特許第6273195号(P6273195)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】6273195
(24)【登録日】2018年1月12日
(45)【発行日】2018年1月31日
(54)【発明の名称】センサパッケージ
(51)【国際特許分類】
   G01L 9/00 20060101AFI20180122BHJP
   H01L 29/84 20060101ALI20180122BHJP
【FI】
   G01L9/00 301G
   H01L29/84 A
   H01L29/84 B
【請求項の数】4
【全頁数】15
(21)【出願番号】特願2014-248757(P2014-248757)
(22)【出願日】2014年12月9日
(65)【公開番号】特開2016-109606(P2016-109606A)
(43)【公開日】2016年6月20日
【審査請求日】2017年1月6日
(73)【特許権者】
【識別番号】000010098
【氏名又は名称】アルプス電気株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100085453
【弁理士】
【氏名又は名称】野▲崎▼ 照夫
(74)【代理人】
【識別番号】100120204
【弁理士】
【氏名又は名称】平山 巌
(74)【代理人】
【識別番号】100108006
【弁理士】
【氏名又は名称】松下 昌弘
(74)【代理人】
【識別番号】100135183
【弁理士】
【氏名又は名称】大窪 克之
(72)【発明者】
【氏名】矢澤 久幸
(72)【発明者】
【氏名】朝比奈 宏行
(72)【発明者】
【氏名】大川 尚信
(72)【発明者】
【氏名】臼井 学
(72)【発明者】
【氏名】石曽根 昌彦
(72)【発明者】
【氏名】遁所 淳
【審査官】 公文代 康祐
(56)【参考文献】
【文献】 特開平03−261837(JP,A)
【文献】 特開2008−026183(JP,A)
【文献】 特開2009−031005(JP,A)
【文献】 特開2010−129951(JP,A)
【文献】 特開2004−361308(JP,A)
【文献】 特開平11−160176(JP,A)
【文献】 米国特許出願公開第2010/0199777(US,A1)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
G01L 7/00−23/32
G01L 27/00−27/02
H01L 29/84
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
検知部を内部に収容する収容空間を有するケースを備え、
前記収容空間は、底壁から上へ延びる複数の側壁に囲まれるように形成され、その上部に開口部を有し、
前記検知部は、前記収容空間内に設けたパッド部に対して、ワイヤボンディングによって電気的に接続されて、
前記側壁のうち、少なくとも互いに対向する1組の側壁において、前記収容空間の内側に突出するようにリブ部がそれぞれ設けられており、
前記パッド部は、前記リブ部が設けられた前記側壁のうちの前記リブ部が設けられていない位置に対応する領域に設けられ、
前記リブ部は、前記側壁において、2つの前記パッド部に挟まれるように設けられていることを特徴とするセンサパッケージ。
【請求項2】
前記側壁は、上へ向かうほど外側へ広がる階段状部分を有し、
前記階段状部分に前記パッド部と前記リブ部が設けられていることを特徴とする請求項1に記載のセンサパッケージ。
【請求項3】
前記収容空間の開口部を覆う蓋部材を備えることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のセンサパッケージ。
【請求項4】
前記蓋部材はIC基板であることを特徴とする請求項3に記載のセンサパッケージ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、小型化・低背化可能であり、かつ、外力がかかったときにも出力が安定しているセンサパッケージに関する。
【背景技術】
【0002】
