(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
特許文献1に記載の電流検出装置は、コアとホールICとの位置関係について規定されていない。このため、ホールICのリードをフォーミングする際の曲げ寸法のバラツキにより、コアとホールICとの位置関係が大きく変動し、電流検出精度に大きく影響する。また、ホールICがコアに対して固定されていないので、例えば振動等によりホールICが動いた場合、検出精度に影響し、精度良く電流測定を行うことができなくなる可能性がある。そこで、別途、固定部材を用いて固定することも考えられるが、コストアップの要因となる。
【0007】
一方、特許文献2に記載の電流センサは、リード線を基板に半田付けする際、リード線を基板のスルーホールに直接挿入しなければならず、リード線の位置とスルーホールの位置とがずれている状態で挿入し半田付けするとリード線に応力が生じてしまう。係る状態で、振動や熱衝撃が加わると、磁電変換素子、基板、樹脂ケースの夫々の線膨張係数の差に応じて半田付けした部分が繰り返し応力により疲労し、耐久性に支障が出る可能性がある。
【0008】
本発明の目的は、上記問題に鑑み、組み付けが容易で、電流検出の精度が高く、耐久性の高い電流センサを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0009】
上記目的を達成するための本発明に係る電流センサの特徴構成は、複数の溝部及び当該複数の溝部の夫々を隔てる隔壁部を有する磁性体のコアと、前記コアを当該コアの外形に沿って覆う非磁性体材料からなるハウジングと、前記複数の溝部の夫々に挿通され、被測定電流を流す複数の導体と、前記導体の挿通方向と一致する方向に設けられた貫通孔及び当該貫通孔の周囲に形成されたランドを有し、前記ハウジングに固定される回路基板と、前記導体に流れる被測定電流による磁界の強さを検出し、前記溝部に沿っ
て前記ハウジングの前記回路基板が固定される側とは反対側から前記回路基板に向かって凹むように設けられた前記ハウジングの凹溝において、前記コアの溝部における前記導体よりも前記溝部の開口部の側に、検出方向を前記溝部の間隔方向に沿うように配置され、前記貫通孔に挿入された上で前記ランドと電気的に接続される接続端子を有する検出素子と、前記ハウジングに設けられ
、前記検出素子を予め設定された固定位置に案内するガイド部と、を備えている点にある。
【0010】
このような特徴構成とすれば、コアを収容するハウジングに回路基板を固定し、当該回路基板が固定されたハウジングに検出素子の接続端子挿通用のガイド部を設けるので、コアに対する検出素子の位置決めを精度良く行うことが可能となる。したがって、製造時におけるコアと検出素子との位置ずれを低減することができるので、電流検出精度を向上することが可能となる。また、検出素子の接続端子がガイド部により案内されて回路基板の貫通孔に挿通されるので、回路基板に対する検出素子の組み付けを容易に行うことが可能となる。また、接続端子が折り曲げ加工されないので、接続端子の長さを短くすることができる。このため、振動等による検出素子の位置ずれを抑制することができ、精度良く電流検出を行うことが可能となる。また、各部の線膨張係数の差に起因して、接続端子と回路基板とを接合部に応力が加わらないようにすることができるので、熱衝撃による耐久性を向上することができる。
【0011】
また、前記ガイド部が、前記凹溝のうち前記回路基板に対向する部位における前記回路基板とは反対側
となる前記凹溝の内側を向く側から前記接続端子の挿通方向奥側に向けて径が縮小
するように形成され、前記検出素子の接続端子を予め設定された固定位置に案内する孔部
を含むと好適である。
【0012】
このような構成とすれば、検出素子の接続端子を回路基板の貫通孔に折り曲げることなく案内することが可能となる。したがって、所期の位置に検出素子を配置することができ、電流の検出精度の悪化を防止できる。
【0013】
また、前記ガイド部が、前記凹溝において
前記コアの溝部の間隔方向に対応する当該凹溝の間隔方向に突出して設けられ、前記検出素子の挿通方向手前側から挿通方向奥側に向けて突出量が大きくな
り、前記検出素子のモールド部を予め設定された固定位置に案内する突出部
を含むと好適である。
