(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
前記基板ステーション表面の前記算出された角度方向は、前記基板ステーション表面によって定義された平面内における垂直軸周りの角度方向であり、前記垂直軸は前記基板ステーション表面から垂直に伸張していることを特徴とする請求項1記載の基板搬送装置自動教示システム。
前記基板ステーション表面は、輸送コンテナ、基板アライナ、バッファステーション、ロードロック、ロードポート、基板処理モジュール、若しくは基板測定モジュールのうちの少なくとも1つの上又はその中に位置していることを特徴とする請求項1記載の基板搬送装置自動教示システム。
【発明を実施するための形態】
【0014】
本発明にかかる前述の態様および他の特徴は、添付図面と関連づけられている以下の詳細説明において明らかにされるであろう。
【0015】
図1は、自動教示システムを有する典型的な基板処理装置100を示している。便宜のために、その装置はフロントエンド200とバックエンド300を有するものとして記述されていてもよい。一般に、フロントエンドは例えば、制御環境105の中において作動する基板搬送装置210を含んでいる。搬送装置210は、アーム215とそのアーム215を動かすために作動する駆動機構220を有する。駆動機構220は、フロントエンド200のフレーム230に直接接続されてもよく、駆動システムの一部であってもよい。駆動機構220は、
図1に示されているように、レール225に取り付けられてもよい。レール225はフロントエンド200のフレーム230に接続されている。レール225があるので、その搬送装置全体は方向Aに沿って駆動機構220によって直線的に平行移動される。代替例では、駆動機構220は直接フレーム230に取り付けられてもよい。駆動機構220は、駆動システムの一部であってもよく、制御システム110に動作可能となるよう接続されてもよい。また、駆動機構220は、制御システム110にリンクされ且つ搬送装置210に関する位置情報を制御システム110に与える位置エンコーダ235を備えてもよい。
【0016】
図1に示される基板搬送装置210の構成は単に典型例である。基板搬送装置210は駆動機構220に接続されるアーム215を有する。アーム215は上アーム240、前アーム245、およびエンドエフェクタ250を含む。上アーム240の近位端は駆動機構220に接続されている。上アーム240の遠位端は前アーム245の近位端に回転可能となるように接続されている。エンドエフェクタ250は前アーム245の遠位端に取り付けられている。
【0017】
図2に示すように、典型的な実施例においては、エンドエフェクタ250は、2つの突起部255、260からなる平坦なU字形状構成を有する。通しビーム検知器(スルービームセンサ)265をエンドエフェクタ上に設置する。典型的な実施例は、通しビーム検知器と一般的に称される検知器を参照して、本願において開示されているが、本発明の特徴はいかなる他の適当なタイプの検知器にも同等に適用できる。通しビーム検知器265は、突起部255に取り付けられた放射体270と突起部260に取り付けられた検出装置275とにより構成されてもよい。放射体270は光ファイバケーブル(図示せず)を介して、例えば、レーザに接続されてもよいが、一方、検出装置275は別の光ファイバケーブルを介して光学センサ(図示せず)に接続されてもよい。通しビーム検知器265は、放射体270と検出装置275の間において光線を生成する。例えば、光線が物体の存在によって遮断された場合、通しビーム検知器265は光線の遮断を検出する。この典型的な実施例においては、アームの伸縮(さもなければ、R、Tと称する)運動は一般に水平面内となる(
図1を参照)。駆動システムを使用することで垂直(Z運動)に搬送装置を移動させることによって、この水平面の高さを変えてもよい。この定型的な実施例では、アーム215の機構によって、エンドエフェクタ250の配置が保持されるので、エンドエフェクタ25は上アーム240の近位端から放射状に外側に(例えば、R方向において)向いている。アームは、アームの接線位置にかかわらず、回転する。代替例においは、アームを前アームに接続し且つ/又はエンドエフェクタを前アームに接続する独立に回転可能なジョイントがあってもよく、これにより、更なる独立した運動が可能となる。他の代替例では、垂直移動するように構成されてもよく又はされなくてもよいし、他の構成を有する基板搬送装置を有してもよい。代替例は、6つの自由度にて可動するアーム、線形直交系を有する搬送装置、又は適切ないかなる搬送装置若しくはシステムを含んでもよい。代替実施例は更なる基板搬送装置又はそのような装置を1つ含んでもよい。代替実施例は、真空環境若しくは極清浄環境などの孤立した環境において作動する基板搬送装置を有してもよいし又は有しなくてもよい。またそのような基板搬送装置は大気中で作動してもよい。他の実施例は、音響通しビーム検知器などのいかなる適切なタイプの通しビーム検知器を有してもよい。以下に示すように基板配置装置(基板アライナ)が位置合わせのために利用される場合、更に別の実施例においては、通しビーム検知器を備えていなくてもよい。
【0018】