近年、センサを搭載する製品の小型化や薄型化の要求にともなって、センサをさらに小型化・低背化することが求められている。しかしながら、例えばICチップとセンサチップを同一基板上に並べて配置した従来のセンサの構成では、各構成部材の小型化が必要になるという問題がある。
【0003】
特許文献1には、蓋部材によって上面が真空気密封止されたパッケージ部材の凹部の底面に、センサ本体が接合された半導体圧力センサが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開2009−31005号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
センサは、小型化や低背化が求められるだけでなく、外部機器への取り付けや半田付けなどの工程において外部から力が加えられたときに歪応力が発生しても、センサからの出力が安定していることが求められている。
【0006】
しかしながら、特許文献1に記載の半導体圧力センサにおいては、蓋部材が接合される凹部の周縁部は平面視四辺形の上下左右が略対称な枠形状をなしており、かつ、その壁厚が薄いため、外部から力が加えられたときに変形しやすい。また、センサパッケージの中央は、外部から力が加えられたときに発生する歪み応力が伝わりにくいことから、センサパッケージの中央にセンサチップを配置すれば、センサの出力に対する歪み応力の影響を低減させることができるが、センサパッケージを小型化・低背化させると、センサパッケージの外縁から中央までの距離が短くなり、歪み応力がセンサチップに伝わりやすくなってしまう。このため、外力に起因して発生する歪み応力によってセンサからの出力が変動しやすいという問題があった。
【0007】
そこで本発明は、小型化・低背化を図るとともに、センサパッケージに外力がかかって歪応力が生じても、検知部からの出力の変動を抑制できるセンサパッケージを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
上記課題を解決するために、本発明のセンサパッケージは、検知部を内部に収容する収容空間を有するケースを備え、収容空間は、底壁から上へ延びる複数の側壁に囲まれるように形成され、その上部に開口部を有し、検知部は、収容空間内に設けたパッド部に対して、ワイヤボンディングによって電気的に接続されて、側壁のうち、少なくとも互いに対向する1組の側壁において、収容空間の内側に突出するようにリブ部がそれぞれ設けられており、前記パッド部は、前記リブ部が設けられた前記側壁のうちの前記リブ部が設けられていない位置に対応する領域に設けられ、
前記リブ部は、前記側壁において、2つの前記パッド部に挟まれるように設けられていることを特徴としている。
【0009】
これにより、センサパッケージに対して外力が加わっても歪応力が発生しづらくなるため、検知部からの出力が外力によって変動することを抑えることが可能となる。
【0011】
また、収容空間を効率的に使うことができるため、センサパッケージを小型化することができる。
【0013】
さらに、応力分布を底壁に平行なXY平面において対称的にすることができるため、歪みが集中することを防ぐことができる。
【0014】
本発明のセンサパッケージにおいて、側壁は、上へ向かうほど外側へ広がる階段状部分を有し、階段状部分にパッド部とリブ部が設けられていることが好ましい。
【0015】
これにより、ワイヤボンディング可能な収容空間を形成できるとともに、収容空間を効率的に使ってセンサパッケージを小型化することができる。
【0016】
本発明のセンサパッケージにおいて、収容空間の開口部を覆う蓋部材を備えることが好ましい。
【0017】
これにより、ケースの強度が高まることにより外力による歪み応力の発生を抑えることができるとともに、検知部を保護することができる。
【0018】
本発明のセンサパッケージにおいて、蓋部材はIC基板であることが好ましい。
これにより、構成材料を減らすことができ、IC基板を収容するための収容空間を減らすことができるため、小型化・低背化を図ることができる。
【発明の効果】
【0019】