【0014】
このような構成とすれば、検出素子を凹溝の内部に挿通配置する際に、検出素子が突出部によって案内されるため、検出素子を凹溝における所期の位置に配置することが可能となる。したがって、電流の検出精度の悪化を防止できる。
【0015】
また、前記ハウジングに前記回路基板を固定した状態で、前記ハウジングと前記回路基板との間に隙間が設けられていると好適である。
【0016】
このような構成とすれば、ハウジングに回路基板を固定した場合であっても、回路基板のうちハウジングの側に向く面に形成されたランドに形成されるフィレットを目視により確認することが可能となる。したがって、回路基板に対する検出素子の半田付けに係る信頼性を高めることができる。
【0017】
また、
前記コアの溝部の前記間隔方向に沿った前記隔壁部の長さが
前記コアの溝部の前記間隔方向における前記複数の溝部の両外側の外壁部の
前記コアの溝部の前記間隔方向に沿った長さよりも長く設定されていると好適である。
【0018】
このような構成とすれば、隔壁部に生じる当該隔壁部を挟んで配設される2本の導体を流れる電流による磁束同士が互いに影響し合うことを抑制することができる。したがって、電流の検出精度を高めることが可能となる。
【0019】
また、前記隔壁部の長さが前記外壁部の長さの√3倍以上の長さで設定されていると好適である。
【0020】
このような構成とすれば、複数の導体に3相交流電流が流れる場合であっても、隔壁部に生じる互いに隣接する導体に流れる電流に起因した磁束の影響を低減することが可能となる。したがって、3相交流電流の検出精度を高めることが可能となる。
【発明を実施するための形態】
【0022】
本発明に係る電流センサは、導体に流れる被測定電流を測定可能に構成されている。ここで、導体に電流が流れる場合には、当該電流の大きさに応じて導体を軸心として磁界が発生する(アンペールの右手の法則)。本電流センサは、このような磁界の強さを検出し、検出された磁界の強さに基づいて導体に流れる電流(電流値)を測定する。
【0023】
本実施形態に係る電流センサ100の展開図が
図1に示される。
図1には、柱状の導体からなる2本の導体3が示される。以下では理解を容易にするために、導体3が延在する方向を延在方向Aとし、2本の導体3の間隔方向をB、延在方向A及び間隔方向Bの双方に直交する方向をCとして説明する。また、
図2には導体3の延在方向A視における回路基板4側からの電流センサ100を模式的に示した図が示され、
図3には導体3の延在方向A視における
図2とは逆側からの電流センサ100を模式的に示した図が示される。なお、
図2及び
図3には、電流センサ100への電源供給や、検出結果の出力等に用いられるコネクタ200も示される。以下、
図1−
図3を用いて説明する。
【0024】
コア1は、複数の溝部11及び当該溝部11の夫々を隔てる隔壁部12を有して構成される。また、複数の溝部11の両外側には外壁部13を有する。本実施形態では、
図1及び
図2に示されるように、コア1は略U字状の2つの溝部11を有して構成される。したがって、本実施形態のコア1は、1つの隔壁部12を有する。隔壁部12及び外壁部13は、溝部11の開口部11Aの側の開口幅が底部11Bの側の開口幅よりも狭くなるように互いに間隔方向Bに沿って突出する突出部14が設けられる。このようなコア1は、磁性体から構成される。本実施形態に係るコア1は、溝部11を有する金属磁性体よりなる平板を
図1−
図3のA方向に積層して形成される。上記金属磁性体は、軟磁性の金属であり、電磁鋼板(珪素鋼板)やパーマロイ、パーメンジュール等が相当する。
【0025】
ハウジング2は、コア1を当該コア1の外形に沿って覆う。コア1の外形に沿って覆うとは、コア1の形状に沿って収容することを意味する。したがって、コア1の溝部11の互いに対向する内壁部分もハウジング2により覆われる。このようなハウジング2は、非磁性体材料である樹脂により構成される。これにより、コア1と後述する導体3とを絶縁することが可能となる。
【0026】