また、典型的な実施例のフロントエンド200はロードポート120,125を含む。ロードポートによって、接続面に基板カセット130が備えられる。基板カセットの各々は、数個の基板を保持するように適合させられて、密封された包囲内において基板を支持してもよい。ロードポート120,125は、取り離し可能となるようにカセット130を支持し、カセットの扉を開けるための機構(図示せず)を含んでもよい。これによって、フロントエンド200の制御環境105内からカセットに設置された基板にアクセスすることができる。ロードポート120、125からみて搬送装置210の反対側には、ロードロック135、140がある。ロードロック135,140により、フロントエンド200はバックエンド300に接続されている。ロードロックの各々は、それをフロントエンド200の制御環境105に接続するバルブ(図示せず)及びそれをバックエンド300の搬送チャンバ305に含まれる孤立環境310に接続するもう一方のバルブを有する。搬送チャンバ305の孤立環境310は、例えば、真空、不活性ガス、窒素、又は他の液体であってもよい。フロントエンド200の制御環境105は、非常に低いレベルの粒子状汚染物質によって維持された大気圧の清浄空気であってもよい。このように、ロードロック135,140により、2つの環境105,310の分離が維持されつつ、フロントエンド200とバックエンド300との間において基板の通過が許容される。
【0019】
典型的な実施例では、バックエンド300は搬送チャンバ305を取り囲むフレーム315を含む。上で述べたように、搬送チャンバ305は真空などの孤立環境310を保持する。基板搬送装置320を搬送チャンバ305内に設置する。搬送装置320は、フレーム315に接続された駆動機構325とエンドエフェクタ365に接続された対立する1組のアーム335,340と、を含んでもよい。駆動機構325は、制御システム110に接続されて、制御システム110のアーム位置を示すための位置エンコーダ330を有する。
図1に示すように、典型的な実施例においては、搬送装置のアーム335,340はカエル脚の構成をなしている。2つの上アーム345,350の近位端の各々が駆動機構325に接続される。2つの上アーム345,350の遠位端の各々は2つの前アーム355,360の一方に接続され、あい対する一対の肘部を形成する。2つの前アーム355,360の遠位端はともに回転可能となるようにエンドエフェクタ365に接続されている。上記したように、エンドエフェクタ365は平坦なU字形をしている。この典型的な実施例では、アーム335,340の動作は固定面内に制限されている。他の実施例では、上下動を含む更なる自由度が与えられていてもよい。
【0020】
いくつかの処理モジュール370が搬送チャンバ305の周囲に設置されている。処理モジュール370は、基板に、蒸着、エッチング、若しくは他の処理を施し、基板上に電気回路若しくは他の所望の構造を形成し、又は測定機能若しくは他の作用をなす。処理モジュール370はチャンバ305に接続されており、これによって、基板は、搬送チャンバから処理モジュールに搬送される。そして、逆もまた同様である。上で説明したように、2個のロードロック135,140も搬送チャンバ305に接続され、フロントエンド200と搬送チャンバ305との間において、基板が搬送されるのを許容している。さらに、基板配置装置380が、1つのロードロック140とバックエンド搬送装置320との間に設置されている。同様の配置が、全内容を含める米国特許第5,882,413号に記載されている。
【0021】
図3は3つの基板支持ピン385,390,395の配置を示している。これらのピンは、ロードロック、処理モジュール、又は他の装置に設置してよい。そのピンは、破線で示された基板Sを支持するための、例えば、台又は台座として使用されてもよい。代替例においては、ピンはいかなる所望の形状であってもよい。
図3に示すように、典型的な実施例では、ピンの各々の一端は表面Fに接続されてもよい。一実施例では、基板支持ピンの各々は、一端が表面Fに接続されたピンを有する円柱形状であってもよい。一実施例では、表面Fは、ロードロックのフレーム若しくは処理モジュールの一体部分、又は、処理装置のいかなる他の適当な台座の表面であってもよい。別の典型的な実施例においては、表面Fは、固定具の表面であってもよい。その固定具は、所定の方法により、基板処理装置のいかなる最適な部分上に搭載されるように適合されている。その固定具は、位置合わせの目的及び/又は水平になす目的のために用いられ且つ取り外し可能な固定具であってもよい、そして、基板処理装置から取り外されてもよい。固定具Fが台座の表面上に位置する場合、固定具Fによって、ピン385、390、395と固定具を受け入れるために適合させられたその台座の表面との固定関係が定義される。典型的な実施例では、表面Fに対向するピン385,390,395の端部は、ロードロック、処理モジュール、又はいかなる他の適当な装置内にある場合であっても、基板を支持するのに使用されてもよい。基板支持ピン385,390,395は、基板ステーションを参照するのに使用されてもよい。基板ステーションは、例えば、基板がピン上に静止する位置、基板搬送面において基板がピン上に配置された場合では基板の位置、又は他の位置に位置する。また、基板支持ピン385,390,395は、基板支持ピン385,390,39が取り付けられたロードロック135、処理モジュール370、又はいかなる他の装置を水平になすための参照特徴体(参照特徴部)としても機能してもよい。
【0022】
図4は、制御システム110と処理装置の様々な構成部分との接続を示しているブロック図である。