本発明によると、小型化・低背化を実現できるとともに、センサパッケージに対して外力がかかっても、その影響が内部の検知部に及び難くし、検知部からの出力の安定化に資することのできるセンサパッケージを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【0020】
図1】基本形態に係るセンサパッケージの構成を示す、上面側から見た斜視図である。
図2図1のセンサパッケージからIC基板を外した状態を示す斜視図である。
図3図2に示す構成を簡略化して表示した平面図である。
図4】IC基板を簡略化して表示した底面図である。
図5図1のV−V’線における断面を簡略化して表示した図である。
図6】実施形態に係るセンサパッケージの構成を示す斜視図である。
図7図6のセンサパッケージからIC基板を外した状態を示す斜視図である。
図8図6のVIII−VIII’線における断面を簡略化して表示した図である。
図9】(A)は実施形態のセンサパッケージを簡略化して示す平面図、(B)は(A)に示すセンサパッケージにおいてリブ部を設けていない比較例1を示す平面図である。
図10】(A)は実施形態のセンサパッケージを下面側から見た斜視図、(B)は比較例2のセンサパッケージを下面側から見た斜視図である。
図11】実施形態と比較例1について行ったシミュレーション結果を示す図である。
図12】(A)、(B)はシミュレーションの条件を示す側面図であって、(A)はY1−Y2方向から見た図、(B)はX1−X2方向から見た図である。
図13】実施形態と比較例1のセンサパッケージの圧力検知部からの出力を示すグラフである。
図14】(A)、(B)は、図10(A)に示す実施形態のセンサパッケージについて行ったシミュレーション結果を示し、(C)、(D)は図10(B)に示す比較例2のセンサパッケージについて行ったシミュレーション結果を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0021】
以下、本発明の実施形態に係るセンサパッケージについて図面を参照しつつ詳しく説明する。以下の説明では、検知部として圧力検知部を用いた例を挙げるが、これに代えて、又は、圧力検知部に加えて、収容空間内に、温度検知部や湿度検知部を配置してもよい。
【0022】
<基本形態>
図1は、基本形態に係るセンサパッケージ10の構成を示す、上面側から見た斜視図である。図2は、センサパッケージ10からIC基板40を外した状態を示す斜視図である。図3は、図2に示す構成を簡略化して表示した平面図である。図4は、IC基板40を簡略化して表示した底面図である。図5は、図1のV−V’線における断面を簡略化して表示した図である。以下、各図に示すZ1方向を上方向、Z2方向を下方向として説明する。各図に示す、X1−X2方向とY1−Y2方向は、互いに直交するとともに、Z1−Z2方向に直交する方向である。XY平面は、Z1−Z2方向に直交する面である。
【0023】
センサパッケージ10は、図5に示すように、外気に接して検知動作を行う検知部である圧力検知部20と、ケース30と、IC基板40とを備える。
【0024】
圧力検知部20は、例えばダイアフラムゲージであって、ダイアフラムに加わる圧力を静電容量の変化や歪みゲージを用いて検知するセンサである。圧力検知部20は、図5に示すように、ケース30の収容空間30s内に収容され、底面22がケース30の収容空間30sの底面36に対して、ダイボンド樹脂によって固定される。また、圧力検知部20は、図3に示すように、平面視四角形の上面21の四隅に導電性材料(例えば金)からなる、4つの第1パッド部23a、23b、23c、23dがそれぞれ設けられており、これらの第1パッド部23a、23b、23c、23dから検知結果が出力される。
【0025】
ケース30は、非導電性材料(例えばセラミックス)からなり、図3又は図5に示すように、XY平面に沿った矩形の底壁30wと、この底壁30wの4辺から上へ延びる4つの側壁39a、39b、39c、39dと、を備える。4つの側壁39a、39b、39c、39dは、上へ向かうほど外側へ階段状に広がるように形成された、中段と上段からなる二段構造を備え、上部に開口部30aを有する。これにより、ケース30内に、底壁30wの上面の中央において側壁が形成されていない底面36と、4つの側壁39a、39b、39c、39dとによって、圧力検知部20を収容する収容空間30sが形成される。XY平面において底面36より外側に位置する、側壁の最上面(上段面)と底面36との間の段差である中段面34(パッド形成面)には、XY平面の四隅に、導電性材料(例えば金)からなる4つの第2パッド部35a、35b、35c、35dがそれぞれ形成されている。4つの第2パッド部35a、35b、35c、35dは、4つの第1パッド部23a、23b、23c、23dにそれぞれ対応するように、XY平面において第1パッド部23a、23b、23c、23dの外側近傍にそれぞれ配置されている。
