(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
【図面の簡単な説明】
【0008】
【
図1】本発明の実施形態に係る基板移載システムの構成を示す模式図である。
【
図2】本発明の実施形態に係る基板移載システムの吸着パッドの吸着面の形状例を示す模式図である。
【
図3】比較例の基板移載システムの構成を示す模式図である。
【
図4】本発明の実施形態に係る基板移載システムにおける吸着パッドのレイアウト例を示す模式図である。
【
図5】本発明の実施形態に係る基板移載システムにおける吸着パッドの他のレイアウト例を示す模式図である。
【
図6】吸着パッドの材料の違いによる基板表面の傷の発生の有無を調査した結果を示す表である。
【
図7】本発明の実施形態の変形例に係る基板移載システムの吸着パッドの吸着面の形状例を示す模式図であり、
図7(a)は吸着面の面法線方向から見た平面図であり、
図7(b)は
図7(a)のVII−VII方向に沿った断面図である。
【
図8】本発明のその他の実施形態に係る基板移載システムの吸着パッドの吸着面の形状例を示す模式図である。
【
図9】本発明のその他の実施形態に係る基板移載システムの吸着パッドの突起部の形状例を示す模式図である。
【
図10】本発明のその他の実施形態に係る基板移載システムの構成を示す模式図である。
【
図11】本発明のその他の実施形態に係る基板移載システムの吸着パッドの支持方法を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【0009】
図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。ただし、図面は模式的なものであることに留意すべきである。又、以下に示す実施形態は、この発明の技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、この発明の実施形態は、構成部品の構造、配置などを下記のものに特定するものでない。この発明の実施形態は、請求の範囲において、種々の変更を加えることができる。
【0010】
本発明の実施形態に係る
図1に示す基板移載システム1は、吸着パッド10と、吸着パッド10を支持するアーム部20と、吸着パッド10に基板100を真空吸着させる真空装置30とを備える。なお、「吸着パッド10」は、複数の吸着パッド11、12、・・・の総称である(以下において同様。)。
【0011】
吸着パッド10の基板100に対向する吸着面には、真空孔101及び真空孔101の周囲を囲む突起部102が形成されている。基板100の表面の互いに離間した位置に、複数の吸着パッド10のそれぞれの突起部102の上面が同時に接触する。
【0012】
例えば、
図2に示すように、吸着パッド10の吸着面に突起部102が円環形状に形成されている。そして、周囲を突起部102に囲まれた円形状領域の中央付近の吸着面に、真空孔101が形成されている。例えば、突起部102の外径D1は5mm程度であり、内径D2は2.5mm程度である。また、真空孔101の直径は1mm程度である。
【0013】
なお、吸着パッド10の吸着面の外形が円形状である例を示したが、多角形などの他の形状であってもよい。また、突起部102が、円周方向に垂直な断面が矩形状の円環突起である例を示した。しかし、突起部102が円環以外の環形状であってもよいし、断面が矩形状以外の例えば台形状などであってもよい。
【0014】
図1に示したように、吸着パッド10のそれぞれはアーム部20に支持される。例えば
図1に示すように、アーム部20の先端にベースプレート21が設置され、複数の吸着パッド10がベースプレート21に装着される。
【0015】
真空装置30は、複数の吸着パッド10の真空孔101とそれぞれ真空経路31を介して接続されている。真空経路31はチューブ状であり、真空経路31の一方の端部は吸着パッド10のそれぞれの真空孔101に連結し、他方の端部は真空装置30に接続されている。
図1に示した例では、ベースプレート21を貫通して、真空経路31が吸着パッド10の真空孔101に接続されている。真空装置30には、例えば真空ポンプなどが使用される。
【0016】
突起部102の上面が基板100に接触した状態で、真空装置30が真空経路31の内部を周囲よりも負圧にする。これにより、吸着パッド10の吸着面における、突起部102に周囲を囲まれて真空孔101の配置された領域が真空となり、吸着パッド10の吸着面に基板100が真空吸着される。一方、真空経路31内の真空状態を破ることにより、吸着パッド10の吸着面から基板100が離れる。
【0017】