図4に示すように、制御システム110は、フロントエンド基板搬送装置210、バックエンド基板搬送装置320、基板配置装置380、処理モジュール370、ロードロック135,140、およびロードポート120,125に接続されている。また、制御システム110は他の装置に接続されてもよい。制御システム110はいかなるタイプの制御システムであってもよい。制御システム110は、例えば、単一のコンピュータ、コンピュータネットワーク、又は分散制御アーキテクチャを有するシステムであってもよい。制御システム110は、搬送装置210,320の各々、ロードロック135,140、ロードポート120,125、処理モジュール370、及び配置装置380において、少なくとも一つの中央のコンピュータと少なくとも1個のコンピュータとを含むコンピュータの階層構造であってもよい。
【0023】
再び
図1を参照し、基板処理装置100の典型的な操作について説明する。一方の取り外し可能なカセット130は、ロードポート120でドッキングされ、他方のカセット130はロードポート125でドッキングされてもよい。カセット130は、フロントエンド基板搬送装置215によるアクセスを許容するよう開いていてもよい。搬送装置210はエンドエフェクタ250と共にカセット130に接近してもよい。エンドエフェクタを垂直方向に動かすことによって、通しビーム検知器265は、カセット130の内容物をマッピングするのに利用されるので、カセット内のいかなる基板も、2つの突起部255,260の間を通過し且つ通しビーム検知器によって検出される。光線ビームが遮断された場合、基板とエンドエフェクタとが接触しなくとも、検出される。その結果、通しビーム検知器265はカセット内の基板の位置に関する情報を制御システム110に与えてもよい。そのマッピング操作は開いたもう片方の基板カセット130においてもなされてもよい。次に、フロントエンド基板搬送装置210は、カセット130の一方から基板を採取し、ロードロック135,140のうち一方に基板を載置する。
【0024】
バックエンド搬送装置320は、ロードロック135,140から基板を取り出して、基板配置装置380上に基板を置いてもよい。基板配置装置380は、基板の端部を走査することによって、基板の位置及び角度方位を測定してもよい。リニアCCDセンサ又は他の装置によって基板の端部を検出しながら、把持部(図示せず)上の基板を回転させることによって、基板の位置及び角度方位を測定してもよい。代替例においては、走査の間、基板は静止したままであってもよいし、基板の端部は異なった検出器を使用して検出されてもよい。基板配置装置380は、配置装置に関連する座標系において基板の偏心距離を測定する。偏心距離は、参照点からの基板の中心までの補正値である。例えば、参照点は、極角成分又は直交成分により表された偏心距離を用いて、把持部の回転軸線上にあってもよい。測定された基板の偏心距離は、配置装置380によって制御システム110に送信されてもよい。
【0025】
バックエンド搬送装置320は、エンドエフェクタ365を使用して基板を採取してもよい。所望であれば、基板は、配置装置380によって測定された基板の
偏心距離を補償する補正値を伴って採取されてもよい。したがって、配置装置380は、正確に基板を置くために、搬送装置320と連動して使用されてもよい。基板の配置が完了すると伴に、搬送装置320は、処理モジュール370のうちの一つの内に基板を正確に載置してもよい。基板上に形成される必要な構造に応じた様々な処理モジュール370に対して、基板が採取され且つ載置される。基板が複数の処理モジュールを循環した後に、フロントエンド搬送装置210が取り出せるように、そして基板カセット130の一方に載置できるように、基板は再びロードロック135,140の一方に載置されてもよい。
【0026】
上記の実施例による処理装置100の操作のためには、制御システム110は物理系の幾何学表現を使用してもよい。カセット、ロードロック、処理モジュール、又はその他の装置に対して基板を採取及び載置する目的のために、その物理系の幾何学表現は、搬送装置210の一つの位置座標などのキーポイントになる座標を示す表データであてもよい。この表データはコンピューターメモリ内に保存されてもよい。他の実施例においては、ベクトル型のCADデータ又は3次元数理モデル化の使用等のシステムのより複雑な数理的モデル化を採用してもよい。様々な座標系は、様々な幾何学関係を表すのに使用されてもよい。処理装置の部品の各々に対して、構成部品レベルでの座標系を定義してもよい。そして、様々な構成部品レベル座標系の間の関係を表すために、全体的な座標系を使用してもよい。構成部品レベル座標系を、構成内での幾何学的関係を表すのに使用し、全体的な座標系を、構成間の幾何学上の関係を表すのに使用してもよい。例えば、処理モジュール370の幾何学的関係は極めて正確に知られていてもよい。したがって、基板支持ピン385,390,395と、処理モジュールに対して基板を採取し又は積置する搬送装置の予め決められた位置との幾何学的関係を、その処理モジュールに固有の構成部品レベル座標系によって表してもよい。また、ロードロック134,140の各々は、構成部品レベル座標系を有してもよい。搬送装置210,320の各々は、基板配置装置380が有するような座標系を有してもよい。構成部品レベル座標系のいくつかは直交座標系であってもよい。その他はとしては、極座標系又は他の座標系であってもよい。例えば、各搬送装置は、構成部品レベル座標系を有してもよく、極座標(R、Θ、Z)が用いられ、Z軸は、各アーム215,335,340の回転軸と一致する。これによって、アームの位置が簡素に表わされる。同様に、配置装置380は、半径及び接線成分によって現された基板の偏心距離と伴に、構成部品レベル極座標系を有してもよい。一般に、構成部品間の幾何学的関係は、十分正確には知られてもよいし、一方、構成部品間の幾何学的関係は知られていなくてもよい。全体的な座標系を、構成部品間の幾何学的関係を表すのに使用してもよくて、したがって、複数の構成部品レベル座標系の間の幾何学的関係を表すのに使用してもよい。
