置する円形の底面125、及び、円筒状の側面124に囲まれる円板状の部材である。
【0055】
チップ121は、底面125が対向面80と同一面上に配置され、溶接部100によって電極母材31に接合されている。チップ121を接合する接合部101は、チップ121の側面124に露出せずに、界面102が、チップ121の頂面122へ向かう凸形状に形成されている。これにより、第1実施の形態と同様の作用効果を実現できる。
【0056】
次に
図6を参照して第3実施の形態について説明する。第3実施の形態では、四角柱状のチップ131が電極母材31に配置される接地電極130について説明する。なお、第1実施の形態で説明した部分と同一の部分については、同一の符号を付して以下の説明を省略する。
【0057】
図6(a)は第3実施の形態における接地電極130の平面図であり、
図6(b)は
図6(a)の矢印VIb−VIb線における接地電極130の断面図である。
図6(b)に示す切断面は、チップ131の頂面132の中心133と底面134の中心135とを通る一平面(母材短辺82と平行な一平面)で電極母材31の側面86を切断した切断面である。
【0058】
図6(a)及び
図6(b)に示すように、接地電極130は電極母材31の対向面80にチップ131が配置されている。チップ131は四角柱状の部材であり、側面を構成する4面の内の2面が頂面132を構成し、残りの2面が底面134を構成する。チップ131は底面134の全部が電極母材31に埋め込まれている。電極母材31の対向面80に溶接部100が露出せずに、底面134の一部に接合部101が形成される。対向面80に溶接部100が露出しないので、溶接部100が電極母材31の火花消耗の起点になることを防止できる。
【0059】
次に
図7を参照して第4実施の形態について説明する。第3実施の形態では四角柱状のチップ131が電極母材31に配置される接地電極130について説明した。これに対し第4実施の形態では、三角柱状のチップ141が電極母材31に配置される接地電極140について説明する。なお、第1実施の形態で説明した部分と同一の部分については、同一の符号を付して以下の説明を省略する。
【0060】
図7(a)は第4実施の形態における接地電極140の平面図であり、
図7(b)は
図7(a)の矢印VIIb−VIIb線における接地電極140の断面図である。
図7(b)に示す切断面は、チップ141の頂面142の中心143と底面144の中心145とを通る一平面(母材短辺82と平行な一平面)で電極母材31の側面86を切断した切断面である。
【0061】
図7(a)及び
図7(b)に示すように、接地電極140は電極母材31の対向面80にチップ141が配置されている。チップ141は三角柱状の部材であり、側面を構成する3面の内の1面が頂面142を構成し、側面の残りの2面が底面144を構成する。チップ141は底面144の一部が電極母材31に埋め込まれている。電極母材31の対向面80に溶接部100が露出せずに、底面144の一部に接合部101が形成されるので、溶接部100が電極母材31の火花消耗の起点になることを防止できる。
【0062】
次に
図8を参照して第5実施の形態について説明する。第4実施の形態では三角柱状のチップ141が電極母材31に配置される接地電極140について説明した。これに対し第5実施の形態では、円柱状のチップ151が電極母材31に配置される接地電極150について説明する。なお、第1実施の形態で説明した部分と同一の部分については、同一の符号を付して以下の説明を省略する。
【0063】
図8(a)は第5実施の形態における接地電極150の平面図であり、
図8(b)は
図8(a)の矢印VIIIb−VIIIb線における接地電極150の断面図である。
図8(b)に示す切断面は、チップ151の頂面152の中心153と底面154の中心155とを通る一平面(母材短辺82と平行な一平面)で電極母材31の側面86を切断した切断面である。
【0064】
図8(a)及び
図8(b)に示すように、接地電極150は電極母材31の対向面80にチップ151が配置されている。チップ151は円柱状の部材であり、側面を構成する円筒の半分が頂面152を構成し、円筒の残りの半分が底面154を構成する。チップ151は底面154の全部が電極母材31に埋め込まれている。電極母材31の対向面80に溶接部100が露出せずに、底面154の一部に接合部101が形成されるので、溶接部100が電極母材31の火花消耗の起点になることを防止できる。
【実施例】
【0065】
本発明を実施例によりさらに詳しく説明するが、本発明はこの実施例に限定されるものではない。
【0066】
<実施例>
第1実施の形態で説明した電極母材31に、長辺91の長さ(頂面90の幅W3)の異なる種々のチップ34を接合して、チップ34の頂面90の幅W3を電極母材31の対向面80の幅W4で除した値(W3/W4)の異なる種々の接地電極30を得た。電極母材31へのチップ34の接合は、第1実施の形態で説明したように、電極母材31の反対面83側でレーザ光のビーム軸113を交差させて電極母材31の反対面83にレーザ光を走査して照射するレーザ溶接により行った。値(W3/W4)毎に30個のサンプル(接地電極)を作成した。