基板移載システム1は、吸着パッド10に基板100を真空吸着しながら基板100を移載する。ここで、「基板を移載する」とは、サンプルホルダに基板を搭載すること、及びサンプルホルダから基板を回収することを含む。アーム部20は、制御装置40の制御によって、左右上下にベースプレート21を自在に移動させる。
【0018】
サンプルホルダには、基板を水平に搭載するカートタイプや、基板を垂直に搭載するボートタイプ(以下において、「ボート」という。)などがある。
図1はサンプルホルダ200にボートを使用した例であり、基板移載システム1によって、ボートでの基板100の移載が行われる。
【0019】
基板100は、シリコン基板やガラス基板などの、半導体デバイスなどに使用される基板である。例えば、シリコンからなる太陽電池基板がサンプルホルダ200に搭載されて、反射防止膜やパッシベーション膜を太陽電池基板上に形成するプロセス処理装置に格納される。
【0020】
ところで、基板100では、プロセス処理中の加熱によって基板100が反ったり、基板100の表面に形成された膜の応力によって基板100が反ったりすることがある。また、基板自体に反りが元々生じている場合がある。しかし、基板100が反らずにサンプルホルダ200に搭載されることが望ましい。例えば156cm角である太陽電池基板のような大型の基板100では、特に反りの問題が大きい。
【0021】
基板100の反りを抑制するために、例えば
図3に示すように、基板100の表面と同程度の面積の吸着面を有する吸着パッド10Aがアーム部20Aに支持される基板移載システムによって基板100を移載することは有効である。しかし、基板100が吸着面と接触する面積が広いために、基板100の表面で傷が生じる領域が広くなるという問題がある。
【0022】
なお、1個の吸着パッド10Aによって基板100を保持する場合に、この吸着パッド10Aの吸着面の面積を小さくすることによって、基板表面に生じる傷の領域を小さくできる。しかしながら、吸着面が1箇所では、基板100の反りを抑制することが困難である。
【0023】
これに対し、基板移載システム1では、吸着面に突起部102が形成され、突起部102に囲まれた領域に真空孔101が配置されている。そして、基板100は、突起部102の上面のみに接触した状態で吸着パッド10に真空吸着される。即ち、基板100の全面に分散する複数の箇所で、突起部102の上面によって基板100が保持される。基板100の表面に対して、突起部102の面積の上面を十分に小さくできる。したがって、基板移載システム1によれば、基板100の反りを抑制しつつ、基板100の全面を吸着する場合に比べて吸着パッド10の基板100に接触する面積を小さくできる。その結果、基板100の移載時における基板100の表面の傷の発生を抑制できる。なお、吸着による基板100の表面の損傷を小さくするためには、突起部102の上面の面積が小さいほど好ましい。
【0024】
太陽電池基板では、表面にテクスチャー処理を施して、受光面の表面に微小な凹凸を形成することが一般的に行われている。受光面をテクスチャー構造にすることによって、入射した光の表面反射が減少する。これにより、受光面が平坦である場合よりも多くの光を太陽電池基板の内部に導くことができる。なお、太陽電池基板以外の種々の基板においても、様々な目的で表面がテクスチャー処理されている。基板100と接触する面積の小さい基板移載システム1によれば、基板100の表面に形成されたテクスチャー構造の損傷を抑制できる。
【0025】
なお、例えば
図4に示すように、基板100の表面に対向してマトリクス状に配置された4個の吸着パッド11〜吸着パッド14によって基板100を吸着することが好ましい。ここで、吸着パッド11〜吸着パッド14間の中心位置Pが、基板100の表面の中心位置と対向するように、吸着パッド11〜吸着パッド14が配置される。即ち、中心位置Pを通過する中心線L1、L2について対称に吸着パッド10を配置する。これにより、基板100の表面に傷が生じた場合においても、傷の発生箇所の面内分布が一様になる。このため、例えば基板100を分割して製品に使用する場合などにおいて、製品の品質ばらつきを抑制することができる。
【0026】
なお、吸着パッド10が2個では、基板100の反りの抑制が不十分な場合がある。また、吸着パッド10が5個以上では、吸着パッド10の基板100と接触する総面積が増大する一方、基板移載システム1で基板100を安定して保持する上で吸着パッド10の個数が過剰である。このため、基板100を真空吸着によって安定して保持できる範囲で、吸着パッド10の個数は3〜4個程度が好ましい。
【0027】
吸着パッド10の個数が3個の場合の、吸着パッド10のレイアウト例を
図5に示す。