導体3は複数からなり、複数の溝部11の夫々に挿通され、被測定電流が流される。上述のように本実施形態では導体3は2本からなる。この2本の導体3は、夫々、コア1の2つの溝部11の夫々に挿通される。ここで、上述のようにコア1はハウジング2により覆われている。したがって、導体3はハウジング2を介してコア1の溝部11に挿通される。例えば、この導体3は、図示しない3相モータと当該3相モータに通電するインバータとを接続するのに利用されるバスバーが相当する。導体3には、A方向に沿って被測定電流が流れ、本電流センサ100はこの電流を測定する。本実施形態では、導体3は2本から構成され、被測定電流は3相交流電流のうちの2つの電流が該当する。
【0027】
回路基板4は、導体3の挿通方向と一致する方向に設けられた貫通孔41及び当該貫通孔41の周囲に形成されたランド42を有し、ハウジング2に固定される。貫通孔41とは、回路基板4の板厚方向に沿って回路基板4を貫通する孔である。本実施形態では、回路基板4の表面及び裏面における貫通孔41の周囲にランド42が形成される。回路基板4の表面とは回路基板4の面のうちコア1の側を向く面である。回路基板4の裏面とは回路基板4の面のうちコア1と反対の側を向く面である。
【0028】
貫通孔41の周囲とは、回路基板4の表面及び裏面に沿った、貫通孔41を中心とした周りである。このような貫通孔41に検出素子5の接続端子51を挿入し、回路基板4の裏面のランド42に半田を溶着することにより、回路基板4の表面及び裏面の夫々のランド42にフィレットが形成される。また、貫通孔41の内部にも半田が入り込む。これにより、接続端子51の回路基板4に対する半田の固着強度を向上させることができる。
【0029】
導体3の挿通方向と一致する方向に設けられた貫通孔41とは、貫通孔41の軸心と導体3の挿通方向とが互いに平行になることを意味する。この状態で、回路基板4はハウジング2に固定される。本実施形態では、回路基板4は、ハウジング2に対して3本のネジ71により締結固定される。
【0030】
検出素子5は、貫通孔41に挿入された上でランド42と電気的に接続される接続端子51を有する。これにより、回路基板4の側から検出素子5に電源を供給したり、検出素子5から回路基板4の側に検出信号を伝達したりすることが可能となる。
【0031】
また、検出素子5は、溝部11に沿ったハウジング2の凹溝21において、コア1の溝部11における導体3よりも溝部11の開口部11Aの側に、検出方向を溝部11の間隔方向(B方向)に沿うように配置される。溝部11に沿ったハウジング2の凹溝21とは、互いに対向するコア1の隔壁部12及び外壁部13をハウジング2が所定の厚さで覆った結果、コア1の溝部11の形状に沿ってハウジング2に形成された溝をいう。「コア1の溝部11における導体3よりも溝部11の開口部11Aの側に」とは、ハウジング2に収容されたコア1の溝部11を基準に考えた場合、コア1の溝部11に挿通される導体3よりも開口部11Aの側を意味する。このため、検出素子5は、コア1において、導体3よりも溝部11の開口端部に近い側に配置される。このような検出素子5が配置される位置は、上述したコア1の突出部14に挟まれる位置に相当する。ここで、コア1の溝部11の導体3の上端よりコア1の開口部側には、導体3に流れる電流に応じて生じた磁界が集磁される。集磁された磁界は、検出素子5の配された近傍ではコア1の溝部11の間隔方向(B方向)の磁界となる。このような磁界は、ハウジング2の凹溝21においても同様に生じる。
【0032】
検出素子5は、検出方向をB方向に一致させて配置される。したがって、導体3に流れる被測定電流による磁界の強さを効果的に検出することが可能となる。被測定電流による磁界とは、被測定電流が導体3に流れることにより、導体3の軸心を中心として径方向に生じる磁界である。なお、本実施形態では、コア1の一つの溝部11に対して、2つの検出素子5が配置される。したがって、本実施形態ではコア1は2つの溝部11を有するので、4つの検出素子5が配置される。ここで、同一の溝部11に配置された検出素子5は同方向の磁束密度を検出する。したがって、同一の溝部11に配置された検出素子5の検出信号が異なる方向の磁束密度を示すものである場合や、同一の溝部11に配置された検出素子5の検出結果が所期のずれに対して著しくずれた場合には、いずれかの検出素子5が故障していることがわかる。係る故障判定を行うために、本実施形態では同一の溝部11に2つの検出素子5が配置される。
【0033】