【0026】
なお、第1パッド部23a、23b、23c、23d、及び、第2パッド部35a、35b、35c、35dは、4つずつ設けるのではなく、2つずつであってもよい。この場合は、X1−X2方向に沿って2つずつ、対応する位置に設けることが好ましい。
【0027】
また、ケース30には、XY平面において中段面34よりも外側に位置する最上面(上段面)であるバンプ形成面31に、X1−X2方向の両端部に6つの第1バンプ33がそれぞれ設けられている。この第1バンプ33は、例えば金のめっきによってZ1方向に所定量突出するように形成され、Y1−Y2方向において一定の間隔で配置されている。
【0028】
ここで、第1バンプ33の配置方向(Y1−Y2方向)は、第1パッド部23a、23b、23c、23d及び第2パッド部35a、35b、35c、35dの配置方向(X1−X2方向)と直交している。別言すると、ケース30において、第1バンプ33は、X1−X2方向の両端の2辺に沿って配置されているのに対して、第2パッド部35a、35b、35c、35dは、Y1−Y2方向の両端の2辺に沿って配置されている。このような配置により、第1パッド部23a、23b、23c、23dから対応する第2パッド部35a、35b、35c、35dへのワイヤボンディングのための領域を広くとることができる。
【0029】
図2及び図3に示すように、ケース30の4つの側壁のうち、互いに対向する1組の側壁39a、39cには、リブ部61、62がそれぞれ設けられている。リブ部61、62は、側壁39a、39cのX1−X2方向の中央、別言すると対向する2辺の中央において、側壁39a、39cからケース30の内側に突出するように設けられている。リブ部61、62は、図5に示すように、中段面34からバンプ形成面31まで延びるように形成され、Y1−Y2方向における厚みは一定である。
【0030】
このように設けたリブ部61は、Z1−Z2方向から見た平面視において、2つの第2パッド部35a、35bに挟まれている。別言すると、2つの第2パッド部35a、35bは、リブ部61が設けられた側壁39aのうち、リブ部61が設けられていない位置に対応する領域63、64にそれぞれ設けられている(図3)。同様に、リブ部62は、Z1−Z2方向から見た平面視において、2つの第2パッド部35c、35dに挟まれており、2つの第2パッド部35c、35dは、リブ部61が設けられた側壁39cのうち、リブ部61が設けられていない位置に対応する領域65、66にそれぞれ設けられている。
【0031】
ここで、リブ部は、側壁39b、39dにも設けると、センサパッケージ10が外力を受けたときの圧力検知部20からの出力の変動を抑制しやすくなるため好ましい。
【0032】
図5に示すように、ケース30の底面32(底壁30wの下面)のXY平面には、導電性材料(例えば金)からなる出力パッド37がそれぞれ形成されている。
【0033】
IC基板40は、圧力検知部20による検知結果に基づいて、デジタル出力用のデータを作成する演算部を有する。演算部は集積回路であり、下面42側に配置される。この演算部は、IC基板40に設けられた温度センサによる検知結果に基づいて、圧力検知部20による検知結果を補正する。IC基板40の下面42には、X1−X2方向の両端部に6つの第2バンプ43がそれぞれ設けられている。第2バンプ43は、例えば金のめっきによって形成され、Z2方向に所定量突出するように形成され、ケース30に設けた、複数の第1バンプ33に対応するように、Y1−Y2方向において一定の間隔で配置されている。
【0034】
