特許6252585IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

半導体装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明は、SiC等のワイドバンドギャップ半導体素子を有する半導体装置において、当該半導体素子の保護や制御のための要求特性に十分に応えるセンサを備える半導体装置を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の半導体装置は、ワイドバンドギャップ半導体素子と、該ワイドバンドギャップ半導体素子の側方に近接配置され、該ワイドバンドギャップ半導体素子が通電されたときの発光を受光する受光素子と、を備え、前記受光素子により前記ワイドバンドギャップ半導体素子の側面から発光される光の強度を検出し、該光の強度により該ワイドバンドギャップ半導体素子に流れる電流値を得て、該電流値から該ワイドバンドギャップ半導体・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
本発明の半導体装置によれば、ワイドバンドギャップ半導体素子が通電されたときの発光を受光する受光素子を備え、この受光素子によりワイドバンドギャップ半導体素子から発光される光の強度を検出する。そして、その光の強度によりワイドバンドギャップ半導体素子に流れる電流値を得ることができる。このため、ワイドバンドギャップ半導体素子に流れる電流や、ワイドバンドギャップ半導体素子の温度等を、反応速度よく検出でき、また、小型化にも有利である。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】図1は、本発明の一実施形態の半導体装置の模式的な断面図である。

【図2】図2は、パワー半導体チップとしてのショットキーバリアダイオードの正面図である。

【図3】図3は、パワー半導体チップとしてのMOSFETの正面図である。

【図4】図4は、MOSFETの模式的な断面図である。

【図5】図5は、MOSFETの回路図である。

【図6】図6は、MOSFETから放射される光を撮像し、ディスプレー上に表示した中間調画像の写真である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

1 半導体装置   2 絶縁回路基板   3 パワー半導体チップ   4 はんだ   5 ボンディングワイヤ   6 ケース   7 受光素子   13 ショットキーバリアダイオード   23 MOSFET

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