ガイド部6は、ハウジング2に設けられる。ガイド部6は、検出素子5を予め設定された固定位置に案内する。予め設定された固定位置とは、検出素子5がB方向に沿って、上述したコア1の突出部14で挟まれる位置である。ガイド部6はこのような位置に検出素子5を案内する。
【0034】
以下、本実施形態に係るガイド部6について図面を用いて説明する。本実施形態では、ガイド部6は、孔部61及び突出部62で構成される。これらの孔部61及び突出部62は、
図4に示されるようにハウジング2の凹溝21に設けられる。孔部61は、凹溝21のうち回路基板4に対向する部位における回路基板4とは反対側に設けられ、接続端子51の挿通方向奥側に向けて径が縮小するように構成される。凹溝21のうち回路基板4に対向する部位とは、凹溝21において回路基板4と隣接する側面部22に相当する。「回路基板4とは反対側」とは、このような側面部22において、回路基板4の側を向く面とは反対側の面、すなわち凹溝21の内側を向く側が相当する。ここで、検出素子5の接続端子51は、凹溝21において、回路基板4と直交する側から回路基板4の側に向けて挿通される。よって、挿通方向奥側に向けて径が縮小するとは、側面部22において凹溝21の側から回路基板4に向けて孔部61の径が小さくなることをいう。このような孔部61の先には、隙間を隔てて回路基板4の貫通孔41が対向して配置される。これにより、接続端子51を貫通孔41に案内することが可能となる。
【0035】
また、突出部62は、凹溝21において当該凹溝21の間隔方向に突出して設けられ、検出素子5の挿通方向手前側から挿通方向奥側に向けて突出量が大きくなるように構成される。凹溝21の間隔方向とは、コア1の溝部11の間隔方向に対応し、
図4及び
図5におけるB方向に相当する。ここで、検出素子5は、接続端子51と、当該接続端子51に接続されたホール素子を樹脂封入したモールド部52と、を有して構成される。突出部62は、挿通方向手前側から開口幅が検出素子5のモールド部52の幅(B方向に沿う長さ)になるように、次第に開口幅が狭くなるように形成される。これにより、検出素子5のモールド部52を所定の固定位置に案内することが可能となる。
【0036】
本電流センサ100は、ハウジング2に回路基板4が固定された状態で、ハウジング2と回路基板4との間に隙間が設けられている。上述のように回路基板4はハウジング2に対してネジ71により締結固定される。本実施形態では、ネジ71により締結固定される部位以外は、
図6に示されるように、回路基板4はハウジング2に対して離間して配置される。これにより、回路基板4の板厚方向に直交する方向から隙間を介して目視により回路基板4の表面及び裏面のランド42に形成されたフィレットを確認することができるので、半田付けが適切に行われているか否かを外観検査等により確認することが可能となる。
【0037】
本実施形態では、コア1は、1つの隔壁部12と2つの外壁部13とを有している。この隔壁部12及び外壁部13は、
図7に示されるように、間隔方向に沿った隔壁部12の長さが外壁部13の間隔方向に沿った長さよりも長く設定されている。間隔方向とはコア1の溝部11の間隔方向であり、
図7におけるBの方向が相当する。このため、間隔方向に沿った隔壁部12の長さとは、
図7におけるW1が相当し、外壁部13の間隔方向に沿った長さとは、
図7におけるW2が相当する。したがって、隔壁部12及び外壁部13は、W1>W2の関係が成立するように構成される。
【0038】
特に、隔壁部12の長さが外壁部13の長さの√3倍以上の長さで設定されていると好適である。以下、この理由について説明する。
図8には、3相交流の電流波形が示される。2本の導体3に流れる電流を3相交流のうちのU相及びV相とする。2本の導体3に流れる電流による磁束を検出する場合、|Iu−Iv|が最大となる時にコア1が飽和する。ここで、IuはU相の電流、IvはV相の電流、IwはW相の電流である。
【0039】
2本の導体3の夫々に流れる電流は、以下の(1)式及び(2)式で表される。
【数1】
【数2】
【0040】
(2)式は加法定理により(3)式で表される。
【数3】
【0041】
一方、コア1の飽和時は、
【数4】
であり、(5)式が得られる。
【数5】
【0042】
(5)式を時間tについて微分すると、
【数6】
が得られ、左辺が0になるとき、(7)式の関係が得られる。