【0027】
座標系の正確な数理的モデル化によって、制御システム110は、基板の軌道を調整して、物体と基板との衝突を避けることができる。後に説明するように、その数理的モデル化の精度を向上させるために、基板搬送装置210、320を自己教示するようにしてもよい。さらに、通しビーム検知器265を有する基板搬送装置210は、システムの水平になすことを部分的に又は完全に自動化するのに使用されてもよい。
【0028】
典型的な実施例では、制御システム110は、位置エンコーダ235によって与えられた情報を用いて、フロントエンド搬送装置210のエンドエフェクタ250の位置を算出できてもよい。この情報をフィードバックとして用いることによって、制御システム110はエンドエフェクタ250を所望の位置に正確に位置づけることができる。物体が光線ビームの経路において検出される場合、通しビーム検知器265は制御システム110に指示を与える。したがって、制御システム110は、エンドエフェクタ250の位置を測定できる。その通しビーム検知器の位置が知られているので、エンドエフェクタ250のその位置において、通しビーム検知器265は物体を検出する。その物体が遮る光ビームに沿った正確な位置は、正確に分からなくてもよい。
【0029】
典型的な実施例では、後に説明するように、例えば、ロードロック135を水平にすることによって、制御システム110は、構成部品を水平になす搬送装置を用いてもよい。
図6は、フローチャート形式におけるこの技術の態様を示している。
図6と本明細書に参照された他のすべてのフローチャートに関して、一連のブロックは単に例である、そして、代替実施例においては、ブロックはいかなる適切な順序において実施されてもよい。同時に、代替実施例では、いかなる適切なブロックも実施されてもよい。
図3及に示し且つ上記に説明したように、ロードロック135はロードロック135を水平になすための参照特徴体として機能する3つの基板支持ピン385,390,395と、特に、この例においはロードロック内部の支持ピンによって画定される基板台座表面を有する。搬送装置210を用いて基板(すなわち、基板ステーション)を採取し且つ載置するためには、基板支持ピンと予め決められた位置との幾何学的関係は分からなくてもよい。しかしながら、搬送装置210とロードロック135との幾何学的な関係は大まかに知られているだけであってもよい。フロントエンド搬送装置の座標系のZ軸に垂直な参照面に対して、ロードロックを水平にするのが望ましい。言い換えれば、その参照面は、搬送装置座標系のR−θ平面であってもよい。ブロック600において、制御システム110は、参照特徴体の上方に通しビーム検知器を位置させることによって、基板搬送装置110を参照特徴体
(すなわち、基板支持ピン385
)に近づけるようになす。その後、ブロック605において、通しビーム検知器のビームがその
参照特徴体によって遮られるまで、制御システム110は基板搬送装置110を搬送装置座標系のZ方向に移動させる。ブロック610において、制御システム110は、その参照特徴体385が検知されたZ軸高さを記録してもよい。また、ブロック615,620と630,635において、同様に、通しビーム検知器265を用いて基板支持ピン390,395に接近し、ブロック625及び640において、基板支持ピン390,395の各々のZ軸高さが記録されてもよい。3つのZ軸高さによって、基板搬送装置参照フレームにおける平面が定義される。参照面(この場合R−θ平面)からのロードロック135の位置合わせのずれは、ブロック645において計算されて、そのずれがブロック650の所望の精度の内に収まっているか否かを算出するように評価される。この実施例では、参照特徴体の各々のZ軸高さが同じであるならば、ロードロックは水平である。他の実施例では、構成物が水平であるならば、参照特徴体385,390,395は異なったZ軸高さを持ってもよい。また、他の実施例では、非垂直方向又は互いに平行ではない方向に沿って、参照特徴体に接近してもよい。参照特徴体は、ロードロック、ロードポート、処理モジュール又は他の装置上において静止するように設計された水平固定具の特徴体など、基板支持ピン以外の特徴体であってもよい。
【0030】
ブロック645において、制御システム110は、垂直方向からの角度偏差を計算するのにベクトルを使用してもよい。
図5は直交座標系のベクトルを表しており、その直交座標系においては、Z軸は基板搬送装置の座標系のZ軸に対応してもよい。他の実施例では、様々なベクトルがいかなる適切な座標系においても表されてもよい。その上、ベクトルに基づいた記述が、記述目的に適うのであれば、制御システムは数学的に等価であればいかなる計算形式も使用してよい。V
12は、特徴体385の先端から特徴390の先端までに至る変位ベクトルである。同様に、V
13は、特徴体385の先端から特徴395の先端までに至る変位ベクトルである。搬送装置座標系におけるこれらのベクトルのZ成分は、通しビーム検知器265の指示から直ちに算出される。搬送装置座標系におけるこれらのベクトルのXY成分は、制御システム110に供給されたロードロック135及び上記したように構成部品レベル座標系において記述されたロードロック135の正確な幾何学関係を利用して、算出されてもよい。その2つのベクトルV
