特許第6354749号(P6354749)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

知財求人 - 知財ポータルサイト「IP Force」

▶ ソニー株式会社の特許一覧

特許6354749微小粒子分析装置、微小粒子分析方法、プログラム及び微小粒子分析システム