IC基板40は、蓋部材として、ケース30の収容空間30sの開口部30aを覆うように、上面41がZ1方向上側になるように、ケース30上に配置される。このとき、互いに対応する位置に設けた、12個の第1バンプ33と12個の第2バンプ43がそれぞれ金ボールを介してIC基板40を配置し、超音波溶融によって互いに固定する。第1バンプ33と第2バンプ43は、IC基板40側又はケース30側へ突出しているため、隣り合う第1バンプ33の間隔、及び、隣り合う第2バンプ43の間隔に隙間10c(図5)が形成され、この隙間10cからケース30の収容空間30s内へ外気が導入される。したがって、IC基板40を配置することによって収容空間30s内に配置された圧力検知部20を保護できるとともに、収容空間30s内を外気と同じ気圧にできるため、正確な圧力測定を行うことができる。
【0035】
ここで、第1バンプ33と第2バンプ43の一方を、Z1−Z2方向に突出しない平面状の金属面、例えばアルミニウム面としてもよい。
【0036】
図3に示すように、圧力検知部20の4つの第1パッド部23a、23b、23c、23dとケース30の4つの第2パッド部35a、35b、35c、35dは、ワイヤボンディングのワイヤ51によって対応するパッド部同士が電気的に接続される。例えば、XY平面の左上に配置された、第1パッド部23aと第2パッド部35aが互いに接続される。4つの第2パッド部35a、35b、35c、35dは、図5に示すように、ケース30の内部に形成した4本の第1導通路52によって対応する位置の第1バンプ33にそれぞれ電気的に接続されている。上述のように第1バンプ33と対応する位置の第2バンプ43が互いに接続されているため、圧力検知部20の第1パッド部23a、23b、23c、23dからの出力は、ケース30の第1導通路52を介してIC基板40へ出力される。
【0037】
また、ケース30には、それぞれの第1バンプ33に対応する位置に、第1導通路52とは独立した、第2導通路53が形成されている。この第2導通路53は、それぞれ、一端が対応する位置の第1バンプ33と電気的に導通しており、他端が出力パッド37に電気的に導通している。これにより、IC基板40による処理結果が出力パッド37へ出力され、出力パッド37へ外部機器を接続することによって、IC基板40による処理結果を取り出すことができる。
【0038】
ここで、第1導通路52及び第2導通路53は、ケース30にスルーホールを形成し、このスルーホール内に導電性材料として、例えばタングステン、モリブデンを充填することによって形成する。
【0039】
<実施形態>
つづいて、本発明の実施形態について説明する。図6は、実施形態に係るセンサパッケージ110の構成を示す斜視図である。図7は、図6のセンサパッケージ110からIC基板40を外した状態を示す斜視図である。図8は、図6のVIII−VIII’線における断面を簡略化して表示した図である。
【0040】
センサパッケージ110においては、ケース130が、IC基板40の側面44を囲む保護壁部138を備える点が上記基本形態と異なる。その他の構成は基本形態と同様であって、同じ部材については同じ参照符号を使用する。
【0041】
保護壁部138は、XY平面においてバンプ形成面131の外側においてZ1方向に延びるように形成され、平面視四角形のIC基板40の4つの側面44を囲むように配置される。この保護壁部138と、IC基板40の側面44との間には、外気の導入が可能な隙間110dが形成されている。また、保護壁部138の上面138aと、IC基板40の上面41のZ1方向の位置は同一である。
【0042】
図7又は図8に示すように、ケース130は、上記基本形態のケース30と同様に、非導電性材料からなり、XY平面に沿った矩形の底壁130wと、この底壁130wの4辺から上へ延びる4つの側壁139a、139b、139c、139dと、を備え、これらの側壁139a、139b、139c、139dは、上へ向かうほど外側へ階段状に広がるように形成された、中段、上段、保護壁部138の上面138aからなる三段構造を備え、上部に開口部130aを有する。
【0043】