【0043】
【数7】
したがって、ωtについて解くと、(8)式が得られる。
【数8】
【0044】
(8)式より、120度を基準に180度毎にコア1の飽和ポイントがある。ここで、例えば夫々の導体3に流れる電流が±900Aであるとするとコア1の隔壁部12には900A×√3倍相当の磁束が流れることになる。
【0045】
図9には、隔壁部12の間隔方向の長さを外壁部13の間隔方向の長さの√3倍にした場合にコア1に生じる磁束のシミュレーション結果が示される。また、比較のために、
図10には、隔壁部12の間隔方向の長さを外壁部13の間隔方向の長さと等しくした場合にコア1に生じる磁束のシミュレーション結果が示される。
図9及び
図10においては、矢印の向きが磁束の向きに対応し、矢印の線の太さが磁束密度の高さに対応する。したがって、矢印が太い程、磁束密度が高く、矢印が細い程、磁束密度が低いことを示している。なお、
図9及び
図10においては、コア1においてネジ71が貫通する貫通孔及び突出部14を省略している。
【0046】
図10に示されるように、コア1の隔壁部12の間隔方向の長さと外壁部13の間隔方向の長さとが等しい場合には、隔壁部12における磁束密度が高くなる。これより、コア1の隔壁部12において2本の導体3により生じる磁束同士が影響し合い、コア1の溝部11に設けられる検出素子5が精度良く磁束を検知することができない。
【0047】
一方、
図9に示されるように、コア1の隔壁部12の間隔方向の長さが外壁部13の間隔方向の長さよりも長い場合には、隔壁部12における磁束密度が
図10の例に比べて低い。このため、コア1の隔壁部12において2本の導体3により生じる磁束同士が影響し合うことがなく、コア1の溝部11に設けられる検出素子5が精度良く磁束を検知することが可能となる。
【0048】
図8に示されるように3相交流の電流は位相差が120度であり、上記のように2本の導体3の夫々に生じる磁束の位相差も120度であるので、コア1を最小化するためには、隔壁部12の間隔方向の長さを外壁部13の間隔方向の長さに対して√3倍にすると好適である。なお、外壁部13の間隔方向の長さは適宜変更することが可能である。例えば、コア1の外壁部13を本実施形態の外壁部13の間隔方向の長さよりも長くし、隔壁部12の間隔方向の長さを外壁部13の間隔方向の長さと同じ長さにすることも可能である。係る場合でも、各磁束同士が影響し合うことが無ければ良い。すなわち、コア1の隔壁部12及び外壁部13の間隔方向の長さは、電流センサ100の大きさ及び導体3に流れる電流により生じる磁束密度に応じて適宜変更することが可能である。
【0049】
次に、本電流センサ100の製造方法について説明する。電流センサ100の製造にあたり、
図11に示されるような治具150が用いられる。治具150の所定の面には、検出素子5がモールド部52から挿入された状態で当該検出素子5を支持する支持部151が設けられる。この支持部151は、モールド部52を挿入した場合に接続端子51が立設するように形成される。支持部151の位置は、支持部151に挿入された検出素子5の接続端子51が、回路基板4における貫通孔41に貫通可能なように、貫通孔41の位置に合わせて設けられる。また、治具150における支持部151が形成される面には、ハウジング2の位置決め孔(図示せず)と嵌合する突出部152が設けられる。これにより、立設する接続端子51が貫通孔41に挿通し易くなる。
【0050】
一方、ハウジング2にはコア1が収容され、圧入及び熱カシメ等により組み付けされる。
図12にはハウジング2の正面図が示され、
図13にはハウジング2にコア1を装着した図が示される。ハウジング2に対するA方向のコア1の支持は、ハウジング2の底面25から立設する壁部のうち、AB面に平行な壁部81、82にA方向に沿って設けられた凸壁83、84を用いて行われる。具体的には、ハウジング2にコア1を収容し、ハウジング2の底面25にコア1を押し付けた状態で、凸壁83、84を熱カシメによりC方向に沿ってコア1の側に屈曲させて固定する。
【0051】