12及びV
13によって、一つの平面が定義されている。単位ベクトルnはn=(V
12×V
13)/|V
12×V
13|によって定義されたこの平面に対して垂直な方向に向いていてもよい。単位ベクトルuを搬送装置座標系のz方向において定義してもよい。したがって、α=acos(n・u)となる。ここで、αは位置調整における角度偏差である。ブロック650では、αが最大許容角度と比較される。αがその最大許容角度を超えると、ブロック655において、制御システム110は、ステーション固有調整特徴体に関してロードロック135に対してなされる必要な位置調整量を算出してもよい。制御システム110は、ロードロック135を水平にするための必要なすべての位置調整を最小にするために、必要な位置調整を最適化してもよい。あるいはまた、制御システム110は、ロードロック135を水平することに加えて、基板ステーションの垂直位置を所望の位置となすように、必要な位置調整を指定してもよい。ブロック660において調整がなされた後に、角度αは再度算出され、最大許容角度と比較される。本発明の他の実施例では、水平にされるべき装置は、動力化された調整特徴体を備えてもよい。その調整特徴体は、制御システムに接続されていてもよいし、その水平処理は完全に自動化されていてもよい。
【0031】
参照面内における基板ステーションの位置及び参照面における基板ホルダの角度方位を測定する技術について、例として、ロードロック135を用いて説明する。一般に、通しビーム検知器265は、参照特徴体が接近させられる方向だけに沿って、参照特徴体の位置を正確に測定できる。3方向(そのうち2つの方向が独立している)に沿って通しビーム検知器265を移動させることにより参照特徴体の各々を一度接近させることによって、基板ステーションの位置及び角度方位を測定していてもよい。あるいはまた、2つの独立した方向において単一の参照特徴体を接近させることによって、2つの方向によって定義された平面内の特徴体の位置を測定できる。そして、また、第1参照特徴体に対して幾何学的関係を有する第2参照特徴体を接近させることによって、基板ステーションの角度方位を測定してもよい。
【0032】
図7は、単一の水平方向において3つの特徴体の各々を接近させることによって、水平面における基板ステーションの位置及び方位を見出す技術を幾何学的に表している。
図8は、フローチャートを用いてその技術を示している。空間的狭小であるか或いは基板搬送装置に十分な数の自由度がない故に、単一の参照特徴体が多方向においてアクセスできない場合に、この技術が特に有益である。この実施例では、参照特徴体は、ロードロック135の3つの基板支持ピン385,390,395である。また、基板支持ピン385,390,395と基板ステーションとの間の幾何学的関係も分かっている。上で説明したように基板搬送装置210を用いて、ロードロック135は最初に水平にされてもよい。そして、ブロック800において、通しビーム検知器が特徴体を検出するまでに、水平方向(搬送装置座標系におけるR−θ平面と同一平面方向)において、通しビーム検知器265を用いて、参照特徴体と基板支持ピン385は接近されてもよい。ブロック805において、特徴体が検出されるその水平面における通しビーム検知器の位置は記録されてもよい。ブロック810において、通しビーム検知器がその特徴体を検出するまでに、支持ピン390は水平方向において接近させられ、ブロック815において、検知時の通しビーム検知器の位置が記録される。最終的に、820においてにおいて、参照特徴体395が検知されるまでは、参照特徴体395は水平方向において、通しビーム検知器265を用いて参照特徴体395は接近させられてもよい。ブロック825において、通しビーム検知器が特徴体を検知した位置が記録される。この実施例では、基板支持ピン385,390,395の各々を検出している間、基板搬送装置210はレール225に沿って同じ位置に保たれる。したがって、代替実施例においては、レールのない固定駆動機構を用いているにもかかわらず、その技術を用いていてもよい。
上アームと駆動システムの間のジョイントから直接外側に常に向いている通しビーム検知器を用いて、基板搬送装置210のエンドエフェクタ250は、R、θ、およびZ方向において単に移動することができるので、3本の支持ピンの各々が、2本の支持ピンと他の2本の支持ピンにおいてわずかな角度で方向(それぞれが異なったθ位置にあると仮定する)において接近させられるだろう。参照特徴体385,390,395と基板ステーションとの幾何学的関係が制御システム110に知られているので、ブロック830では、制御システムは基板ステーションの位置及び水平面における角度方位を算出することができる。
図7に示すように、エンドエフェクタ250の通しビーム検知器265を用いて、参照特徴体385、390、395の各々に接近すると、幾何学情報が制御システムに与えられる。例えば、参照特徴体385、390、395の各々は、3つの対応点A、B、およびCにおいて、通しビーム検知器265のビームを遮る表面又は表面部分を有する。点A、B、Cの各々の正確な位置を検知器265を用いて直接検出する必要はない。代わりに、線a、b、及びcに関するパラメータが測定される。点A、B、Cの各々は対応する線a、b、c上にあり、ビームが対応する参照体によって遮られた瞬間に、その線の各々は通しビーム検知器265のビームに一致する。点A、B、およびCの間の距離は分かっていてもよい。