図7に示すように、ケース130の4つの側壁139a、139b、139c、139dのうち、互いに対向する1組の側壁139a、139cには、リブ部161、162がそれぞれ設けられている。リブ部161、162は、上記基本形態のリブ部61、62と同様に、側壁139a、139cのX1−X2方向の中央において、ケース130の内側に突出するように設けられている。
【0044】
ここで、本実施形態における、隙間110c、収容空間130s、バンプ形成面131、底面132、第1バンプ133、中段面134、底面136、出力パッド137、第1導通路152、及び第2導通路153は、上記基本形態における、隙間10c、収容空間30s、バンプ形成面31、底面32、第1バンプ33、中段面34、底面36、出力パッド37、第1導通路52、及び第2導通路53にそれぞれ対応するため、詳細な説明は省略する。また、本実施形態においては、上記基本形態の第2パッド部35a、35b、35c、35dに対応する4つの第2パッド部が設けられ、図8において第2パッド部135a、135bを示している。
【0045】
本実施形態においては、IC基板40の側面44を囲む保護壁部138を備えるため、IC基板40を外部からのダメージから保護することができる。
なお、その他の作用、効果は上記基本形態と同様である。
【0046】
図9(A)は図6図8に示す実施形態のセンサパッケージ110を簡略化して示す平面図、(B)は図9(A)に示すセンサパッケージ110においてリブ部161、162を設けていない比較例1を示す平面図である。図10(A)は実施形態のセンサパッケージ110を下面側から見た斜視図、(B)は比較例2のセンサパッケージを下面側から見た斜視図である。図11は、実施形態と比較例1について行ったシミュレーション結果を示す図である。図11(A)〜(F)は、上記実施形態について行ったシミュレーション結果を示し、(G)〜(L)は比較例1について行ったシミュレーションを示す。図11は応力分布(単位N/m)を示しており、濃度が最も高い表示は1.5×10N/mを示しており、表示濃度が薄くなるほど応力は小さくなる。この表示は図14においても同様である。
【0047】
図11(A)、(B)、(G)、(H)は、センサパッケージにおけるX1−X2方向の中心線を軸として曲げ圧力を加えた場合に、センサパッケージに生じる応力の分布を示す図である。図11(A)、(G)は、センサパッケージをZ1方向上側から見た図であり、図11(B)、(H)は、Z2方向下側から見た図である。
【0048】
図11(C)、(D)、(I)、(J)は、センサパッケージにおけるY1−Y2方向の中心線を軸として曲げ圧力を加えた場合に、センサパッケージに生じる応力の分布を示す図である。図11(C)、(I)は、センサパッケージをZ1方向上側から見た図であり、図11(D)、(J)は、Z2方向下側から見た図である。
【0049】
図11(E)、(K)は、センサパッケージにおけるX1−X2方向の中心線を軸として曲げ圧力を加えた場合に、圧力検知部と底壁に生じる応力の分布を示す図である。
【0050】
図11(F)、(L)は、センサパッケージにおけるY1−Y2方向の中心線を軸として曲げ圧力を加えた場合に、圧力検知部と底壁に生じる応力の分布を示す図である。
【0051】
図12(A)、(B)は、図11図14のシミュレーションの条件を示す側面図であって、図12(A)はY1−Y2方向から見た図、(B)はX1−X2方向から見た図である。シミュレーションにおいては、対象となるセンサパッケージSは基板Bの中央に半田付けして固定される。この基板Bは、一般的にRF4と呼ばれるガラスエポキシ材料であり、X1−X2方向の両端部が、Y1−Y2方向に延びる2本の棒状の固定治具R1、R2で支持されており、X1−X2方向の長さ15mm、Y1−Y2方向の長さ15mm、Z1−Z2方向の厚さ1mmの形状を備える。シミュレーションでは、図12(A)に示すように、基板BのX1−X2方向の両端面B1、B2からの距離Lが2.5mmの位置のライン上に100Nの力をそれぞれ加えたときにセンサパッケージSに発生する応力(ミーゼス応力)を算出している。ここで、100Nの力を加える位置は、X1−X2方向において固定治具R1、R2よりも内側である。
【0052】