ハウジング2に対するB方向のコア1の支持は、ハウジング2に収容されたコア1の隔壁部12のAC面に対向するように、ハウジング2の底面25からA方向に沿って設けられた柱状凸部85、86を用いて行われる。具体的には、柱状凸部85及び柱状凸部86のB方向に沿う間隔を、コア1の隔壁部12のB方向に沿う長さよりもやや小さく設定する。これにより、ハウジング2にコア1を収容すると、柱状凸部85及び柱状凸部86で、隔壁部12をB方向両外側から挟持して支持することが可能となる。このように挟持される隔壁部12のB方向の寸法を精度良く維持することにより、ハウジング2に対するB方向のコア1の位置決めを精度良く行うことができる。なお、柱状凸部85及び柱状凸部86がコア1によりB方向外側に向けて拡がることになるが、係る際のハウジング2の底面25に生じる応力を緩和するために、ハウジング2の底面25における柱状凸部85及び柱状凸部86のB方向の外側には、開口部87、88が形成されている。
【0052】
ハウジング2に対するC方向のコア1の支持は、ハウジング2の壁部81の内壁88に設けられた凸状部89、90を用いて行われる。具体的には、ハウジング2に収容されたコア1を凸状部89、90でハウジング2の壁部82の内壁91にコア1のAB面に平行な面を押し付けることにより、C方向の位置決めを行うことが可能となる。なお、凸状部89、90がコア1によりC方向外側に向けて押圧されることになるが、係る際のハウジング2の底面25に生じる応力を緩和するために、凸状部89、90を中心に壁部81に沿ってハウジング2の底面25には、開口部92、93が形成されている。
【0053】
このようにコア1をハウジング2に対して圧入及び熱カシメ等で組み付け固定し、コア1をハウジング2に対するA方向、B方向、及びC方向の支持を行うので、コア1をハウジング2に対して精度良く位置決めすることが可能となる。
【0054】
このようにコア1が組み付けられたハウジング2に対し、回路基板4がネジ71により締結固定される(
図14)。このような状態のものを、上述した検出素子5が支持部151に挿入された治具150上に、ハウジング2が上述の突出部152と位置決めされて配置される(
図15)。これにより、ガイド部6により接続端子51が回路基板4の貫通孔41に挿通される。その後、回路基板4のランド42と、検出素子5の接続端子51とが半田により接続される。その後、治具150を取り外し、電流センサ100が完成する。
【0055】
〔その他の実施形態〕
上記実施形態では、コア1が2つの溝部11を有するとして説明した。しかしながら、本発明の適用範囲はこれに限定されるものではない。コア1が溝部11を3つ以上備えて構成することも当然に可能である。係る場合において、3相交流電流を検出する場合には、正常であれば3つの電流値の総和はゼロとなるので、検出素子5の異常検出のために、1つの溝部11に検出素子5を1つずつ備える構成とするだけで良い。
【0056】
上記実施形態では、ガイド部6が孔部61及び突出部62であるとして説明した。しかしながら、本発明の適用範囲はこれに限定されるものではない。ガイド部6として、孔部61及び突出部62のいずれか一方のみを備える構成とすることも可能であるし、孔部61及び突出部62とは異なる形態でガイド部6を構成することも可能である。
【0057】
上記実施形態では、ハウジング2に回路基板4を固定した状態で、ハウジング2と回路基板4との間に隙間が設けられ、回路基板4の表面に沿って半田のフィレットが視認可能であるして説明した。しかしながら、本発明の適用範囲はこれに限定されるものではない。ハウジング2に回路基板4を固定した状態で、ハウジング2と回路基板4との間に設けられる隙間が、少なくともランド42の周囲のみであるように構成することも当然に可能である。係る場合であっても、回路基板4の表面及び裏面のランド42にフィレットが形成され、半田の固着強度を高めることが可能である。
【0058】
上記実施形態では、コア1の間隔方向に沿った隔壁部12の長さが外壁部13の間隔方向に沿った長さよりも長く設定されているとして説明した。しかしながら、本発明の適用範囲はこれに限定されるものではない。コア1の間隔方向に沿った隔壁部12の長さと、外壁部13の間隔方向に沿った長さとを等しく構成することも可能であるし、コア1の間隔方向に沿った隔壁部12の長さを、外壁部13の間隔方向に沿った長さよりも短く構成することも可能である。
【0059】
本発明は、導体に流れる電流を測定する電流センサに用いることが可能である。