【0067】
<比較例>
電極母材31へのチップ34のレーザ溶接の方法を変えた以外は、実施例と同様にして比較例における接地電極を得た。比較例では、電極母材31の反対面83に照射ヘッド111を正対させ、鏡112を使わないで、照射ヘッド111から出射するレーザ光を電極母材31の反対面83に照射した。レーザ光のビーム軸が交差しないように、反対面83に沿って照射ヘッド111を平行移動して、電極母材31の反対面83にレーザ光を走査し、電極母材31にチップ34を溶接した。
【0068】
<評価>
得られたサンプル(接地電極)について、電極母材の外観を観察し、電極母材の側面に溶接部が露出しているかどうかを調べた。30個のサンプル全ての側面に溶接部が露出しなかった場合を「良い(○)」、側面に溶接部が露出したサンプルが存在する場合を「劣る(△)」、30個のサンプル全ての側面に溶接部が露出した場合を「著しく劣る(×)」と評価した。評価結果を表1に示す。
【0069】
【表1】
【0070】
表1に示すように実施例は、W3/W4の値が0.2〜0.5の全てにおいて「良い」という評価を得た。一方、比較例はW3/W4の値が0.3を超えると、「劣る」又は「著しく劣る」という評価であった。レーザ光断面に対して溶接部は広がりをもつので、チップが相対的に大きくなってW3/W4の値が0.3を超えるようになると、比較例のように照射ヘッドを平行移動して電極母材にレーザ光を走査したときには、電極母材の側面に溶接部が露出する。
【0071】
これに対し、実施例のようにレーザ光のビーム軸を交差させて電極母材の反対面にレーザ光を走査して照射すると、比較例に比べて、電極母材の反対面に露出する背面部の面積を小さくできるので、電極母材の側面に溶接部を露出させないようにできる。その結果、チップを相対的に大きくした場合も、電極母材の側面に露出した溶接部が火花消耗の起点になることを防止できるので、電極母材の火花消耗を抑制できる。よって、電極母材に対してチップを相対的に大きくすることができ、且つ、電極母材の火花消耗を抑制できる。
【0072】
以上、実施の形態に基づき本発明を説明したが、本発明は上記実施の形態に何ら限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で種々の改良変形が可能であることは容易に推察できるものである。例えば電極母材31の形状や大きさは一例であり、適宜設定できる。
【0073】
上記各実施の形態では、電極母材31の母材長辺81及び母材短辺82で囲まれた対向面80の内側にチップ34,121,131,141,151が収まる場合について説明したが、必ずしもこれに限るものではない。電極母材31の対向面80に配置されたチップの一部を、母材短辺82を超えて端面84側に張り出させることは当然可能である。また、母材短辺82上にチップの端が配置されるように対向面80にチップを接合することは当然可能である。これらの場合には、当然のことながら、溶接部100の一部を端面84に露出させても良い。
【0074】
上記第1実施の形態では、鏡112を揺動してレーザ光を電極母材31に走査する場合について説明したが、必ずしもこれに限られるものではない。鏡112を省略すると共に電極母材31の反対面83に照射ヘッド111を正対させ、照射ヘッド111自体を揺動して、レーザ光を電極母材31に走査して照射することは当然可能である。この場合も、レーザ光のビーム軸は電極母材31の反対面83側で交差する。
【0075】
上記第1実施の形態では、溶接装置110側を移動してレーザ光を走査する場合について説明したが、必ずしもこれに限られるものではない。溶接装置110側は固定し、電極母材31側を揺動してレーザ光を走査することは当然可能である。
【0076】
第1実施の形態では、チップ34の中心付近で、レーザ光の焦点114をチップ34の底面95にほぼ一致させて溶接する場合について説明したが、必ずしもこれに限られるものではない。レーザ光の焦点114の位置は、チップの底面の形状等に応じて適宜設定できる。
【0077】
なお、上記の各実施形態は、それぞれ、他の実施形態が有する構成の一部または複数部分を、その実施形態に追加し或いはその実施形態の構成の一部または複数部分と交換等することにより、その実施形態を変形して構成するようにしても良い。例えば、第1実施の形態ではチップ34の底面95が電極母材31に埋め込まれる場合について説明したが、第2実施の形態のように、電極母材31の対向面80と同一面上にチップ34の底面95を配置することは当然可能である。同様に、第2実施の形態では電極母材31の対向面80と同一面上にチップ121の底面125が配置されるが、第1実施の形態のように、チップ121の底面125を電極母材31に埋め込んでも良い。