図11(A)〜(F)と、図11(G)〜(L)とを対比して分かるように、リブ部161、162を設けた形態(図11(A)〜(F))の方が、リブ部を設けない形態(図11(G)〜(L))よりも、応力が高くなる範囲が小さくなっており、特に、圧力検知部20及びその周辺での応力分布に大きな違いが見られる。このような違いは、センサパッケージのX1−X2方向又はY1−Y2方向に曲げ圧力を加えた、いずれの場合にも現れているが、特に、リブ部を設けない形態のセンサパッケージにY1−Y2方向の曲げ圧力を加えた場合(図11(I)、(L))には、圧力検知部20及びその周囲の広い範囲に最大応力が発生している。これに対して、リブ部161、162を設けた形態では、図11(E)、(F)に示すように、圧力検知部20に発生する応力は最小又はそれに近い小さな値となっている。このため、リブ部161、162を設けることにより、センサパッケージ110に外力が加わっても圧力検知部20への影響を小さくすることができ、これにより、圧力検知部20からの出力を安定化できることが分かる。
【0053】
図13は、センサパッケージの圧力検知部からの出力を示すグラフである。横軸の「リブ有」は図9(A)に示す実施形態のセンサパッケージ110からの出力を示し、「リブ無し」は図9(B)に示す比較例1のセンサパッケージからの出力を示す。縦軸の出力変動(単位Pa)(N/m)は、センサパッケージに圧力を加えていない状態を0Paとしたときの圧力の変化を示している。「Y方向」は、センサパッケージにおけるY1−Y2方向の中心線を軸として曲げ圧力を加えた場合の出力変動を示し、「X方向」は、センサパッケージにおけるX1−X2方向の中心線を軸として曲げ圧力を加えた場合の出力変動を示している。
【0054】
図13から分かるように、リブ部161、162を設けた形態「リブ有」では、X1−X2方向又はY1−Y2方向のいずれに圧力を加えた場合でも出力変動を小さく抑えることができている。さらに、この形態では、圧力を加える方向に拘わらずほぼ一定の出力変動値を実現しているため、出力値を初期補正することによって、外力による影響を抑えた出力値を提供することが可能となる。これに対して、リブ部を設けていない形態「リブ無し」では、X1−X2方向に圧力を加えた場合に出力変動が大きくなっており、さらに、圧力を加える方向によって出力変動値に大きな違いが生じている。このため、外力の影響により圧力検知部20からの出力が不安定となることが分かった。
【0055】
ここで、図11及び図13においては、実施形態と比較例1についてのシミュレーション結果を示したが、圧力検知部20からの出力の安定性については、図1図5に示す基本形態のセンサパッケージについても同様である。
【0056】
図14(A)、(B)は、図10(A)に示す基本形態のセンサパッケージ110について行ったシミュレーション結果を示し、(C)、(D)は図10(B)に示す比較例2のセンサパッケージ210について行ったシミュレーション結果を示す。図10(A)に示すセンサパッケージ110においては、底面32のX1−X2方向に延びる辺130bと出力パッド137との最短距離はL11であり、Y1−Y2方向に延びる辺130cと出力パッド137との最短距離はL12である。図10(B)に示すセンサパッケージ210においては、X1−X2方向に延びる辺130bと出力パッド237との最短距離は、上記距離L11より小さなL21であり、Y1−Y2方向に延びる辺130cと出力パッド237との最短距離は上記距離L12より小さなL22である。すなわち、図10(B)に示すセンサパッケージ210では、図10(A)に示すセンサパッケージ110に対して、出力パッドが底面32上においてより外側に配置されている。ここで、XY平面において、出力パッド237はバンプ形成面131にほぼ対応した領域に配置されており、出力パッド137は底面136に対応する範囲よりも外側に配置されている。ここで、図10(A)、(B)に示すセンサパッケージ110、210において、出力パッドの位置以外の構成は同一である。
【0057】
図14(A)〜(D)は、センサパッケージにおけるY1−Y2方向の中心線を軸として曲げ圧力を加えた場合の応力分布をZ1方向上側から見た図であり、応力分布(単位N/m)を示しており、濃度が最も高い表示は1.5×10N/mを示している。図14(A)、(C)は、センサパッケージ110、210に生じる応力の分布を示す図であり、図14(B)、(D)は、圧力検知部20に生じる応力の分布を示す図である。