図5に示したように、吸着パッド11〜吸着パッド13を中心線L1について対称に配置して、基板100の表面に傷が残る場合にも傷の位置の面内分布にばらつきが生じないようにすることが好ましい。ただし、基板100を4等分して製品に使用する場合などを考慮すると、吸着パッド10の個数は4個が好ましい。例えば、156cm角の太陽電池基板の移載に、
図4に示したようにレイアウトされた4個の吸着パッド10を使用する。
【0028】
なお、吸着パッド10の材質には、ステンレス鋼(SUS)やアルミニウム(Al)などの金属、或いはセラミックなどを使用可能である。ただし、基板100の表面での傷の発生やテクスチャー構造の潰れを抑制するために、硬度の低い材料を使用することが好ましい。
【0029】
例えば、セラミックよりも硬度の低いポリエーテルエーテルケトン(PEEK)やカーボンなどが、基板100に与えるダメージが少ない材料として、吸着パッド10の、特に突起部102の材料に好適に使用される。例えば、耐熱温度が250℃のPEEKは、移載時の基板温度が200℃程度である場合に、基板100を吸着する吸着パッド10の材料として好ましい。
【0030】
図6に、吸着パッド10の材料にAl、セラミック、PEEKをそれぞれ使用してシリコン基板を移載した場合における、基板表面の傷の発生の有無を比較した結果を示す。Alやセラミックを使用した場合と比較して、PEEKを使用した場合には傷の発生はほとんど見られなかった。
【0031】
以上に説明したように、本発明の実施形態に係る基板移載システム1では、吸着パッド10の基板100に接触する面積が小さく設定されている。このため、基板移載システム1によれば、移動時の吸着における基板表面の損傷を抑制できる。
【0032】
基板移載システム1は、例えばプラズマ化学気相成長(CVD)法などにより太陽電池基板上に反射防止膜やパッシベーション膜を形成する成膜工程で利用可能である。つまり、太陽電池基板を成膜装置に搬入する際に、太陽電池基板の表面を損傷することなくサンプルホルダ200に搭載したり、成膜工程後の太陽電池基板の表面を損傷することなくサンプルホルダ200から回収したりすることができる。
【0033】
また、サンプルホルダ200が成膜装置以外のプロセス処理装置、例えばエッチング装置や加熱装置などに、基板100を搬入するためのサンプルホルダであってもよい。つまり、基板移載システム1は、基板100を搭載するサンプルホルダ200が使用される各種製造工程において適用可能である。
【0034】
<変形例>
図1では、吸着パッド10の吸着面に突起部102が円環形状に形成される例を示した。しかし、突起部102の形状は、基板100と接触する上面の面積が小さければどのような形状であってもよい。
【0035】
例えば、
図7(a)、
図7(b)に示すように、突起部102を吸着面に2個の環形状体を二重に配置して構成してもよい。即ち、突起部102は外側の環形状体102aと、環形状体102aの内側に形成された環形状体102bからなる。真空孔101は、環形状体102aと環形状体102bとに挟まれた環形状の領域に形成されている。
【0036】
例えば、環形状体102aの直径Daは30mm程度である。また、環形状体102aと環形状体102bの上面の幅Wはそれぞれ2mm程度であり、環形状体102aと環形状体102bの間隔Tは1mm程度である。
【0037】
(その他の実施形態)
上記のように、本発明は実施形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
【0038】
上記では、吸着パッド10の吸着面の外形が円形状である例を示したが、多角形などの他の形状であってもよい。例えば、
図8に示すように、吸着パッド10の吸着面の外形が矩形状であってもよい。更に、突起部102を円環以外の多角形状で環形状に形成してもよい。
図9は、突起部102の外形を矩形状にした例である。
【0039】
また、上記ではサンプルホルダ200がボートタイプである場合を説明したが、
図10に示すように、基板100を水平方向に搭載するカートタイプのサンプルホルダ200についても、本発明は適用可能である。即ち、水平方向に延伸する基板100の表面に、複数の吸着パッド10の突起部102の上面を接触させて基板100を吸着することにより、移載時における基板100の表面の損傷を抑制することができる。
【0040】
また、上記では複数の吸着パッド10が平板状のベースプレート21に装着された例を示したが、他の支持方法によって複数の吸着パッド10をアーム部20に装着してもよい。例えば、
図11に示すように枠組み22によって複数の吸着パッド10を支持してもよい。
【0041】
このように、本発明はここでは記載していない様々な実施形態等を含むことは勿論である。したがって、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。