図7から分かるように、各点が位置する線a、b、cの既知の位置及び点A、B、Cの間の既知の距離から、点A、B、およびCの厳密な座標を計算してもよい。
図7の点Rは、参照特徴体385、390、395に対して固定位置を有する参照点である。基板が基板ステーションに載置されるとき、例えば、ポイントRは基板の中心を示すものであってもよい。既知の点A、B、Cの厳密な座標を用いて、参照点Rの厳密な座標を計算してもよい。このように、基板ステーションの位置座標を算出してもよい。
【0033】
図9は、水平面における
基板ステーションの位置及び座標を算出する異なる実施例と他の技術を幾何学的に示しており、
図10においても同様に示されている。この実施例においては、その技術を実行するために、基板搬送装置210がレール225に沿って移動される通り、更なる自由度が用いられている。代替実施例においては、更なる自由度は他の方法によって与えられてもよい。例えば、エンドエフェクタ250と前アーム245との間においてジョイントを与えることによって、更なる自由度が与えられてもよい。そのジョイントは、前アームに対するR−θ平面においてエンドエフェクタを回転させるために、独立して駆動される。この技術においては、ブロック1000、1010において、2つの独立した水平方向において、通しビーム検知器を用いて、参照特徴体385が2度接近させられる。ブロック1005、1015において、各々の参照特徴体に接近し、参照特徴体が検知された検知器の位置の各々が記録される。ブロック1020において、この情報から、水平面における参照特徴体385の位置が算出されてもよい。
図9は簡単なケースを示しており、そこで参照特徴体の水平断面は点Aとして扱われてもよい、そして、その位置は、それが特徴体によって遮られているとき検知器ビームの位置と一致する直線a1及びa2の単なる交差点である。通しビーム検知器265を用いて、水平方向に沿って参照特徴体390に接近させる。参照特徴体390が検出される通しビーム検知器256の位置によって、水平方向における基板ステーションの角度方位を算出するために、ブロックにおいて用いられる更なる情報が与えられる。また、
図9に示されているように、2つの独立した水平方向において、通しビーム検知器265を用いて、参照特徴体390は二度接近させられてもよい。通しビーム検知器265が参照特徴体を2度検知すると、参照特徴体390は、検知器265の通しビームと一致する2つの線b1及びb2の交差点によって定義される点Bとして取り扱われてもよい。2つの参照特徴体の各々に二度接近すると、手法の精度をチェックするのに使用されてもよい追加データが発生する。他の実施例では、追加データなしで、基板ステーションの角度方位を測定して、第2参照特徴体に一度だけ接近してもよい。
図9の点Rは、参照特徴体385、390に対して固定位置を有する参照点である。既知の点A、B、およびCの厳密な座標を用いて、参照点Rの厳密な座標を計算してもよい。参照点Rは基板ステーション位置を示してもよい。
【0034】
バックエンド搬送装置320によってアクセスされる基板ステーションに対して、基板配置装置380は、搬送装置320と組み合わせて、基板ステーションの位置を正確に算出するのに用いられてもよい。上記したように、バックエンド搬送装置参照フレームにおいて、基板配置装置380の正確な座標と角度方位を制御システム110に提供してもよい。あるいはまた、配置装置380に関する位置と座標を以下で説明する別の技術によって算出してもよい。最初に、処理モジュール370の実施例を用いて、基板ステーションの位置を算出する技術について説明する。
図11は、概略的な態様においてその技術示し、
図12はフローチャートを用いて同技術を示している。ブロック1200において、基板は基板ステーション380に正確に載置される。これは、手動で行われても良い。この実施例において、基板ステーションは、搬送装置320によって処理モジュール370に基板が載置された後に基板が理想的に静止する位置である。ブロック1205において、搬送装置320はエンドエフェクタ365により基板を採取する。基板ステーションの正確な位置が未知であるので、基板はエンドエフェクタ365上の中心に厳密に位置する可能性は低く、ある補正値を伴って採取されるであろう。ブロック1210において、基板搬送装置320は基板を動かして、基板配置装置380に基板を載置してもよい。エンドエフェクタ365上に載置された基板のその補正値のために、基板は補正値を伴って配置装置380に載置されるだろう。ブロック1215では、配置装置380は、配置装置上にある基板の位置を配置装置座標系において算出する。この情報は制御システム110に伝えられる。配置装置座標系と搬送装置座標系との関係が制御システム110に知られているので、制御システムは、搬送装置座標系における補正値を計算するために、適切な座標変換を適用してもよい。ブロック1220では、補正値の座標及び基板が採取された時の座標を使用して、制御システムは基板ステーションの正確な位置を算出してもよい。この技術の変形例が、全体として組み入れられている2003年7月3日出願の米国の特許出願第10/613,967号に記載されている。
【0035】
