特許6254985レーザ光路内の不純ガスを監視するレーザ加工システム

発明の名称　レーザ光路内の不純ガスを監視するレーザ加工システム

出願人　ファナック株式会社　（識別番号 390008235）

　　　　特許公開件数ランキング 740 位（32件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 86 位（289件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6254985

公報発行日　2017年12月27

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6254985

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