【0058】
図14(A)、(B)と、図14(C)、(D)とを比較して分かるように、出力パッドをケース30の底面32の内側に配置した形態(図10(A)、図14(A)、(B))の方が、外側に配置した形態(図10(B)、図14(C)、(D))よりも、応力の高い範囲が小さくなっており、外側に配置した形態では、圧力検知部20及びその周辺において高い応力を示している。これにより、ケース130の構造に対して、出力パッドの配置を最適化することによって、圧力検知部20からの出力を安定化できることが分かる。
【0059】
ここで、図14においては、実施形態と比較例2についてのシミュレーション結果を示したが、圧力検知部20からの出力の安定性については、図1〜5に示す基本形態のセンサパッケージについても同様である。
【0060】
以上のように構成されたことから、上記基本形態によれば、次の効果を奏する。これは、実施形態においても同様である。
【0061】
(1)互いに対向する側壁39a、39cにおいて、対向辺の略中央に、内側に突出するようにリブ部61、62をそれぞれ設けたことにより、センサパッケージに対して外力が加わっても歪応力が発生しづらくなることから、圧力検知部20からの出力が外力によって変動することを抑えることが可能となる。
【0062】
(2)第2パッド部35a、35b、35c、35dを、側壁39a、39cのうちリブ部61、62が設けられていない位置に対応する領域63、64、65、66にそれぞれ設けている。これにより、収容空間30sを効率的に使うことができるため、センサパッケージを小型化することができる。
【0063】
(3)リブ部61、62を、2つの第2パッド部に挟まれるようにそれぞれ設けているため、収容空間30s内において、リブ部61、62をX1−X2方向中央に配置し、かつ、2つの第2パッド部を対称的に配置できる。これにより、応力分布をXY平面において対称的にすることができるため、歪みが集中することを防ぐことができる。
【0064】
(4)側壁39a、39b、39c、39dを、上へ向かうほど外側へ広がる階段状部分を有する構成とし、階段状部分の中段面上に第2パッド部35a、35b、35c、35dとリブ部61、62を設けているため、ワイヤボンディング可能な収容空間30sを形成できるとともに、収容空間30sを効率的に使ってセンサパッケージを小型化することができる。
【0065】
(5)収容空間30sの開口部30aを覆う蓋部材を備えるため、ケース30の強度が高まることにより外力による歪み応力の発生を抑えることができるとともに、圧力検知部20を保護することができる。
【0066】
(6)蓋部材をIC基板40で構成することにより、構成材料を減らすことができ、また、IC基板40を収容するための収容空間を減らすことができるとともに、センサパッケージの平面サイズをIC基板と同等の大きさまで小さくすることができ、これにより小型化・低背化を図ることができる。
【0067】
本発明について上記実施形態を参照しつつ説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、改良の目的または本発明の思想の範囲内において改良または変更が可能である。
【産業上の利用可能性】
【0068】
以上のように、本発明に係るセンサパッケージは、小型であり、かつ、外力の影響を抑えた安定した検知出力が可能である。
【符号の説明】
【0069】
10、110 センサパッケージ
20 圧力検知部
23a、23b、23c、23d 第1パッド部
30、130 ケース
30a、130a 開口部
30s、130s 収容空間
30w、130w 底壁
31、131 パンプ形成面
33、133 第1バンプ
35a、35b、35c、35d 第2パッド部
37 出力パッド
39a、39b、39c、39d 側壁
40 IC基板
43 第2バンプ
51 ワイヤ
61、62 リブ部
63、64、65、66 領域
135a、135b 第2パッド部
138 保護壁部
161、162 リブ部
図1
図2
図3
図4
図5
図6
図7
図8
図9
図10
図11
図12
図13
図14