また、2つの基板ステーションの間の幾何学的関係が知られ且つ2つの基板ステーションの位置がともに知られている場合にあっては、制御システムは搬送装置参照フレームにおける基板ステーションの角度方位を算出してもよいことも分かる。例えば、第1及び第2基板ステーションの間の距離は知られていてもよい。第2基板ステーションに対する第1基板ステーションの角度方位は、また、知られていてもよく、制御システムに格納されてもよい。そうだとすれば、基板搬送装置参照フレーム内の第1基板ステーションの角度方位を、基板搬送装置参照フレーム内の第1及び第2基板ステーションの両方の位置を算出し且つ算出された位置を第2基板ステーションに対する第1基板ステーションの格納された既知の角度方位と関連づけるコントローラーによって、算出してもよい。上記説明し且つ
図12に示されている技術に係る基板配置装置を使用することで、基板ステーションの位置を個別に算出してもよい。これによって、基板ステーションの各々にR、θ座標を与えてもよいが、必ずしも、基板ステーションの角度方位は与えらなければならないというわけではない。
図15は、各々の基板ステーション415,4202を有する処理モジュール405,410を示している。処理モジュール405、410の各々は、搬送チャンバ305の周囲に装着された
図1に示されている処理モジュール370の1つであってもよい。処理モジュール405,410の各々は、アクセス面455,460を有する。アクセス表面455,460の各々は、一般に基板搬送装置320に向かって指向している。それぞれのアクセス表面455,460におけるアクセスが、基板搬送装置320による各々の処理モジュール405、410に対する基板の通過のために与えられる。方向Dは、基板ステーション415の中心から基板ステーション420のセンターに向かう方向を示している。方向Rは参照方向である。この実施例において、方向Rは、基板ステーションの中心から処理モジュール405のアクセス表面
455の垂直中心線への方向であってもよい。他の実施例では、いかなる他の適当な参照方向が選択されてもよい。角度θは方向Dと方向Rとの間の角度である。角度θは第2基板ステーション410に対する第1基板ステーション405の角度ジオメトリーを定義する。角度θは、最初から知られており、制御システムにおいて格納されてもよい。搬送装置参照フレームにおける基板ステーション415,420の各々の座標を、上記の説明した技術を使用することで算出してもよい。そして、制御システムは、搬送装置参照フレームにおける基板ステーション405の角度方位を算出するのに、格納された角度θを適用してもよい。
【0036】
図16は基板ステーション座標と格納された角度θとの関係を幾何学的に示す。
図16の説明図と次の方程式は一例であって、代わりの幾何学的手法及び代わりの数学的方法を他の実施例に用いてもよい。搬送装置座標系は、基板搬送装置320のアーム335,340の回転軸に原点を有する極座標系であってもよい。基板ステーション415、420の各々の座標を、上記の説明した技術によって、基板配置装置380を使用することで算出してもよく、又は別の方法で算出してもよい。基板ステーション415の中心座標は、(R
1、T
1)として与えられてもよい。同様に、基板ステーション420の中心座標は、(R
2、T
2)として与えられてもよい。角度αは、基板ステーション415の中心における頂点と伴に、基板搬送装置座標系の原点と基板ステーション420の中心との間の角度として定義されてもよい。角度θがαと等しい場合にあっては、アクセス面455が基板搬送装置320のアーム335,340の回転軸に直接に向かう方向に合わされていることが分かる。既知の幾何学法則を適用して、正弦法則を余弦法則と組みあせて、R
1、T
1、R
2、及びT
2を用いてαの式を次式のとおり得ることができる。α=arcsin[(R
2sin(T
1−T
2))/sqrt(R
12+R
22−2R
1R
2cos(T
1−T
2))]
上記の方程式によって、角度αは制御システム110によって計算されてもよい。制御システム110は、搬送装置参照フレームにおける基板ステーション405の角度方位を算出するために、格納された角度θと角度αを比較してもよい。参照フレームの原点に対して角度αと角度θの差異によって、搬送装置参照フレームにおける基板ステーション405の角度方位が与えられる。この実施例では、搬送装置参照フレームにおける基板ステーション405のその角度方位は、基板搬送装置アーム335,340の回転軸と一致している。本発明の他の実施例では、基板ステーション405の角度方位を算出するのに他の技術を使用してもよい。他の実施例では、任意の原点を有する直交座標系などの搬送装置参照フレームとして異なった参照フレームを選択してもよい。
【0037】
基板配置装置380の正確な位置が未知であるなら、配置装置座標系と搬送装置座標系との関係を以下の技術によって算出してもよい。一般的な用語において、搬送装置320を用いて異なる偏心距離を有する配置装置380上に基板を繰り返して載置する工程と、搬送装置320及び配置装置380の両方からの位置データを記録する工程と、搬送装置座標系における搬送装置の座標を求める計算を行う工程とを、その技術は含む。
【0038】
上で説明したように、配置装置380の位置に関する大まかな座標は、初めから制御システム110に与えられてもよい。
