発明の名称 質量分析/質量分析データを並列取得するための方法および装置
出願人 アルバック・ファイ株式会社 (識別番号 596043379)
特許公開件数ランキング 30447 位(0件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 24615 位(0件)(共同出願を含む)
出願人 ロン エム.ヘーレン (識別番号 514246369)
特許公開件数ランキング 30447 位(0件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 24615 位(0件)(共同出願を含む)
公報番号 特許-6301907
公報発行日 2018年3月28
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6301907
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