図14のフローチャートで示されているように、より正確な座標を算出するための手順を始めるために、ブロック1400において、基板はエンドエフェクタ250上に備えられている。しかし、基板は厳密に中心を取らなくてもよいが、±5mmのわずかな偏心距離を有してもよい。したがって、手動でこのブロックを実行してもよいし、又はロードロック135,140のうちの一つ若しくは処理モジュール370からエンドエフェクタに対して基板を採取してもよい。そして、制御システム110は、ブロック1405において、配置装置380に基板を載置するように搬送装置320に指示する。ブロック1410において、載置時のエンドエフェクタ365の位置は制御システム110によって記録される。そして、ブロック1415において、配置装置380は、基板の偏心距離を測定するために基板を走査する。ブロック1420において、測定された偏心距離は制御システム110によって記録される。次に、搬送装置320はエンドエフェクタ365上に位置する基板の最初の偏心距離を維持して配置装置380から基板を採取する。基板は、僅かに異なる位置で再び配置装置380に載置され、走査される。再び配置装置380とエンドエフェクタ365の偏心距離を含むもう一方の1セットのデータがこの第2の位置に対して記録される。載置の位置はすべて、例えば約5mm離れるようにお互いに近いものであってもよい。エンドエフェクタ365上における基板の初めの偏心距離を更に維持しながら、その手法は、第3の位置のための第3の1セットのデータを生成するように繰り返して動作される。望むのであれば、更なるデータ点を収集してもよい。本発明の代替実施例においては、エンドエフェクタ365上に位置する基板の偏心距離は変化してもよい。
【0039】
図13は配置装置参照フレームと基板搬送装置参照フレームとの幾何学的な関係を示している。配置装置380と搬送装置320の両方に対する位置データの各々は、極座標において制御システムの各々に送られてもよい。しかしながら、以下の直接的な手法での計算を説明するために、これらの座標系は、直交座標として
図13において説明され且つ示されている。また、制御システム110は送られた極座標を直角座標に変換してもよい。搬送装置参照フレームの直交座標は、水平成分x、yを有する。配置装置参照フレームの直交座標は、水平成分ξ、ηを有する。配置装置座標系の原点
は、搬送装置座標系における
点Xo、Yoにある。搬送装置座標系に関する配置装置座標系の回転、特にX軸とξ軸とがなす角度は、αとして示されている。Rはエンドエフェクタ365上の参照点である。ポイントCで示された基板の中心が参照点Rに並ぶと、基板はエンドエフェクタ365上の中心に置かれると考えられてもよい。参照点Rからの基板の中心Cの偏心距離(又は補正値)は、成分a、bを有する。搬送装置座標系のエンドエフェクタの角度方位はθによって記されている。
【0040】
与えられたデータセットに関し、基板の中心CのX座標は次のように表される。
【0041】
x
C=x
R+(a)cosθ−(b)sinθ
又は
x
C=x
O+(ξ
c)cosα−(η
c)sinα
両式は同じ物理的長さx
Cを表しており、したがって、両表現が理想的にはx
Cに対して同じ値に達することが分かる。しかしながら、x、y座標系とξ、η座標系との関係は初めは未知である。また、位置情報には、何らかの変化があってもよい。なぜならば、測定値は非常に正確であってもよいが、完全な精度を伴わない。y
cに対して同様の式を記述してもよい。ベクトルξによって、点Cの座標間の差異が異なる表現を用いて与えられる。インデックスiは異なったデータ点を示し、ε
1iがx軸座標であり、ε
2iがy軸の座
標である。
(a)cosθ
i−(b)sinθ
i−x
O−(ξ
ci)cosα+(η
ci)sinα
+x
Ri=ε
1i
(a)sinθ
i+(b)cosθ
i−y
O−(ξ
ci)sinα−(η
ci)cosα
+y
Ri=
ε2i
異なったデータ点にたいして、x
Ri、y
Ri、θ
i、ξ
ci及びη
ciは既知である。a、b、x
O、y
O、及びαは未知である。ブロック1430において、コスト関数Jは、上記変数と関連するように定義されてもよい。
【0043】
ブロック1435において、効率的な数値的手法を用いて、このコスト関数を最小にすることによって、未知の値を算出することができる。数値の最小化は制御システム110によって行われてもよい。理想的には、全てのiに対して、ε
1i=ε
2i=0となるように、a、b、x
o、y
o及びαに対して1セットの値があり、これにより、J=0となる。これが意味することは、配置装置座標系と搬送装置座標系との間の関係が、x
o、y
o及びαに対する数値によって正確に記述されることである。しかしながら、上記で議論したように、位置情報を正確に測定しなければならない。したがって、Jの最小値はゼロでなくてもよい。
【0044】
コスト関数Jの最小値を算出することによって、配置装置座標系と搬送装置座標系との間の関係について表すx
o、y
o及びαが与えられるので、搬送装置座標系において、配置装置380に正確な座標を与える。さらに、a、bの値が見出され、エンドエフェクタ365上における点Rに対する基板の偏心距離が記述される。これらの数値の全てが、基板処理装置の次の動作において用いられる。その動作には、上記の説明した技術による基板ステーションの位置を算出するのに配置装置380を使用する工程が含まれる。配置装置座標系と搬送装置座標系との間の関係を見出す上記技術は、基板ステーションの正確な位置を同時に見出すことに用いられてもよいことも分かる。基板が、処理モジュール又は基板ステーションと関連する他の装置から最初に採取される場合にあっては、変数数a、bは、基板ステーション座標における補正値に直接対応するであろう。
【0045】
上記説明は本発明の例証にすぎないことを理解すべきである。種々の代替例及び変更例がこの発明から逸脱することなく技術に通じた者によって案出され得る。従って、この発明は、添付の諸請求項の範囲内に入るようなすべての代替例、変更例及び変化例を包含するものと解釈される